TWI517004B - A display device and an electronic device with a touch detection function - Google Patents

A display device and an electronic device with a touch detection function Download PDF

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TWI517004B
TWI517004B TW103101038A TW103101038A TWI517004B TW I517004 B TWI517004 B TW I517004B TW 103101038 A TW103101038 A TW 103101038A TW 103101038 A TW103101038 A TW 103101038A TW I517004 B TWI517004 B TW I517004B
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Toshiaki Fukushima
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Description

附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器
本發明係關於一種可檢測外部接近物體之顯示裝置及電子機器，尤其係關於可基於靜電電容之變化檢測自外部接近之外部接近物體之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
近年來，被稱為所謂觸控面板之可檢測外部接近物體之觸控檢測裝置受關注。觸控面板安裝於液晶顯示裝置等之顯示裝置上或與之一體化，使用於附有觸控檢測功能之顯示裝置。且，附有觸控檢測功能之顯示裝置藉由於顯示裝置顯示各種按鈕圖像等，可以觸控面板取代通常之機械式按鈕來輸入資訊。因具有此種觸控面板之附有觸控檢測功能之顯示裝置無需如鍵盤、滑鼠、小型鍵盤之輸入裝置，故有除電腦外，於如行動電話之移動資訊終端等中亦擴大使用之傾向。
作為觸控檢測裝置之方式，存在光學式、電阻式、靜電電容式等數種方式。若將靜電電容式之觸控檢測裝置使用於移動資訊終端等，則可實現具有較簡單之構造且電力消耗低之機器。例如，專利文獻1中記述有靜電電容式之觸控面板。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2012-221485號公報
然而，在附有觸控檢測功能之顯示裝置中，因將顯示功能與觸控檢測功能一體化，故有例如用於觸控檢測之動作對顯示造成影響之可能性。與此相對，專利文獻1所記述之附有觸控檢測功能之顯示面板(附有觸控檢測功能之顯示裝置)係即使進行觸控檢測仍可降低對顯示之影響。且，專利文獻1所記述之附有觸控檢測功能之顯示面板具備對驅動電極選擇性施加直流驅動信號VcomDC或交流驅動信號VcomAC之驅動部。在該附有觸控檢測功能之顯示面板中，顯示驅動顯示元件，且對驅動電極施加驅動信號，自觸控檢測電極輸出與該驅動信號對應之信號。因此，必須將分別對驅動電極供給直流驅動信號VcomDC及交流驅動信號VcomAC之2條配線引繞於框架區域。
專利文獻1所記述之附有觸控檢測功能之顯示面板具備自上述2條配線對驅動電極選擇性地供給直流驅動電壓VcomDC及交流驅動信號VcomAC之選擇開關。在專利文獻1所記述之附有觸控檢測功能之顯示面板中，該選擇開關之連接電阻有對驅動信號之波形之時間常數造成影響之可能性。因此，為降低選擇開關之連接電阻，必須增大選擇開關。然而，在增大選擇開關之情形時，有致使無助於顯示區域之框架變大之可能性。
本揭示係鑑於該問題點而完成者，其目的在於提供一種抑制選擇施加驅動信號之驅動電極之選擇開關之連接電阻，且可使框架狹小化之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器。
本揭示之附有觸控檢測功能之顯示裝置具備：顯示區域，其於基板上矩陣狀地配置有複數個像素電極；複數個驅動電極，其係各自與上述複數個像素電極之至少1個對向而設置；顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之圖像顯示功能；控制裝置，其基於圖像信號，以於上述複數個像素電極與上述複數個驅動電極之間，施加顯示 用驅動電壓使上述顯示功能層之圖像顯示功能得以發揮之方式，進行圖像顯示控制；複數個觸控檢測電極，其與上述複數個驅動電極對向，且於其與上述複數個驅動電極之間形成靜電電容；觸控檢測部，其基於來自上述複數個觸控檢測電極之檢測信號，檢測出接近之物體之位置；觸控用配線，其配設於位於上述顯示區域外側之框架區域，且將觸控用驅動信號供給至上述複數個驅動電極；及複數個開關群，其係各自包含根據上述控制裝置之選擇信號進行動作之複數個選擇開關，且具備在每個上述複數個驅動電極；上述複數個開關群根據上述控制裝置之選擇信號，自上述複數個驅動電極中選擇與上述觸控用配線連接之驅動電極，每個上述複數個開關群之複數個開關，係並聯連接於對應之驅動電極與上述觸控用配線之間，且根據上述選擇信號，於每個上述複數個驅動電極皆進行動作，連接上述對應之驅動電極與上述觸控用配線，並施加上述觸控用驅動信號。
本揭示之電子機器係具備上述附有觸控檢測功能之顯示裝置者，例如電視裝置、數位相機、個人電腦、攝像機或行動電話等之移動終端裝置等符合。
根據本揭示之附有觸控檢測功能之顯示裝置及電子機器，抑制選擇施加驅動信號之驅動電極之選擇開關之連接電阻，且可使框架狹小化。
1‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示裝置
1H‧‧‧1水平期間
2‧‧‧像素基板
3‧‧‧對向基板
6‧‧‧液晶層
10‧‧‧附有觸控檢測功能之顯示部
11‧‧‧控制部
12‧‧‧閘極驅動器
12A‧‧‧第1閘極驅動器
12B‧‧‧第2閘極驅動器
13‧‧‧源極驅動器
13S‧‧‧源極選擇部
14‧‧‧驅動電極驅動器
14A‧‧‧驅動電極掃描部
14B‧‧‧驅動電極掃描部
14Q‧‧‧驅動信號產生部
19‧‧‧COG
20‧‧‧液晶顯示部
21‧‧‧TFT基板
22‧‧‧像素電極
24‧‧‧絕緣層
30‧‧‧觸控檢測器件
31‧‧‧玻璃基板
32‧‧‧彩色濾光片
32B‧‧‧色區域
32G‧‧‧色區域
32R‧‧‧色區域
35‧‧‧偏光板
40‧‧‧觸控檢測部
42‧‧‧觸控檢測信號放大部
43‧‧‧A/D轉換部
44‧‧‧信號處理部
45‧‧‧座標擷取部
46‧‧‧檢測時序控制部
51‧‧‧掃描控制部
52‧‧‧觸控檢測掃描部
52SR‧‧‧驅動電極用位移暫存器
53‧‧‧驅動部
54‧‧‧邏輯積電路
61‧‧‧高位準電壓產生部
62‧‧‧低位準電壓產生部
63‧‧‧緩衝器
64‧‧‧緩衝器
65‧‧‧開關電路
65E‧‧‧輸出端子
66‧‧‧緩衝器
66E‧‧‧輸出端子
120SR‧‧‧閘極位移暫存器
510‧‧‧影像顯示畫面部
511‧‧‧前面板
512‧‧‧濾光玻璃
521‧‧‧發光部
522‧‧‧顯示部
523‧‧‧選單開關
524‧‧‧快門按鈕
530‧‧‧驅動部
531‧‧‧本體部
532‧‧‧透鏡
533‧‧‧啟動/停止開關
534‧‧‧顯示部
541‧‧‧逆變器/本體
542‧‧‧開關電路/鍵盤
543‧‧‧緩衝器/顯示部
544‧‧‧逆變器
551‧‧‧上側框體
552‧‧‧下側框體
553‧‧‧連結部(鉸鏈部)
554‧‧‧顯示器
555‧‧‧子顯示器
556‧‧‧圖片燈
557‧‧‧相機
561‧‧‧框體
562‧‧‧顯示部
Ad‧‧‧顯示區域
B‧‧‧驅動電極區塊
BAC‧‧‧驅動信號施加區塊
C1‧‧‧電容元件
C1’‧‧‧電容元件
C2‧‧‧靜電電容
CMOS1‧‧‧CMOS開關
CMOS2‧‧‧CMOS開關
COML‧‧‧驅動電極
COMSW‧‧‧開關
D‧‧‧介電質
DET‧‧‧電壓檢測器(觸控檢測部)
E1‧‧‧驅動電極
E2‧‧‧觸控檢測電極
EXVCOM‧‧‧驅動控制信號
GCL‧‧‧掃描線
Gd‧‧‧框架
Gdv‧‧‧寬度
GSW‧‧‧開關信號線
GxSW‧‧‧開關信號線
HCK‧‧‧水平時鐘脈衝
HST‧‧‧水平啟動脈衝
I0‧‧‧電流
I1‧‧‧電流
LAC‧‧‧觸控用配線
LC‧‧‧液晶元件
LDC‧‧‧顯示用配線
NMOS‧‧‧電晶體
NTX‧‧‧非選擇驅動電極區塊
Pix‧‧‧像素
PMOS‧‧‧電晶體
PW‧‧‧寫入期間
Q1‧‧‧連接導體
Q2‧‧‧連接導體
Q3‧‧‧連接導體
Reset‧‧‧重置期間
S‧‧‧交流信號源(驅動信號源)
Scan‧‧‧掃描方向
Scand‧‧‧顯示掃描
Scant‧‧‧觸控檢測掃描
SDCK‧‧‧控制信號
SDST‧‧‧掃描開始信號
Sg‧‧‧交流矩形波
SGL‧‧‧信號線
SPix‧‧‧副像素
Ssw‧‧‧開關控制信號
ST‧‧‧掃描信號
STX‧‧‧選擇驅動電極區塊
SW1~SW4‧‧‧開關
SWB‧‧‧開關
SWG‧‧‧開關
SWR‧‧‧開關
Sxsw‧‧‧開關控制信號
T‧‧‧可撓性印刷基板
t‧‧‧時間
t0~t6‧‧‧時序
t10‧‧‧時序
TDL‧‧‧觸控檢測電極
Tr‧‧‧薄膜電晶體元件
ts‧‧‧採樣時序
V0‧‧‧波形
V1‧‧‧波形
VB‧‧‧像素電壓
VCK‧‧‧垂直時鐘脈衝
Vcom‧‧‧驅動信號
VcomAC‧‧‧觸控用驅動信號
VcomDC‧‧‧顯示用驅動電壓
VCOMSEL‧‧‧驅動電極選擇信號
Vdet‧‧‧觸控檢測信號
Vdisp‧‧‧影像信號
VG‧‧‧像素電壓
Vout‧‧‧信號輸出
Vpix‧‧‧像素信號
VpixB‧‧‧像素信號
VpixG‧‧‧像素信號
VpixR‧‧‧像素信號
VR‧‧‧像素電壓
Vscan‧‧‧掃描信號
Vsel‧‧‧開關控制信號
VselB‧‧‧開關控制信號
VselG‧‧‧開關控制信號
VselR‧‧‧開關控制信號
Vsig‧‧‧圖像信號
VST‧‧‧垂直啟動脈衝
W1‧‧‧時間
|△V|‧‧‧電壓差分之絕對值
圖1係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例之方塊圖。
圖2係為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，表示手指未接觸或未接近裝置之狀態之說明圖。
圖3係顯示圖2所示之手指未接觸或未接近裝置之狀態之等價電 路之例之說明圖。
圖4係為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，表示手指接觸或接近裝置之狀態之說明圖。
圖5係顯示圖4所示之手指接觸或接近裝置之狀態之等價電路之例之說明圖。
圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例之圖。
圖7係顯示安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之圖。
圖8係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖9係顯示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例之圖。
圖10係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示部之像素排列之電路圖。
圖11係說明安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組中，源極驅動器與像素信號線之關係之模式圖。
圖12係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示部之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例之立體圖。
圖13係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測之動作例之模式圖。
圖14係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測之動作例之模式圖。
圖15係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測之動作例之模式圖。
圖16係說明實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之顯示與觸控檢測之動作之說明圖。
圖17係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動信號產生部之方塊圖。
圖18係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之方塊圖。
圖19係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。
圖20係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例之方塊圖。
圖21係顯示附有觸控檢測功能之顯示裝置之時序波形例之說明圖。
圖22係表示觸控檢測掃描之動作例之說明圖。
圖23係顯示實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例之圖。
圖24係顯示實施形態2之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。
圖25係顯示實施形態2之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例之方塊圖。
圖26係顯示實施形態3之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。
圖27係顯示實施形態3之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例之方塊圖。
圖28係表示變化例之附有觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。
圖29係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖30係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖31係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖32係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之 電子機器之一例之圖。
圖33係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖34係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖35係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖36係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖37係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖38係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖39係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖40係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
圖41係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。
關於用以實施本揭示之形態(實施形態)，一面參照圖式一面詳細說明。本揭示並非由以下實施形態中記述之內容所限定。又，以下所記述之構成要件中包含本領域技術人員容易想到者、實質上相同者。再者，以下所記述之構成要件可適當組合。另，說明係依以下順序進行。
1.實施形態(附有觸控檢測功能之顯示裝置)
1-1.實施形態1
1-2.實施形態2
1-3.實施形態3
2.應用例(電子機器)
將上述實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置應用於電子機器之例
3.本揭示之態樣
<1.實施形態> <1-1.實施形態1> [構成例] (整體構成例)
圖1係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之一構成例之方塊圖。附有觸控檢測功能之顯示裝置1具備附有觸控檢測功能之顯示部10、控制部11、閘極驅動器12、源極驅動器13、源極選擇部13S、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40。該附有觸控檢測功能之顯示裝置1係附有觸控檢測功能之顯示部10內置有觸控檢測功能之顯示器件。附有觸控檢測功能之顯示部10係將使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20與靜電電容型之觸控檢測器件30一體化之所謂內嵌類型之裝置。另，附有觸控檢測功能之顯示部10亦可為在使用液晶顯示元件作為顯示元件之液晶顯示部20上安裝有靜電電容型之觸控檢測器件30之所謂外掛類型之裝置。
液晶顯示部20係如下所述，根據自閘極驅動器12供給之掃描信號Vscan，逐條水平線依序掃描且進行顯示之器件。控制部11係基於自外部所供給之影像信號Vdisp，對閘極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、及觸控檢測部40供給各個控制信號，且以使其等彼此同步動作之方式進行控制之電路。本揭示之控制裝置包含控制部 11、閘極驅動器12、源極驅動器13、及驅動電極驅動器14。
閘極驅動器12具有基於自控制部11供給之控制信號，依序選擇成為附有觸控檢測功能之顯示部10之顯示驅動之對象之1水平線之功能。
源極驅動器13係基於自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示部10之下述各像素Pix(副像素SPix)供給像素信號Vpix之電路。源極驅動器13係如下所述，根據1水平線量之影像信號Vdisp，產生將液晶顯示部20之複數個副像素SPix之像素信號Vpix分時多工化之圖像信號，且供給於源極選擇部13S。又，源極驅動器13產生將多工化於圖像信號Vsig之像素信號Vpix分離所需之開關控制信號Vsel，且與像素信號Vpix一同供給於源極選擇部13S。另，源極選擇部13S可減少源極驅動器13與控制部11之間之配線數。
驅動電極驅動器14係基於自控制部11供給之控制信號，對附有觸控檢測功能之顯示部10之下述之驅動電極COML供給觸控檢測用之驅動信號(觸控用驅動信號，以下稱為驅動信號)VcomAC、及顯示用之電壓即顯示用驅動電壓VcomDC之電路。
觸控檢測部40係基於自控制部11供給之控制信號、與自附有觸控檢測功能之顯示部10之觸控檢測器件30所供給之觸控檢測信號Vdet，檢測有無對觸控檢測器件30之觸控(下述之接觸狀態)，且在有觸控之情形時求出其在觸控檢測區域中之座標等之電路。該觸控檢測部40具備觸控檢測信號放大部42、A/D轉換部43、信號處理部44、座標擷取部45、檢測時序控制部46。
觸控檢測信號放大部42放大自觸控檢測器件30供給之觸控檢測信號Vdet。觸控檢測信號放大部42亦可具備低通類比濾波器，其除去包含於觸控檢測信號Vdet之高頻率成分(雜訊成分)，取出觸控成分且分別輸出。
(靜電電容型觸控檢測之基本原理)
觸控檢測器件30基於靜電電容型觸控檢測之基本原理而動作，且輸出觸控檢測信號Vdet。參照圖1~圖6，說明本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之觸控檢測之基本原理。圖2係為說明靜電電容型觸控檢測之基本原理，表示手指未接觸或未接近裝置之狀態之說明圖。圖3係顯示圖2所示之手指未接觸或未接近裝置之狀態之等價電路之例之說明圖。圖4係為說明靜電電容型觸控檢測方式之基本原理，表示手指接觸或接近裝置之狀態之說明圖。圖5係顯示圖4所示之手指接觸或接近裝置之狀態之等價電路之例之說明圖。圖6係表示驅動信號及觸控檢測信號之波形之一例之圖。
例如圖2所示，電容元件C1具備夾持介電質D而彼此對向配置之一對電極、驅動電極E1及觸控檢測電極E2。如圖3所示，電容元件C1係其一端連接於交流信號源(驅動信號源)S，另一端連接於電壓檢測器(觸控檢測部)DET。電壓檢測器DET係包含於例如圖1所示之觸控檢測信號放大部42之積分電路。
當自交流信號源S對驅動電極E1(電容元件C1之一端)施加特定頻率(例如數kHz~數百kHz左右)之交流矩形波Sg時，經由連接於觸控檢測電極E2(電容元件C1之另一端)側之電壓檢測器DET，顯現輸出波形(觸控檢測信號Vdet)。另，該交流矩形波Sg係相當於下述之驅動信號VcomAC者。
在手指未接觸(或接近)裝置之狀態(非接觸狀態)中，如圖2及圖3所示，隨著對電容元件C1之充放電，流動與電容元件C1之電容值對應之電流I0。圖3所示之電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I0之變動轉換成電壓之變動(實線之波形V0)。
另一方面，在手指接觸(或接近)裝置之狀態(接觸狀態)中，如圖4所示，由手指形成之靜電電容C2與觸控檢測電極E2相接或位於附 近，藉此切斷位於驅動電極E1及觸控檢測電極E2間之條紋部分之靜電電容，而作為電容值較電容元件C1之電容值要小之電容元件C1’發揮作用。接著，以圖5所示之等價電路觀察時，於電容元件C1’流動電流I1。如圖6所示，電壓檢測器DET將與交流矩形波Sg對應之電流I1之變動轉換成電壓之變動(虛線之波形V1)。該情形時，波形V1與上述之波形V0相比振幅變小。藉此，波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|係根據手指等自外部接近之物體之影響而變化。另，為高精度檢測波形V0與波形V1之電壓差分之絕對值|△V|，電壓檢測器DET較好為藉由電路內之開關，配合交流矩形波Sg之頻率，將電容器之充放電設為設置有進行重置之期間Reset之動作。
圖1所示之觸控檢測器件30根據自驅動電極驅動器14供給之驅動信號Vcom(下述之驅動信號VcomAC)，逐個檢測區塊依序掃描而進行觸控檢測。
觸控檢測器件30自複數個下述之觸控檢測電極TDL，經由圖3或圖5所示之電壓檢測器DET，於每個檢測區塊輸出觸控檢測信號Vdet，且供給至觸控檢測部40之A/D轉換器43。
A/D轉換部43係以與驅動信號VcomAC同步之時序，將自觸控檢測信號放大部42輸出之類比信號分別採樣且轉換成數位信號之電路。
信號處理部44具備：數位濾波器，其降低A/D轉換部43之輸出信號所含之使用驅動信號VcomAC採樣之頻率以外之頻率成分(雜訊成分)。信號處理部44係基於A/D轉換部43之輸出信號，檢測有無對觸控檢測器件30之觸控之邏輯電路。信號處理部44進行僅取出由手指造成之電壓差分之處理。該由手指造成之電壓之差分為上述之波形V0與波形V1之差分之絕對值|△V|。信號處理部44亦可進行將每1檢測區塊之絕對值|△V|平均化之運算，而求出絕對值|△V|之平均值。藉此，信號處理部44可降低由雜訊造成之影響。信號處理部44將檢測出之由手指 造成之電壓之差分與特定之臨限值電壓進行比較，若電壓差分為該臨限值電壓以上，則判斷外部接近物體為接觸狀態。另一方面，若電壓差分未達到臨限值電壓，則信號處理部44判斷外部接近物體為非接觸狀態。如此，觸控檢測部40可進行觸控檢測。
座標擷取部45係在於信號處理部44中檢測出觸控時，求出其觸控面板座標之邏輯電路。檢測時序控制部46係以使A/D轉換部43、信號處理部44、及座標擷取部45同步動作之方式進行控制。座標擷取部45將觸控面板座標作為信號輸出Vout輸出。
(模組)
圖7係顯示安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組之一例之圖。如圖7所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1具備下述之像素基板2(TFT基板21)、及可撓性印刷基板T。像素基板2(TFT基板21)搭載COG(Chip On Glass：覆晶玻璃)19，形成有上述之液晶顯示部之顯示區域Ad、框架Gd。COG19係安裝於TFT基板21之IC驅動器之晶片，係內置有圖1所示之控制部11、源極驅動器13等、顯示動作所必需之各電路之控制裝置。在本實施形態中，上述之源極驅動器13及源極選擇部13S形成於TFT基板21上。源極驅動器13及源極選擇部13S亦可內置於COG19。又，驅動電極驅動器14之一部分，即驅動電極掃描部14A、14B形成於TFT基板21。又，閘極驅動器12作為閘極驅動器12A、12B形成於TFT基板21。又，附有觸控檢測功能之顯示裝置1亦可將驅動電極掃描部14A、14B、閘極驅動器12等之電路內置於COG19。
如圖7所示，在相對TFT基板21之表面之垂直方向上，驅動電極COML之驅動電極區塊B與觸控檢測電極TDL係以立體交叉之方式形成。
