TWI467430B - 觸控面板測試方法及其測試軟體 - Google Patents

Description

觸控面板測試方法及其測試軟體

本發明提出一種測試方法及測試軟體，特別是一種測試觸控面板的方法及應用此方法的測試軟體。

隨著觸控面板技術的進步，觸控靈敏度及準確度已顯著地提高，使得觸控面板逐漸廣泛地應用到各種可攜式電子裝置，例如：手機、平板電腦、數位相機、GPS導航裝置等。另外，觸控面板也大量地被使用於公共場所中的售票系統、資訊導覽系統等。在這資訊流通快速的時代，觸控面板已成為廣大民眾日常生活經常使用到的科技工具。

幾乎所有觸控面板在出廠前，皆須進行一系列的測試，以確保其觸控靈敏度及準確度能符合要求。然而針對不同尺寸的觸控面板所配置的規格並不相同，且各種規格的觸控面板，其使用的晶片、玻璃的大小、以及觸控時所送出的座標值，通常都有些差異。因此，適用於測試某種規格觸控面板的測試程式，並無法用於測試另一種規格的觸控面板。此導致每遇到不同規格的觸控面板，就需要對應於該觸控面板規格的測試程式。由於目前觸控面板已廣泛地應用於各式各樣大小的各種產品，所以各種觸控面板的規格變得五花八門，也造成在生產觸控面板的測試階段，需要對應於各種規格的測試軟體，因而產生諸多不便，並造成生產成本的增加，故急需要有效的解決方案。

基於上述在觸控面板測試時所遭遇的繁雜問題，為了解決此問題，發明人經深入研究分析，及無數次實驗及改良，終於開發出嶄新的觸控面板測試方法及其測試軟體，能大幅提昇觸控面板測試的便利性及效率，並顯著地降低生產成本，有效解決上述問題。

本案提供一種測試一觸控面板的方法，其包括下列步驟：提供該觸控面板；提供一觸控面板測試軟體，其包含一資料可變參數，該資料可變參數包括一介面設定可變參數、一觸控晶片可變參數、一自動測試可變參數，及一手動測試可變參數至少其中之一；以及決定對應於該觸控面板之該資料可變參數，以對該觸控面板進行測試。

本案另提供一種觸控面板測試軟體，其用以測試一觸控面板，該軟體包括一資料可變參數，該資料可變參數包括一介面設定可變參數、一觸控晶片可變參數、一自動測試可變參數，及一手動測試可變參數至少其中之一。

本案又提供一種電子裝置，其安裝有上述的觸控面板測試軟體。

本案再提供一種儲存裝置，其儲存有上述的觸控面板測試軟體。

本發明得藉由下述之較佳具體實施例，並配合圖式說明，俾得一更深入之了解。

請參考第1圖，其為本發明一實施例的測試觸控面板的方法。在第1圖的測試觸控面板方法1的步驟11，提供一觸控面板；接著在步驟12，提供一觸控面板測試軟體，其包含資料可變參數，該資料可變參數包括觸控面板連接介面設定可變參數(在本發明中皆簡稱為「介面設定可變參數」)、觸控晶片可變參數、自動測試可變參數，及手動測試可變參數至少其中之一；然後在步驟13，決定對應於該觸控面板之該資料可變參數，以對該觸控面板進行測試。

在本實施例中的觸控面板測試軟體包含資料可變參數，可由使用者依實際所要測試的觸控面板，決定對應於該觸控面板之該資料可變參數。因此，本實施例的測試觸控面板的方法可應用於測試各種尺寸、規格的觸控面板，而無須如習知技術必須更換對應尺寸、規格的觸控面板測試軟體，故本實施例之測試觸控面板的方法可提供便利性，並有效降低成本。

上述實施例中的觸控面板測試軟體還可選擇性地包括資料單元及應用程式。該資料單元包含該資料可變參數；該應用程式可選擇性地包括觸控軌跡顯示單元、自動測試單元，及手動測試單元。

