TWI429779B - 鑽石成核方法 - Google Patents
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Description
本發明係關於一種鑽石成核方法，尤指一種無外加偏壓且無預先放置鑽石晶種於非鑽石基板上即可成長出鑽石晶體之方法。
鑽石擁有許多優異的物理、化學、光學、力學與電學特性，例如它擁有高的熱傳導係數、具化學惰性、具有最高硬度、高楊氏係數與低摩擦係數、具有寬能隙與寬的光學穿透頻域。因此，多晶鑽石(PCD)為近年來工業界廣泛使用之材料，其優點除了擁有近似單晶鑽石之優良機械性質外，還能配合目的被加工為所需之形狀。
於非鑽石基板上合成鑽石時必須先進行成核(nucleation)或種晶(seeding)，其中由於自成核(self-nucleation)可簡化鑽石沉積製程，故許多研究皆致力於鑽石自成核之方法。異質成核方法為偏壓輔助成核法(bias-enhanced nucleation,BEN)，其係藉由外加負偏壓於基板上來增加物種動能，俾而有效撞擊基板而成核，其中，外加之偏壓可為DC偏壓或RF自偏壓；亦有相關研究指出，藉由額外塗覆層(如非晶碳層)可有助於進行後續之成核製程；但此方法形成之核種較不易均勻分佈、亦不易深入基板凹槽處。
現今使用化學氣相沉積(chemical vapor deposition,CVD)法來成長多晶鑽石薄膜，已經是相當成熟且普遍的方法，其主要係使用如氬氣、氫氣、氧氣、氮氣、碳氫材料及其他含碳材料等前驅材料，藉由各種形式之能量應用，以游離、激發含前驅材料之混合氣體，進而成長多晶鑽石膜；其中微波電漿輔助化學氣相沉積(Microwave plasma chemical vapor deposition,MPCVD)係將一種或多種反應原料通入腔體中，經過微波電漿活化後，使其產生離子化與電化學反應，而在已有鑽石晶體之非鑽石基板表面沉積一層固態薄膜。然而，目前利用MPCVD難於無鑽石晶種或無加有負偏壓之基板沉積一層鑽石薄膜。
本發明之主要目的係在提供一種新穎之鑽石成核方法，俾能於未外加偏壓之條件下，直接於未種晶之非鑽石基板上進行鑽石成核，並成長出高純度之鑽石晶體。
為達成上述目的，本發明之鑽石成核方法，包括下列步驟：提供一基板並以一化學試劑前處理該基板之一表面，其中該化學試劑係至少一選自由一硫酸鹽、一磷酸鹽、及一過硫酸鹽所組成之群組；提供一混合氣體於一反應室中，其中該混合氣體包括一含碳氣體，及更可選擇性包括一惰性氣體、一氫氣或一二氧化碳；以及於該反應室中形成一電漿，並於未外加偏壓之條件下，使該含碳氣體於經前處理之該基板之該表面上反應形成複數個核種。
在此，本發明所使用的化學氣相沉積系統並無限制，除了電漿輔助化學氣相沈積(plasma enhanced CVD)、熱燈絲化學氣相沈積(Hot-filament CVD)系統以外，一般使用於形成鑽石之化學氣相沈積系統皆可適用於本發明，較佳係於微波電漿化學氣相沉積系統中進行鑽石成核。
在本發明之鑽石成核方法中，該基板僅需可耐溫、及不易與該化學試劑劇烈反應或受其腐蝕作用，故該基板可為任何欲沉積鑽石晶體之標的物。在此，本發明可於未外加偏壓(如DC偏壓或RF自偏壓)之條件下，直接於導電基板或絕緣基板上成核；尤其，相較於須額外形成碳塗層作為過渡層之習知技術，本發明可直接於非碳相表面上成核，無需額外形成碳塗層作為過渡層，亦即，本發明可直接於不具碳塗層之非鑽石基板上成核，該基板較佳為一矽基板、或一二氧化矽基板。
其中，前處理基板之一表面之化學試劑係至少一選自由一硫酸鹽、一磷酸鹽、及一過硫酸鹽所組成之群組，較佳為至少一選自由一硫酸銨鹽、一硫酸金屬鹽、一磷酸銨鹽、一磷酸金屬鹽、一過硫酸銨鹽、及一過硫酸金屬鹽所組成之群組，更佳為至少一選自由過硫酸銨、硫酸銅、及磷酸銨所組成之群組，最佳為過硫酸銨。
此外，以化學試劑前處理基板之表面可包括下列步驟：塗佈一化學試劑溶液於該基板之該表面上；以及去除該化學試劑溶液中之一溶劑。其中塗佈方法及去除方法不受限，可使用任何習知方法進行，例如：可透過液滴塗覆
法、浸沾式塗佈法、浸沾式塗佈法搭配震盪處理、噴塗法、或簾塗法，以於該基板之該表面上塗佈該化學試劑溶液；並可透過熱處理以去除該化學試劑溶液中之該溶劑及減少塗佈基板表面該化學試劑之量。
於本發明中，含碳氣體可於含氫或不摻氫之條件下反應成核。據此，相較於富含氫氣之習知成核方法，由於游離惰性氣體(如氬氣)所需之微波功率較小，且不摻氫條件下所產生之原子氫含量較少，故有利於低溫製程。詳細地說，微波能量及原子氫再結合時所放出的熱量皆會使基板溫度上升，因此，低微波功率及低原子氫含量之製程條件有助於減少基板之熱負載，俾可於較低溫之製程條件下成核，有利於擴展合成鑽石之應用範圍。此外，於不摻氫之條件下成核更具有製程較為安全之優點。再者，本發明亦可於含氫(少量氫)之條件下進行鑽石成核，僅需較高微波功率以產生電漿，且基板溫度會較高，但仍可順利進行鑽石成核。
於本發明中，該含碳氣體並無特殊限制，其可為習知化學氣相沉積法中使用之任何含碳氣體，但較佳為碳氫氣體，如甲烷、乙炔等。其中，該含碳氣體於該混合氣體中之體積百分比並無限制，較佳為0.05%至50%，更佳為0.1%至10%。
並且，該混合氣體可更包括一氫氣，該氫氣於該混合氣體中之體積百分比並無限制，較佳為0.05%至50%，更佳為0.1%至20%。
