TWI428618B - 測試負載卡 - Google Patents

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Description

測試負載卡
本發明涉及一種負載卡，特別涉及一種用於測試的負載卡。
眾所周知，電腦等電子裝置在出廠時都要進行測試，其中的重要測試就是主板的測試，主板包括多種類型的PCI(Peripheral Component Interconnect，週邊元件連接)插槽，例如PCI，PCIE(PCI Express，高速PCI)，PCIX(並連的PCI匯流排的更新版本)等，在對該些插槽進行測試時，由於不同的插槽形狀不一樣，且工作電壓以及負載的電阻要求不一樣，在對相應插槽進行測試時，通常需要具有相應阻值的負載電阻以及工作在相應電壓的負載卡進行測試。在負載卡較多時，對相應的插槽進行測試，往往要花費不少時間尋找相應的負載卡，且負載卡較多時，容易丟失，對測試造成了諸多不便。
本發明提供一種測試負載卡，可適用於多種不同類型的PCI插槽。
一種測試負載卡，用於測試主板上的多種類型的PCI插槽，每一PCI插槽具有至少兩個工作電壓，該測試負載卡包括若干金手指片、若干電壓端以及若干負載及電壓選擇電路。該若干金手指片用於分別與不同的PCI插槽匹配連接。每一電壓端與至少一個金 手指片的電源引腳連接，當測試負載卡通過相應的金手指片與對應的PCI插槽連接時，相應的電壓端從該PCI插槽獲得該PCI插槽的當前工作電壓。每一負載及電壓選擇電路對應包括了對相應的工作電壓下一PCI插槽進行測試所需的負載電阻；每一負載及電壓選擇電路與一電壓端連接，用於回應用戶的操作處於工作或不工作狀態，從而選擇測試負載卡的輸入電壓以及負載電阻，使得該測試負載卡的負載電阻以及輸入電壓分別為對一工作電壓下的某一PCI插槽進行測試所需的負載電阻以及該工作電壓。
本發明的測試負載卡，可根據待測PCI插槽的類型以及工作電壓選擇對應的負載電阻，從而滿足多個不同類型的PCI插槽的測試需求。
1‧‧‧測試負載卡
F1~F4‧‧‧金手指片
Vcc1~Vcc4,Vcc‧‧‧電壓端
10‧‧‧負載及電壓選擇電路
K‧‧‧切換開關
M1、M2‧‧‧路徑開關
R1‧‧‧第一負載電阻
R2‧‧‧第二負載電阻
101~106‧‧‧連接端
201，301‧‧‧控制端
202，302‧‧‧第一導通端
203，303‧‧‧第二導通端
TS‧‧‧溫度感應器
圖1為本發明第一實施方式中測試負載卡的外觀示意圖。
圖2為本發明第一實施方式中測試負載卡的功能模組圖。
圖3為本發明第一實施方式中測試負載卡中的一負載及電壓選擇電路的電路圖。
請參閱圖1，為一測試負載卡1的外觀示意圖，該測試負載卡1包括多個金手指片F1~F4，在本實施方式中，該測試負載卡1為矩形，該金手指片為四個，分別位於矩形的測試負載卡1的四個邊上。該四個金手指片F1~F4分別與主板上不同的PCI插槽相匹配，當需要對主板上的PCI插槽進行測試的，將該測試負載卡1通過相應的金手指片與相應的PCI插槽連接即可。在本實施方式中，該四個金手指片F1~F4分別為與PCIE x8插槽(8位的PCIE插槽)、 PCIE x16插槽(16位的PCIE插槽)、PCI插槽以及PCIX插槽對應的金手指片。
請一併參閱圖2及圖3，圖2為測試負載卡1的內部模組圖，其中，該測試負載卡1還包括若干電壓端Vcc1~Vcc4、若干負載及電壓選擇電路10。