上述實施例中的提供一觸控面板測試軟體的步驟可選擇性地包括下列次步驟：提供一電腦；以及安裝該觸控面板測試軟體於該電腦上。上述實施例中的決定對應於該觸控面板之該資料可變參數的步驟可選擇性地包括下列次步驟：由一使用者於該電腦上使用該觸控面板測試軟體中的該資料單元，以輸入該資料可變參數。

上述實施例中的測試觸控面板的方法還可選擇性地包括下列步驟：使用該觸控軌跡顯示單元，載入該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以顯示一觸控軌跡於該觸控面板上；使用該自動測試單元，載入該自動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行自動測試；以及使用該手動測試單元，載入該手動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行手動測試，其中該手動測試可變參數可包括消框測試可變參數、線性測試可變參數、準確性測試可變參數，及該觸控面板的尺寸等。

上述的使用該手動測試單元的步驟還可選擇性地包括下列步驟：對該觸控面板進行消框測試；對該觸控面板進行線性測試；以及對該觸控面板進行一準確性測試。

上述消框測試在該測試中的觸控面板上的顯示狀況，如第2圖所示。請參考第2圖，上述的對該觸控面板進行消框測試的步驟還可選擇性地包括下列次步驟：由使用者使用該消框測試程序，並輸入該消框測試可變參數；使該消框測試程序在該觸控面板2的四周邊界上定義包含複數區塊21的一框狀區域20，其中該消框測試可變參數包括該複數區塊21的大小及消框測試時間；以及對該複數區塊21逐一進行消框觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該消框觸碰測試的觸碰軌跡，當該消框觸碰測試的觸碰軌跡未落在該複數區塊21中正進行該消框觸碰測試的區塊21內時，則不消除該正進行消框觸碰測試的該區塊21，當該消框觸碰測試的觸碰軌跡落在該複數區塊21中正進行該消框觸碰測試的區塊21內時，則消除該正進行消框觸碰測試的該區塊21，當在該消框測試時間內，所有該複數區塊21皆被消除時，則該觸控面板2被判定為消框測試成功，當在該消框測試時間內，該複數區塊21有至少一個以上的區塊21未被消除時，則該觸控面板2被判定為消框測試失敗。

上述線性測試在該測試中的觸控面板上的顯示狀況，如第3圖所示。請參考第3圖，上述的對該觸控面板進行線性測試的步驟還可選擇性地包括下列次步驟：由使用者使用該線性測試程序，並輸入該線性測試可變參數；使該線性測試程序定義該觸控面板3的該四周邊界的4條邊界線31及2條對角線32，其中該線性測試可變參數包括該4條邊界線31及該2條對角線32的寬度及線性測試時間；以及對該4條邊界線31及該2條對角線32進行線性觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該線性觸碰測試的觸碰軌跡，當該線性觸碰測試的觸碰軌跡皆落在該4條邊界線31及該2條對角線32的寬度內時，則該觸控面板3被判定為線性測試成功，當該線性觸碰測試的觸碰軌跡有落在該4條邊界線31或該2條對角線32任何其中之一的寬度外時，則該觸控面板3被判定為線性測試失敗。

當然依本發明之精神，線性測試除了可使用上述4條邊界線31及該2條對角線進行測試外，亦可使用其他幾何線，例如採用4條邊界線、連接上下兩條邊界線中間點，及連接左右兩條邊界線中間點所形成的十字線等各種可能的幾何線組合，皆不脫本發明之精神。

