TWI503722B - 觸控顯示裝置 - Google Patents

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TWI503722B
TWI503722B TW102122008A TW102122008A TWI503722B TW I503722 B TWI503722 B TW I503722B TW 102122008 A TW102122008 A TW 102122008A TW 102122008 A TW102122008 A TW 102122008A TW I503722 B TWI503722 B TW I503722B
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touch display
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liang-hua Mo
Guang Ouyang
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Focaltech Systems Ltd
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Description

觸控顯示裝置
本發明涉及觸控技術領域,尤其涉及一種觸控顯示裝置。
現有觸控式螢幕上多採用的On-cell佈設方案,On-cell是指將觸摸面板功能模組嵌入到顯示幕的彩色濾光片基板上表面的技術。在液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)的上玻璃基板的上表面製作橫向和縱向電極,然後橫向和縱向電極通過導線經柔性電路板(Flexible Printed Circuit,FPC)連接到觸摸控制晶片。這種採用橫縱電極的方案,由於橫縱電極的佈置為從觸控式螢幕的一邊延伸至對邊佔據觸控式螢幕較長的空間。當多個手指觸摸時,會同時觸摸到同一個電極。這樣,多個手指的雜訊就會在同一個電極上疊加,增強了雜訊的干擾幅度。
本發明實施例提供一種觸控顯示裝置,可以降低檢測觸摸點時的雜訊的干擾幅度。
本發明實施例提供的觸控顯示裝置,包括:第一基板、第二基板,夾設於所述第一基板和所述第二基板之間的液晶層; 設置於所述第一基板上表面的多個感應電極,所述多個感應電極採用二維陣列方式排布;綁定於所述第一基板上表面的觸控晶片,所述多個感應電極中的每個感應電極通過導線與所述觸控晶片連接;所述觸控晶片對所述每個感應電極的電容進行檢測。
優選地,所述觸控晶片對所述每個感應電極的電容進行檢測的方式採用自電容的檢測方式。
優選地,所述導線佈置在所述多個感應電極的同一層;或者所述導線佈置在所述多個感應電極的不同層。
優選地,所述觸控晶片以玻璃覆晶(Chip-on-Glass)方式綁定到所述第一基板的上表面。
優選地,所述觸控顯示裝置還包括:柔性線路板,所述柔性線路板綁定到第一基板的上表面,並且與所述觸控晶片相連接。
優選地,所述觸控晶片採用跟隨驅動方式對所述每個感應電極進行檢測。
優選地,所述觸控晶片配置為通過以下方法檢測每個感應電極的自電容:同時檢測所有感應電極;或者分組檢測所述每個感應電極。
優選地,所述觸控晶片配置為通過以下方法檢 測所述每個感應電極的自電容:用電壓源或電流源驅動所述感應電極;以及檢測所述感應電極的電壓或頻率或電量。
優選地,所述觸控晶片配置為通過以下方法檢測每個感應電極的自電容:驅動並檢測所述感應電極,同時驅動其餘感應電極;或者驅動並檢測所述感應電極,同時驅動所述感應電極周邊的感應電極;其中,驅動所述感應電極的信號和同時驅動所述其餘電極及所述感應電極周邊電極的信號是相同的電壓或電流信號,或者是不同的電壓或電流信號。