此外，於本發明中，該混合氣體亦可使用：任何習知用於形成鑽石之化學氣相沈積系統中之混合氣體。
於本發明中，本領域中具有通常知識者可視微波頻率及反應器大小而調整適當之微波功率，舉例說明，若使用5 cm至7 cm直徑之基板載台及2.45 GHz微波，則微波功率較佳為200W至1200W，而鑽石成核之其他製程參數較佳為：基板溫度約200℃至1000℃、沉積壓力(即混合氣體壓力)約1 Torr至300 Torr。
藉此，本發明更可藉由控制混合氣體流量，避免反應室中過多的含碳氣體形成碳粒(carbon soots)，以提高合成鑽石之純度與品質。詳細地說，習知製法常因氣相合成碳粒而造成電漿形成不穩定之橘紅色電漿區域，因而影響鑽石之純度與品質，導致製程失敗，然而，本發明可隨反應室之大小、微波功率之大小、沉積壓力之高低及混合氣體中含碳氣體之含量，調低該混合氣體之總流量，以延長反應氣體於反應室內駐留時間(residence time)，因而使反應室內之碳量約等於氣相合成碳粒所需量，以避免氣相合成碳粒造成電漿不穩定，進而提高鑽石成核之品質。具體地說，於實際操作時，操作者可藉由觀察電漿中是否形成不穩定之橘紅色電漿區域，以調整較佳之混合氣體總流量；亦即，於本發明中，較佳為，藉由調整該混合氣體之總流量，以避免該電漿形成橘紅色電漿區域。以反應室4公升體積為例，本發明於1200瓦微波功率及110Torr沉積壓力下，較佳為控制混合氣體之總流量約5sccm至100sccm(亦即，以反應
室之每公升體積為基準，總流量較佳為1 sccm至25sccm)，更佳為30sccm至60 sccm(亦即，以反應室之每公升體積為基準，總流量更佳為7 sccm至15sccm)，以提高鑽石成核之品質。在此，該含碳氣體於混合氣體中之體積百分比較佳約為0.05%至50%，更佳約為0.1%至10%，最佳約為0.5%至5%，例如，本發明之一實施態樣係使用甲烷作為含碳氣體，其含量為約0.5至3%；此外，本領域中具有通常知識者可藉由調整混合氣體中之含碳氣體含量，以調變鑽石成核密度。據此，當本發明於微波功率為200W至1200W、含碳氣體為0.1%至10%且沉積壓力50 Torr至300 Torr之條件下進行鑽石成核時，以反應室之每公升體積為基準，本發明較佳係控制混合氣體之總流量約1 sccm至50 sccm，以利於形成高純度且高品質之合成鑽石。
於本發明中，該惰性氣體較佳為氦氣以外之其他惰性氣體，舉例如氬氣、氪氣、氙氣或其混合氣體，但更佳為氬氣。
綜上所述，本發明可於經過前處理之基板上形成核種，進而可由自成核而成之核種成長出高純度之鑽石晶體。並且，本發明不僅可於所述之製程下完成鑽石成核及成長，其亦可藉由調整適當之鑽石成長參數，以製備各種結構及尺寸之鑽石。尤其，本發明之前處理基板步驟簡單，且本發明之成核方法不需如偏壓輔助成核法之外加偏壓，亦無需再額外形成碳塗層。因此，本發明之鑽石成核方法，係藉由簡單製程即可成長出高純度之鑽石晶體。
以下係藉由特定的具體實施例說明本發明之實施方式，熟習此技藝之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地了解本發明之其他優點與功效。本發明亦可藉由其他不同的具體實施例加以施行或應用，本說明書中的各項細節亦可基於不同觀點與應用，在不悖離本發明之精神下進行各種修飾與變更。
首先，使用超音波震盪，依序以丙酮、異丙醇、乙醇、及去離子水清洗矽基板及二氧化矽基板，每種溶劑皆清洗基板1分鐘。接著，使用超音波震盪，以飽和的(NH4
)2
S2
O8
、CuSO4
、或(NH4
)3
PO4
去離子水溶液處理矽基板及二氧化矽基板30分鐘。之後，將矽基板及二氧化矽基板浸於去離子水中，再以N2
吹乾。
首先，使用超音波震盪，依序以丙酮、異丙醇、乙醇、及去離子水清洗矽基板及二氧化矽基板，每種溶劑皆清洗基板1分鐘。接著，將飽和的(NH4
)2
S2
O8
或(NH4
)3
PO4
去離子水溶液滴在矽基板及二氧化矽基板上，再以加熱板加熱兩基板至約500-550℃，直到基板上的(NH4
)2
S2
O8
溶液蒸發。之後，將矽基板及二氧化矽基板浸於去離子水中，再以N2
吹乾。因此，前處理過後的基板上出現咖啡圈(coffee rings)痕跡。
以下實施例係使用使用石英鐘罩式之SEKI 1.5kW微波電漿化學氣相沉積系統，其中混合氣體包含94%的Ar、3%的CH4
、及3%的H2
；並使用532nm之雷射激發源進行拉曼光譜分析，其中約在1330-1366cm-1
處發現鑽石特有之訊號峰。
使用實施例1經過前處理之二氧化矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)，與未經過前處理之二氧化矽基板進行實驗。於2.45 GHz之MPCVD反應條件如下：混合氣體：47sccm Ar、1.5sccm CH4
、及1.5sccm H2
；沉積壓力：190 Torr；微波功率：1200W；基板溫度：963℃；反應時間：2小時。請參照圖1，其為成長之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖，其中，以飽和的(NH4
)2
S2
O8
、CuSO4
、及(NH4
)3
PO4
去離子水溶液處理之二氧化矽基板，分別簡寫為「NS」、「NCu」、及「NP」，未經過前處理之二氧化矽基板簡寫為「對照組」；於1335cm-1