上述準確性測試在該測試中的觸控面板上的顯示狀況，如第4圖所示。請參考第4圖，上述的對該觸控面板進行準確性測試的步驟還可選擇性地包括下列次步驟：由一使用者使用該準確性測試程序，並輸入該準確性測試可變參數；使該準確性測試程序定義該觸控面板4的4角落點、該四周邊界的每一邊界的中間點、該2對角線的交叉點，及該交叉點與每一該4角落點的距離的中間點，共13個測試點，每一該測試點具有一測試圓圈41，該測試圓圈41的圓心位於該測試點上，該測試圓圈41的大小定義該準確性測試的容忍範圍，其中該準確性測試可變參數包括該測試圓圈41的半徑大小及準確性測試時間；以及對該13個測試點逐一進行準確性觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該準確性觸碰測試的觸碰軌跡，當所有該準確性觸碰測試的觸碰軌跡均落在正進行該準確性觸碰測試的該測試點的該測試圓圈41內時，則該觸控面板4被判定為準確性測試成功，當該準確性觸碰測試的觸碰軌跡至少其中之一未落在正進行該準確性觸碰測試的該測試點的該測試圓圈41內時，則該觸控面板4被判定為準確性測試失敗。

當然依本發明之精神，準確性測試除了可使用上述所定義的13點測試點進行測試外，亦可使用其他適當位置的測試點，例如在長邊的邊界線上可定義分成3等分的2個內測試點及2個外端點測試點，也就是2個長邊各會增加1個測試點，此特別適合長寬比例較大的觸控面板。當然，當觸控面板尺寸很大時，測試點可的量增加，反之則可減少，因此測試點的數目與其位置的適當調整皆不脫本發明之精神。

請參考第5A圖及第5B圖，其為本發明另一實施例的測試觸控面板的方法的流程圖，因流程圖較長，而分為兩頁顯示，故結合第5A圖及第5B圖為1個完整的單一流程圖。在本實施例中，在步驟50，開啟觸控面板測試軟體；接著在步驟51，啟用資料單元；接著在步驟52，載入介面設定可變參數；接著在步驟53，載入觸控晶片可變參數；接著在步驟54，載入自動測試可變參數；接著在步驟55，啟用自動測試單元；接著在步驟56，判定自動測試結果是否通過，若是，則進入步驟57，啟用手動測試單元；若否，則進入步驟510，判定該片為失敗片，換下一片繼續測試，然後回到步驟55；在步驟57之後，進入步驟58，載入消框測試可變參數；接著在步驟59，啟用消框測試程序；接著在步驟511，判定消框測試結果是否通過，若是，則進入步驟512，載入線性測試可變參數；若否，則進入步驟510，判定該片為失敗片，換下一片繼續測試，然後回到步驟55；在步驟512之後，進入步驟513，啟用線性測試程序；接著在步驟514，判定線性測試結果是否通過，若是，則進入步驟515，載入準確性測試可變參數；若否，則進入步驟510，判定該片為失敗片，換下一片繼續測試，然後回到步驟55；在步驟515之後，進入步驟516，啟用準確性測試程序；接著在步驟517，判定準確性測試結果是否通過，若是，則進入步驟518，判定該片為正常品，並結束該片測試；若否，則進入步驟510，判定該片為失敗片，換下一片繼續測試，然後回到步驟55。

上述第5A圖及第5B圖所顯示的測試方法流程圖，僅為本發明的一實施例，在實際測試時，可考量要測試的觸控面板的實際狀況，而增加或減少部分步驟，以進一步確保觸控面板的觸控靈敏度及準確度，或是為了減少測試成本等，這些步驟的增減皆不脫本發明之精神。

請參考第6圖，其為本發明一實施例的觸控面板測試軟體的方塊示意圖。在本實施例中，觸控面板測試軟體6包括資料可變參數60，而資料可變參數60進一步包括介面設定可變參數61、觸控晶片可變參數62、自動測試可變參數63，及手動測試可變參數64至少其中之一。

在本實施例中的觸控面板測試軟體6包含資料可變參數60，可由使用者依實際所要測試的觸控面板，決定對應於該觸控面板之該資料可變參數60。因此，本實施例的測試觸控面板的方法可應用於測試各種尺寸、規格的觸控面板，而無須如習知技術必須更換對應尺寸、規格的觸控面板測試軟體，故本實施例之觸控面板測試軟體可提供便利性，並有效降低成本。