優選地,對於所述每個感應電極,所述電壓源或電流源具有同一頻率;或者,對於所述每個感應電極,所述電壓源或電流源具有兩個或兩個以上的頻率。
優選地,所述觸控晶片配置為根據二維的電容變化陣列來確定觸摸位置。
優選地,所述觸控晶片還配置為通過所述電壓源或電流源的參數來調整觸摸檢測的靈敏度或動態範圍,所述參數包括幅度、頻率和時序之中的任一個或組合。
優選地,所述感應電極的形狀是矩形、菱形、圓形或橢圓形。
優選地,所述每個感應電極由透明導電材料氧 化銦錫(ITO)或石墨烯所製成。
優選地,所述觸控顯示裝置的結構為平面轉換IPS型或者扭曲向列TN型。
根據本發明實施例公開的觸控顯示裝置,每個感應電極是相互獨立的,觸控晶片與每個感應電極分別通過導線相連接,實現了對真實多點觸摸的檢測,而且觸控晶片通過檢測所述每個感應電極的電容的方式檢測觸控物的觸摸,大幅提高了電源雜訊的抑制能力,從而降低了檢測觸摸點時的雜訊的干擾幅度。克服了現有技術中當多個手指觸摸時,會同時觸摸到同一個電極,這樣,多個手指的雜訊就會在同一個電極上疊加,增強了雜訊的干擾幅度的問題。
15‧‧‧第一基板
16‧‧‧第二基板
17‧‧‧液晶層
10‧‧‧觸控晶片
19‧‧‧感應電極
30‧‧‧第一偏光片
31‧‧‧第二偏光片
32‧‧‧保護蓋板
33‧‧‧彩色濾光層
34‧‧‧柔性電路板
35‧‧‧各向異性導電膜
22‧‧‧匯流排
2a-2d‧‧‧不同感應電極
24‧‧‧驅動源
23‧‧‧時序控制電路
D1-DN‧‧‧感應電極
T‧‧‧時間序
D1-Dj Group1‧‧‧電極
Dk-Dn Group2‧‧‧電極
41‧‧‧驅動源
42‧‧‧感應電極的對地電容
44‧‧‧噪音(Noise)
45‧‧‧電荷接收模組
S1-S3‧‧‧受控開關
51‧‧‧電壓源
50‧‧‧控制邏輯
501‧‧‧電源共模雜訊
502‧‧‧觸摸區
52‧‧‧參考電壓
53-55‧‧‧驅動源
56‧‧‧相鄰電極
57‧‧‧被測電極
58‧‧‧相鄰電極
59‧‧‧信號接收單元
6‧‧‧信號處理單元
70‧‧‧手指正常觸摸
71‧‧‧手指懸浮觸控
72‧‧‧有源/無源筆或細小導體
73‧‧‧帶手套觸摸
61‧‧‧獲取感應資料
62‧‧‧濾波和降噪
63‧‧‧尋找可能觸摸區域
64‧‧‧異常處理得到合理觸摸區
65‧‧‧計算觸摸的座標
66‧‧‧分析以往幀數據
67‧‧‧跟蹤觸摸軌跡
x1-x3‧‧‧對應座標
PT1-PT3‧‧‧觸摸感應值
PN1-PN3‧‧‧雜訊感應值
PNT1-PNT3‧‧‧電壓疊加感應值
11‧‧‧觸控式螢幕
12‧‧‧驅動和接收單元
13‧‧‧信號處理單元MCU/DSP
14‧‧‧存儲器SRAM
15‧‧‧傳輸口
第1A圖為本發明實施例所提供的觸控顯示裝置的一結構圖;第1B圖為本發明實施例所提供的觸控顯示裝置的另一結構圖;第2圖為本公開實施例的感應電極陣列的俯視圖;第3圖至第6圖為本公開實施例的感應電極驅動方法;第7圖為本公開實施例的電容式觸控式螢幕的四個應用方式;第8圖為本發明實施例的觸摸控制晶片的信號流圖; 第9A圖為採用重心演算法計算觸摸位置的座標的一個實施例;第9B圖為有雜訊的情況下採用重心演算法計算觸摸位置的座標;第10圖為本實施了中人機交互過程中觸控顯示裝置的控制原理圖。
本發明實施例提供一種觸控顯示裝置,可以降低檢測觸摸點時的雜訊的干擾幅度。
為了使本公開的目的、特徵和優點能夠更加的明顯易懂,下面將結合本公開實施例中的附圖,對本公開實施例的技術方案進行描述。顯然,所描述的實施例僅僅是本發明的一部分實施例。基於本公開實施例,本領域技術人員在不付出創造性勞動的前提下所獲得的任何其他實施例,都應當屬於本發明的保護範圍。為便於說明,表示結構的剖面圖不依一般比例而作局部放大。而且,附圖只是示例性的,其不應限制本發明的保護範圍。此外,在實際製作中應包含長度、寬度以及深度的三維尺寸。
