TWI506592B - 電子裝置及其圖像相似度比較的方法 - Google Patents
電子裝置及其圖像相似度比較的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI506592B TWI506592B TW100100295A TW100100295A TWI506592B TW I506592 B TWI506592 B TW I506592B TW 100100295 A TW100100295 A TW 100100295A TW 100100295 A TW100100295 A TW 100100295A TW I506592 B TWI506592 B TW I506592B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- algorithm
- image
- comparison
- electronic device
- comparison algorithm
- Prior art date
Links
Landscapes
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Processing Or Creating Images (AREA)
Description
本發明涉及一種電子裝置,更具體地,涉及一種電子裝置及其圖像相似度比較的方法。
目前,在圖像分析學上,兩幅圖像都是通過單一演算法來比較其相似度,比較的速度要麼慢或者要麼比較的準確度不高,不能滿足用戶要求準確度高的同時還滿足速度快的要求。尤其,若要快速比較一定數量的圖像,每相鄰兩幅圖像之間進行比較速度就更慢。因此,現有的圖像相似度比較方法沒有提供多種演算法供用戶選擇,難以滿足速度和精度的要求。
為了解決上述存在的問題,本發明的目的在於,提供一種電子裝置,其包括一輸入單元,用於接收用戶的輸入操作產生一輸入訊號;一顯示單元,用於顯示資訊,一存儲單元,其存儲多種圖像相似度比較演算法及每一演算法的選擇參考值;一圖像處理單元,用於對圖像進行處理形成圖像二維陣列資料;及一控制單元,用於回應輸入單元產生的一第一輸入訊號導入多媒體檔,控制圖像處理單元進行圖像處理形成圖像二維陣列資料,回應輸入單元產生的一第二輸入訊號從存儲單元中獲取一演算法選擇參考值及
選擇一圖像相似度比較演算法,根據該比較演算法比對圖像資料形成資料分析結果。
一種電子裝置的圖像相似度比較的方法,該電子裝置存儲有多種圖像相似度比較演算法、每一演算法的選擇參考值及及每一演算法的相似預設值,該方法包括如下步驟:回應一第一輸入訊號導入多媒體檔,進行圖像處理形成圖像二維陣列資料;回應一第二輸入訊號獲取一演算法選擇參考值及選擇一圖像相似度比較演算法;根據該比較演算法比對圖像資料得出比較參數的相似值,計算比較參數相似的百分比;如果該百分比達到一預設值,輸出兩張圖像相同的結果;及如果該百分比未達到該預設值,輸出兩張圖像不相同的結果。
本發明一種電子裝置及其圖像相似度比較的方法,本發明提供三種演算法,根據用戶對精度或效率的不同要求,設置一個參數值選擇一演算法,從而電子裝置選擇一滿足用戶要求的演算法。
1‧‧‧電子裝置
10‧‧‧輸入單元
20‧‧‧控制單元
30‧‧‧圖像處理單元
40‧‧‧顯示單元
50‧‧‧存儲單元
51‧‧‧整圖比較演算法庫
52‧‧‧分塊比較演算法庫
53‧‧‧抽選比較演算法庫
54‧‧‧演算法選擇參考值
210‧‧‧檔導入模組
220‧‧‧演算法獲取模組
230‧‧‧參數比對模組
240‧‧‧計算模組
250‧‧‧判斷模組
260‧‧‧輸出控制模組
圖1是本發明一電子裝置的硬體結構示意圖;圖2為圖1所示的電子裝置的控制單元的子模組示意圖;及圖3是圖1的電子裝置比較圖像相似度的方法流程圖。
圖1是本發明一電子裝置的硬體結構示意圖。該電子裝置1包括一輸入單元10、一控制單元20、一圖像處理單元30、一顯示單元40及一存儲單元50。該輸入單元10用於接收用戶的輸入操作產生一輸入訊號。該控制單元20用於控制整個電子裝置1。如圖2所示,
該控制單元20進一步包括一檔導入模組210、一演算法獲取模組220、一參數比對模組230、一計算模組240、一判斷模組250及一輸出控制模組260。該圖像處理單元30用於處理電子裝置1中的圖像。該顯示單元40用於顯示資訊。