請參考第7圖，其為本發明另一實施例的觸控面板測試軟體的方塊示意圖。在第7圖中，觸控面板測試軟體7包括資料單元7a及應用程式7b。資料單元7a則包括介面設定可變參數71、觸控晶片可變參數72、自動測試可變參數73，及手動測試可變參數74；手動測試可變參數74則進一步包括消框測試可變參數74a、線性測試可變參數74b，及準確性測試可變參數74c。另外，應用程式7b則包括觸控軌跡顯示單元75、自動測試單元76，及手動測試單元77；手動測試單元77則進一步包括消框測試程序77a、線性測試程序77b，及準確性測試程序77c。

在第7圖的觸控面板測試軟體7中的各個單元、程序及可變參數，皆可依上述多個實施例中的測試觸控面板的方法而被使用，來進行觸控面板的測試。

接下來，介紹本發明的其他實施例，如下。

1.一種測試一觸控面板的方法，包括下列步驟：提供該觸控面板；提供一觸控面板測試軟體，其包含一資料可變參數，該資料可變參數包括一介面設定可變參數、一觸控晶片可變參數、一自動測試可變參數，及一手動測試可變參數至少其中之一；以及決定對應於該觸控面板之該資料可變參數，以對該觸控面板進行測試。

2.如上述第1實施例所述的方法，其中該觸控面板測試軟體更包括一資料單元，其包含該資料可變參數。

3.如上述任何實施例所述的方法，其中該提供一觸控面板測試軟體的步驟更包括：提供一電腦；以及安裝該觸控面板測試軟體於該電腦上。

4.如上述任何實施例所述的方法，其中該決定對應於該觸控面板之該資料可變參數的步驟更包括由一使用者於該電腦上使用該觸控面板測試軟體中的該資料單元，以輸入該資料可變參數。

5.如上述任何實施例所述的方法，其中該觸控面板測試軟體更包括一資料單元及一應用程式，該資料單元包含該資料可變參數，該應用程式包括一觸控軌跡顯示單元，該方法更包括下列步驟：使用該觸控軌跡顯示單元，載入該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以顯示一觸控軌跡於該觸控面板上。

6.如上述任何實施例所述的方法，其中該觸控面板測試軟體更包括一資料單元及一應用程式，該資料單元包含該資料可變參數，該應用程式包括一自動測試單元，該方法更包括下列步驟：使用該自動測試單元，載入該自動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行自動測試。

7.如上述任何實施例所述的方法，其中該觸控面板測試軟體更包括一資料單元及一應用程式，該資料單元包含該資料可變參數，該應用程式包括一手動測試單元，該方法更包括下列步驟：使用該手動測試單元，載入該手動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行手動測試。

8.如上述任何實施例所述的方法，其中該手動測試可變參數包括一消框測試可變參數，及/或該觸控面板的尺寸，該手動測試單元包括一消框測試程序，該使用該手動測試單元的步驟更包括對該觸控面板進行一消框測試，其包括下列步驟：由一使用者使用該消框測試程序，並輸入該消框測試可變參數；使該消框測試程序在該觸控面板的4周邊界上定義包含複數區塊的一框狀區域，其中該消框測試可變參數包括該複數區塊的大小及消框測試時間；對該複數區塊逐一進行消框觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該消框觸碰測試的觸碰軌跡，當該消框觸碰測試的觸碰軌跡未落在該複數區塊中正進行該消框觸碰測試的區塊內時，則不消除該正進行消框觸碰測試的該區塊，當該消框觸碰測試的觸碰軌跡落在該複數區塊中正進行該消框觸碰測試的區塊內時，則消除該正進行消框觸碰測試的該區塊，當在該消框測試時間內，所有該複數區塊皆被消除時，則該觸控面板被判定為消框測試成功，當在該消框測試時間內，該複數區塊有至少一個以上的區塊未被消除時，則該觸控面板被判定為消框測試失敗。