第1A圖是本發明實施例所提供的觸控顯示裝置的結構示意圖。如1A圖所示,該觸控顯示裝置包括:第一基板15、第二基板16,夾設於所述第一基板15和所述第二基板16之間的液晶層17;設置於所述第一基板15上表面的多個感應電極19,所述多個感應電極19採用二 維陣列方式排布;綁定於所述第一基板15上表面的觸控晶片10,所述多個感應電極19中的每個感應電極通過導線與所述觸控晶片10連接;所述觸控晶片10對所述每個感應電極的電容進行檢測。優選地,所述觸控晶片10對所述每個感應電極19的檢測方式採用自電容的方式。
參閱第1B圖,實際上,本發明實施例中的觸控顯示裝置還可以包括第一偏光片30,該第一偏光片30位於所述第一基板15的上方;第二偏光片31,該第二偏光片31位於所述第二基板16的下方;保護蓋板32,該保護蓋板32位於所述第一偏光片上方。彩色濾光層33,該彩色濾光層33位於所述第一基板15和所述液晶層17之間。柔性電路板34(Flexible Printed Circuit,FPC),該柔性線路板綁定到第一基板15的上表面,並且與所述觸控晶片10相連接。
所述觸控顯示裝置的結構為平面轉換(In-Plane Switchin,IPS)型或者扭曲向列(Twisted Nematic,TN)型。
第一基板15是透明的,例如是玻璃襯底或柔性襯底。第一基板15上表面設置有多個感應電極19,所述多個感應電極19排列成二維陣列,可以是矩形陣列或其他類似形狀的二維陣列。對於電容式觸控式螢幕,每個感應電極19是一個電容感測器,電容感測器的電容在觸控式螢幕上相應位置被觸摸時發生變化。
每個感應電極19通過導線連接到觸控晶片 10,觸控晶片10綁定到第一基板15上表面。由於與每個感應電極19分別通過導線相連接,觸控晶片10的管腳很多,因此,將觸控晶片10綁定到第一基板15上能夠避免常規封裝的困難。具體地,觸控晶片10可通過玻璃覆晶(Chip-on-Glass,簡稱COG)方式綁定到襯底上。根據本實施例,觸控晶片10與第一基板15之間可存在各向異性導電膜35(ACF)。
此外,常規的柔性電路板34(FPC)連接要求在硬體上給觸控晶片和FPC預留空間,不利於系統精簡。而通過COG方式觸控晶片10與觸控式螢幕成為一體,顯著降低了兩者之間的距離,從而減小了整體的體積。此外,由於感應電極一般通過在襯底上對氧化銦錫(ITO)進行刻蝕形成,而觸控晶片也位於襯底上,因此,兩者之間的連線可通過一次ITO刻蝕完成,顯著簡化了製造工藝。感應電極還可以由石墨烯所製成。
第2圖是根據本公開實施例的感應電極陣列的俯視圖。第2圖中的多個感應電極被分割為多個自容矩陣。本領域技術人員應理解,第2圖示出的僅僅是感應電極的一種排列方式,在具體實施中,感應電極可排列成任何二維陣列。此外,各感應電極在任一方向上的間距可以是相等的,也可以是不等的。本領域技術人員亦應理解,感應電極的數量可多於第2圖示出的數量。
本領域技術人員應理解,第2圖示出的僅僅是感應電極的一種形狀。根據其他實施例,感應電極的形狀 可以是矩形、菱形、圓形或橢圓形,也可以是不規則形狀。各感應電極的圖案可以是一致的,也可以是不一致的。例如,中部的感應電極採用菱形結構,邊緣的採用三角形結構。此外,各感應電極的大小可以是一致的,也可以是不一致的。例如,靠裡的感應電極尺寸較大,靠邊緣的尺寸較小,如此有利於走線和邊沿的觸摸精度。
每個感應電極都有導線引出,導線布於感應電極之間的空隙中。一般而言,導線儘量均勻,且走線儘量短。此外,導線的走線範圍在保證安全距離的前提下儘量窄,從而留給感應電極更多的面積,使感應更精確。
第2圖中還可以看出觸控顯示裝置還包括至少一根匯流排22,每個自容矩陣中的感應電極通過導線與所述至少一根匯流排22連接,所述至少一根匯流排22與所述觸控晶片連接。