該存儲單元50用於存儲一整圖比較演算法庫51、分塊比較演算法庫52、抽選比較演算法庫53及演算法選擇參考值54。該整圖比較演算法庫51存儲有一針對圖像的每個圖元點逐一比對,得出圖元點相似值的演算法。在該整圖比較演算法中,兩圖像的比較參數是每個圖元點。該分塊比較演算法庫52存儲有一將圖像劃分為若干小塊,針對每一小塊進行比較,得出小塊相似值的演算法。在該分塊比較演算法中,兩圖像的比較參數是小塊圖像的圖元點。該抽選比較演算法庫53存儲有一根據每個圖元點在圖像中的座標位置隨機選擇任意座標的圖元點進行比對的演算法。在該抽選比較演算法中,兩圖像的比較參數是隨機抽選的圖元點。
該演算法選擇參考值54包括各演算法的參考值。例如,該整圖比較演算法的選擇參考值為a,該分塊比較演算法的選擇參考值為b,該抽選比較演算法的選擇參考值為c。
該控制單元20回應輸入單元10的輸入訊號選擇多種演算法中的一種,形成資料分析結果。該輸入單元10根據用戶的輸入操作產生一第一輸入訊號,檔導入模組210導入一多媒體檔,如一視頻或影片。圖像處理單元30對該多媒體檔進行圖像處理形成圖像二維陣列資料。該輸入單元10根據用戶的輸入操作產生一第二輸入訊號,演算法獲取模組220從存儲單元50中獲取一演算法選擇參考值及選擇一圖像相似度比較演算法。用戶可根據自己的需求控制
輸入單元10產生該第二輸入訊號,例如,當用戶需快速比對該多媒體檔時,輸入單元10產生的該第二輸入訊號為一關於抽選比較演算法的參考值c,當用戶需分析某一段多媒體檔,輸入單元10產生的該第二輸入訊號為一關於整圖比較演算法的參考值a。
該參數比對模組230根據該比較演算法比對圖像資料及得出比較參數的相似值,計算模組240計算比較參數相似的百分比。例如,選擇了整圖比較演算法,該參數比對模組230比對兩個圖像共100個圖元點的每個圖元點及得出圖元點相似的為88個,計算模組240計算圖元點相似的百分比為88%。
判斷模組250判斷比較參數相似的百分比是否達到預設值。當判斷模組250判斷出比較參數相似的百分比達到預設值,輸出控制模組260控制顯示單元40顯示兩張圖像相同的資訊。例如,整圖比較演算法的該預設值為85%,計算模組240計算出所有圖元點相似的百分比為88%,則比對的兩個圖像相同。當判斷模組250判斷出比較參數相似的百分比沒有達到預設值,輸出控制模組260控制顯示單元40顯示兩張圖像不相同的資訊。
圖3是圖1的電子裝置1比較圖像相似度的方法流程圖。
檔導入模組210回應輸入單元10產生的第一輸入訊號導入多媒體檔,圖像處理單元30對該多媒體檔進行圖像處理形成圖像二維陣列資料(步驟S310)。
演算法獲取模組220回應輸入單元10的第二輸入訊號從存儲單元50中獲取一演算法選擇參考值及選擇一圖像相似度比較演算法(步驟S320)。
參數比對模組230根據該比較演算法比對圖像資料,計算模組240計算比較參數相似的百分比(步驟S330)。
判斷模組250判斷比較參數相似的百分比是否達到預設值(步驟S340)。
如果判斷出比較參數相似的百分比達到預設值,輸出控制模組260控制顯示單元40顯示兩張圖像相同的資訊(步驟S350)。
如果判斷出比較參數相似的百分比沒有達到預設值,輸出控制模組260控制顯示單元40顯示兩張圖像不相同的資訊(步驟S360)。
本發明提供三種演算法,根據用戶對精度或效率的不同要求,設置一個參數值選擇一演算法,從而電子裝置選擇一滿足用戶要求的演算法。
儘管對本發明的優選實施方式進行了說明和描述,但是本領域的技術人員將領悟到,可以作出各種不同的變化和改進,這些都不超出本發明的真正範圍。因此期望,本發明並不局限於所公開的作為實現本發明所設想的最佳模式的具體實施方式,本發明包括的所有實施方式都有所附權利要求書的保護範圍內。
1‧‧‧電子裝置
10‧‧‧輸入單元
20‧‧‧控制單元
30‧‧‧圖像處理單元
40‧‧‧顯示單元
50‧‧‧存儲單元
51‧‧‧整圖比較演算法庫
52‧‧‧分塊比較演算法庫
53‧‧‧抽選比較演算法庫
54‧‧‧演算法選擇參考值
Claims (7)
- 一種電子裝置,其包括一輸入單元,用於接收用戶的輸入操作產生一輸入訊號;一顯示單元,用於顯示資訊,其改良在於,該電子裝置還包括:一存儲單元,其存儲多種圖像相似度比較演算法及每一演算法的選擇參考值;一圖像處理單元,用於對圖像進行處理形成圖像二維陣列資料;及一控制單元,用於回應輸入單元產生的一第一輸入訊號導入多媒體檔,控制圖像處理單元進行圖像處理形成圖像二維陣列資料,回應輸入單元產生的一第二輸入訊號生成一演算法選擇參考值並根據該演算法選擇參考值從存儲單元中獲取對應的圖像相似度比較演算法,根據該比較演算法比對圖像資料形成資料分析結果。