由於不同類型PCI插槽所需的測試負載電阻不同，且各個類型的PCI插槽一般具有兩個工作電壓，在對該兩個工作電壓下的PCI插槽進行測試時，測試負載電阻要求也不同。在本實施方式中，由於PCIE x8插槽與PCIE x16插槽為類似插槽，其所需的測試負載電阻以及工作電壓相同，PCI插槽以及PCIX插槽也為類似插槽，所需的測試負載電阻及工作電壓也相同。例如PCIEx8以及PCIEx16類型插槽具有12V以及3.3V的電壓。PCI和PCIX則有5V和3.3V的電壓。因此，該電壓端Vcc1~Vcc4分別對應了該四個插槽所具有的工作電壓，本實施方式中，該電壓端Vcc1~Vcc4分別對應了3.3V、12V、3.3V和5V。該若干負載及電壓選擇電路10對應了在相應的工作電壓下該些PCI插槽測試所需的負載電阻。例如，與電壓端Vcc1連接的負載及電壓選擇電路10包括了PCIEx8以及PCIEx16在3.3V下測試所需的負載電阻，與電壓端Vcc2連接的負載及電壓選擇電路10包括了PCIEx8以及PCIEx16在12V下測試所需的負載電阻；與電壓端Vcc3連接的負載及電壓選擇電路10包括了PCI以及PCIX在3.3V下測試所需的負載電阻，與電壓端Vcc4連接的負載及電壓選擇電路10包括了PCI以及PCIX在5V下測試所需的負載電阻。
該電壓端Vcc1~Vcc4分別與金手指片F1~F4中的至少一個的電源引 腳(圖中未示)連接，當測試負載卡1通過相應的金手指片與對應的插槽連接時，電壓端Vcc1~Vcc4中的至少一個從對應的插槽獲得電壓。例如，電壓端Vcc1與PCIEx8以及PCIEx16插槽對應的金手指片的3.3V電源引腳相連，電壓端Vcc2與PCIEx8以及PCIEx16插槽對應的金手指片的12V電源引腳相連，電壓端Vcc3與PCI以及PCIX插槽對應的金手指片的3.3V電源引腳相連，電壓端Vcc4與PCI以及PCIX插槽對應的金手指片的5V電源引腳相連。從而，當測試負載卡1與PCIEx8插槽連接時，該電壓端Vcc1以及電壓端Vcc2分別與PCIEx8的3.3V電源引腳以及12V電源引腳相連，等等。
該若干負載及電壓選擇電路10與電壓端Vcc1~Vcc4分別連接，用於回應用戶的操作處於工作或不工作狀態，從而選擇測試負載卡1的輸入電壓以及負載電阻，使得該測試負載卡1的負載電阻以及輸入電壓分別為對一工作電壓下的某一PCI插槽進行測試所需的負載電阻以及該工作電壓。
其中，每一負載及電壓選擇電路10的結構均相同，僅負載的電阻值不同，因此，下面僅介紹其中一個負載及電壓選擇電路10的電路結構。如圖3所示，為其中一個負載及電壓選擇電路10的電路圖。
該負載及電壓選擇電路10包括切換開關K、路徑開關M1、M2、第一負載電阻R1、第二負載電阻R2。該切換開關K具有六個連接端101~106，該路徑開關M1具有控制端201、第一導通端202以及第二導通端203，該路徑開關M2具有控制端301、第一導通端302以及第二導通端303。切換開關K的連接端101、103與電壓端Vcc連 接，其中，該電壓端Vcc為電壓端Vcc1~Vcc4中連接該負載及電壓選擇電路10的一個。連接端102與路徑開關M1的控制端201連接，連接端104與路徑開關M2的控制端301連接，連接端105、106懸空。該第一負載電阻R1連接於電壓端Vcc與路徑開關M1的第一導通端202之間，該第二負載電阻R2連接於電壓端Vcc與路徑開關M2的第一導通端302之間，該路徑開關M1、M2的第二導通端均接地。
在本實施方式中，該負載及電壓選擇電路10包括第一負載電阻R1、第二負載電阻R2可用於同一插槽在同一工作電壓下匹配兩個功率負載的測試，顯然，該負載及電壓選擇電路10可僅包括一個負載電阻或包括三個、四個負載電阻等。
其中，該路徑開關M1以及M2為高電壓導通開關，在本實施方式中為NMOS管，該控制端201、301對應NMOS管的柵極，第一導通端202、302對應NMOS管的源極，第二導通端203、303對應NMOS管的漏極。在其他實施方式中，該路徑開關M1以及M2為NPN三極管。
該切換開關K為一多路導通開關，用於導通連接端101與102的連接或連接端103與104的連接，或連接端105與106的連接。當該切換開關K連接該連接端101與102時，路徑開關M1的控制端201通過該切換開關K與電壓端Vcc連接而獲得一高電壓，從而路徑開關M1導通，電壓端Vcc以及第一負載電阻R1所在的電流支路導通，從而第一負載電阻R1流過相應的電流。當該切換開關K連接該連接端103與104時，路徑開關M2的控制端301通過該切換開關K與電壓端Vcc連接而獲得一高電壓，從而路徑開關M2導通，電壓端Vcc以及第二負載電阻R2所在的電流支路導通，從而第二負載電阻R2流過相應的電流。
其中，在不同的負載及電壓選擇電路10中，第一負載電阻R1的阻值各不相同，第二負載電阻R2的阻值也各不相同。如前所述，不同的負載及電壓選擇電路10中的第一負載電阻R1、第二負載電阻R2對應的為相應工作電壓下的PCI插槽所需的測試負載電阻。通過切換開關K的切換，可選擇。
從而，根據所需測試的插槽類型以及該插槽的工作電壓，通過對相應的負載及電壓選擇電路10中的切換開關K進行控制，控制該些負載及電壓選擇電路10中的負載電阻所在的電流支路導通或不導通，使得對應插槽以及對應電壓的被負載及電壓選擇電路10被選通處於工作狀態，而將其他負載及電壓選擇電路10關閉處於不工作狀態，例如，當需要測試的為12V工作電壓下的PCIEx8插槽，則相應的控制該與電壓端Vcc1連接的負載及電壓選擇電路10中的切換開關K，使得該切換開關K中的連接端101與連接端102連接或使得連接端103與連接端104連接，使得該負載及電壓選擇電路其中一個負載電阻所在電流支路導通；同時控制其他負載及電壓選擇電路10中的切換開關K的連接端105與連接端106連接，從而使得其他負載及電壓選擇電路10不工作。然後，通過溫度感應器TS偵測流過電流的相應負載電阻的溫度，根據該溫度參數即可測試該插槽的良好程度。
具體的，當該切換開關K連接該連接端101與102時，路徑開關M1的控制端通過該切換開關K與電壓端Vcc連接而獲得一高電壓，從而路徑開關M1導通，電壓端Vcc以及第一負載電阻R1所在的電流支路導通，從而第一負載電阻R1流過相應的電流，該溫度感應器TS感測到的第一負載電阻R1的溫度即反映了對應插槽的良好程度 。當該切換開關K連接連接端103與104時，路徑開關M2的控制端通過該切換開關K與電壓端Vcc連接而獲得一高電壓，從而路徑開關M2導通，電壓端Vcc以及第二負載電阻R2所在的電流支路導通，從而第二負載電阻R2流過相應的電流，該溫度感應器TS感測到的第二負載電阻R2的溫度即反映了對應插槽的良好程度。
1‧‧‧測試負載卡
Vcc1-Vcc4‧‧‧電壓端
10‧‧‧負載及電壓選擇電路

Claims (6)

  1. 一種測試負載卡，用於測試主板上的多種類型的PCI插槽，每一PCI插槽具有至少兩個工作電壓，其改良在於，該測試負載卡包括：若干金手指片，用於分別與不同的PCI插槽匹配連接；若干電壓端，每一電壓端與至少一個金手指片的電源引腳連接，當測試負載卡通過相應的金手指片與對應的PCI插槽連接時，相應的電壓端從該PCI插槽獲得該PCI插槽的當前工作電壓；若干負載及電壓選擇電路，每一負載及電壓選擇電路對應包括了對相應的工作電壓下一PCI插槽進行測試所需的負載電阻；每一負載及電壓選擇電路與一電壓端連接，用於回應用戶的操作處於工作或不工作狀態，從而選擇測試負載卡的輸入電壓以及負載電阻，使得該測試負載卡的負載電阻以及輸入電壓分別為對一工作電壓下的某一PCI插槽進行測試所需的負載電阻以及該工作電壓；其中，每一負載及電壓選擇電路包括：第一路徑開關以及第二路徑開關，分別包括控制端、第一導通端以及第二導通端；切換開關，包括第一、第二、第三、第四、第五以及第六連接端，該第一、第三連接端與相應的電壓端連接，第二連接端與第一路徑開關的控制端連接，第四連接端與第二路徑開關的控制端連接，第五及第六連接端懸空；第一負載電阻，連接於該第一路徑開關的第一導通端以及相應的電壓端之間；第二負載電阻，連接於第二路徑開關的第一導通端以及相應的電壓端之 間；一溫度感應器連接於該第一負載電阻以及第二負載電阻之間，用於感測該第一負載電阻以及第二負載電阻的溫度；該第一路徑開關以及第二路徑開關的第二導通端接地。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試負載卡，其中該切換開關為一多路導通開關，用於選擇性的導通第一、第二連接端的連接或第三、第四連接端的連接或第五、第六連接端的連接，該第一路徑開關以及第二路徑開關均為高電壓導通開關；當該切換開關連接該第一連接端與第二連接端時，第一路徑開關的控制端通過該切換開關與電壓端連接而獲得一高電壓，從而第一路徑開關導通，電壓端以及第一負載電阻所在的電流支路導通，從而第一負載電阻流過相應的電流，該溫度感應器感測到的第一負載電阻的溫度即反映了對應插槽的良好程度；當該切換開關連接該第三連接端與第四連接端時，第二路徑開關的控制端通過該切換開關與電壓端連接而獲得一高電壓，從而第二路徑開關導通，電壓端以及第二負載電阻所在的電流支路導通，從而第二負載電阻流過相應的電流，該溫度感應器感測到的第二負載電阻的溫度即反映了對應插槽的良好程度。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試負載卡，其中不同的負載及電壓選擇電路包括的第一負載電阻的阻值各不相同，第二負載電阻的阻值也各不相同。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試負載卡，其中該些負載及電壓選擇電路中的切換開關回應用戶的操作而導通第一、第二連接端的連接或第三、第四連接端的連接或第五、第六連接端的連接，使得與該插槽以及工作電壓對應的負載及電壓選擇電路中的某一負載電阻所在支路被選通，而其他負載及電壓選擇電路處於不工作狀態，通過溫度感應器偵測流過電流的相應負載電阻的溫度，該溫度參數即反映了待測試的該插槽的良好 程度。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試負載卡，其中該主板上的若干待測試PCI插槽分別為PCIE x8插槽、PCIE x16插槽、PCI插槽以及PCIX插槽，該金手指片分別為與PCIE x8插槽、PCIE x16插槽、PCI插槽以及PCIX插槽對應的金手指片。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之測試負載卡，其中PCIEx8以及PCIEx16類型插槽具有12V以及3.3V的工作電壓，PCI和PCIX具有5V和3.3V的工作電壓，該若干電壓端的個數為四個，分別對應了該四個插槽所具有的工作電壓，該若干負載及電壓選擇電路也為四個，該些負載及電壓選擇電路分別包括了PCIEx8以及PCIEx16在3.3V工作電壓下測試所需的負載電阻、PCIEx8以及PCIEx16在12V工作電壓下測試所需的負載電阻、PCI以及PCIX在3.3V工作電壓下測試所需的負載電阻、以及PCI以及PCIX在5V工作電壓下測試所需的負載電阻。
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