TWI446238B - 觸控面板的定位方法與驅動裝置 - Google Patents
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Description
本發明是有關於一種觸控裝置,且特別是有關於一種觸控面板的定位方法與驅動裝置。
為了達到便利操作、縮小產品體積等目的,許多電子產品採用觸控面板做為輸入介面,以取代傳統之鍵盤或滑鼠等裝置。例如,在各種平面顯示面板上皆可以配置觸控面板,以使平面顯示器兼具顯示畫面以及輸入操作資訊的功能。傳統觸控面板主要包括電阻式、電容式、紅外線式以及表面聲波式。不同類型的觸控面板各自具有其優缺點,例如電容式觸控面板具有質感佳、觸控力道小等優點。不論是何種類型的觸控面板,如何對觸控面板上的觸碰點進行精確定位,一直是本領域的課題。
本發明提供一種觸控面板的定位方法與運行此定位方法的驅動裝置,以計算觸碰點於觸控面板上的位置。
本發明實施例提出一種觸控面板的定位方法。該觸控面板沿一軸向具有多個感測電極。該定位方法包括:偵測該些感測電極而獲得多個感測值;進行檢查步驟,以從該些感測電極中找出感測值大於第一臨界值的多個候選電極;進行一計數步驟,以計數該些候選電極的數量;若該些候選電極的數量大於第二臨界值,則增加該第一臨界值,以及再次進行所述檢查步驟與所述計數步驟;若該些候選電極的數量不大於該第二臨界值,則進行選擇步驟,以於該些候選電極中選擇至少一電極作為一定位電極;以及進行計算步驟,以依據該定位電極的位置與感測值,計算觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
本發明實施例提出一種觸控面板的驅動裝置。該觸控面板沿一軸向具有多個感測電極。該驅動裝置包括驅動單元以及處理單元。驅動單元驅動以及偵測該觸控面板的該些感測電極,以輸出該些感測電極的多個感測值。處理單元接收該些感測值。處理單元進行檢查步驟以從該些感測電極中找出感測值大於第一臨界值的多個候選電極。處理單元進行計數步驟以計數該些候選電極的數量。若該些候選電極的數量大於第二臨界值,則處理單元增加該第一臨界值以及再次進行所述檢查步驟與所述計數步驟。若該些候選電極的數量不大於該第二臨界值,則處理單元進行選擇步驟以於該些候選電極中選擇至少一電極作為定位電極,以及進行計算步驟以依據該定位電極的位置與感測值計算觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
在本發明之一實施例中,上述之計算步驟包括:計算第一移位值L_shift=(L/M)×(D/2),其中M為該定位電極的感測值,L為該定位電極左側相鄰電極的感測值,D為相鄰二個感測電極中心線的距離;計算第二移位值R_shift=(R/M)×(D/2),其中R為該定位電極右側相鄰電極的感測值;以及計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置為MP-L_shift+R_shift或MP+L_shift-R_shift,其中MP為該定位電極的位置。
在本發明之另一實施例中,上述之計算步驟包括:計算第三移位值L_shift1=(L1/M)×(D/2)×r1,其中M為該定位電極的感測值,L1為該定位電極左側相鄰電極的感測值,D為相鄰二個感測電極中心線的距離,r1為介於0~1的係數;計算第四移位值L_shift2=(L2/M)×(D/2)×r2,其中L2為該電極L1左側相鄰電極的感測值,r2為介於0~1的係數;計算第五移位值R_shift1=(R1/M)×(D/2)×r1,其中R1為該定位電極右側相鄰電極的感測值;計算第六移位值R_shift2=(R2/M)×(D/2)×r2,其中R2為該電極R1右側相鄰電極的感測值;以及計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置為MP-L_shift1-L_shift2+R_shift1+R_shift2或MP+L_shift1+L_shift2-R_shift1-R_shift2,其中MP為該定位電極的位置。
基於上述,本發明實施例以動態調整第一臨界值的方式,在多個電極中找出觸碰點所對應的多個候選電極,並且進一步地從這些候選電極中選擇一個定位電極。然後,以此定位電極的位置與感測值計算此觸碰點於觸控面板上的位置。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1為依照本發明一實施例說明觸控面板10與驅動裝置100的功能方塊示意圖。驅動裝置100包含驅動單元110以及處理單元120。觸控面板10可以是任何類型的觸控面板,例如電容式觸控面板、電阻式觸控面板、或是其他類型的觸控面板。對應於觸控面板10的類型,驅動單元110可以是任何類型的驅動/偵測電路。觸控面板10與對應的驅動單元110為公知技藝,故不在此贅述。
在圖1中引入笛卡兒座標系統(Cartesian coordinate system),其包括相互垂直的X軸向、Y軸向。觸控面板10沿X軸向具有多個感測電極,例如圖1所示感測電極S11
、S12
、S13
、S14
、S15
、S16
。觸控面板10沿Y軸向具有多個感測電極,例如圖1所示感測電極S21
、S22
、S23
、S24
、S25
、S26
。雖然圖1中僅繪示感測電極S11
~S16
及S21
~S26
,但實際應用時,感測電極的數目可根據實際觸控面板的面積以及設計需求而定。
請參照圖1,驅動單元110連接至感測電極S11
~S16
及S21
~S26
。驅動單元110驅動以及偵測觸控面板10的感測電極S11
~S16
及S21
~S26
,以輸出感測電極S11
~S16
及S21
~S26
的感測值(又稱raw count value)給處理單元120。
為了簡化說明,以下實施例以觸控面板10在操作時,僅以一個觸碰點TP為例。在實際操作時,本實施例所述定位方法亦可適用於多觸碰點的情形。另外,以下實施例可以應用於任何觸控面板驅動/感測模式。圖2是依照本發明實施例說明觸控面板10之定位方法的流程示意圖。請參照圖1與圖2,處理單元120透過驅動單元110偵測觸控面板10,以獲得感測電極S11
~S16
的感測值,以及獲得感測電極S21
~S26
的感測值(步驟S210)。
例如,圖3是依照本發明實施例說明圖1中感測電極S11
~S16
的感測值示意圖。圖3中橫軸表示感測電極S11
~S16
的位置,縱軸表示感測值。由於觸碰點TP位於感測電極S12
與S13
之間且較靠近第二電極S12
,因此圖3於S12
處出現相對極值(relative extreme)。
接下來處理單元120進行「檢查步驟」,以從這些感測電極S11
~S16
中找出感測值大於第一臨界值TH1的多個候選電極(步驟S220)。在此假設第一臨界值TH1被設定為初始值TH’,例如圖3所示虛線301。以圖3所示感測值為例,感測電極S14
~S16
的感測值小於第一臨界值TH1,而感測電極S11
~S13
的感測值大於第一臨界值TH1。因此,處理單元120在步驟S220中找到感測電極S11
~S13
作為候選電極。
接下來處理單元120進行「計數步驟」,以計數候選電極的數量M(步驟S230)。此時,候選電極(S11
~S13
)的數量M為「3」。步驟S240會判斷候選電極的數量M是否大於第二臨界值TH2。在此假設將第二臨界值TH2設定為「2」。由於此時候選電極的數量M大於2,因此處理單元120增加第一臨界值TH1(步驟S250)。步驟S250增加第一臨界值TH1的方式,可以將第一臨界值TH1增加某一個預設的固定值a。此固定值a是依照設計需求來決定的。在完成步驟S250後,第一臨界值TH1被調整為TH’+a,例如圖3所示虛線302。
第一臨界值TH1被調整後,處理單元120再次進行所述檢查步驟(步驟S220)與所述計數步驟(步驟S230)。此時感測電極S11
~S13
的感測值依然大於第一臨界值TH1(虛線302),因此處理單元120在步驟S220中找到的候選電極為感測電極S11
~S13
。由於此時候選電極的數量M仍然大於第二臨界值TH2,因此處理單元120再次進行步驟S250,以增加第一臨界值TH1。在完成步驟S250後,第一臨界值TH1被調整為TH’+a+a,例如圖3所示虛線303。
第一臨界值TH1被調整後,處理單元120再次進行所述檢查步驟(步驟S220)與所述計數步驟(步驟S230)。此時只剩感測電極S12
~S13
的感測值大於第一臨界值TH1(虛線302),因此處理單元120在步驟S220中找到感測電極S12
~S13
作為候選電極。由於此時候選電極(S12
~S13
)的數量M為「2」,而候選電極的數量M不大於第二臨界值TH2,因此處理單元120進行「選擇步驟」,以於候選電極S12
~S13
中選擇至少一電極作為「定位電極」(步驟S260)。應用本實施例者可以視實際應用之設計需求,而以任何法則來從多個候選電極中選擇其中至少一個電極作為「定位電極」。例如,於這些候選電極中隨機選擇一個電極作為「定位電極」。
再例如,上述步驟S260可以於這些候選電極的索引值中找出最小索引值,然後於這些候選電極中選擇具有此一最小索引值的電極作為「定位電極」。以圖3所示候選電極S12
~S13
為例,其索引值分別為「2」與「3」,則最小索引值為「2」。因此,上述步驟S260可以於這些候選電極S12
~S13
中選擇電極S12
作為「定位電極」。
又例如,上述步驟S260可以於這些候選電極的索引值中找出中間索引值,然後於這些候選電極中選擇具有該中間索引值的電極作為「定位電極」。例如,假設第二臨界值TH2被設定為「5」,使得有5個感測電極被選為候選電極。假設此5個候選電極的索引值分別為「10」、「11」、「12」、「13」與「14」,則上述步驟S260可以於這些候選電極的索引值中找出中間索引值「12」,然後以具有索引值「12」的電極作為「定位電極」。
於本實施例中,上述步驟S260是在這些候選電極的索引值中找出最大索引值,然後於這些候選電極中選擇具有此一最大索引值的電極作為「定位電極」。以圖3所示候選電極S12
~S13
為例,其索引值分別為「2」與「3」,則最小索引值為「3」。因此,上述步驟S260可以於這些候選電極S12
~S13
中選擇電極S13
作為「定位電極」。
接下來,處理單元120進行「計算步驟」,以依據該定位電極的位置與感測值,計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置(步驟S270)。應用本實施例者可以視實際應用之設計需求,而以任何演算法來進行步驟S270。例如,步驟S270可以依據該「定位電極」的位置、該「定位電極」的感測值、以及與「定位電極」相鄰的多個感測電極的感測值,計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置。若以圖3為說明範例,則處理單元120於步驟S270中依據電極S13
的位置、電極S13
的感測值、電極S12
的感測值、以及電極S14
的感測值,計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置。假設「定位電極」S13
的位置為MP,「定位電極」S13
的感測值為M,與「定位電極」S13
相鄰的左側相鄰電極S12
感測值為L,與「定位電極」S13
相鄰的右側相鄰電極S14
的感測值為R,而觸控面板10上相鄰二個感測電極中心線的距離為D,則本實施例的步驟S270可以計算方程式1與方程式2以求得第一移位值L_shift與第二移位值R_shift,然後計算方程式3以藉由修正「定位電極」的位置MP來求得觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置TPX。
L_shift=(L/M)×(D/2) 方程式1
R_shift=(R/M)×(D/2) 方程式2
TPX=MP-L_shift+R_shift 方程式3
請參照圖3,上述方程式3的前提是假設座標原點在電極S12
~S14
的左側。若是座標原點在電極S12
~S14
的右側,則處理單元120於步驟S270中可以計算方程式4來求得觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置TPX。
TPX=MP+L_shift-R_shift 方程式4
上述實施例是使用「定位電極」與左右各一個相鄰電極的感測值。在其他實施例中,步驟S270可以使用更多個感測電極的感測值來計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置TPX。例如,若以圖3為說明範例,假設與「定位電極」S13
相鄰的左側相鄰電極S12
感測值為L1,該電極S12
左側相鄰電極S11
的感測值為L2,「定位電極」S13
相鄰的右側相鄰電極S14
感測值為R1,該電極S14
右側相鄰電極S15
的感測值為R2,則步驟S270可以使用感測值M、L1、L2、R1與R2去計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置TPX。本實施例的步驟S270可以計算方程式5與方程式6以求得第三移位值L_shift1與第四移位值L_shift2,計算方程式7與方程式8以求得第五移位值R_shift1與第六移位值R_shift2,然後計算方程式9以藉由修正「定位電極」的位置MP來求得觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置TPX。其中,r1與r2為介於0~1的係數且r1+r2=1。
L_shift1=(L1/M)×(D/2)×r1 方程式5
L_shift2=(L2/M)×(D/2)×r2 方程式6
R_shift1=(R1/M)×(D/2)×r1 方程式7
R_shift2=(R2/M)×(D/2)×r2 方程式8
TPX=MP-L_shift1-L_shift2+R_shift1+R_shift2 方程式9
上述方程式9的前提是假設座標原點在圖3中電極S11
~S15
的左側。若是座標原點在電極S11
~S15
的右側,則處理單元120於步驟S270中可以計算方程式10來求得觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置TPX。
TPX=MP+L_shift1+L_shift2-R_shift1-R_shift2 方程式10
上述實施例是使用「定位電極」左右兩側的相鄰電極來計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置。然而步驟S270的實施方式並不限於此。例如,處理單元120依據該「定位電極」的位置、該「定位電極」的感測值以及與「定位電極」相鄰的另一感測電極的感測值,計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置。舉例來說,若前述步驟S260將候選電極S12
~S13
中最左邊的電極S12
作為「定位電極」,則步驟S270可以依據「定位電極」S12
的位置、「定位電極」S12
的感測值以及右側相鄰電極S13
的感測值,計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置。反之,若前述步驟S260將候選電極S12
~S13
中最右邊的電極S13
作為「定位電極」,則步驟S270可以依據「定位電極」S13
的位置、「定位電極」S13
的感測值以及左側相鄰電極S12
的感測值,計算觸碰點TP於觸控面板10上X軸向的位置。其中,計算法則可以是內插法或是其他演算法,例如TPX=MP-(L×D)÷(L+M)。
處理單元120還可以依照相同的方法,使用感測電極S21
~S26
的感測值去計算觸碰點TP於觸控面板10上Y軸向的位置。觸碰點TP於Y軸向位置的詳細定位方法可以參照上述諸實施例所述關於X軸向定位方法的相關說明,故不再贅述。
圖4是依照本發明另一實施例說明觸控面板10之定位方法的流程示意圖。圖4所述實施例可以參照圖2的相關說明。其中,步驟S220包括步驟S221~S224。步驟S221比較目前選擇的感測電極之感測值與第一臨界值TH1。若目前感測電極之感測值小於第一臨界值TH1,表示觸碰點TP不在目前感測電極之位置,則處理單元120進行步驟S224以選擇下一個感測電極,然後再一次進行步驟S221。若目前感測電極之感測值大於第一臨界值TH1,表示觸碰點TP可能在目前感測電極之位置,因此處理單元120會記錄此目前感測電極之索引值(步驟S222)。也就是說,處理單元120將此目前感測電極視為一個候選電極。步驟S223判斷還有沒有尚未檢查的感測電極。若尚有未檢查的感測電極,則處理單元120進行步驟S224以選擇下一個感測電極,然後再一次進行步驟S221。若所有的感測電極都已完成檢查,則處理單元120進行步驟S230。
圖5是依照本發明又一實施例說明觸控面板10之多點定位方法的流程示意圖。圖5所述實施例可以參照圖2與圖4的相關說明。其中,處理單元120完成步驟S240後會進行步驟S510,以便記錄已經確定的候選電極之索引值。另外,處理單元120完成步驟S260後會進行步驟S520,以便判斷「定位電極」的數量是否小於第三臨界值TH3。例如,若觸控面板10被設定為兩點觸碰的感測模式,則第三臨界值TH3被設定為「2」。若步驟S520判斷「定位電極」的數量不小於2,表示在觸控面板10上兩個觸碰點的相關「定位電極」都已被找到,則處理單元120進行步驟S270,以利用此二個「定位電極」分別計算於觸控面板10上兩個觸碰點的X軸向(或Y軸向)位置。
若步驟S520判斷「定位電極」的數量小於2(第三臨界值TH3),表示在步驟S220~S250的處理過程中忽視了具有較小感測值的另一個觸碰點。因此,處理單元120會紀錄已經確定的「定位電極」,以及進行步驟S530。於步驟S530中,處理單元120將已經確定的「定位電極」附近定義為禁制區塊(forbidden block)以便在稍後再次進行步驟S220~S250的處理過程中忽視此禁制區塊內的所有感測電極的感測值。例如,步驟S530可以將已經確定的「定位電極」以及「定位電極」左右各兩個相鄰感測電極定義為禁制區塊,然後將禁制區塊內共5個感測電極的感測值設為0。因此,在稍後步驟S220~S250的處理過程中,此禁制區塊內的所有感測電極的感測值會被忽視。
完成步驟S530後,處理單元120會將於第一臨界值TH1重設/恢復為初始值TH’(步驟S530),然後回到步驟S220,以便再一次進行從所有感測電極中找出另一個「定位電極」。
綜上所述,上述諸發明實施例中處理單元120以動態調整第一臨界值TH1的方式,在多個感測電極中找出觸碰點TP所對應的多個候選電極,然後從這些候選電極中選擇一個定位電極。接下來,處理單元120利用此定位電極的位置與感測值,計算此觸碰點TP於觸控面板10上的位置。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10...觸控面板
100...觸控面板的驅動裝置
110...驅動單元
120...處理單元
S210~S270、S510~S540...步驟
TH’...初始值
TP...觸碰點
301~303...虛線
S11
~S16
、S21
~S26
...感測電極
圖1為依照本發明一實施例說明觸控面板與驅動裝置100的功能方塊示意圖。
圖2是依照本發明實施例說明觸控面板之定位方法的流程示意圖。
圖3是依照本發明實施例說明圖1中感測電極S11
~S16
的感測值示意圖。
圖4是依照本發明另一實施例說明觸控面板之定位方法的流程示意圖。
圖5是依照本發明又一實施例說明觸控面板之多點定位方法的流程示意圖。
S210~S270...步驟
Claims (20)
- 一種觸控面板的定位方法,該觸控面板沿一軸向具有多個感測電極,該定位方法包括:偵測該些感測電極而獲得多個感測值;進行一檢查步驟,以從該些感測電極中找出感測值大於一第一臨界值的多個候選電極;進行一計數步驟,以計數該些候選電極的數量;若該些候選電極的數量大於一第二臨界值,則增加該第一臨界值,以及再次進行所述檢查步驟與所述計數步驟;若該些候選電極的數量不大於該第二臨界值,則進行一選擇步驟,以於該些候選電極中選擇至少一電極作為一定位電極;以及進行一計算步驟,以依據該定位電極的位置與感測值,計算一觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
- 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的定位方法,其中該選擇步驟包括:該些候選電極的索引值中找出一最小索引值;以及於該些候選電極中選擇具有該最小索引值的電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的定位方法,其中該選擇步驟包括:於該些候選電極的索引值中找出一最大索引值;以及於該些候選電極中選擇具有該最大索引值的電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的定位方法,其中該選擇步驟包括:於該些候選電極的索引值中找出一中間索引值;以及於該些候選電極中選擇具有該中間索引值的電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的定位方法,其中該選擇步驟包括:於該些候選電極中隨機選擇一電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的定位方法,其中該計算步驟包括:依據該定位電極的位置與感測值,以及依據與該定位電極相鄰的另一感測電極的感測值,計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
- 如申請專利範圍第1項所述觸控面板的定位方法,其中該計算步驟包括:依據該定位電極的位置與感測值,以及依據與該定位電極相鄰的多個感測電極的感測值,計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
- 如申請專利範圍第7項所述觸控面板的定位方法,其中該計算步驟包括:計算一第一移位值L_shift=(L/M)×(D/2),其中M為該定位電極的感測值,L為該定位電極左側相鄰電極的感測值,D為相鄰二個感測電極中心線的距離;計算一第二移位值R_shift=(R/M)×(D/2),其中R為該定位電極右側相鄰電極的感測值;以及計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置為MP-L_shift+R_shift或MP+L_shift-R_shift,其中MP為該定位電極的位置。
- 如申請專利範圍第7項所述觸控面板的定位方法,其中該計算步驟包括:計算一第三移位值L_shift1=(L1/M)×(D/2)×r1,其中M為該定位電極的感測值,L1為該定位電極左側相鄰電極的感測值,D為相鄰二個感測電極中心線的距離,r1為介於0~1的係數;計算一第四移位值L_shift2=(L2/M)×(D/2)×r2,其中L2為該電極L1左側相鄰電極的感測值,r2為介於0~1的係數;計算一第五移位值R_shift1=(R1/M)×(D/2)×r1,其中R1為該定位電極右側相鄰電極的感測值;計算一第六移位值R_shift2=(R2/M)×(D/2)×r2,其中R2為該電極R1右側相鄰電極的感測值;以及計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置為MP-L_shift1-L_shift2+R_shift1+R_shift2或MP+L_shift1+L_shift2-R_shift1-R_shift2,其中MP為該定位電極的位置。
- 如申請專利範圍第9項所述觸控面板的定位方法,其中r1+r2=1。
- 一種觸控面板的驅動裝置,該觸控面板沿一軸向具有多個感測電極,該驅動裝置包括:一驅動單元,驅動以及偵測該觸控面板的該些感測電極,以輸出該些感測電極的多個感測值;以及一處理單元,接收該些感測值,進行一檢查步驟以從該些感測電極中找出感測值大於一第一臨界值的多個候選電極,進行一計數步驟以計數該些候選電極的數量,其中若該些候選電極的數量大於一第二臨界值,則增加該第一臨界值以及再次進行所述檢查步驟與所述計數步驟,若該些候選電極的數量不大於該第二臨界值,則進行一選擇步驟以於該些候選電極中選擇至少一電極作為一定位電極,以及進行一計算步驟以依據該定位電極的位置與感測值計算一觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
- 如申請專利範圍第11項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元於該些候選電極的索引值中找出一最小索引值,以及於該些候選電極中選擇具有該最小索引值的電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第11項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元於該些候選電極的索引值中找出一最大索引值,以及於該些候選電極中選擇具有該最大索引值的電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第11項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元於該些候選電極的索引值中找出一中間索引值,以及於該些候選電極中選擇具有該中間索引值的電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第11項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元於該些候選電極中隨機選擇一電極作為該定位電極。
- 如申請專利範圍第11項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元依據該定位電極的位置、該定位電極的感測值以及與該定位電極相鄰的另一感測電極的感測值,計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
- 如申請專利範圍第11項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元依據該定位電極的位置、該定位電極的感測值以及與該定位電極相鄰的多個感測電極的感測值,計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置。
- 如申請專利範圍第17項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元計算一第一移位值L_shift=(L/M)×(D/2),計算一第二移位值R_shift=(R/M)×(D/2),以及計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置為MP-L_shift+R_shift或MP+L_shift-R_shift,其中M為該定位電極的感測值,L為該定位電極左側相鄰電極的感測值,R為該定位電極右側相鄰電極的感測值,D為相鄰二個感測電極中心線的距離,MP為該定位電極的位置。
- 如申請專利範圍第17項所述觸控面板的驅動裝置,其中該處理單元計算一第三移位值L_shift1=(L1/M)×(D/2)×r1,計算一第四移位值L_shift2=(L2/M)×(D/2)×r2,計算一第五移位值R_shift1=(R1/M)×(D/2)×r1,計算一第六移位值R_shift2=(R2/M)×(D/2)×r2,以及計算該觸碰點於該觸控面板上該軸向的位置為MP-L_shift1-L_shift2+R_shift1+R_shift2或MP+L_shift1+L_shift2-R_shift1-R_shift2,其中M為該定位電極的感測值,L1為該定位電極左側相鄰電極的感測值,L2為該電極L1左側相鄰電極的感測值,R1為該定位電極右側相鄰電極的感測值,R2為該電極R1右側相鄰電極的感測值,D為相鄰二個感測電極中心線的距離,r1與r2為介於0~1的係數,MP為該定位電極的位置。
- 如申請專利範圍第19項所述觸控面板的驅動裝置,其中r1+r2=1。
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