各感應電極可通過導線連接至匯流排22,匯流排22將導線直接或者經過一定的排序後與觸控晶片的管腳相連接。對於大螢幕的觸控式螢幕,感應電極的數量可能非常多。在這種情況下,可以用單個觸控晶片控制所有感應電極;也可以通過對螢幕分區,用多個觸控晶片分別控制不同區域的感應電極,多個觸控晶片之間可進行時鐘同步。此時,匯流排22可分割成若干個匯流排集,以便與不同的觸控晶片相連接。各觸控晶片控制相同數量的感應電極,或者控制不同數量的感應電極。
對於第2圖所示的感應電極陣列,佈線可以在 感應電極陣列的同一層上實現。對於其他結構的感應電極陣列,如果同層走線難以實現,導線也可以佈置在不同於感應電極陣列所在層的另一層,通過通孔連接各感應電極。
第2圖所示的感應電極陣列基於自電容的觸摸檢測原理。每個感應電極對應螢幕上特定位置,在第2圖中,2a-2d表示不同感應電極。21表示一個觸摸,當觸摸發生在某感應電極所對應的位置時,該感應電極上的電荷改變,因此,檢測該感應電極上的電荷(電流/電壓),能夠知道該感應電極有沒有發生觸摸事件。一般而言,這可以通過模數轉換器(ADC)把類比量轉換為數位量來實現。感應電極的電荷改變量與感應電極被覆蓋的面積有關,例如,第2圖中感應電極2b和2d的電荷改變量大於感應電極2a和2c的電荷改變量。
螢幕上的每個位置均有對應的感應電極,感應電極之間沒有物理連接,因此,本公開實施例所提供的電容式觸控式螢幕能夠實現真正的多點觸控,避免了現有技術中自電容觸摸檢測的鬼點問題並大幅提高了電源雜訊的抑制能力,降低了檢測觸摸點時的雜訊的干擾幅度。
本發明實施例中,觸控晶片採用跟隨驅動方式對所述每個感應電極進行檢測。
由於矩陣式電極的連接導線數量非常多,在屏面積有限的情況下,走線變得很細,勢必導致阻抗增加,影響檢測信號的品質,本發明的解決辦法是觸控晶片採用跟隨驅動方式對所述每個感應電極進行檢測。即在檢測某 矩陣式感應電極時,根據施加在該電極的信號,同時驅動其他非檢測電極,減少檢測電極和非檢測電極的電壓差;或(和)同時驅動顯示幕的資料線,減少檢測電極和資料線上的電壓差。這種方式可以減少檢測電極的電容值,從而減少了檢測電極的阻抗(電抗)。
第3圖至第7圖示出了根據本公開實施例的感應電極驅動方法。如第3圖所示,感應電極19由驅動源24驅動,驅動源24可以是電壓源或電流源。對於不同的感應電極19,驅動源24不一定採用相同的結構。例如,可以部分採用電壓源,部分採用電流源。此外,對於不同的感應電極19,驅動源24的頻率可以相同,也可以不同。時序控制電路23控制各驅動源24工作的時序。
各感應電極19的驅動時序有多種選擇。如第4A圖所示,所有感應電極同時驅動,同時檢測。這種方式完成一次掃描所需要的時間最短,驅動源數量最多(與感應電極的數量一致)。如第4B圖所示,感應電極的驅動源被分成若干組,每組依次驅動特定區域內的電極。這種方式能夠實現驅動源複用,但會增加掃描時間,不過通過選擇合適的分組數量,可以使驅動源複用和掃描時間達到折中。
第4C圖示出了常規互電容觸摸檢測的掃描方式,假設有N個驅動通道(TX),每個TX的掃描時間為Ts,則掃描完一幀的時間為N*Ts。而採用本實施例的感應電極驅動方法,可以將所有感應電極一起檢測,掃描完一 幀的時間最快僅Ts。也就是說,與常規互電容觸摸檢測相比,本實施例的方案能夠將掃描頻率提高N倍。
對於一個有40個驅動通道的互電容觸控式螢幕,如果每個驅動通道的掃描時間為500us,則整個觸控式螢幕(一幀)的掃描時間為20ms,即幀率為50Hz。50Hz往往不能達到良好使用體驗的要求。本公開實施例的方案可以解決這個問題。通過採用排列成二維陣列的感應電極,所有電極可以同時檢測,在每個電極的檢測時間保持500us的情況下,幀率達到2000Hz。這大大超出了多數觸控式螢幕的應用要求。多出來的掃描資料可以被數位信號處理端利用,用於例如抗干擾或優化觸摸軌跡,從而得到更好的效果。
優選地,檢測每個感應電極的自電容。感應電極的自電容可以是其對地電容。