- 如申請專利範圍第1項所述的電子裝置,其中,該電子裝置存儲有三種不同圖像相似度比較演算法,其分別為:整圖比較演算法、分塊比較演算法及抽選比較演算法。
- 如申請專利範圍第2項所述的電子裝置,其中,整圖比較演算法是圖像的全部圖元逐一進行比對,得出圖元相似值,分塊比較演算法是對圖像進行分塊,分別對各相應塊進行比較,得出塊相似值,抽選比較演算法是按照一定步長抽取圖元進行比較,得出圖元相似值。
- 如申請專利範圍第1項所述的電子裝置,其中,存儲單元還存儲有每一演算法的相似預設值,控制單元形成資料分析結果的具體過程為:得出比較參數的相似值,計算比較參數相似的百分比,當該百分比達到存儲單元中該比較演算法的相似預設值時,輸出兩張圖像相同的結果,及當該 百分比未達到該預設值時,輸出兩張圖像不相同的結果。
- 一種電子裝置的圖像相似度比較的方法,該電子裝置存儲有多種圖像相似度比較演算法、每一演算法的選擇參考值及及每一演算法的相似預設值,其改良在於,該方法包括如下步驟:回應一第一輸入訊號導入多媒體檔,進行圖像處理形成圖像二維陣列資料;回應一第二輸入訊號確定一演算法選擇參考值及根據該演算法選擇參考值獲取一對應的圖像相似度比較演算法;根據該比較演算法比對圖像資料得出比較參數的相似值,計算比較參數相似的百分比;如果該百分比達到一預設值,輸出兩張圖像相同的結果;及如果該百分比未達到該預設值,輸出兩張圖像不相同的結果。
- 如申請專利範圍第5項所述的電子裝置的圖像相似度比較的方法,其中,該電子裝置存儲有三種不同圖像相似度比較演算法,其分別為:整圖比較演算法、分塊比較演算法及抽選比較演算法。
- 如申請專利範圍第6項所述的電子裝置的圖像相似度比較的方法,其中,整圖比較演算法是圖像的全部圖元點逐一進行比對,得出圖元點相似值,分塊比較演算法是對圖像進行分塊,分別對各相應塊進行比較,得出塊相似值,抽選比較演算法是按照一定步長抽取圖元點進行比較,得出圖元點相似值。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100100295A TWI506592B (zh) | 2011-01-05 | 2011-01-05 | 電子裝置及其圖像相似度比較的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100100295A TWI506592B (zh) | 2011-01-05 | 2011-01-05 | 電子裝置及其圖像相似度比較的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201229961A TW201229961A (en) | 2012-07-16 |
TWI506592B true TWI506592B (zh) | 2015-11-01 |
Family
ID=46934080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW100100295A TWI506592B (zh) | 2011-01-05 | 2011-01-05 | 電子裝置及其圖像相似度比較的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI506592B (zh) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7155052B2 (en) * | 2002-06-10 | 2006-12-26 | Tokyo Seimitsu (Israel) Ltd | Method for pattern inspection |
US20100027893A1 (en) * | 2008-07-30 | 2010-02-04 | Konica Minolta Systems Laboratory, Inc. | Method of digital image comparison for imaging software development |
CN101095149B (zh) * | 2004-05-28 | 2010-06-23 | 索尼英国有限公司 | 图像比较设备和图像比较方法 |
-
2011
- 2011-01-05 TW TW100100295A patent/TWI506592B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7155052B2 (en) * | 2002-06-10 | 2006-12-26 | Tokyo Seimitsu (Israel) Ltd | Method for pattern inspection |