9.如上述任何實施例所述的方法，其中該手動測試可變參數包括一線性測試可變參數，及/或該觸控面板的尺寸，該手動測試單元包括一線性測試程序，該使用該手動測試單元的步驟更包括對該觸控面板進行一線性測試，其包括下列步驟：由一使用者使用該線性測試程序，並輸入該線性測試可變參數；使該線性測試程序定義該觸控面板的該四周邊界的4邊界線及2對角線，其中該線性測試可變參數包括該4邊界線及該2對角線的寬度及線性測試時間；以及對該4邊界線及該2對角線進行線性觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該線性觸碰測試的觸碰軌跡，當該線性觸碰測試的觸碰軌跡皆落在該4邊界線及該2對角線的寬度內時，則該觸控面板被判定為線性測試成功，當該線性觸碰測試的觸碰軌跡有落在該4邊界線或該2對角線任何其中之一的寬度外時，則該觸控面板被判定為線性測試失敗。

10.如上述任何實施例所述的方法，其中該手動測試可變參數包括一準確性測試可變參數，及/或該觸控面板的尺寸，該手動測試單元包括一準確性測試程序，該使用該手動測試單元的步驟更包括對該觸控面板進行一準確性測試，其包括下列步驟：由一使用者使用該準確性測試程序，並輸入該準確性測試可變參數；使該準確性測試程序定義該觸控面板的4角落點、該四周邊界的每一邊界的中間點、該2對角線的交叉點，及該交叉點與每一該4角落點的距離的中間點，共13個測試點，每一該測試點具有一測試圓圈，該測試圓圈的圓心位於該測試點上，該測試圓圈的大小定義該準確性測試的容忍範圍，其中該準確性測試可變參數包括該測試圓圈的半徑大小及準確性測試時間；以及對該13個測試點逐一進行準確性觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該準確性觸碰測試的觸碰軌跡，當所有該準確性觸碰測試的觸碰軌跡均落在正進行該準確性觸碰測試的該測試點的該測試圓圈內時，則該觸控面板被判定為準確性測試成功，當該準確性觸碰測試的觸碰軌跡至少其中之一未落在正進行該準確性觸碰測試的該測試點的該測試圓圈內時，則該觸控面板被判定為準確性測試失敗。

11.一種觸控面板測試軟體，用以測試一觸控面板，該軟體包括一資料可變參數，其包括一介面設定可變參數、一觸控晶片可變參數、一自動測試可變參數，及一手動測試可變參數至少其中之一。

12.如上述第11實施例所述的軟體，更包括一資料單元，其包含該資料可變參數，該資料單元提供一使用者輸入該資料可變參數。

13.如上述任何實施例所述的軟體，更包括一應用程式，其包括一觸控軌跡顯示單元，載入該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以顯示一觸控軌跡於該觸控面板上。

14.如上述任何實施例所述的軟體，更包括一應用程式，其包括一自動測試單元，載入該自動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行自動測試。

15.如上述任何實施例所述的軟體，更包括一應用程式，其包括一手動測試單元，載入該手動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行手動測試。

16.如上述任何實施例所述的軟體，其中該手動測試可變參數包括一消框測試可變參數，及/或該觸控面板的尺寸，該手動測試單元包括一消框測試程序，其在該觸控面板的4周邊界上定義包含複數區塊的一框狀區域，並載入該消框測試可變參數，以進行一消框測試，其中該消框測試可變參數包括該複數區塊的大小及消框測試時間。

17.如上述任何實施例所述的軟體，其中該手動測試可變參數包括一線性測試可變參數，及/或該觸控面板的尺寸，該手動測試單元包括一線性測試程序，定義該觸控面板的該4周邊界的4邊界線及2對角線，以進行一線性測試，其中該線性測試可變參數包括該4邊界線及該2對角線的寬度及線性測試時間。

18.如上述任何實施例所述的軟體，其中該手動測試可變參數包括一準確性測試可變參數，及/或該觸控面板的尺寸，該手動測試單元包括一準確性程序，定義該觸控面板的4角落點、該4周邊界的每一邊界的中間點、該2對角線的交叉點，及該交叉點與每一該4角落點的距離的中間點，共13個測試點，以進行一準確性測試，其中每一該測試點具有一測試圓圈，該測試圓圈的圓心位於該測試點上，該測試圓圈的大小定義該準確性測試的容忍範圍，其中該準確性測試可變參數包括該測試圓圈的半徑大小及準確性測試時間。

19.一種電子裝置，安裝有上述任何實施例所述的軟體。

20.一種儲存裝置，儲存如上述任何實施例所述的軟體。

綜合上述，本發明提出嶄新的觸控面板測試方法及其測試軟體，能大幅提昇觸控面板測試的便利性及效率，可以隨著須要測試的觸控面板的尺寸及所需的觸控靈敏度及準確度的規格，即時做適當且彈性的調整，可顯著地降低生產成本，提供廣大的使用者更品質優異且價格低廉的產品。

雖然本發明已將較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明任何熟知此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做更動與潤飾。因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。本案得由熟悉本技藝之人士任施匠思而為諸般修飾，然皆不脫如附申請專利範圍所欲保護者。

1、5．．．測試觸控面板的方法

2、3、4．．．觸控面板

6、7．．．觸控面板測試軟體

7a．．．資料單元

7b．．．應用程式

11、12、13、50、51、52、53、54、55、56、57、58、59、510、511、512、513、514、515、516、517、518．．．步驟

20．．．框狀區域

21．．．區塊

31．．．邊界線

32．．．對角線

41．．．測試圓圈

60．．．資料可變參數

61、71．．．介面設定可變參數

62、72．．．觸控晶片可變參數

63、73．．．自動測試可變參數

64、74．．．手動測試可變參數

74a．．．消框測試可變參數

74b．．．線性測試可變參數

74c．．．準確性測試可變參數

75．．．觸控軌跡顯示單元

76．．．自動測試單元

77．．．手動測試單元

77a．．．消框測試程序

77b．．．線性測試程序

77c．．．準確性測試程序

第1圖為本發明一實施例的測試觸控面板的方法。

第2圖為本發明一實施例的消框測試在該測試中的觸控面板上的顯示狀況。

第3圖為本發明一實施例的線性測試在該測試中的觸控面板上的顯示狀況。

第4圖為本發明一實施例的準確性測試在該測試中的觸控面板上的顯示狀況。

第5A圖及第5B圖為本發明一實施例的測試觸控面板的方法的流程圖。

第6圖為本發明一實施例的觸控面板測試軟體的方塊示意圖。

第7圖為本發明另一實施例的觸控面板測試軟體的方塊示意圖。

7．．．觸控面板測試軟體

71．．．介面設定可變參數

72．．．觸控晶片可變參數

73．．．自動測試可變參數

74．．．手動測試可變參數

74a．．．消框測試可變參數

74b．．．線性測試可變參數

74c．．．準確性測試可變參數

75．．．觸控軌跡顯示單元

76．．．自動測試單元

77．．．手動測試單元

77a．．．消框測試程序

77b．．．線性測試程序

77c．．．準確性測試程序

Claims (13)

1. 一種測試一觸控面板的方法，包括下列步驟：提供該觸控面板；提供一觸控面板測試軟體，其包含一資料可變參數，該資料可變參數包括一介面設定可變參數、一觸控晶片可變參數、一自動測試可變參數，及一手動測試可變參數至少其中之一；決定對應於該觸控面板之該資料可變參數，以對該觸控面板進行測試；以及使用一觸控軌跡顯示單元，載入該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以顯示一觸控軌跡於該觸控面板上。
2. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該觸控面板測試軟體更包括一資料單元及一應用程式，該資料單元包含該資料可變參數，該應用程式包括該觸控軌跡顯示單元、一自動測試單元，及一手動測試單元，該方法更包括下列步驟：使用該自動測試單元，載入該自動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行自動測試。
3. 如申請專利範圍第2項所述的方法，其中該手動測試可變參數包括一消框測試可變參數、一線性測試可變參數、一準確性測試可變參數，及該觸控面板的尺寸，該方法更包括一步驟：使用該手動測試單元，載入該手動測試可變參數，及/或該介面設定可變參數，及/或該觸控晶片可變參數，以對該觸控面板進行手動測試。
4. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該手動測試可變參數包括一消框測試可變參數，該觸控面板測試軟體更包括一應用程式，該應用程式包括一手動測試單元，該手動測試單元包括一消框測試程序，該使用該手動測試單元的步驟包括下列步驟：對該觸控面板進行一消框測試，其包括下列步驟：由一使用者使用該消框測試程序，並輸入該消框測試可變參數；使該消框測試程序在該觸控面板的4周邊界上定義包含複數區塊的一框狀區域，其中該消框測試可變參數包括該複數區塊的大小及消框測試時間；以及對該複數區塊逐一進行消框觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該消框觸碰測試的觸碰軌跡。
5. 如申請專利範圍第4項所述的方法，更包含下列步驟：當該消框觸碰測試的觸碰軌跡未落在該複數區塊中正進行該消框觸碰測試的區塊內時，則不消除該正進行消框觸碰測試的該區塊；以及當該消框觸碰測試的觸碰軌跡落在該複數區塊中正進行該消框觸碰測試的區塊內時，則消除該正進行消框觸碰測試的該區塊。
6. 如申請專利範圍第4項所述的方法，更包含下列步驟：當在該消框測試時間內，所有該複數區塊皆被消除時，則該觸控面板被判定為消框測試成功；以及 當在該消框測試時間內，該複數區塊有至少一個以上的區塊未被消除時，則該觸控面板被判定為消框測試失敗。
7. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該手動測試可變參數包括一線性測試可變參數，該觸控面板測試軟體更包括一應用程式，該應用程式包括一手動測試單元，該手動測試單元包括一線性測試程序，對該觸控面板進行一線性測試包括下列步驟：由一使用者使用該線性測試程序，並輸入該線性測試可變參數；使該線性測試程序定義該觸控面板的四周邊界的4邊界線或2對角線，其中該線性測試可變參數包括該4邊界線或該2對角線的寬度及線性測試時間；以及對該4邊界線或該2對角線進行線性觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該線性觸碰測試的觸碰軌跡。
8. 如申請專利範圍第7項所述的方法，更包含下列步驟：當該線性觸碰測試的觸碰軌跡落在該4邊界線或該2對角線的寬度內時，則該觸控面板被判定為線性測試成功；以及當該線性觸碰測試的觸碰軌跡有落在該4邊界線或該2對角線任何其中之一的寬度外時，則該觸控面板被判定為線性測試失敗。
9. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中該手動測試可變參數包括一準確度可變參數，該觸控面板測試軟體更包括一應用程式，該應用程式包括一準確度測試單元，該手動測試單元包括 一準確度測試程序，對該觸控面板進行一準確度測試包括下列步驟：由一使用者使用該準確性測試程序，並輸入該準確性測試可變參數；使該準確性測試程序定義該觸控面板的4角落點、該四周邊界的每一邊界的中間點、該2對角線的交叉點，或該交叉點與每一該4角落點的距離的中間點；以及對該些個測試點逐一進行準確性觸碰測試，使該觸控軌跡顯示單元接收該準確性觸碰測試的觸碰軌跡。
10. 如申請專利範圍第9項所述的方法，其中每一該測試點具有一測試圓圈，該測試圓圈的圓心位於該測試點上，該測試圓圈的大小定義該準確性測試的容忍範圍，其中該準確性測試可變參數包括該測試圓圈的半徑大小及準確性測試時間。
11. 如申請專利範圍第9項所述的方法，更包含下列步驟：當所有該準確性觸碰測試的觸碰軌跡均落在正進行該準確性觸碰測試的該測試點的該測試圓圈內時，則該觸控面板被判定為準確性測試成功；以及當該準確性觸碰測試的觸碰軌跡至少其中之一未落在正進行該準確性觸碰測試的該測試點的該測試圓圈內時，則該觸控面板被判定為準確性測試失敗。
12. 一種電子裝置，使用申請專利範圍第1項所述的方法。
13. 一種儲存裝置，使用申請專利範圍第1項所述的方法。