作為一個示例,可採用電荷檢測法。如第5圖所示,驅動源41提供恒定電壓V1。電壓V1可以是正壓、負壓或地。S1和S2表示兩個受控開關,Cx(42)表示感應電極的對地電容,45表示電荷接收模組,電荷接收模組45可將輸入端電壓鉗位至指定值V2,並測量出輸入或輸出的電荷量。首先,S1閉合S2斷開,Cx(42)的上極板被充電至驅動源41所提供的電壓V1;然後S1斷開S2閉合,Cx(42)與電荷接收模組45發生電荷交換。設電荷轉移量為Q1,Cx的上極板電壓變為V2,則由C=Q/△V,有Cx=Q1/(V2-V1),從而實現了電容檢測。
作為另一個示例,也可採用電流源,或者通過感應電極的頻率來獲得其自電容。
可選地,在使用多個驅動源的情況下,當檢測一個感應電極時,對於與該感應電極相鄰的或周邊的感應電極,可選擇不同於該被測電極的驅動源的電壓。出於簡潔的目的,第6圖僅示出了三個感應電極:一個被測電極57和兩個相鄰電極56和58。本領域技術人員應理解,以下例子也適用於更多個感應電極的情況。
與被測電極57相連接的驅動源54通過開關S2連接到電壓源51,以實現對被測電極57的驅動;而與被測電極57相鄰的感應電極56和58與驅動源53和55相連接,它們可以通過開關S1和S3連接到電壓源51或特定的參考電壓52(例如地)。若開關S1和S3連接到電壓源51,即用同一電壓源同時驅動被測電極及其周邊的電極,這樣能夠減小被測電極和其周邊電極的電壓差,有利於減小被測電極的電容和有利於防範水滴形成的虛假觸摸。
優選地,觸摸控制晶片配置為通過驅動源的參數來調整觸摸檢測的靈敏度或動態範圍,所述參數包括幅度、頻率和時序之中的任一個或組合。作為一個示例,如第7圖所示,驅動源的參數(例如,驅動電壓、電流和頻率)以及各驅動源的時序可由觸摸控制晶片內的信號驅動電路50的控制邏輯控制。通過這些參數,可以調整不同的電路工作狀態,例如高靈敏度、中等靈敏度或低靈敏度,或不同的動態範圍。
不同的電路工作狀態可適用於不同的應用場景。第7圖示出了根據本公開實施例的電容式觸控式螢幕的四個應用方式:手指正常觸摸70,手指懸浮觸控71,有源/無源筆或細小導體72,以及帶手套觸摸73。結合上述參數,可以實現對一個或多個正常觸摸以及一個或多個細小導體觸摸的檢測。本領域技術人員應理解,儘管圖6示出的信號接收單元59和信號驅動電路50是分離的,在其他實施例中,它們可以由同一個電路實現。
第8圖示出了根據本發明實施例的觸摸控制晶片的信號流程圖。當感應電極上有觸摸發生時,感應電極的電容會改變,這個改變量通過模數轉換器ADC轉換成數位量,就能恢復出觸摸資訊。一般而言,電容改變量與該感應電極被觸摸物遮蓋的面積相關。信號接收單元59接收感應電極的感應資料,經信號處理單元6恢復出觸摸資訊。
作為一個示例,以下具體描述信號處理單元6的資料處理方法。
步驟61:獲取感應資料。
步驟62:對感應資料進行濾波和降噪。該步驟的目的是儘量消除原始圖像中的雜訊,以利後續計算。該步驟具體可採用空域、時域或門限濾波辦法。
步驟63:尋找其中可能的觸摸區域。這些區域包括真實的觸摸區域以及無效信號。無效信號包括大面積觸摸信號、電源雜訊信號、懸空異常信號、以及水滴信號等等。這些無效信號有的與真實觸摸接近,有的會干擾真 實觸摸,有的則不應被解析成正常觸摸。
步驟64:異常處理,以消除上述無效信號並得到合理觸摸區。
步驟65:根據合理觸摸區的資料進行計算,以得到觸摸位置的座標。
優選地,可以根據二維的電容變化陣列來確定觸摸位置的座標。具體地,可以採用重心演算法來根據二維的電容變化陣列確定觸摸位置的座標。
第9A圖示出了採用重心演算法計算觸摸位置的座標的一個例子。出於簡潔的目的,在以下描述中僅計算了觸摸位置的一個維度的座標。本領域技術人員應理解,可以採用相同或類似的方法獲得觸摸位置的完整座標。假設第6圖所示的感應電極56-58被手指覆蓋(觸摸區502),對應的感應資料分別為PT1,PT2,PT3,且感應電極56-58所對應的座標分別為x1,x2,x3。則採用重心演算法得到的手指觸摸位置的座標是:
可選地,在得到觸摸位置的座標之後還可以進行步驟66:分析以往幀的資料,以便利用多幀資料來獲得當前幀資料。
可選地,在得到觸摸位置的座標之後也可以進行步驟67:根據多幀資料來跟蹤觸摸軌跡。此外,還可以 根據使用者的操作過程,得出事件資訊並上報。
根據本公開實施例的電容式觸控式螢幕,能夠在實現多點觸控的前提下,解決現有技術中雜訊疊加的問題。
以在第7圖中位置501引入電源共模雜訊為例,以下分析雜訊對觸摸位置的計算的影響。
在現有技術的基於互電容觸摸檢測的觸摸系統中,有多個驅動通道(TX)和多個接收通道(RX),而且每個RX與所有的TX連通。當系統中引入了一個共模干擾信號時,由於RX的連通性,雜訊會在整個RX上傳導。特別是,當在一個RX上有多個噪音源時,這些噪音源的雜訊會疊加,從而使雜訊幅度增加。雜訊使測量的電容上的電壓信號等發生擺動,從而導致非觸摸點發生誤報。
在本公開實施例所提供的電容式觸控式螢幕中,各感應電極間在連接到晶片內部前沒有物理連接,雜訊無法在感應電極間傳遞和疊加,避免了誤報。
以電壓檢測法為例,雜訊會引起被觸摸電極上的電壓變化,從而引起被觸摸電極的感應資料變化。根據自電容觸摸檢測原理,雜訊所導致的感應值與正常觸摸所導致的感應值均正比於被觸摸電極被覆蓋的面積。
第9B圖示出了有雜訊的情況下採用重心演算法計算觸摸位置的座標。假設正常觸摸引起的感應值分別是PT1、PT2、PT3,雜訊引起的感應值是PN1、PN2、PN3,則(以感應電極56-58為例):
有:PN1=K*PT1,PN2=K*PT2,PN3=K*PT3,其中K為常數。
當雜訊與驅動源的電壓極性一致時,由於電壓疊加最終的感應資料為:
PNT1=PN1+PT1=(1+K)*PT1
PNT2=PN2+PT2=(1+K)*PT2
PNT3=PN3+PT3=(1+K)*PT3
那麼,採用重心演算法得到的座標為:
可見,式(2)與式(1)相等。因此,本公開實施例的電容式觸控式螢幕對共模雜訊是免疫的。只要雜訊不超出系統的動態範圍,就不會影響到最終確定的座標。
雜訊與驅動源的電壓極性相反時,會把有效信號拉低。如果拉低後的有效信號能檢測出來,則由以上分析可知,不影響最終確定的座標。如果拉低後的有效信號不能檢測出來,則當前幀的資料失效。不過由於本公開實施例所提供的電容式觸控式螢幕的掃描頻率可以很高,可以達到常規掃描頻率的N倍(N通常大於10),利用這一 特性,可以利用多幀資料來恢復出當前幀的資料。本領域技術人員應理解,由於掃描頻率遠大於實際所需的報點率的,因此利用多幀資料的處理不會影響正常報點率。
類似地,當雜訊有限度地超出了系統的動態範圍,也可以利用多幀資料來修正當前幀,從而得到正確的座標。幀間處理方法同樣適用於射頻以及來自液晶顯示模組等其他噪音源的干擾。
第10圖示出的是本實施例中人機交互過程中觸控顯示裝置的控制原理圖,例如觸控式螢幕11上有多個二維陣列排布的感應電極19,用戶可以通過手或者其他設備在該觸控式螢幕11上操作,輸入觸摸資訊。觸控晶片10內部的主要部分包括:驅動和接收單元12,這個單元負責給觸控式螢幕11發送驅動信號,並把觸控式螢幕11的信號接收,接收到的信號一般是經過模數轉換器ADC轉換後的數位信號。信號處理單元13,可以是微控制單元(Micro Control Unit,MCU)或者數位信號處理(Digital Single Process,DSP),信號處理單元13負責通過對各種信號處理,把觸摸資訊恢復成座標,以及各種事件,然後通過傳輸口上報給主機端。
對所公開的實施例的上述說明,使本領域技術人員能夠實現或使用本發明。對這些實施例的多種修改對本領域技術人員來說將是顯而易見的,本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發明的範圍的情況下,在其它實施例中實現。因此,本發明不應被限制於所公開的這些實施 例,而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的範圍。
15‧‧‧第一基板
16‧‧‧第二基板
17‧‧‧液晶層
10‧‧‧觸控晶片
19‧‧‧感應電極

Claims (15)

  1. 一種觸控顯示裝置,包括:一第一基板、一第二基板,夾設於該第一基板和該第二基板之間的一液晶層;設置於該第一基板上表面的多個感應電極,該多個感應電極採用二維陣列方式排布;綁定於該第一基板上表面的一觸控晶片,該多個感應電極中的每個感應電極分別通過導線與該觸控晶片連接;及該觸控晶片對每個該感應電極的電容進行檢測。
  2. 如請求項1所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片對每個該感應電極的電容進行檢測的方式採用自電容的檢測方式。
  3. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該導線佈置在該多個感應電極的同一層;或者該導線佈置在該多個感應電極的不同層。
  4. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片以玻璃覆晶(Chip-on-Glass)方式綁定到該第一基板上表面。
  5. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控顯示裝置還包括:一柔性線路板,該柔性線路板綁定到該第一基板的上表面,並且與該觸控晶片相連接。
  6. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片 採用跟隨驅動方式對每個該感應電極進行檢測。
  7. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片配置為通過以下方法檢測每個該感應電極的自電容:同時檢測所有感應電極;或者分組檢測每個該感應電極。
  8. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片配置為通過以下方法檢測每個該感應電極的自電容:用一電壓源或電流源驅動該感應電極;以及檢測該感應電極的電壓或頻率或電量。
  9. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片配置為通過以下方法檢測每個該感應電極的自電容:驅動並檢測該感應電極,同時驅動其餘感應電極;或者驅動並檢測該感應電極,同時驅動所述感應電極周邊的感應電極;其中,驅動該感應電極的信號和同時驅動該其餘電極及該感應電極周邊電極的信號是相同的電壓或電流信號,或者是不同的電壓或電流信號。
  10. 如請求項8所述的觸控顯示裝置,對於每個該感應電極,該電壓源或電流源具有同一頻率;或者對於每個該感應電極,該電壓源或電流源具有兩個或兩個以上的頻率。
  11. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片配置為根據二維的電容變化陣列來確定觸摸位置。
  12. 如請求項8所述的觸控顯示裝置,其中該觸控晶片還 配置為通過該電壓源或電流源的參數來調整觸摸檢測的靈敏度或動態範圍,該參數包括幅度、頻率和時序之中的任一個或組合。
  13. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該感應電極的形狀是矩形、菱形、圓形或橢圓形。
  14. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中每個該感應電極由透明導電材料氧化銦錫(ITO)或石墨烯所製成。
  15. 如請求項1或2所述的觸控顯示裝置,其中該觸控顯示裝置的結構為平面轉換IPS型或者扭曲向列TN型。
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