又，驅動電極COML係朝一方向延伸之複數個條紋狀電極圖案。 進行觸控檢測動作時，對各電極圖案，藉由驅動電極驅動器14依序供給驅動信號VcomAC。同時被供給驅動信號VcomAC之驅動電極COML之複數個條紋狀電極圖案之各者為圖7所示之驅動電極區塊B。驅動電極區塊B(驅動電極COML)係於附有觸控檢測功能之顯示部10之長邊方向形成，下述之觸控檢測電極TDL係於附有觸控檢測功能之顯示部10之短邊方向形成。觸控檢測電極TDL之輸出端設置於附有觸控檢測功能之顯示部10之短邊側，且經由可撓性印刷基板T，與安裝於可撓性印刷基板T之觸控檢測部40連接。如此，觸控檢測部40安裝於可撓性印刷基板T上，且與並設之複數個觸控檢測電極TDL之各者連接。可撓性印刷基板T係只要為端子即可，不限定於可撓性印刷基板，該情形時，於模組之外部具備觸控檢測部40。
下述之驅動信號產生部內置於COG19。源極選擇部13S係於TFT基板21上之顯示區域Ad附近使用TFT元件而形成。於顯示區域Ad中，矩陣狀(列行狀)地配置有多個下述之像素Pix。框架Gd、Gd係自垂直方向觀察TFT基板21之表面未配置像素Pix之區域。閘極驅動器12、與驅動驅動器14中驅動電極掃描部14A、14B係配置於框架Gd、Gd。
閘極驅動器12具備閘極驅動器12A、12B，且使用TFT元件形成於TFT基板21上。閘極驅動器12A、12B可對顯示區域Ad，夾著矩陣狀地配置有後述之副像素SPix(像素)之顯示區域Ad且自兩側進行驅動。在以下說明中，將閘極驅動器12A作為第1閘極驅動器12A，且將閘極驅動器12B作為第2閘極驅動器12B。又，下述之掃描線GCL排列於第1閘極驅動器12A、與第2閘極驅動器12B之間。因此，下述之掃描線GCL設置為在相對TFT基板21之表面之垂直方向上，朝與驅動電極COML之延伸方向平行之方向延伸。
驅動電極掃描部14A、14B係使用TFT元件形成於TFT基板21上。 驅動電極掃描部14A、14B自驅動信號產生部經由顯示用配線LDC，接收顯示用驅動電壓VcomDC之供給，且經由觸控用配線LAC接收驅動信號VcomAC之供給。驅動電極掃描部14A、14B在框架Gd中佔有特定之寬度Gdv。且，驅動電極掃描部14A、14B可自兩側驅動並設之複數個驅動電極區塊B之各者。供給顯示用驅動電壓VcomDC之顯示用配線LDC、與供給觸控用驅動信號VcomAC之觸控用配線LAC係並列地配置於框架Gd、Gd。顯示用配線LDC配置於較觸控用配線LAC更靠向顯示區域Ad側。藉由該構造，由顯示用配線LDC供給之顯示用驅動電壓VcomDC使顯示區域Ad之端部之電位狀態穩定。因此，尤其在使用橫向電場模式之液晶之液晶顯示部中，顯示較穩定。
圖7所示之附有觸控檢測功能之顯示裝置1自附有觸控檢測功能之顯示部10之短邊側輸出上述之觸控檢測信號Vdet。藉此，附有觸控檢測功能之顯示裝置1容易經由端子部即可撓性印刷基板T，進行將附有觸控檢測功能之顯示部10連接於觸控檢測部40時之配線之引繞。
(附有觸控檢測功能之顯示部)
其次，詳細說明附有觸控檢測功能之顯示部10之構成例。圖8係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。圖9係顯示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例之圖。圖10係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示部之像素排列之電路圖。
如圖8所示，附有觸控檢測功能之顯示部10具備像素基板2、與垂直於該像素基板2之表面之方向對向而配置之對向基板3、及插設於像素基板2與對向基板3之間之液晶層6。
液晶層6係根據電場狀態調變通過該處之光者，例如，利用使用FFS(邊緣場切換)模式或IPS(平面內切換)模式等之橫向電場模式之液晶之液晶顯示部。另，於圖8所示之液晶層6與像素基板2之間、及液 晶層6與對向基板3之間，亦可分別配設配向膜。
又，對向基板3包含玻璃基板31、及形成於該玻璃基板31之一面上之彩色濾光片32。於玻璃基板31之另一面上形成觸控檢測器件30之檢測電極即觸控檢測電極TDL，進而，於該觸控檢測電極TDL上配設有偏光板35。
像素基板2包含作為電路基板之TFT基板21、於該TFT基板21上配設成矩陣狀之複數個像素電極22、形成於TFT基板21及像素電極22之間之複數個驅動電極COML、及使像素電極22與驅動電極COML絕緣之絕緣層24。
(顯示裝置之系統構成例)
像素基板2於TFT基板21上具備顯示區域Ad、具備介面(I/F)及時序產生器之功能之COG19、第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B、及源極驅動器13。上述圖7所示之可撓性印刷基板T傳送圖7及圖9所示之向COG19之外部信號或驅動COG19之驅動電力。像素基板2位於透明絕緣基板(例如玻璃基板)之TFT基板21之表面，且具備矩陣狀(列行狀)地配置有多個包含液晶胞之像素所形成之顯示區域Ad、源極驅動器(水平驅動電路)13、及閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B。閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B係作為第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，以夾著顯示區域Ad之方式配置。
顯示區域Ad係包含液晶層之副像素SPix具有配置成m列×n行之矩陣(列行狀)構造。另，該說明書中，所謂列係指具有朝一方向排列之m個副像素SPix之像素列。又，所謂行係指具有朝與列所排列之方向正交之方向排列之n個副像素SPix之像素行。且，m與n之值係根據垂直方向之顯示解析度與水平方向之顯示解析度而決定。於顯示區域Ad內，相對於像素Vpix之m列n行之排列，於每列配線有掃描線GCLm+1、GCLm+2、GCLm+3...，且於每行配線有信號線SGLn+1、 SGLn+2、SGLn+3、SGLn+4、SGLn+5...。以後，於實施形態中，有時代表掃描線GCLm+1、GCLm+2、GCLm+3...表示為掃描線GCL，且代表信號線SGLn+1、SGLn+2、SGLn+3、SGLn+4、SGLn+5...表示為信號線SGL。
於像素基板2，自外部輸入外部信號，即主時鐘、水平同步信號、及垂直同步信號，且賦予COG19。COG19將外部電源之電壓振幅之主時鐘、水平同步信號、及垂直同步信號位準轉換(升壓)為驅動液晶所需之內部電源之電壓振幅，且作為主時鐘、水平同步信號及垂直同步信號，通過時序產生器產生垂直啟動脈衝VST、垂直時鐘脈衝VCK、水平啟動脈衝HST、及水平時鐘脈衝HCK。COG19將垂直啟動脈衝VST、垂直時鐘脈衝VCK賦予第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，且將水平啟動脈衝HST、及水平時鐘脈衝HCK賦予源極驅動器13。COG19產生顯示用驅動電壓(對向電極電位)VcomDC且賦予上述驅動電極COML。COG19將顯示用驅動電壓(對向電極電位)VcomDC共同地賦予每個副像素SPix之像素電極之各像素。因此，顯示用驅動電壓VcomDC被稱為共用電位。
第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B亦可包含後述之位移暫存器，進而包含鎖存電路等。藉由將上述之垂直啟動脈衝VST賦予第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，鎖存電路將與垂直時鐘脈衝VCK同步自COG19輸出之顯示資料於1水平期間依序採樣且鎖存。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B將鎖存電路中鎖存之1線量之數位資料，作為垂直掃描脈衝依序輸出，且藉由賦予掃描線GCL，而以列單位依序選擇副像素SPix。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B係以於掃描線GCL之延伸方向上夾著掃描線GCL之方式配置。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B係自顯示區域Ad之上側、垂直掃描上方向，朝顯示區域Ad之下側、垂直掃描下方向依序輸出。
賦予源極驅動器13例如6位元之R(紅)、G(綠)、B(藍)之數位圖像信號Vsig。源極驅動器13對藉由利用第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B之垂直掃描所選擇之列之各副像素SPix，以每像素或每複數個像素、或全部像素一起之方式，經由信號線SGL寫入顯示資料。
於TFT基板21形成有：圖9及圖10所示之各副像素SPix之薄膜電晶體(TFT；Thin Film Transistor)元件Tr、將像素信號Vpix供給至圖8所示之各像素電極22之像素信號線SGL、及驅動各TFT元件Tr之掃描線GCL等之配線。如此，像素信號線SGL朝與TFT基板21之表面平行之平面延伸，且將用於顯示圖像之像素信號Vpix供給至像素。圖10所示之液晶顯示部20具有排列成矩陣狀之複數個副像素SPix。副像素SPix具備TFT元件Tr及液晶元件LC。TFT元件Tr係由薄膜電晶體構成者，於本例中，係以n通道之MOS(Metal Oxide Semiconductor：金屬氧化物半導體)型TFT構成。TFT元件Tr之源極連接於像素信號線SGL，閘極連接於掃描線GCL，汲極連接於液晶元件LC之一端。液晶元件LC係一端連接於TFT元件Tr之汲極，另一端連接於驅動電極COML。
圖9所示之第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，係藉由將垂直掃描脈衝經由圖10所示之掃描線GCL施加至副像素SPix之TFT元件Tr之閘極，來依序選擇以矩陣狀形成於顯示區域Ad之副像素SPix中之1列(1水平線)作為顯示驅動之對象。源極驅動器13將像素信號Vpix經由SGL分別供給至包含利用第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B依序選擇之1水平線之各副像素SPix。且，於該等副像素SPix中，根據所供給之像素信號，進行1水平線之顯示。驅動電極驅動器14施加顯示用驅動信號(顯示用驅動電壓VcomDC)，驅動驅動電極COML。
如上所述，附有觸控檢測功能之顯示裝置1藉由使第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B以依序掃描掃描線GCLm+1、GCLm+2、 GCLm+3之方式驅動，而依序選擇1水平線。又，在附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，藉由使源極驅動器13對屬於1水平線之像素Vpix供給像素信號，而逐條水平線進行顯示。在進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14對與該1水平線對應之驅動電極COML施加驅動信號Vcom。
圖8所示之彩色濾光片32係週期性地排列著色成例如紅(R)、綠(G)、藍(B)之3色之彩色濾光片之色區域，且以R、G、B之3色之色區域32R、32G、32B(參照圖10)為1組作為像素Pix，與上述圖10所示之各副像素SPix相對應。彩色濾光片32在與TFT基板21垂直之方向上與液晶層6對向。另，彩色濾光片32若著色成不同色，則亦可為其他色之組合。
圖10所示之副像素SPix係藉由掃描線GCL與屬於液晶顯示部20之相同列之其他副像素SPix彼此連接。掃描線GCL與閘極驅動器12連接，且由閘極驅動器12供給掃描信號Vscan。又，副像素SPix係藉由像素信號線SGL與屬於液晶顯示部20之相同行之其他副像素SPix彼此連接。像素信號線SGL與源極驅動器13連接，由源極驅動器13供給像素信號Vpix。
圖11係說明安裝有實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之模組中，源極驅動器與像素信號線之關係之模式圖。如圖11所示，附有觸控檢測功能之顯示裝置1係像素信號線SGL經由源極選擇部13S連接於內置於上述COG19之源極驅動器13。源極選擇部13S根據開關控制信號Vse1進行開閉動作。
如圖11所示，源極驅動器13基於自控制部11供給之圖像信號Vsig及源極驅動器控制信號，產生且輸出像素信號Vpix。源極驅動器13自1水平線量之圖像信號Vsig，產生將附有觸控檢測功能之顯示部10之液晶顯示部20之複數個(該例中為3個)副像素SPix之像素信號Vpix分時多工化之圖像信號，且供給至源極選擇部13S。又，源極驅動器13產 生將多工化於圖像信號Vsig之像素信號Vpix分離所需之開關控制信號Vsel(VselR、VselG、VselB)，且與圖像信號Vsig一同供給至源極選擇部13S。另，藉由該多工化，源極驅動器13與源極選擇部13S之間之配線數變少。
源極選擇部13S基於自源極驅動器13所供給之圖像信號Vsig及開關控制信號Vsel，將分時多工化於圖像信號Vsig之像素信號Vpix分離，且供給至附有觸控檢測功能之顯示部10之液晶顯示部20。
源極選擇部13S例如具備3個開關SWR、SWG、SWB，3個開關SWR、SWG、SWB之各一端彼此連接，且自源極驅動器13供給圖像信號Vsig。3個開關SWR、SWG、SWB之各另一端經由附有觸控檢測功能之顯示部10之液晶顯示部20之像素信號線SGL，分別與副像素SPix連接。3個開關SWR、SWG、SWB係藉由自源極驅動器13所供給之開關控制信號Vsel(VselR、VselG、VselB)各自進行開閉控制。藉由該構成，源極選擇部13S可根據開關控制信號Vsel，使開關SWR、SWG、SWB分時地依序切換成為導通(ON)狀態。藉此，源極選擇部13S自多工化之圖像信號Vsig分離像素信號Vpix(VpixR、VpixG、VpixB)。接著，源極選擇部13S將像素信號Vpix分別供給至3個副像素SPix。著色成上述之紅(R)、綠(G)、藍(B)3色之色區域32R、32G、32B各自與副像素SPix相對應。因此，對與色區域32R對應之副像素SPix供給像素信號VpixR。對與色區域32G對應之副像素SPix供給像素信號VpixG。對與色區域32B對應之副像素SPix供給像素信號VpixB。
副像素SPix係藉由驅動電極COML，與屬於液晶顯示部20之相同列之其他副像素SPix彼此連接。驅動電極COML與驅動電極驅動器14連接，且由驅動電極驅動器14供給顯示用驅動電壓VcomDC。即，該例中，屬於同一列之複數個副像素SPix共有驅動電極COML。
圖1所示之閘極驅動器12係藉由將掃描信號Vscan經由圖10所示之掃描線GCL施加至副像素SPix之TFT元件Tr之閘極，來依序選擇矩陣狀地形成於液晶顯示部20之副像素SPix中之1列(1水平線)作為顯示驅動之對象。圖1所示之源極驅動器13係將像素信號Vpix經由圖10所示之像素信號線SGL分別供給至構成由閘極驅動器12依序選擇之1水平線之各副像素SPix。接著，於該等副像素SPix中，根據供給之像素信號Vpix，進行1水平線之顯示。圖1所示之驅動電極驅動器14施加驅動信號Vcom，對圖7及圖9所示之每個包含特定條數之驅動電極COML之驅動電極區塊B驅動驅動電極COML。
如上所述，液晶顯示部20係藉由使閘極驅動器12以分時地依序掃描掃描線GCL之方式驅動，而依序選擇1水平線。又，液晶顯示部20係藉由使源極驅動器13對屬於1水平線之副像素SPix供給像素信號Vpix，而逐條水平線進行顯示。在進行該顯示動作時，驅動電極驅動器14對包含與該1水平線對應之驅動電極COML之驅動電極區塊施加顯示用驅動電壓VcomDC。
本實施形態之驅動電極COML係作為液晶顯示部20之驅動電極發揮功能，且亦作為觸控檢測器件30之驅動電極發揮功能。圖12係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示部之驅動電極及觸控檢測電極之一構成例之立體圖。圖12所示之驅動電極COML係如圖8所示，在相對TFT基板21之表面之垂直方向上與像素電極22對向。觸控檢測器件30係由設置於像素基板2之驅動電極COML、與設置於對向基板3之觸控檢測電極TDL構成。觸控檢測電極TDL係由朝與驅動電極COML之電極圖案之延伸方向交叉之方向延伸之條紋狀之電極圖案構成。且，觸控檢測電極TDL在相對TFT基板21之表面之垂直方向上，與驅動電極COML對向。觸控檢測電極TDL之各電極圖案係與觸控檢測部40之觸控檢測信號放大部42之輸入分別連接。由驅動電極COML與觸 控檢測電極TDL彼此交叉之電極圖案，於其交叉部分產生有靜電電容。另，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)不限於條紋狀之形狀。例如，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)亦可為梳齒形狀。或，觸控檢測電極TDL或驅動電極COML(驅動電極區塊)只要複數個分離而配置即可，分離驅動電極COML之狹縫之形狀可為直線，亦可為曲線。
藉由該構成，在觸控檢測器件30中，於進行觸控檢測動作時，驅動電極驅動器14係以分時地線序掃描圖7所示之驅動電極區塊B之方式驅動。藉此，沿掃描方向Scan依序選擇驅動電極COML之驅動電極區塊B(1檢測區塊)。接著，觸控檢測器件30自觸控檢測電極TDL輸出觸控檢測信號Vdet。如此般觸控檢測器件30進行1檢測區塊之觸控檢測。
圖13、圖14及圖15係表示實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之觸控檢測之動作例之模式圖。圖16係說明實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置之顯示與觸控檢測之動作之說明圖。顯示有圖7所示之驅動電極COML之驅動電極區塊B為20個驅動電極區塊B1~B20之情形之對各驅動電極區塊B1~B20之觸控用驅動信號VcomAC之施加動作。驅動信號施加區塊BAC顯示施加有觸控用驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B，其他驅動電極區塊B未被施加電壓，成為電位未固定之狀態，即所謂浮動狀態。亦可驅動信號施加區塊BAC顯示施加有觸控用驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B，且於其他驅動電極區塊B上施加顯示用驅動電壓VcomDC，而固定電位。圖1所示之驅動電極驅動器14係從圖13所示之成為觸控檢測動作之對象之驅動電極區塊B中，選擇驅動電極區塊B3，施加觸控用驅動信號VcomAC。其次，驅動電極驅動器14從圖14所示之驅動電極區塊B中，選擇驅動電極區塊B4，施加觸控用驅動信號VcomAC。接著，驅 動電極驅動器14從圖15所示之驅動電極區塊B中，選擇驅動電極區塊B5，施加觸控用驅動信號VcomAC。如此，驅動電極驅動器14依序選擇驅動電極區塊B，施加觸控用驅動信號VcomAC，且在全部驅動電極區塊B之範圍內掃描。另，驅動電極區塊B之個數並非限定為20個。
觸控檢測器件30係圖13至圖15所示之驅動電極區塊B對應於上述之靜電電容型觸控檢測之基本原理之驅動電極E1。觸控檢測器件30係觸控檢測電極TDL對應於觸控檢測電極E2。觸控檢測器件30根據上述之基本原理檢測觸控。接著，如圖12所示，彼此立體交叉之電極圖案係矩陣狀地構成靜電電容式觸控感測器。藉此，藉由在觸控檢測器件30之觸控檢測面整體範圍內掃描，亦可檢測出發生外部接近物體之接觸或接近之位置。
如圖16所示，附有觸控檢測功能之顯示器件10係藉由使閘極驅動器12以分時地線序掃描掃描線GCL之方式驅動，而進行顯示掃描Scand。又，如圖16所示，附有觸控檢測功能之顯示部10係藉由使驅動電極驅動器14依序選擇驅動電極區塊B且驅動，而進行在時間W1時完成1次掃描之觸控檢測掃描Scant。如圖16所示，觸控檢測掃描Scant係以顯示掃描Scand之2倍掃描速度進行。如此，在附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，藉由使觸控檢測之掃描速度相較於顯示之掃描速度更快，可立刻回應自外部接近之外部接近物體所造成之觸控，從而可改善針對觸控檢測之回應特性。另，觸控檢測掃描Scant及顯示掃描Scand之關係並非限定為圖16所示之關係，例如，觸控檢測掃描Scant亦可以顯示掃描Scand之2倍以上之掃描速度進行，又可以顯示掃描Scand之2倍以下之掃描速度進行。
(驅動信號產生部及驅動電極驅動器)
圖17係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動信號產生部之方 塊圖。驅動信號產生部14Q具備高位準電壓產生部61、低位準電壓產生部62、緩衝器63、64、66、及開關電路65。
高位準電壓產生部61產生觸控用驅動信號VcomAC之高位準電壓。低位準電壓產生部62產生顯示用驅動電壓VcomDC之直流電壓。該低位準電壓產生部62產生之電壓亦作為觸控用驅動信號VcomAC之低位準電壓使用。緩衝器63將自高位準電壓產生部61所供給之電壓進行阻抗轉換且輸出，並供給至開關電路65。緩衝器64將自低位準電壓產生部62所供給之電壓進行阻抗轉換且輸出，並供給至開關電路65。開關電路65基於驅動控制信號EXVCOM，交替重複驅動控制信號EXVCOM為高位準之情形與驅動控制信號EXVCOM為低位準之情形，且產生觸控用驅動信號VcomAC。開關電路65在驅動控制信號EXVCOM為高位準之情形時，輸出自緩衝器63所供給之電壓，在驅動控制信號EXVCOM為低位準之情形時，輸出自緩衝器64所供給之電壓。開關電路65基於驅動控制信號EXVCOM，在驅動控制信號EXVCOM為低位準之情形時，輸出自緩衝器64所供給之電壓作為顯示用驅動電壓VcomDC之直流電壓。緩衝器63、64係由例如電壓跟隨器構成。另，開關電路65輸出之電壓係輸出至輸出端子65E。緩衝器66將自低位準電壓產生部62所供給之電壓進行阻抗轉換且輸出，並將顯示用驅動電壓VcomDC之直流電壓供給至輸出端子66E。
圖18係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之方塊圖。驅動電極掃描部14A、14B具備掃描控制部51、觸控檢測掃描部52、及驅動部530。驅動部530具備與驅動電極區塊B相同數量之驅動部53(k)~53(k+3)。掃描控制部51安裝於COG19。又，觸控檢測掃描部52與驅動部530配置於位於顯示區域Ad周圍之框架。此後，在指複數個驅動部53(k)~53(k+3)中之任意一個之情形時，僅使用驅動部53。
掃描控制部51基於由控制部11所供給之控制信號，對觸控檢測掃 描部52供給控制信號SDCK、掃描開始信號SDST。又，對顯示用配線LDC供給自上述驅動信號產生部14Q經由輸出端子66E輸出之顯示用驅動電壓VcomDC。對觸控用配線LAC供給自上述驅動信號產生部14Q經由輸出端子65E輸出之觸控用驅動信號VcomAC。掃描控制部51對驅動部530供給驅動電極選擇信號VCOMSEL。
觸控檢測掃描部52係包含驅動電極用位移暫存器52SR而構成，且產生用於選擇施加觸控用驅動信號VcomAC之驅動電極COML之掃描信號ST(k)、ST(k+1)、ST(k+2)、ST(k+3)...者。具體而言，在觸控檢測掃描部52中，位移暫存器52SR將自掃描控制部51所供給之掃描開始信號SDST作為觸發而將控制信號SDCK依序傳送至位移暫存器52SR之每個傳送段，位移暫存器52SR之各傳送段係與控制信號SDCK同步依序選擇。所選擇之位移暫存器52SR係朝驅動部530之各邏輯積電路54發送掃描信號ST(k)、ST(k+1)、ST(k+2)、ST(k+3)...。觸控檢測掃描部52係在所選擇之位移暫存器52SR將例如高位準之信號作為第k+2個掃描信號ST(k+2)供給至第k+2個驅動部53(k+2)之情形時，該驅動部53(k+2)對屬於第k+2個驅動電極區塊B(k+2)之複數個驅動電極COML施加驅動信號VcomAC。此後，在指向掃描信號ST(k)、ST(k+1)、ST(k+2)、ST(k+3)...中任意一個之情形時，有時使用掃描信號ST。
驅動部530係基於自觸控檢測掃描部52所供給之掃描信號ST、及自掃描控制部51所供給之驅動電極選擇信號VCOMSEL，將自驅動信號產生部14Q所供給之顯示用驅動電壓VcomDC或觸控用驅動信號VcomAC施加至驅動電極COML之電路。驅動部53係對應於觸控檢測掃描部52之輸出信號而逐個設置，且對所對應之驅動電極區塊B施加驅動信號Vcom。
驅動部53具備邏輯積電路54、及每個驅動電極區塊B中1個選擇 開關SW。圖18中，選擇開關SW圖示為選擇開關SW1、SW2、SW3、SW4。以下說明雖以選擇開關SW1為代表進行說明，但選擇開關SW2、SW3、SW4亦相同。邏輯積電路54產生自觸控檢測掃描部52所供給之掃描信號ST、及自掃描控制部51所供給之驅動電極選擇信號VCOMSEL之邏輯積(AND)且輸出。邏輯積電路54具有放大成可控制選擇開關SW1之動作之振幅位準之緩衝器功能。選擇開關SW1基於自邏輯積電路54供給之信號而控制動作。選擇開關SW1之一端與驅動電極區塊B包含之複數個驅動電極COML連接，選擇開關SW1之另一端與顯示用配線LDC及觸控用配線LAC中的一者連接。
藉由該構成，驅動部53在掃描信號ST為高位準且驅動電極選擇信號VCOMSEL為高位準之情形時，輸出觸控用驅動信號VcomAC作為驅動信號Vcom。驅動部53在掃描信號ST為低位準且驅動電極選擇信號VCOMSEL為低位準之情形時，自觸控用配線LAC切斷驅動電極區塊B，且與顯示用配線LDC連接。此處，被選擇為觸控用驅動信號VcomAC之輸出目標之驅動電極區塊B係選擇驅動電極區塊STX。未被選擇為觸控用驅動信號VcomAC之輸出目標之驅動電極區塊B係非選擇驅動電極區塊NTX。例如，圖18所示之驅動部53(k+2)在對屬於第k+2個驅動電極區塊B(k+2)之複數個驅動電極COML施加驅動信號VcomAC時，選擇驅動電極區塊STX係驅動電極區塊B(k+2)。且，未被選擇為驅動信號VcomAC之輸出目標之驅動電極區塊B(k)、B(k+1)、B(k+3)係非選擇驅動電極區塊NTX。
又，在液晶顯示部20進行顯示動作之情形時，掃描信號ST為低位準，驅動部53將設置於每個驅動電極區塊B之選擇開關(SW1、SW2、SW3、SW4)全部連接於顯示用配線LDC，且將顯示用驅動電壓VcomDC作為驅動信號Vcom輸出。
圖19係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。圖 20係顯示實施形態1之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例之方塊圖。圖19及圖20係說明第1閘極驅動器12A側之構成，第2閘極驅動器12B之構成亦相同。又，以下說明係以選擇開關SW1為代表進行說明，選擇開關SW2、SW3、SW4亦相同。第1閘極驅動器12A(第2閘極驅動器12B)包含閘極位移暫存器120SR。閘極位移暫存器120SR回應垂直啟動脈衝VST而開始動作，且與垂直時鐘VCK同步，依序沿垂直掃描方向被選擇，並經由緩衝器電路對掃描線GCL輸出垂直選擇脈衝。
選擇開關SW1具備於每個驅動電極COML中具有複數個之開關COMSW。開關COMSW根據開關控制信號Ssw、Sxsw，於每個驅動電極COML皆進行動作。開關COMSW藉由於每個驅動電極COML皆進行動作，而分時地選擇觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接、及顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接之任一者。
例如，將包含CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2之1個電路單位作為開關COMSW使用之情形時，複數個該電路單位設置於每個驅動電極COML。CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2具有：電晶體NMOS，其具有N通道之閘極；及電晶體PMOS，其具有P通道之閘極。
CMOS開關CMOS1中，開關信號線GSW與電晶體NMOS、電晶體PMOS之閘極連接。CMOS開關CMOS2中，開關信號線GxSW與電晶體NMOS、電晶體PMOS之閘極連接。供給至開關信號線GSW之開關控制信號Ssw、與供給至開關信號線GxSW之開關控制信號Sxsw係電位之高位準與低位準彼此反轉之信號。因此，CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2可對觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接、及顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接之任一者同步進行相同之選擇。如此，選擇開關SW1係於每個驅動電極COML中具備複數個開關 COMSW，開關COMSW並聯連接於觸控用配線LAC與驅動電極COML之間。複數個開關COMSW根據選擇信號即開關控制信號Ssw、Sxsw，於每個驅動電極COML中皆進行動作，連接觸控用配線LAC與驅動電極COML，並施加觸控用驅動信號VcomAC。
邏輯積電路54具備逆變器541、開關電路542、緩衝器543、及逆變器544。逆變器541在掃描信號ST為高位準之情形時，將驅動電極用位移暫存器52SR中被選擇之傳送段之輸出信號之反轉邏輯輸出於邏輯積電路542。邏輯積電路542根據驅動電極選擇信號VCOMSEL，依據逆變器541之輸入及輸出進行切換，且將開關控制信號Ssw輸出至緩衝器543。緩衝器543放大開關控制信號Ssw，且供給至開關信號線GSW。逆變器544產生緩衝器543輸出之開關控制信號Ssw之反轉邏輯，且作為開關控制信號Sxsw輸出，並供給至開關信號線GxSW。
CMOS開關CMOS1、CMOS2係以連接導體Q3與觸控用配線LAC連接。又，CMOS開關CMOS1、CMOS2係以連接導體Q2與顯示用配線LDC連接。CMOS開關CMOS1、CMOS2係以連接導體Q1與驅動電極COML連接。CMOS開關CMOS1、CMOS2藉由對電晶體NMOS、電晶體PMOS之閘極輸入開關控制信號Ssw、Sxsw，可選擇連接導體Q1與連接導體Q2之連接、及連接導體Q3與連接導體Q1之連接中之任一者之連接。
如圖20所示，掃描線GCL係與開關信號線GSW、GxSW同層而配線。掃描線GCL係與開關信號線GSW、GxSW連接於相同電晶體之閘極，且以相同步驟形成該等線，藉此可縮短製造步驟。掃描線GCL係與觸控用配線LAC、及顯示用配線LDC介隔絕緣層立體交叉。且，選擇開關SW1配置於位於與觸控用配線LAC(顯示用配線LDC)立體交叉之掃描線GCL之間(例如掃描線GCLm+1與掃描線GCLm+2之間)之區域。與觸控用配線LAC(顯示用配線LDC)立體交叉之掃描線GCL彼此之間 隔係與顯示區域Ad中相鄰之掃描線GCL彼此之間隔相同。
此處，TFT基板21對應於本揭示中「基板」之一具體例。像素電極22對應於本揭示中「像素電極」之一具體例。像素信號線SGL對應於本揭示中「信號線」之一具體例。驅動電極COML對應於本揭示中「驅動電極」之一具體例。液晶元件LC對應於本揭示中「顯示功能層」之一具體例。閘極驅動器12、源極驅動器13及驅動電極驅動器14對應於本揭示中「控制裝置」之一具體例。觸控檢測電極TDL對應於本揭示中之「觸控檢測電極」。觸控用配線LAC對應於本揭示中「觸控用配線」之一具體例。
[動作及作用]
繼而，說明實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之動作及作用。以下說明中，將作為顯示用驅動信號之驅動信號Vcom記述為顯示用驅動電壓VcomDC，且將作為觸控檢測用驅動信號之驅動信號Vcom記述為觸控用驅動信號VcomAC。
(附有觸控檢測功能之顯示裝置動作)
其次，說明附有觸控檢測功能之顯示裝置1之動作。圖21係顯示附有觸控檢測功能之顯示裝置之時序波形例之說明圖。圖22係表示觸控檢測掃描之動作例之說明圖。
圖21所示之(A)係顯示觸控用驅動信號VcomAC之波形。圖21所示之(B)係顯示顯示用驅動電壓VcomDC之波形。圖21所示之(C)係顯示掃描信號Vscan之波形。圖21所示之(D)係顯示像素信號Vpix之波形。圖21所示之(E)係顯示開關控制信號Vsel之波形。圖21所示之(F)係顯示像素信號Vpix之波形。圖21所示之(G)係顯示驅動電極選擇信號VCOMSEL之波形。圖21所示之(H)係顯示驅動信號Vcom之波形。圖21所示之(I)係顯示觸控檢測信號Vdet之波形。
在附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，於各個水平期間(1H)內進 行觸控檢測動作及顯示動作。在顯示動作中，閘極驅動器12藉由對掃描線GCL依序施加掃描信號Vscan而進行顯示掃描。在觸控檢測動作中，驅動電極驅動器14藉由對每個驅動電極區塊B依序施加觸控用驅動信號VcomAC而進行觸控檢測掃描，觸控檢測部40基於自觸控檢測電極TDL輸出之觸控檢測信號Vdet檢測出觸控。以下說明其細節。
首先，在時序t0開始1水平期間(1H)後，驅動電極驅動器14之掃描控制部51於時序t1使驅動電極選擇信號VCOMSEL之電壓自低位準變化為高位準(圖21(G))。藉此，在驅動電極驅動器14中，於觸控檢測動作相關之第k+1個驅動部53(k+1)中，選擇開關SW2選擇連接導體Q1與連接導體Q2之連接。其結果，驅動信號產生部14Q產生之觸控用驅動信號VcomAC(圖21(A))係經由該選擇開關SW2對構成所對應之第k+1個驅動電極區塊B(k+1)之驅動電極COML，作為驅動信號VcomAC(B(k+1))予以施加。另，在驅動部53(k+1)以外之驅動部53中，選擇開關SW2以外之選擇開關SW1、SW3、SW4選擇連接導體Q3與連接導體Q1之連接。其結果，構成驅動電極區塊B(k+1)之驅動電極COML以外之驅動電極COML成為與顯示用配線LDC同電位(圖21(H))。
其次，驅動信號產生部14Q在時序t2使觸控用驅動信號VcomAC之電壓自低位準變化成高位準(圖21(A))。具體而言，驅動部530藉由自輸出端子65E供給驅動信號產生部14Q中開關電路65之輸出，而使觸控用驅動信號VcomAC之電壓自低位準變化成高位準。與此相伴，施加於第k+1個驅動電極區塊B(k+1)之驅動信號VcomAC(B(k+1))亦附有自低位準變化成高位準之交流矩形波(圖21(H))。該驅動信號Vcom(B(k+1))係經由靜電電容傳送至觸控檢測電極TDL，觸控檢測信號Vdet發生變化(圖21(I))。另，交流矩形波亦可為1個矩形波。
其次，觸控檢測部40之A/D轉換部43在採樣時序ts將輸入有該觸 控檢測信號Vdet之觸控檢測信號放大部42之輸出信號進行A/D轉換(圖21(I))。觸控檢測部40之觸控檢測信號放大部42基於複數個水平期間所收集之該A/D轉換結果，而進行觸控檢測。
其次，驅動部530在時序t3使觸控用驅動信號VcomAC之電壓變化成顯示用驅動電壓，即驅動信號Vcom(顯示用驅動電壓VcomDC)(圖21(A))。具體而言，驅動部530係藉由自輸出端子66E供給驅動信號產生部14Q中緩衝器66之輸出，而使觸控用驅動信號VcomAC之電壓變化成顯示用驅動電壓VcomDC。與此相伴，施加至第k+1個驅動電極區塊B(k+1)之驅動信號Vcom(B(k+1))亦又自高位準變化成低位準(圖21(H))，使觸控檢測信號Vdet發生變化(圖21(I))。
其次，驅動電極驅動器14之掃描控制部51在時序t4使驅動電極選擇信號VCOMSEL之電壓自高位準變化成低位準(圖21(G))。藉此，選擇開關SW1~4之全部開關選擇連接導體Q2與連接導體Q1之連接。驅動信號產生部14Q產生之顯示用驅動電壓VcomDC(圖21(B))經由全部選擇開關SW1~4，對所對應之驅動電極區塊B之驅動電極COML施加顯示用驅動電壓VcomDC(圖21(H))。
其次，閘極驅動器12在時序t5對顯示動作相關之第m列掃描線GCL(m)施加掃描信號Vscan，掃描信號Vscan(m)自低位準變化成高位準(圖21(C))。接著，源極驅動器13及源極選擇部13S對像素信號線SGL施加像素信號Vpix(圖21(F))，且進行該第m列掃描線GCL(m)相關之1水平線之像素Pix之顯示。
具體而言，首先，閘極驅動器12藉由在時序t5使掃描信號Vscan(m)自低位準變化成高位準，來選擇顯示動作相關之1水平線。接著，源極驅動器13將用於紅色副像素SPix之像素電壓VR，作為圖像信號Vsig供給至源極選擇部13S(圖21(D))，且產生在供給有該像素電壓VR之期間內成為高位準之開關控制信號VselR，並供給至源極選 擇部13S(圖21(E))。接著，源極選擇部13S藉由在該開關控制信號VselR成為高位準之期間(寫入期間PW)內使開關SWR成為導通狀態，來將從源極驅動器13所供給之像素電壓VR自圖像信號Vsig中分離，且作為像素信號VpixR，經由像素信號線SGL供給至1水平線之紅色副像素SPix(圖21(F))。另，開關SWR成為斷開狀態後，由於該像素信號線SGL成為浮動狀態，故可保持該像素信號線SGL之電壓(圖21(F))。同樣地，源極驅動器13將用於綠色副像素SPix之像素電壓VG，與對應之開關控制信號VselG一起供給至源極選擇部13S(圖21(D)、(E))，源極選擇部13S基於開關控制信號VselG，將該像素電壓VG自圖像信號Vsig分離，且作為像素信號VpixG，經由像素信號線SGL供給至1水平線之綠色副像素SPix(圖21(F))。其後，同樣地，源極驅動器13將用於藍色副像素SPix之像素電壓VB，與對應之開關控制信號VselB一起供給至源極選擇部13S(圖21(D)、(E))，源極選擇部13S基於開關控制信號VselB，將該像素電壓VB自圖像信號Vsig分離，且作為像素信號VpixB，經由像素信號線SGL供給至1水平線之藍色副像素SPix(圖21(F))。
其次，閘極驅動器12在時序t6使第m列掃描線GCL之掃描信號Vscan(m)自高位準變化成低位準(圖21(C))。藉此，顯示動作相關之1水平線之副像素SPix，係自像素信號線SGL電性切斷。
接著，於時序t10，結束1水平期間，且開始新的1水平期間。
此後，藉由重複上述動作，在附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，藉由線序掃描來進行顯示畫面整體之顯示動作，且藉由如以下所示般逐個掃描驅動電極區塊B，而進行觸控檢測面整體之觸控檢測動作。
圖22所示之(A)係顯示觸控用驅動信號VcomAC之波形。圖22所示之(B)係顯示顯示用驅動電壓VcomDC之波形。圖22所示之(C)係顯 示驅動電極選擇信號VCOMSEL之波形。圖22所示之(D)係顯示掃描信號ST之波形。圖22所示之(E)係顯示驅動信號Vcom之波形。圖22所示之(F)係顯示觸控檢測信號Vdet之波形。
驅動電極驅動器14係如圖22所示，藉由基於觸控檢測掃描部52產生之掃描信號ST(圖22(D))，對所對應之驅動電極區塊B依序施加觸控用驅動信號VcomAC(圖22(E))，而進行觸控檢測掃描。此時，驅動電極驅動器14對各驅動電極區塊B，在特定複數個水平期間範圍內，施加觸控用驅動信號VcomAC(圖22(E))。觸控檢測部40係在各個水平期間1H中，對基於該觸控用驅動信號VcomAC之觸控檢測信號Vdet進行採樣，且在該特定複數個水平期間中最後之水平期間之採樣結束後，信號處理部44基於該等複數個採樣結果，檢測有無對與該驅動電極區塊B對應之區域之觸控等。如此，因基於複數個採樣結果進行觸控檢測，故可統計解析採樣結果，而可抑制採樣結果之不均一所引起之S/N比之劣化，從而可提高觸控檢測之精度。以1個波形模式性地說明圖21或圖22所示之驅動信號VcomAC之矩形波，亦可如圖6所示般複數次地出現振幅。實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1係分為觸控檢測動作(觸控檢測動作期間)與顯示動作(顯示期間)，分時地對驅動電極COML供給驅動信號Vcom(顯示用驅動電壓VcomDC及驅動信號VcomAC)。如上所述，實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1亦可於1顯示水平期間內，分為觸控檢測動作(觸控檢測動作期間)與顯示動作(顯示期間)，分時地對驅動電極COML供給驅動信號Vcom(顯示用驅動電壓VcomDC及驅動信號VcomAC)。又，實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1亦可於1顯示水平期間內，分為複數個觸控檢測動作(觸控檢測動作期間)與複數個顯示動作(顯示期間)，分時地對驅動電極COML供給驅動信號Vcom(顯示用驅動電壓VcomDC及驅動信號VcomAC)。實施形態1之附有觸控檢測功能之顯 示裝置1亦可分為觸控檢測動作(觸控檢測動作期間)與顯示動作(顯示期間)，於1個顯示期間內處理複數個水平期間量之顯示動作。
[效果]
如以上說明，在實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置中，對將顯示用驅動電壓VcomDC供給至驅動電極COML之顯示用配線LDC及將觸控用驅動信號VcomAC供給至驅動電極COML之觸控用配線LAC引繞於框架區域。例如，在使用FFS等之橫向電場模式之液晶之液晶顯示部中，將顯示用配線LDC配置於與色區域32R、32G、32B對應之像素附近者具有使顯示功能層穩定動作之傾向。因此，選擇開關SW1(將SW1設為SW1、SW2、SW3、SW4之代表例)係配置於觸控用配線LAC、顯示用配線LDC之間。選擇開關SW在階層不同之通孔中具備連接導體Q1、Q2及Q3。選擇開關SW1係於每個驅動電極COML中具備複數個開關COMSW，且根據開關控制信號Ssw、Sxsw，於每個驅動電極COML皆進行動作，連接觸控用配線LAC與驅動電極COML，並施加觸控用驅動信號VcomAC。藉此，藉由增加供電之連接導體Q1、Q2及Q3之數量，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
觸控用配線LAC具有開關SW1之特定之連接電阻成分、及對屬於經由該觸控用配線LAC被供給驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B之驅動電極COML之寄生電容。因此，在配置於自COG19(驅動信號產生部)離開之位置之驅動電極區塊B中，驅動信號VcomAC之脈衝之轉變時間有變長之可能性。對此，實施形態1之選擇開關SW1可於每個驅動電極COML中具備複數個開關COMSW之CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2，且並聯連接於觸控用配線LAC與驅動電極COML之間，可根據選擇信號即開關控制信號，於每個驅動電極COML中皆進行動作，連接觸控用配線LAC與驅動電極COML，並施加觸控用驅 動信號VcomAC。接著，實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可降低開關SW1之連接電阻。其結果，實施形態1之附有觸控檢測功能之顯示裝置1係可以配置於觸控用配線LAC之末端部附近之驅動電極區塊B抑制驅動信號VcomAC之脈衝之轉變時間變長之可能性。
<1-2.實施形態2>
其次，說明實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置1。圖23係顯示實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置之控制裝置之一例之圖。圖24係顯示實施形態2之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。圖25係顯示實施形態2之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例之方塊圖。另，對與上述實施形態1所說明者相同之構成要件標註相同符號且省略重複說明。圖25及圖26說明第1閘極驅動器12A側之構成，第2閘極驅動器12B之構成亦相同。
如圖23所示，像素基板2位於透明絕緣基板(例如玻璃基板)之TFT基板21之表面，具備矩陣狀(列行狀)地配置多個包含液晶胞之像素而形成之顯示區域Ad、源極驅動器(水平驅動電路)13、及閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B。閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B作為第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，以夾著顯示區域Ad之方式予以配置。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B係交替地對掃描方向之掃描線GCL施加垂直掃描脈衝，且以列單位選擇顯示區域Ad之各副像素SPix。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B係配置於掃描線GCL之長邊方向之端部，且對隔條之掃描線GCL交替地施加垂直掃描脈衝，並以列單位選擇顯示區域Ad之各像素。
因此，如圖24所示，於第1閘極驅動器12A側、或第2閘極驅動器12B側，超過顯示區域Ad且通過框架Gd而到達第1閘極驅動器12A、或第2閘極驅動器12B之掃描線GCL之數量係變得較實施形態1要少。藉此，在框架Gd中，奇數或偶數之掃描線GCL係通過顯示區域Ad與 第1閘極驅動器12A、或第2閘極驅動器12B之間。其結果，選擇開關SW1之CMOS開關CMOS1配置於位於與觸控用配線LAC(顯示用配線LDC)立體交叉之掃描線GCL間(例如掃描線GCLm+1與掃描線GCLm+3之間)之區域。例如，連接於第1閘極驅動器12A之掃描線GCL(例如掃描線GCLm+1與掃描線GCLm+3)，係與第1閘極驅動器12A側之觸控用配線LAC立體交叉，而不與第2閘極驅動器12B側之觸控用配線LAC立體交叉。且，連接於第2閘極驅動器12B之掃描線GCL(例如掃描線GCLm+2與掃描線GCLm+4)，係與第2閘極驅動器12B側之觸控用配線LAC立體交叉，而不與第1閘極驅動器側之觸控用配線LAC立體交叉。因此，與觸控用配線LAC(顯示用配線LDC)立體交叉之掃描線GCL彼此之間隔，變得比顯示區域Ad中相鄰之掃描線GCL彼此之間隔大。即，框架Gd中掃描線GCL之間隔，亦變得比顯示區域Ad中鄰接之掃描線GCL之間隔大。且，因框架Gd中掃描線GCL之間隔變寬，故選擇開關SW1(CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2)之可配置面積增加。例如，藉由增加連接導體Q1、Q2、Q3之數量或增加面積，可降低選擇開關SW1中之連接電阻。
另，選擇開關SW1不僅配置於第1閘極驅動器12A側之框架區域Gd，亦配置於第2閘極驅動器12B側之框架區域Gd。配置於第2閘極驅動器12B側之框架區域Gd之選擇開關SW1可選擇配置於第2閘極驅動器12B側之觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接、或顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接。此種情形時，第1閘極驅動器12A側之選擇開關與第2閘極驅動器12B側之選擇開關中，連接於同一驅動電極COML之選擇開關彼此係各自選擇同種配線(觸控用配線LAC或顯示用配線LDC)。例如，第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接之情形時，與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML之第2閘極驅動器12B側 之選擇開關SW1選擇觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接。第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接之情形時，與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML之第2閘極驅動器12B側之選擇開關SW1選擇顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接。
[效果]
如實施形態1所示，在對應於副像素SPix之1間距之掃描線GCL之間配置有選擇開關SW1之情形時，若像素間距隨著高精度化而變窄，則有選擇開關SW1之連接電阻增加之可能性。對此，在實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，因可於相較於對應於副像素SPix之1間距之掃描線GCL之間隔更大之間隔配置選擇開關SW1，故即使高精度化而使像素間距變窄，亦可維持較低之開關SW1之連接電阻。又，藉由增加供電之連接導體Q1、Q2及Q3之數量，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
觸控用配線LAC具有開關SW1之特定之連接電阻成分、及對屬於經由觸控用配線LAC被供給驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B之驅動電極COML之寄生電容。因此，在配置於自COG19(驅動信號產生部)離開之位置之驅動電極區塊B中，有驅動信號VcomAC之脈衝之轉變時間變長之可能性。對此，實施形態2之選擇開關SW1(將SW1作為SW1、SW2、SW3、SW4之代表例)可於每個驅動電極COML具備複數個開關COMSW之CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2，且並聯連接於觸控用配線LAC與驅動電極COML之間，可根據選擇信號即開關控制信號，於每個驅動電極COML皆進行動作，連接觸控用配線LAC與驅動電極COML，並施加觸控用驅動信號VcomAC。且，實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置1係降低開關SW1之連接電阻，以配置於配線LAC之末端部附近之驅動電極區塊B抑制驅動信號VcomAC 之脈衝之轉變時間變長之可能性。
又，實施形態2之開關SW1之尺寸可朝與掃描線平行之方向縮小，朝與掃描線正交之方向增大。藉此，實施形態2之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可縮小框架Gd中與配置開關SW1之區域之掃描線平行之方向之寬度，即圖7所示之寬度Gdv。
<1-3.實施形態3>
其次，說明實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置1。圖26係顯示實施形態3之驅動電極驅動器之驅動部之方塊圖。圖27係顯示實施形態3之驅動電極驅動器之選擇開關之配置例之方塊圖。另，對與上述實施形態1及實施形態2所說明者相同之構成要件標註相同符號且省略重複說明。圖25及圖26說明第1閘極驅動器12A側之驅動電極驅動器，第2閘極驅動器12B之構成亦相同。
如圖23所示，於實施形態3中，像素基板2亦位於透明絕緣基板(例如玻璃基板)之TFT基板21之表面，具備矩陣狀(列行狀)地配置多個包含液晶胞之像素而形成之顯示區域Ad、源極驅動器(水平驅動電路)13、及閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B。閘極驅動器(垂直驅動電路)12A、12B作為第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B，以夾著顯示區域Ad之方式配置。第1閘極驅動器12A、第2閘極驅動器12B係交替地對掃描方向之上述掃描線施加垂直掃描脈衝，且以列單位選擇顯示區域Ad之各副像素SPix。
如圖26所示，於第1閘極驅動器12A側、或第2閘極驅動器12B側，超過顯示區域Ad且通過框架Gd而到達第1閘極驅動器12A、或第2閘極驅動器12B之掃描線GCL之數量係變得較實施形態1要少。又，於相鄰之開關COMSW之間配置有複數條掃描線GCLm+2、GCLm+4(複數條掃描線GCLm+6、GCLm+8)。其係與第1閘極驅動器12A(第2閘極驅動器12B)之閘極位移暫存器120SR之週期一致。閘極位移暫存器120SR 係成對控制2條掃描線GCL。因此，於選擇開關SW1中，開關COMSW成為4個副像素SPix量之間距，且重複間距成為與8個副像素SPix相同。藉此，在框架Gd中，奇數或偶數之掃描線GCL通過顯示區域Ad與第1閘極驅動器12A、或第2閘極驅動器12B之間。其結果，CMOS開關CMOS2係配置於位於與觸控用配線LAC(顯示用配線LDC)立體交叉，且與CMOS開關CMOS1及CMOS開關CMOS2鄰接之掃描線GCL彼此之間(例如掃描線GCLm+4與掃描線GCLm+8)之區域。例如，連接於第1閘極驅動器12A之掃描線GCL(例如掃描線GCLm+2、掃描線GCLm+4、掃描線GCLm+6、掃描線GCLm+8)，係與第1閘極驅動器12A側之觸控用配線LAC立體交叉，而不與第2閘極驅動器側之觸控用配線LAC立體交叉。且，連接於第2閘極驅動器之掃描線(例如掃描線GCLm+1、掃描線GCLm+3、掃描線GCLm+5、掃描線GCLm+7)，係與第2閘極驅動器側之觸控用配線LAC立體交叉，而不與第1閘極驅動器側之觸控用配線LAC立體交叉。因此，與觸控用配線LAC(顯示用配線LDC)立體交叉之掃描線GCL彼此之間隔變得較顯示區域Ad中相鄰之掃描線GCL彼此之間隔更大。且，因框架Gd中掃描線GCL之間隔變寬，故選擇開關SW1(CMOS開關CMOS2)之可配置面積增加。例如，藉由增加連接導體Q1、Q2、Q3之數量或增加面積，可降低選擇開關SW1中之連接電阻。
另，選擇開關SW1不僅配置於第1閘極驅動器12A側之框架區域Gd，亦配置於第2閘極驅動器12B側之框架區域Gd。配置於第2閘極驅動器12B側之框架區域Gd之選擇開關SW1可選擇配置於第2閘極驅動器12B側之觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接、或顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接。此種情形時，第1閘極驅動器12A側之選擇開關與第2閘極驅動器12B側之選擇開關中，連接於同一驅動電極COML之選擇開關彼此係各自選擇同種配線(觸控用配線LAC或顯示 用配線LDC)。例如，第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接之情形時，與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML之第2閘極驅動器12B側之選擇開關SW1選擇觸控用配線LAC與驅動電極COML之連接。第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1選擇顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接之情形時，與第1閘極驅動器12A側之選擇開關SW1連接於同一驅動電極COML之第2閘極驅動器12B側之選擇開關SW1選擇顯示用配線LDC與驅動電極COML之連接。
[效果]
如實施形態1所示，在對應於副像素SPix之1間距之掃描線GCL之間配置有選擇開關SW1之情形時，若像素間距隨著高精度化而變窄，則有選擇開關SW1之連接電阻增加之可能性。對此，在實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置1中，因可於相較於對應於副像素SPix之1間距之掃描線GCL之間隔更大之間隔配置選擇開關SW1，故即使高精度化而使像素間距變窄，亦可維持較低之開關SW1之連接電阻。又，藉由增加供電之連接導體Q1、Q2及Q3之數量，可降低選擇開關SW1之連接電阻。
觸控用配線LAC具有開關SW1之特定之連接電阻成分、及對屬於經由觸控用配線LAC被供給驅動信號VcomAC之驅動電極區塊B之驅動電極COML之寄生電容。因此，在配置於自COG19(驅動信號產生部)離開之位置之驅動電極區塊B中，有驅動信號VcomAC之脈衝之轉變時間變長之可能性。對此，實施形態3之選擇開關SW1(將SW1作為SW1、SW2、SW3、SW4之代表例)可於每個驅動電極COML具備複數個開關COMSW之CMOS開關CMOS1、CMOS開關CMOS2，且並聯連接於觸控用配線LAC與驅動電極COML之間，可根據選擇信號即開關控制信號，於每個驅動電極COML皆進行動作，連接觸控用配線LAC 與驅動電極COML，並施加觸控用驅動信號VcomAC。且，實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置1係降低開關SW1之連接電阻，以配置於配線LAC之末端部附近之驅動電極區塊B抑制驅動信號VcomAC之脈衝之轉變時間變長之可能性。
又，實施形態3之開關SW1之尺寸可朝與掃描線平行之方向縮小，朝與掃描線正交之方向增大。藉此，實施形態3之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可縮小框架Gd中與配置開關SW1之區域之掃描線平行之方向之寬度，即圖7所示之寬度Gdv。
以上，雖例舉數個實施形態及變化例進行說明，但本揭示不限定於該等實施形態等，而可進行多種變形。
又，上述各實施形態及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可將使用FFS、IPS等之各種模式之液晶之液晶顯示部20與觸控檢測器件30一體化而作為附有觸控檢測功能之顯示部10。圖28係表示變化例之附有觸控檢測功能之顯示部之概略剖面構造之剖面圖。取而代之，圖28所示之變化例之附有觸控檢測功能之顯示部10亦可將TN(Twisted Nematic：扭轉向列)、VA(Vertical Alignment：垂直配向)、ECB(Electrically Controlled Birefringence：電控雙折射)等之各種模式之液晶與觸控檢測器件一體化。
如圖28所示，對向基板3中具有驅動電極COML之情形時，觸控用配線LAC、顯示用配線LDC亦可於對向基板3所具備。藉由此構造，驅動電極COML與觸控用配線LAC(顯示用配線LDC)之距離變短。且，TFT基板21所具備之掃描線GCL係與上述之實施形態1、2、及3相同，與觸控用配線LAC、顯示用配線LDC立體交叉。其結果，觸控用配線LAC配設於在相對TFT基板21垂直之方向上位於顯示區域Ad之外側之框架區域Gd。
又，於上述各實施形態中，雖然採用將液晶顯示部20與靜電電 容型之觸控檢測器件30一體化之所謂內嵌類型，但並非限定於此，亦可取代之，例如為安裝有液晶顯示部20與靜電電容型之觸控檢測器件30之外掛類型。外掛類型之情形時，將圖8所示之像素基板2之驅動電極COML作為第1驅動電極COML，此外，於對向基板3之玻璃基板31之表面亦具備第2驅動電極COML，且第1驅動電極COML與第2驅動電極COML電性連接。該情形時，藉由採用如上所述之構成，亦可抑制外部雜訊或自液晶顯示部傳遞之雜訊(對應於上述各實施形態之內部雜訊者)之影響且進行觸控檢測。
<2.應用例>
其次，參照圖29~圖41，說明實施形態及變化例所說明之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之應用例。圖29~圖41係顯示應用本實施形態之附有觸控檢測功能之顯示裝置之電子機器之一例之圖。實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可應用於電視裝置、數位相機、筆記型個人電腦、行動電話等之移動終端裝置或攝像機等之所有領域之電子機器。換言之，實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1可應用於將自外部所輸入之影像信號或內部所產生之影像信號顯示為圖像或影像之所有領域之電子機器。
(應用例1)
圖29所示之電子機器係應用實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之電視裝置。該電視裝置係例如具有包含前面板511及濾光玻璃512之影像顯示畫面部510，且該影像顯示畫面部510係實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例2)
圖30及圖31所示之電子機器係應用實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之數位相機。該數位相機係例如具有快閃用發光部521、顯示部522、選單開關523及快門按鈕524，該顯示 部522係實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例3)
圖32所示之電子機器係表示應用實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之攝像機之外觀者。該攝像機係例如具有本體部531、設置於該本體部531之前方側面之被攝體攝影用之透鏡532、攝影時之啟動/停止開關533、及顯示部534。且，顯示部534係實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例4)
圖33所示之電子機器係應用實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之筆記型個人電腦。該筆記型個人電腦係例如具有本體541、用於文字等之輸入操作之鍵盤542、及顯示圖像之顯示部543，顯示部543係實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例5)
圖34~圖40所示之電子機器係應用實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1之行動電話。該行動電話係例如以連結部(鉸鏈部)553連結上側框體551與下側框體552者，具有顯示器554、子顯示器555、圖片燈556、及相機557。該顯示器554或子顯示器555係實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置。
(應用例6)
圖41所示之電子機器係作為移動型電腦、多功能行動電話、可語音通話之移動電腦或可通訊之移動電腦而進行動作，有時亦被稱為所謂智慧型電話、平板終端之資訊移動終端。該資訊移動終端係例如於框體561之表面具有顯示部562。該顯示部562係實施形態1、2、3及變化例之附有觸控檢測功能之顯示裝置1。
<3.本揭示之構成>
又，本揭示亦可採用以下構成。
(1)一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其具備：顯示區域，其於基板上矩陣狀地配置有複數個像素電極；複數個驅動電極，其係各自與上述複數個像素電極之至少1個對向而設置；顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之圖像顯示功能；控制裝置，其基於圖像信號，以於上述複數個像素電極與上述複數個驅動電極之間，施加顯示用驅動電壓使上述顯示功能層之圖像顯示功能得以發揮之方式，進行圖像顯示控制；複數個觸控檢測電極，其與上述複數個驅動電極對向，在其與上述複數個驅動電極之間形成靜電電容；觸控檢測部，其基於來自上述複數個觸控檢測電極之檢測信號，檢測出接近之物體之位置；觸控用配線，其配設於位於上述顯示區域之外側之框架區域，且將將觸控用驅動信號供給至上述複數個驅動電極；及複數個開關群，其係具備在每個上述複數個驅動電極，且各自包含根據上述控制裝置之選擇信號進行動作之複數個選擇開關；且上述複數個開關群根據上述控制裝置之選擇信號，自上述複數個驅動電極選擇與上述觸控用配線連接之驅動電極；每個上述複數個開關群之複數個選擇開關，係並聯連接於對應之驅動電極與上述觸控用配線之間，且根據上述選擇信號，於每個上述複數個驅動電極皆進行動作，連接上述對應之驅動電極與上述觸控用配線，並將上述觸控用驅動信號施加至上述對應之驅動電極。
(2)如上述技術方案(1)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置具備垂直驅動電路； 上述垂直驅動電路與選擇列單位之像素之複數條掃描線連接；上述複數個選擇開關係配置於位於與上述觸控用配線立體交叉之複數條掃描線，相鄰之該掃描線之間之區域。
(3)如上述技術方案(2)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述垂直驅動電路具備第1垂直驅動電路及第2垂直驅動電路；上述第1垂直驅動電路與上述第2垂直驅動電路係配置於上述複數條掃描線之長邊方向之端部，且對隔條之上述掃描線交替地施加垂直掃描脈衝，並以列單位選擇上述顯示區域之各像素；與上述觸控用配線立體交叉之掃描線彼此之間隔，係較上述顯示區域中相鄰之掃描線之間隔大。
(4)如上述技術方案(2)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述垂直驅動電路具備第1垂直驅動電路及第2垂直驅動電路；上述第1垂直驅動電路與上述第2垂直驅動電路，係於上述複數條掃描線之延伸方向上夾著上述複數條掃描線而配置，且對掃描方向之上述掃描線交替地施加垂直掃描脈衝，並以列單位選擇上述顯示區域之各像素；於相鄰之上述選擇開關之間配置複數條上述掃描線；與上述觸控用配線立體交叉且鄰接於上述選擇開關之掃描線彼此之間隔，係較上述顯示區域中相鄰之掃描線之間隔大。
(5)如上述技術方案(3)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控用配線具備上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線、及上述第2垂直驅動電路側之上述觸控用配線；連接於上述第1垂直驅動電路之掃描線，係與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第2垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉；連接於上述第2垂直驅動電路之掃描線，係與上述第2垂直驅動 電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉。
(6)如上述技術方案(4)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控用配線具備上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線、及上述第2垂直驅動電路側之上述觸控用配線；連接於上述第1垂直驅動電路之掃描線，係與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第2垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉；連接於上述第2垂直驅動電路之掃描線，係與上述第2垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉。
(7)如上述技術方案(2)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中與上述觸控用配線立體交叉之掃描線彼此之間隔，為上述顯示區域中相鄰之掃描線彼此之間隔。
(8)如上述技術方案(1)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中進而具備供給上述顯示用驅動電壓之顯示用配線，且上述顯示用配線係配置於較上述觸控用配線靠向顯示區域側。
(9)如上述技術方案(8)之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中每個上述複數個驅動電極之上述選擇開關，係分時選擇上述對應之驅動電極與上述顯示用配線之連接、及上述對應之驅動電極與上述觸控用配線之連接之任一者。
(10)一種電子機器，其係具備可檢測外部接近物體之附有觸控檢測功能之顯示裝置者；且上述附有觸控檢測功能之顯示裝置具備：顯示區域，其於基板上矩陣狀地配置有複數個像素電極；複數個驅動電極，其係各自與上述複數個像素電極之至少1個對 向而設置；顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之圖像顯示功能；控制裝置，其基於圖像信號，以於上述複數個像素電極與上述複數個驅動電極之間，施加顯示用驅動電壓使上述顯示功能層之圖像顯示功能得以發揮之方式，進行圖像顯示控制；複數個觸控檢測電極，其與上述複數個驅動電極對向，在其與上述複數個驅動電極之間形成靜電電容；觸控檢測部，其基於來自上述複數個觸控檢測電極之檢測信號，檢測出接近之物體之位置；觸控用配線，其配設於位於上述顯示區域之外側之框架區域，且將觸控用驅動信號供給至上述複數個驅動電極；及複數個開關群，其係具備在每個上述複數個驅動電極，且各自包含根據上述控制裝置之選擇信號進行動作之複數個選擇開關；且上述複數個開關群根據上述控制裝置之選擇信號，自上述複數個驅動電極選擇與上述觸控用配線連接之驅動電極；每個上述複數個開關群之複數個選擇開關，係並聯連接於對應之驅動電極與上述觸控用配線之間，且根據上述選擇信號，於每個上述複數個驅動電極皆進行動作，連接上述對應之驅動電極與上述觸控用配線，並將上述觸控用驅動信號施加至上述對應之驅動電極。
14A‧‧‧驅動電極掃描部
14B‧‧‧驅動電極掃描部
19‧‧‧COG
51‧‧‧掃描控制部
52‧‧‧觸控檢測掃描部
52SR‧‧‧驅動電極用位移暫存器
53‧‧‧驅動部
54‧‧‧邏輯積電路
65E‧‧‧輸出端子
66E‧‧‧輸出端子
530‧‧‧驅動部
Ad‧‧‧顯示區域
B‧‧‧驅動電極區塊
COML‧‧‧驅動電極
LAC‧‧‧觸控用配線
LDC‧‧‧顯示用配線
NTX‧‧‧非選擇驅動電極區塊
SDCK‧‧‧控制信號
SDST‧‧‧掃描開始信號
ST‧‧‧掃描信號
STX‧‧‧選擇驅動電極區塊
SW1~SW4‧‧‧開關
VcomAC‧‧‧觸控用驅動信號
VcomDC‧‧‧顯示用驅動電壓
VCOMSEL‧‧‧驅動電極選擇信號

Claims (10)

  1. 一種附有觸控檢測功能之顯示裝置，其包含：顯示區域，其於基板上矩陣狀地配置有複數個像素電極；複數個驅動電極，其係各自與上述複數個像素電極之至少1個對向而設置；顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之圖像顯示功能；控制裝置，其基於圖像信號，以於上述複數個像素電極與上述複數個驅動電極之間，施加顯示用驅動電壓使上述顯示功能層之圖像顯示功能得以發揮之方式，進行圖像顯示控制；複數個觸控檢測電極，其與上述複數個驅動電極對向，且在其與上述複數個驅動電極之間形成靜電電容；觸控檢測部，其基於來自上述複數個觸控檢測電極之檢測信號，檢測出接近之物體之位置；觸控用配線，其配設於位於上述顯示區域之外側之框架區域，且將觸控用驅動信號供給至上述複數個驅動電極；及複數個開關群，其係具備在每個上述複數個驅動電極，且各自包含根據上述控制裝置之選擇信號而進行動作之複數個選擇開關；且上述複數個開關群根據上述控制裝置之選擇信號，自上述複數個驅動電極選擇與上述觸控用配線連接之驅動電極；每個上述複數個開關群之複數個選擇開關，係並聯連接於對應之驅動電極與上述觸控用配線之間，且根據上述選擇信號，於每個上述複數個驅動電極皆進行動作，連接上述對應之驅動電極與上述觸控用配線，並將上述觸控用驅動信號施加至上述 對應之驅動電極。
  2. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述控制裝置包含垂直驅動電路；且上述垂直驅動電路與選擇列單位之像素之複數條掃描線連接；上述複數個選擇開關係配置於位於與上述觸控用配線立體交叉之複數條掃描線，相鄰之該掃描線之間之區域。
  3. 如請求項2之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述垂直驅動電路包含第1垂直驅動電路及第2垂直驅動電路；且上述第1垂直驅動電路與上述第2垂直驅動電路，係配置於上述複數條掃描線之長邊方向之端部，且對隔條之上述掃描線交替地施加垂直掃描脈衝，並以列單位選擇上述顯示區域之各像素；與上述觸控用配線立體交叉之掃描線彼此之間隔，係較上述顯示區域中相鄰之掃描線之間隔大。
  4. 如請求項2之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述垂直驅動電路包含第1垂直驅動電路及第2垂直驅動電路；且上述第1垂直驅動電路與上述第2垂直驅動電路，係於上述複數條掃描線之延伸方向上夾著上述複數條掃描線而配置，且對掃描方向之上述掃描線交替地施加垂直掃描脈衝，並以列單位選擇上述顯示區域之各像素；於相鄰之上述選擇開關之間，配置複數條上述掃描線；與上述觸控用配線立體交叉且鄰接於上述選擇開關之掃描線彼此之間隔，係較上述顯示區域中相鄰之掃描線之間隔大。
  5. 如請求項3之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控用配線包含上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線、及上述第2垂直 驅動電路側之上述觸控用配線；且連接於上述第1垂直驅動電路之掃描線，係與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第2垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉；連接於上述第2垂直驅動電路之掃描線，係與上述第2垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉。
  6. 如請求項4之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中上述觸控用配線包含上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線、及上述第2垂直驅動電路側之上述觸控用配線；且連接於上述第1垂直驅動電路之掃描線，係與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第2垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉；連接於上述第2垂直驅動電路之掃描線，係與上述第2垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉，而不與上述第1垂直驅動電路側之觸控用配線立體交叉。
  7. 如請求項2之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中與上述觸控用配線立體交叉之掃描線彼此之間隔，為上述顯示區域中相鄰之掃描線彼此之間隔。
  8. 如請求項1之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中進而包含供給上述顯示用驅動電壓之顯示用配線，且上述顯示用配線係配置於較上述觸控用配線靠向顯示區域側。
  9. 如請求項8之附有觸控檢測功能之顯示裝置，其中每個上述複數個驅動電極之上述選擇開關，係分時選擇上述對應之驅動電極與上述顯示用配線之連接、及上述對應之驅動電極與上述觸控用配線之連接之任一者。
  10. 一種電子機器，其係包含可檢測外部接近物體之附有觸控檢測功能之顯示裝置者；且上述附有觸控檢測功能之顯示裝置包含：顯示區域，其於基板上矩陣狀地配置有複數個像素電極；複數個驅動電極，其係各自與上述複數個像素電極之至少1個對向而設置；顯示功能層，其具有於上述顯示區域顯示圖像之圖像顯示功能；控制裝置，其基於圖像信號，以於上述複數個像素電極與上述複數個驅動電極之間，施加顯示用驅動電壓使上述顯示功能層之圖像顯示功能得以發揮之方式，進行圖像顯示控制；複數個觸控檢測電極，其與上述複數個驅動電極對向，且在其與上述複數個驅動電極之間形成靜電電容；觸控檢測部，其基於來自上述複數個觸控檢測電極之檢測信號，檢測出接近之物體之位置；觸控用配線，其配設於位於上述顯示區域之外側之框架區域，且將觸控用驅動信號供給至上述複數個驅動電極；及複數個開關群，其係具備在每個上述複數個驅動電極，且各自包含根據上述控制裝置之選擇信號進行動作之複數個選擇開關；且上述複數個開關群根據上述控制裝置之選擇信號，自上述複數個驅動電極選擇與上述觸控用配線連接之驅動電極；每個上述複數個開關群之複數個選擇開關，係並聯連接於對應之驅動電極與上述觸控用配線之間，且根據上述選擇信號，於每個上述複數個驅動電極皆進行動作，連接上述對應之驅動電極與上述觸控用配線，並將上述觸控用驅動信號施加至上述對應之驅動電極。
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