CN101095149B (zh) * | 2004-05-28 | 2010-06-23 | 索尼英国有限公司 | 图像比较设备和图像比较方法 |
US20100027893A1 (en) * | 2008-07-30 | 2010-02-04 | Konica Minolta Systems Laboratory, Inc. | Method of digital image comparison for imaging software development |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201229961A (en) | 2012-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101639852B1 (ko) | 그래픽 프로세싱을 위한 픽셀 값 압축 | |
CN104394422B (zh) | 一种视频分割点获取方法及装置 | |
TWI513953B (zh) | 點雲間隙與斷差量測系統及方法 | |
EP2972950B1 (en) | Segmentation of content delivery | |
US10580143B2 (en) | High-fidelity 3D reconstruction using facial features lookup and skeletal poses in voxel models | |
WO2014044158A1 (zh) | 一种图像中的目标物体识别方法及装置 | |
JP2014002722A5 (zh) | ||
JP2011129092A5 (zh) | ||
US9697581B2 (en) | Image processing apparatus and image processing method | |
US8442327B2 (en) | Application of classifiers to sub-sampled integral images for detecting faces in images | |
JP2018511874A (ja) | 3次元モデリング方法及び装置 | |
TWI547853B (zh) | 使用者介面顯示系統及方法 | |
US10998007B2 (en) | Providing context aware video searching | |
US20120170866A1 (en) | Electronic device and image comparison method thereof | |
US10628999B2 (en) | Method and apparatus with grid-based plane estimation | |
US20210166476A1 (en) | Automatic 3D Image Reconstruction Process from Real-World 2D Images | |
TW201436552A (zh) | 用於使用至少一較高訊框率之影像流而增加影像流之訊框率之方法及裝置 | |
TWI506567B (zh) | 圖像處理裝置及其物體輪廓的提取方法 | |
CN116109765A (zh) | 标注对象的三维渲染方法、装置、计算机设备、存储介质 | |
JP5976126B2 (ja) | ターゲットサイズを見積もるためのシステム及び方法 | |
US9036921B2 (en) | Face and expression aligned movies | |
CN116524088B (zh) | 珠宝虚拟试戴方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
TWI506592B (zh) | 電子裝置及其圖像相似度比較的方法 | |
CN114913277A (zh) | 一种物体立体交互展示方法、装置、设备及介质 | |
JP5882883B2 (ja) | テロップ検出装置、テロップ検出方法及びテロップ検出プログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |