TWI445990B - 用以決定補償參數之方法及裝置、用以提供補償測試信號之方法及測試系統、及電腦程式 - Google Patents

Description

用以決定補償參數之方法及裝置、用以提供補償測試信號之方法及測 試系統、及電腦程式

本發明係有關於用以決定供補償測試信號的信號位準變化之補償參數的裝置。

發明背景

根據本發明之實施例係有關於一種用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置與方法。

例如，補償一信號位準變化對自動測試儀器而言是相當重要的。

自動測試儀器(ATE)典型使用各種不同的精密校準技術來確定產生激發一受測裝置(DUT)之信號有關該信號位準與該信號計時儘可能精確。類似校準技術可確定從用以響應該激發之一DUT產生之信號分析於有關信號位準與計時上儘可能精確。然而，該等校準技術參照該測頭(例如，一pogo介面)之該電氣連接器是相當普遍的。此亦表示該ATE系統精確度之規格參照該測頭連接器。

然而，使用一ATE需要一夾具來建立一或更多受測裝置與該測頭間之該機械與電氣連接。該類夾具由纜線、印刷電路板(PCB)以及裝置基座所組成，其形成該激發之夾具信號路徑並接收往返該DUT傳播之信號。特別是於較高資料速率以及許多DUT同時受測時，該夾具之該信號路徑實質上會造成信號位準與計時不精確。此結果是該ATE系統精確度有關至該DUT之電氣連接(例如該DUT基座)顯著降 級。

此外為了考量該夾具信號路徑對該ATE精確度之衝擊，某些ATE針對該夾具對該計時精確度之衝擊提供至少一個補償方案。典型情況是，一夾具延遲校準可由測量該額外的夾具信號路徑延遲之使用者執行。一時域反射量測法(TDR)式的測量技術可用來決定該信號路徑延遲(FXDL-Cal、夾具延遲校準)。該類情況中，包含於該ATE中之該延遲補償電路可彈性執行亦足以補償該夾具信號路徑之該測量的傳播延遲。

於更高速(資料速率>1Gbps)與/或較高平行度(DUT數量>64)時，該夾具信號路徑之電氣特性變得長且薄。此外，該成本壓力會限制該材料與該夾具製造程序之品質，其對該信號整合性具有一額外的負面衝擊。此造成無法令人滿意的信號位準之精確度損失。如一範例中，該集膚效應與該介電損失會造成一所謂信號衰退。

此表示一信號變遷過程僅以該變遷過程之快速上升部分來達到該規劃的電壓位準之一部分。接著是該變遷過程之一緩慢上升部分才漸漸達到該最後目標電壓。

第2圖顯示一存在衰退之一夾具信號的電壓-時間圖200。該連續線210顯示一夾具信號路徑之一輸出端的一信號，而該虛線220顯示一夾具信號路徑之一輸入端的一信號。該類情況中，具有高變遷速率之一信號絕無法達到造成一垂直資料眼閉合之該規劃的電壓位準。根據該信號路徑之長度，該夾具造成之該位準衰減針對每一信號路徑而 有所不同。

亦會造成信號位準精確度降級的另一種夾具效應是該信號路徑中阻抗不匹配，例如，PCB製造時無法避免的變動所造成。位準不精確的另一來源是來自該PCB中信號孔徑或其他不連續性，諸如連接至包括該DUT負載效應本身之夾具信號路徑的成塊電容性、電感性或電阻性元件的反射。

發明概要

本發明之目的是提供一種用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置，該信號位準變化由該測試信號沿著一信號路徑傳播所造成。

此目的可由申請專利範圍第1項之一裝置與申請專利範圍第10項之一方法來加以解決。

本發明之一實施例提供一種用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置。該信號位準變化由該測試信號沿著一信號路徑傳播所造成。該裝置包含一測試信號產生器與一測試信號分析儀。

該測試信號產生器組配來提供該測試信號並將其耦合至該信號路徑。

該測試信號分析儀組配來分析該測試信號之一反射並組配來根據該反射測試信號之分析以決定該補償參數。該反射測試信號之分析係根據決定該反射測試信號之一信號位準。

根據本發明之實施例係根據該中心理想情況是該測試信號之一信號位準變化鏈接至該反射測試信號之一信號位準變化。因此，供補償該測試信號之該信號位準變化的一補償參數可根據該反射測試信號之一信號位準來加以決定。

根據本發明之實施例係有關於包含用以決定一補償參數之一裝置以及一測試信號調配裝置的一測試系統。該測試信號調配裝置組配來根據該補償參數來調配該測試信號。該測試信號調配裝置可為該測試信號產生器之一部分。

此方式中，例如，可補償一信號衰退與/或改善一測試系統之該信號位準的精確度。

圖式簡單說明

隨後參照該等後附圖式來詳細說明根據本發明之實施例，其中：第1圖是一用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之方塊圖；第2圖是一存在衰退之一信號的示意電壓-時間圖；第3a圖與第3b圖是一用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之示意圖；第4圖是一反射測試信號之示意電壓-時間圖；第5圖是一透過該信號路徑發射之一測試信號的電壓-時間圖；第6圖是一反射測試信號之電壓-時間圖；第7圖是一第6圖所示之該電壓-時間圖的特寫圖； 第8圖是一反射測試信號之電壓-時間圖；第9圖是一用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之方塊圖；以及第10圖是一用以決定一補償參數之一方法的流程圖。

較佳實施例之詳細說明

第1圖顯示一根據本發明之實施例，用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的一裝置100之方塊圖。該信號位準變化由該測試信號沿著一信號路徑102傳播所造成，該裝置100包含一測試信號產生器110與一測試信號分析儀120。

該測試信號產生器110連接至該信號路徑102並組配來提供該測試信號並將其耦合至該信號路徑102。

該測試信號分析儀120亦連接至該信號路徑102並組配來分析該測試信號之一反射並組配來根據該參考信號之分析以決定該補償參數。該參考信號之分析係根據決定該反射測試信號之一信號位準。

該虛線表示該信號路徑102。

此觀點為一時域反射量測法(TDR)式的測量技術不僅顯露信號路徑延遲資訊，而且亦顯露，例如，該信號路徑102固有之信號衰減資訊。

例如，一信號衰退的情況中，由作為一正規TDR測量之一入射步階波(該測試信號)造成的該反射測試信號顯示一類似的信號衰退而成為該信號路徑輸出之信號。該信號 路徑輸出是未連接至該測試信號產生器110與該測試信號分析儀120的該信號路徑102之末端。此差別是該反射測試信號之該信號衰退是起因於在該測試路徑中往返行進之該步階波。不過，該參考信號帶有該信號路徑102之該衰退特性的資訊而因此該補償參數可根據該反射測試信號之分析來加以決定。

該信號路徑102之追蹤阻抗不匹配與其他不連續性通常造成位準衰減或位準過衝。此外這些情況中，一TDR式位準測量技術可用來決定一補償參數，因為該反射測試信號亦顯露該個別的位準資訊種類。許多該等情況會造成行為類似該衰退效應之效應。

該測試信號產生器110可為用以產生不同波形之信號的一共同信號產生器。該測試信號可為一步階波、一三角形信號、一正弦或餘弦信號或具有其他波形之一信號。

該測試信號分析儀120可為具有足夠時間解析之一共同的信號分析儀。例如，該測試信號分析儀120檢測到一反射測試信號於一到達時間到達。該到達時間後之一特定時間，該測試信號分析儀120決定該反射測試信號之一信號位準。該測試信號分析儀120可組配來於該到達時間後之不同時間決定該反射測試信號之多個信號位準。

或者，該測試信號分析儀120可於正規時間區間連續決定該反射測試信號之多個信號位準。

該測試信號之該信號位準變化可由，例如，該信號路徑102之一信號衰退、一阻抗不匹配或其他不連續性所造 成。

第3a圖與第3b圖顯示一根據本發明之一實施例，用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的一裝置300之示意圖。

第3a圖顯示具有一信號路徑102之該裝置300，其中未連接至該測試信號產生器110與該測試信號分析儀120之該信號路徑102的末端是斷開狀態。此外，亦顯示該信號路徑102之該斷開端的該入射步階波310(該測試信號)、該信號衰退320、以及具有該衰退資訊之該反射波330(反射測試信號)的示意圖。

第3b圖顯示具有一信號路徑102之該裝置300，其中未與該測試信號產生器110以及該測試信號分析儀120連接之該信號路徑102的末端是短路狀態。此外，亦顯示該入射步階波310(該測試信號)以及具有衰退資訊之該反射波330(反射測試信號)的示意圖。

根據該信號路徑102是否包含一斷開或一短路末端，該反射測試信號包含一不同的波形，但兩種情況皆帶有一衰退資訊。

第3a圖與第3b圖中顯示之該範例可為具有斷開末端與短路末端帶有衰退資訊之一TDR測量技術。

第4圖顯示一反射測試信號402之一示意電壓-時間圖400。

此範例中，該信號位準於該測試信號之反射的到達時間410後的三個不同時間點412、414、416測量。該等測量 信號位準，例如，對應擷取之衰減值422、424、426。該等衰減值422、424、426(a1、a2、a3)表示該反射測試信號於該相關聯時間點412、414、416關於該原來測試信號所能達到之該信號位準比例。該原來測試信號之該信號位準由該虛線420表示。此外該參考信號之該波形的正切線442、444、446可被決定以取得接近該衰退之時間常數432、434、436(τ 1、τ 2、τ 3)。

一補償參數可為一特定時間測量之該信號位準、一特定時間擷取之一衰減值、一特定時間之一時間常數或是根據一特定時間測量之信號位準的其他數值。

另一補償參數可由該等多個補償參數之兩個已知補償參數間的線性內插法來決定。此外亦可使用用以適配(fitting)兩個已知補償參數間之另一補償參數的其他演算法。例如，該等已知補償參數可由一多項式來適配。

該所示範例可為該反射TDR波形之一位準測量技術。

第5圖顯示一透過一信號路徑發射之一測試信號的電壓-時間圖500。該圖形500顯示該發射測試信號510，其中該破折-點線520顯示該原來的測試信號，其亦為該期待之發射測試信號。該發射測試信號510於未連接至該測試信號產生器與該測試信號分析儀之該信號路徑的末端中測量。

此範例中，該圖形500具有包含一偏移100mV之一原點530、一垂直標度50mV/div、一水平標度200ps/div、一延遲44.6791ns以及一觸發位準200mV。

此情況中，顯示具有1mm直徑之一40cm長高速纜線 (信號路徑)，例如，針對於該第一100ps具有超過10%之一位準損失的一非常高密度記憶體夾具上的一衰退。此範例可為從輸入至輸出之一時域傳輸(TDT)範疇測量技術。

第6圖適切地顯示一反射測試信號之一電壓-時間圖600。該反射測試信號610對應第5圖之該發射測試信號510。

此範例中，該圖形600具有包含一偏移200mV之一原點530、一垂直標度100mV/div、一水平標度1000ps/div、一延遲46.1511ns以及一觸發位準200mV。

使用該高速纜線(信號路徑)範疇之該時域反射量測法(TDR)測量技術，例如，從該短路末端之該反射波(該反射測試信號)上顯示相同的衰退資訊。換言之，一發射測試信號之該衰退的衰退資訊可根據該反射測試信號而被看見與/或決定。

第7圖顯示一第6圖所示之該電壓-時間圖的特寫圖700。其為從該短路末端反射進入變遷之一特寫圖700。該微小可見的失真710起因於附接該纜線末端(該信號路徑之末端)之該SMA(次小型版A)連接器。

此範例中，該特寫圖700具有包含一偏移100mV之一原點530、一垂直標度500mV/div、一水平時間標度200ps/div、一延遲46.4911ns以及一觸發位準200mV。

根據本發明之某些實施例係有關一種具有用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之測試系統。該測試系統可為一自動測試儀器(ATE)。

第8圖顯示一由一測試系統測量之一反射測試信號810 的電壓-時間圖800。例如，其顯示一DDR2 64位置高速記憶體介面之一短路信號路徑上與一自動測試儀器(ATE)執行之一時域反射量測法(TDR)測量技術。該圖清楚顯示該反射衰退資訊。該水平軸顯示具有一標度1.2ns/div以ns為單位之時間(par_rcvs)而該垂直軸顯示以V為單位之該信號位準(Vth)。

第8圖中，指出一失效/通過行為，但此僅由於該測試系統之該有限的表示可能性並可加以忽略。

第9圖顯示一根據本發明之一實施利，具有用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之一測試系統900的方塊圖。該測試系統900包含連接至一測試信號調配裝置910之該測試信號產生器110、連接至該信號路徑102之該測試信號調配裝置910以及連接至該信號路徑102之該測試信號分析儀120。該測試信號分析儀120組配來將該決定之補償參數902提供至該測試信號調配裝置910。

或者，該測試信號調配裝置910可為該測試信號產生器110之一部分，而該測試信號分析儀120可將該決定之補償參數902直接提供至該測試信號產生器110。

該測試信號調配裝置910組配來根據該補償參數902來調配該測試信號產生器110產生之該測試信號，並組配來以該測試信號之一信號位準變化可被補償的一種方式來調配該測試信號。此方式中，未連接至該測試信號調配裝置910與該測試信號分析儀120之該信號路徑的末端之該測試信 號可包含一期待之波形。所以，例如，衰退效應、阻抗不匹配與其他不連續性可被加以補償。

或者，該測試信號產生器110可組配來根據該補償參數902來產生一測試信號。之後，可不需要一測試信號調配裝置910。

該測試信號產生器110可為，例如，一ATE之一插針電子驅動器通道。

該測試信號分析儀120可直接連接(參考數字920所示)至該測試信號調配裝置之該輸出或該測試信號產生器110之該輸出。該連接920亦可由，例如，一耦合器來建置。該耦合器組配來針對該測試信號分析儀120來調配該反射測試信號，其可藉由放大、相位振幅之變動、或一延遲來完成。

該測試信號分析儀120可為，例如，一ATE之一插針電子接收器通道。

一般而言，一測試系統，例如一自動測試儀器(ATE)，受補償遠至該信號路徑102之該連接903。此可為一自動測試儀器之一測頭的該等連接器。用以決定一補償參數之該上述裝置與該上述測試系統可提供可能性來同樣補償該信號路徑之信號位準變化，使得具有一期待波形之一信號可達到未連接至該測試信號分析儀120與該測試信號產生器110或該測試信號調配裝置910之該信號路徑102的末端。

該測試信號調配裝置910或該測試信號產生器110可組配來決定該測試信號所需之一波形，以便根據該補償參數 來於未連接至該測試信號產生器110或該測試信號調配裝置910之該信號路徑的末端取得該測試信號之一期待的波形。該測試信號之該調配品質可藉由計算該測試信號所需之波形以及使用在不同時間決定之多個補償參數來改善。

調配該測試信號來於未連接至該測試信號產生器110或該測試信號調配裝置910之該信號路徑的末端提供一補償測試信號可改善該波形。例如，一方波信號、一矩形脈衝、一步階波之該邊緣陡度或上升或下降時間或者一般一信號之一上升或一下降邊緣可得以最佳化。

根據本發明之某些實施例係有關一時域反射量測法(TDR)式夾具衰減校準技術(Fatt-cal)。

根據本發明之某些其他實施例係有關於該信號位準領域之一時域反射量測法(TDR)式夾具衰減校準技術的一新觀點，來說明(具有一DUT之一ATE的)該夾具造成的位準不精確性議題。對於該信號時域中之該夾具延遲校準技術而言這是個讚美。此想法係根據事實上衣TDR測量技術不僅顯露信號路徑延遲資訊而且可顯露該夾具信號路徑固有之信號衰減資訊，並且為了補償可被，例如，一ATE本身來分析與估算。

類似該夾具延遲校準技術，針對一給定夾具之受選擇信號路徑，例如指派特定ATE通道，該夾具衰減校準技術可以一種其可被該使用者執行的方式來實施。針對該夾具上受選擇信號路徑所取得之補償值(補償參數)可儲存於伴隨該夾具之一資料結構中，例如與該系統校準資料無關， 並且不論何時該夾具與該ATE共同使用時可載入該ATE供補償。或者，該等補償參數可由該ATE直接儲存並且使用該夾具時可被載入。

根據本發明之某些實施例係有關發生相當頻繁的信號衰退情況。該提議方法之一重要特性是事實上例如，由一入射步階波(測試信號)所造成來作為一正規TDR測量之該反射波(反射測試信號)顯示一類似該信號路徑輸出之該信號的信號衰退。此可能是針對該斷開或該短路末端之一反射的情況。

然而，此差別是該反射信號之該信號衰退是起因於在該受測量信號路徑中往返行進之該步階波。不過，該反射信號帶有該信號路徑之該衰退特性的完整資訊而該單向特性可從對該反射信號資料之一適當計算來取得。

此計算可根據該反射測試信號之一受測量信號位準，例如，根據發射的測試信號與反射的測試信號之一比較結果的一校準值資料庫。或者，因為該測試信號之該信號位準變化與該反射測試信號之該信號位準變化成正比，所以與該反射測試信號之該受測量信號位準成正比之該測試信號的放大可被完成來補償該信號位準變化。

根據本發明之某些實施例係有關提供若干時間常數來執行該期待衰退之一反相行為的一衰退補償電路(具有用以決定一補償參數之一裝置的一測試系統)，用以設定該等補償值(補償參數)之資訊可從該反射TDR波形(該反射測試信號)之不同計時點的若干位準測量來取得。

為達此目的，該ATE(測試系統)可以其插針電子驅動器通道來送出一入射步階波(測試信號)，例如，校準至該測試頭連接器，至該夾具(信號路徑)，並同時以其插針電子接收器通道來接收該反射波形，亦校準至該測試頭連接器。

例如，另外該夾具延遲校準技術正確執行時，於時間t=0時該反射衰退步階波可由該ATE察覺。參照此計時參考點(該反射測試信號之到達時間)，該ATE可根據該給定時間常數在與該參考點之給定時間差處來執行一位準測量。

從該受測量位準衰減資訊中，該等補償值(補償參數)可根據一適當的演算法來導出。此可為，例如，該受測量信號位準與一常數或儲存於一記憶體中之一校準參數的乘積。之後，該測試信號可根據該等補償值或補償參數來放大或衰減。

該類測量(一反射信號之一信號位準的測量)亦可由其他任何適當的儀器來執行，例如，諸如一時域反射量測法(TDR)觀察器。至於該夾具延遲測量，該位準測量亦可由該夾具製造商於運送前先行處理。該等取得補償參數可由該夾具之一記憶體單元來儲存並可稍後由該ATE載入。

根據本發明之某些實施例中，該測試信號分析儀120組配來比較該測試信號之一信號位準以及該反射測試信號之一信號位準，並組配來根據該測試信號之該信號位準以及該反射測試信號之該信號位準的該比較結果來決定該補償參數。

根據本發明之其他某些實施例係有關針對阻抗不匹配 與其他不連續性來決定補償參數。追蹤該夾具信號路徑中之阻抗不匹配與其他不連續性通常造成位準衰減或位準過衝。此外這些情況中，一TDR式位準測量技術可用來決定與夾具相關的位準補償值，因為該反射波亦顯露該個別的位準資訊種類。許多該等情況會造成行為類似該衰退效應之效應，而因此可輕易以該相同位準補償電路來補償。於是，該提議方法是一種非常彈性的策略來增強該ATE之精確度，例如，針對非常高速與/或非常高平行度時結合夾具。

根據本發明之某些實施例係有關含有該每一插針夾具衰減補償值(該等補償參數)之一合適的資料結構。(由一ATE)將其與一測試流程設定載入來作為含有該每一插針夾具衰減補償值之一合適的資料結構之一範例的一經修改通道屬性檔案可為：hp93000,chan_attribute,0.1

SATR 0

FXDL 20501,2.004

FXDL 20502,2.026 #夾具路徑延遲資訊

FXDL 20503,2.218

FXDL 20504,2.216

FATT 20501,0.512,0.732,0.918 #夾具衰減資訊

FATT 20502,0.482,0.639,0.817 #以完全標度之一部分表示

FATT 20503,0.534,0.697,0.912 #(於三個計時點決定)

FATT 20504,0.552,0.678,0.875

此範例中，hp93000為該測試系統之名稱，chan_attribute為該檔案名稱，FXDL表示夾具延遲接著是該通道編號(例如，20501)而該路徑延遲資訊以ns為單位(例如，2.004)，而FATT表示夾具衰減接著是該通道編號，而接著是於三個不同計時點決定之三個補償參數(例如，0.512,0.732,0.918)。

例如，該等補償參數指出該反射測試信號所達到之該測試信號的該信號位準的一部分。

第10圖顯示一根據本發明之一實施例，一種用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的方法1000之流程圖。該信號位準變化由該測試信號沿著一信號路徑傳播所造成。該方法1000包含1010提供該測試信號、1020將該測試信號耦合至該信號路徑、1030分析該測試信號之一反射以及1040決定該補償參數。

該反射測試信號之該分析1030是根據決定該反射測試信號之一信號位準。

1030決定該補償參數是根據該反射測試信號之該分析

根據本發明之某些實施例係有關一種用以提供供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償測試信號的方法。該方法包含根據該補償參數來調配該測試信號以取得一補償測試信號。

本專利申請案中，該等相同參考數字部分用於具有相同或類似功能特性之物件與功能單元。

特別是，根據該等條件，其指出本發明方案亦可以軟 體來執行。該實施態樣可位於一數位儲存媒體上，特別是具有能夠與一可程式化電腦系統共同運作之電子可讀控制信號的一軟碟或一CD，使得該對應方法可加以執行。一般而言，當一電腦程式產品於一電腦中執行時，本發明因此亦在於具有儲存於一機器可讀載體中用以執行本發明方法之一程式碼的該電腦程式產品。換言之，當一電腦程式產品於一電腦中執行時，本發明因此亦作為具有用以執行本方法之一程式碼的一電腦程式來加以實現。

100、300‧‧‧裝置

102‧‧‧信號路徑

110‧‧‧測試信號產生器

120‧‧‧測試信號分析儀

310‧‧‧入射步階波

320‧‧‧信號衰退

330‧‧‧反射波

400、500、600、800‧‧‧電壓-時間圖

402、610、810‧‧‧反射測試信號

410‧‧‧到達時間

412、414、416‧‧‧時間點

422、424、426‧‧‧衰減值

432、434、436‧‧‧時間常數

442、444、446‧‧‧正切線

510‧‧‧發射測試信號

520‧‧‧破折-點線

530‧‧‧原點

700‧‧‧特寫圖

710‧‧‧失真

900‧‧‧測試系統

902‧‧‧決定之補償參數

910‧‧‧測試信號調配裝置

1000‧‧‧方法

1010‧‧‧提供該測試信號

1020‧‧‧將該測試信號耦合至該信號路徑

1030‧‧‧分析該測試信號之一反射

1040‧‧‧決定該補償參數

第1圖是一用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之方塊圖；第2圖是一存在衰退之一信號的示意電壓-時間圖；第3a圖與第3b圖是一用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之示意圖；第4圖是一反射測試信號之示意電壓-時間圖；第5圖是一透過該信號路徑發射之一測試信號的電壓-時間圖；第6圖是一反射測試信號之電壓-時間圖；第7圖是一第6圖所示之該電壓-時間圖的特寫圖；第8圖是一反射測試信號之電壓-時間圖；第9圖是一用以決定供補償一測試信號的一信號位準變化之一補償參數的裝置之方塊圖；以及第10圖是一用以決定一補償參數之一方法的流程圖。

100‧‧‧裝置

102‧‧‧信號路徑

110‧‧‧測試信號產生器

120‧‧‧測試信號分析儀

Claims (13)

1. 一種用以決定一補償參數的裝置，該補償參數用以補償一測試信號的一信號位準變化，其中該信號位準變化由該測試信號沿著一信號路徑傳播所造成，該裝置包含：一組配來提供該測試信號並將其耦合至該信號路徑之測試信號產生器；以及一組配來分析該測試信號之一反射，並組配來根據該反射測試信號之分析以決定該補償參數的測試信號分析儀，其中該反射測試信號之分析係根據決定該反射測試信號之一信號位準。
2. 如申請專利範圍第1項之用以決定一補償參數的裝置，其中該測試信號分析儀組配來於不同時間決定該反射測試信號之多個信號位準，並組配來針對該等多個信號位準之每一決定的信號位準來決定一補償參數。
3. 如申請專利範圍第2項之用以決定一補償參數的裝置，其中該測試信號分析儀組配來於兩個已決定之補償參數間，由線性內插法或另一適配(fitting)演算法來決定另一補償參數。
4. 如申請專利範圍第1、2、3項之其中一項之用以決定一補償參數的裝置，其中該信號路徑包含一第一端點與一第二端點，其中該第一端點連接至該測試信號產生器與該測試信號分析儀，而其中該第二端點是斷開或短路狀態。
5. 如申請專利範圍第1項之用以決定一補償參數的裝置， 其中該測試信號分析儀組配來比較該測試信號之一信號位準以及該反射測試信號之一信號位準，並組配來根據該測試信號之該信號位準以及該反射測試信號之該信號位準的比較結果以決定該補償參數。
6. 如申請專利範圍第1項之用以決定一補償參數的裝置，其包含一記憶體單元，其中該測試信號分析儀組配來針對多個不同的信號路徑來決定多個補償參數，其中該等多個補償參數由該記憶體單元儲存。
7. 如申請專利範圍第1項之用以決定一補償參數的裝置，其中該測試信號分析儀組配來根據該反射測試信號之該分析以決定供補償該測試信號之一延遲的一延遲參數。
8. 一種用以提供一補償測試信號之測試系統，該測試系統具有如申請專利範圍第1項之用以決定一補償參數的裝置，其中該測試信號產生器組配來根據該補償參數來調配該測試信號以取得該補償測試信號。
9. 一種用以提供一補償測試信號之測試系統，該測試系統具有如申請專利範圍第1、2、3、4、5、6、7項之其中一項之用以決定一補償參數的裝置，該測試系統包含一測試信號調配裝置，其組配來根據該補償參數來調配由該測試信號產生器所提供之該測試信號以取得該補償測試信號。
10. 一種用以決定一補償參數的方法，該補償參數用以補償一測試信號的一信號位準變化，其中該信號位準變化由 該測試信號沿著一信號路徑傳播所造成，其包含下列步驟：提供該測試信號；將該測試信號耦合至該信號路徑；分析該測試信號之一反射，其中該反射測試信號之分析係根據決定該反射測試信號之一信號位準；以及根據該反射測試信號之分析來決定該補償參數。
11. 一種用以提供一補償測試信號的方法，其用以補償一測試信號之一信號位準變化，其中該信號位準變化由該測試信號沿著一信號路徑傳播所造成，其包含下列步驟：提供該測試信號；將該測試信號耦合至該信號路徑；分析該測試信號之一反射，其中該反射測試信號之分析係根據決定該反射測試信號之一信號位準；根據該反射測試信號之分析來決定該補償參數；以及根據該補償參數來調配該測試信號以取得該補償測試信號。
12. 如申請專利範圍第11項之用以提供一補償測試信號的方法，其中調配該測試信號之步驟包含該測試信號之放大、該測試信號之振幅或相位的變化、或該測試信號之一延遲。
13. 一種電腦程式，其具有程式碼，當該電腦程式於一電腦或一微處理器中運作時，用以執行如申請專利範圍第10、11、12項之其中一項的方法。