拉曼位移處可發現鑽石之訊號峰。
使用實施例1經過前處理之矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)，與未經過前處理之矽基板進行實驗。MPCVD反應條件與實施例3相同，除了基板溫度更改為979℃。請參照圖2，其為成長之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖，其中，以飽和的(NH4
)2
S2
O8
、CuSO4
、及(NH4
)3
PO4
去離子水溶液處理之矽基板，分別簡寫為「NS」、「NCu」、
及「NP」，未經過前處理之矽基板簡寫為「對照組」；於1335cm-1
拉曼位移處可發現鑽石之訊號峰。
使用實施例2經過(NH4
)2
S2
O8
前處理之二氧化矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)進行實驗。MPCVD反應條件與實施例3相同，除了基板溫度更改為941℃。圖3係為成長之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡(SEM)下之俯視圖。
使用實施例2經過(NH4
)2
S2
O8
前處理之矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)進行實驗。MPCVD反應條件與實施例3相同，除了基板溫度更改為973℃。
請參照圖4，其為實施例5及實施例6成長之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖，於1336cm-1
拉曼位移處可發現鑽石之訊號峰。
使用實施例2經過(NH4
)2
S2
O8
前處理之二氧化矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)進行實驗。MPCVD反應條件與實施例3相同，除了基板溫度更改為989℃。
使用實施例2經過(NH4
)2
S2
O8
前處理之矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)進行實驗。MPCVD反應條件與實施例3相同，除了基板溫度更改為989℃。
請參照圖5，其為實施例7及實施例8成長之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖，於1334cm-1
拉曼位移處可發現鑽石之訊號峰。
使用實施例2經過(NH4
)2
S2
O8
前處理之二氧化矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)進行實驗。MPCVD反應條件與實施例3相同，除了基板溫度更改為923℃、CH4
含量更改為0.5sccm、及沉積壓力更改為210Torr。圖6係為成長之鑽石晶體(中心部份)於掃描式電子顯微鏡(SEM)下之俯視圖。
使用實施例2經過(NH4
)2
S2
O8
前處理之矽基板(基板尺寸：1x1cm2
)進行實驗。MPCVD反應條件與實施例3相同，除了基板溫度更改為923℃、CH4
含量更改為0.5sccm、及沉積壓力更改為210Torr。
使用實施例1經過(NH4
)2
S2
O8
前處理之二氧化矽基板(基板尺寸：2x2cm2
)進行實驗。於2.45 GHz之MPCVD反應條件如下，分別如方式1、2、及3所示：方式1：混合氣體：47sccm Ar、1.5sccm CH4
、及1.5sccm H2
，沉積壓力：100 Torr，微波功率：1200W，基板溫度：768℃，反應時間：2小時；方式2：混合氣體：1sccm CH4
、及99sccm H2
，沉積壓力：50 Torr，微波功率：1300W，基板溫度：892℃，反應時間：1小時；以及方式3：混合氣體：1sccm CH4
、
及99sccm H2
，沉積壓力：50 Torr，微波功率：1300W，基板溫度：878℃，反應時間：5小時。
請參照圖8至圖10，其分別為方式1至3形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖；圖11為成長之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖，其中於1334cm-1
拉曼位移處可發現鑽石之訊號峰。
使用實施例2經過(NH4
)3
PO4
前處理之二氧化矽基板(基板尺寸：5x5 mm2
)進行實驗。於2.45 GHz之MPCVD反應條件如下，分別如方式1、2所示：方式1：混合氣體：47sccm Ar、1.5sccm CH4
、及1.5sccm H2
，沉積壓力：100 Torr，微波功率：1200W，基板溫度：752℃，反應時間：2小時；以及方式2：混合氣體：1sccm CH4
、及99sccm H2
，沉積壓力：50 Torr，微波功率：1300W，基板溫度：878℃，反應時間：6小時。請參照圖12、13，其分別為方式1、2形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
使用實施例2經過(NH4
)3
PO4
前處理之矽基板(基板尺寸：5x5 mm2
)進行實驗，MPCVD反應條件與實施例12相同。請參照圖14、15，其分別為方式1、2形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
請參照圖16，其為實施例12及實施例13成長之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖，於1332cm-1
拉曼位移處可發現鑽石之訊號峰。
使用實施例2經過將飽和的(NH4
)2
S2
O8
去離子水溶液前處理之二氧化矽基板(基板尺寸：5x5 mm2
)進行實驗。於2.45 GHz之MPCVD反應條件如下，混合氣體：50sccm CH4
、50sccm CO2
，沉積壓力：30Torr，微波功率：1000W，基板溫度：840℃，反應時間：3小時。請參照圖17為形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖，圖18為成長之鑽石晶體(實驗組)於325nm雷射激發下與有預置晶種之基板所成長之鑽石晶體(對照組)之比較拉曼光譜圖；其中實驗組-1與實驗組-2係為鑽石晶體之不同區域。經過實施例2前處理及預置晶種所得鑽石晶體皆顯示1332cm-1
之鑽石拉曼訊號峰。
據此，本發明可於經過前處理之基板上形成核種，進而可由自成核而成之核種成長出高純度之鑽石晶體。與習知方法相比，本發明之前處理基板步驟簡單，且不需如偏壓輔助成核法之外加偏壓，亦無需再額外形成碳塗層。上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。
圖1係本發明實施例3形成之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖。
圖2係本發明實施例4形成之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖。
圖3係本發明實施例4形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖4係本發明實施例5及實施例6形成之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖。
圖5係本發明實施例7及實施例8形成之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖。
圖6係本發明實施例9形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖7係本發明實施例9及實施例10形成之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖。
圖8係本發明實施例11於方式1之形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖9係本發明實施例11於方式2之形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖10係本發明實施例11於方式3之形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖11係本發明實施例11形成之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖。
圖12係本發明實施例12於方式1之形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖13係本發明實施例12於方式2之形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖14係本發明實施例13於方式1之形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖15係本發明實施例13於方式2之形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖16係本發明實施例12及實施例13形成之鑽石晶體於532nm雷射激發下之拉曼光譜圖。
圖17係本發明實施例14形成之鑽石晶體於掃描式電子顯微鏡下之俯視圖。
圖18係本發明實施例14形成之鑽石晶體於325nm雷射激發下與對照組鑽石晶體之拉曼光譜圖。
Claims (17)
- 一種鑽石成核方法，包括下列步驟：提供一基板並以一化學試劑前處理該基板之一表面，其中該化學試劑係至少一選自由一硫酸鹽、一磷酸鹽、及一過硫酸鹽所組成之群組；提供一混合氣體於一反應室中，其中該混合氣體包括一含碳氣體；以及於該反應室中形成一電漿，並於未外加偏壓之條件下，使該含碳氣體於經前處理之該基板之該表面上反應形成複數個核種。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中該基板係為一矽基板、或一二氧化矽基板。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中該化學試劑係至少一選自由一硫酸銨鹽、一硫酸金屬鹽、一磷酸銨鹽、一磷酸金屬鹽、一過硫酸銨鹽、及一過硫酸金屬鹽所組成之群組。
- 如申請專利範圍第3項所述之鑽石成核方法，其中該化學試劑係至少一選自由過硫酸銨、硫酸銅、及磷酸銨所組成之群組。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中以該化學試劑前處理該基板之該表面係包括下列步驟：塗佈一化學試劑溶液於該基板之該表面上；以及去除該化學試劑溶液。
- 如申請專利範圍第5項所述之鑽石成核方法，其中係透過液滴塗覆法、浸沾式塗佈法、浸沾式塗佈法搭配震盪處理、噴塗法、或簾塗法，以於該基板之該表面上塗佈該化學試劑溶液。
- 如申請專利範圍第5項所述之鑽石成核方法，其中係透過熱處理以去除該化學試劑溶液。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中該些核種係於一微波電漿化學氣相沉積系統中形成。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中該混合氣體更包括至少一種係選自一氫氣或一惰性氣體。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中該些核種係於不摻氫之條件下形成。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中該含碳氣體為甲烷，而該惰性氣體為氬氣。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中該含碳氣體於該混合氣體中之體積百分比為0.05%至50%。
- 如申請專利範圍第12項所述之鑽石成核方法，其中該含碳氣體於該混合氣體中之體積百分比為0.1%至10%。
- 如申請專利範圍第9項所述之鑽石成核方法，其中該氫氣於該混合氣體中之體積百分比為0.05%至50%。
- 如申請專利範圍第14項所述之鑽石成核方法，其中該氫氣於該混合氣體中之體積百分比為0.1%至20%。
- 如申請專利範圍第3項所述之鑽石成核方法，其中，該含碳氣體係於基板溫度為200℃至1000℃之條件下反應成核。
- 如申請專利範圍第1項所述之鑽石成核方法，其中，該含碳氣體係於沉積壓力為50Torr至300Torr之條件下反應成核。
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|---|---|---|---|
| TW101117883A TWI429779B (zh) | 2012-05-18 | 2012-05-18 | 鑽石成核方法 |
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|---|---|---|---|
| TW101117883A TWI429779B (zh) | 2012-05-18 | 2012-05-18 | 鑽石成核方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| TW201348494A TW201348494A (zh) | 2013-12-01 |
| TWI429779B true TWI429779B (zh) | 2014-03-11 |
Family
ID=50157266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW101117883A TWI429779B (zh) | 2012-05-18 | 2012-05-18 | 鑽石成核方法 |
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| TW (1) | TWI429779B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102015113984A1 (de) | 2014-12-24 | 2016-06-30 | Stampro Metal Industry Co., Ltd. | Steckanschluss für eine Munddusche |
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| US20200362455A1 (en) * | 2019-05-13 | 2020-11-19 | National Cheng Kung University | Method of diamond nucleation and structure formed thereof |
-
2012
- 2012-05-18 TW TW101117883A patent/TWI429779B/zh not_active IP Right Cessation
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102015113984A1 (de) | 2014-12-24 | 2016-06-30 | Stampro Metal Industry Co., Ltd. | Steckanschluss für eine Munddusche |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201348494A (zh) | 2013-12-01 |
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