TWI425476B - Display device - Google Patents

Description

顯示裝置

本發明關於顯示裝置，例如關於，以自發光元件來構成其顯示元件的顯示裝置。

因為各式各樣的資訊處理裝置的普及，而也存在有各式各樣的對應其功能的顯示裝置。其中值得注意的是以自發光元件構成顯示元件的所謂的自發光型的顯示裝置。在這種顯示裝置，已知其顯示元件是使用例如：有機EL(Electro Luminescence)元件、或有機發光二極體(Organic Light Emitting Diode)等。這種顯示裝置，不需要背光而消耗電力較低，而與習知的液晶顯示器相比，具有：畫素的辨識性較高、反應速度較快等的優點。並且，這種發光元件具有類似二極體的特性，能夠藉由流動於元件的電流量來控制其亮度。在日本特開2006-91709號公報等揭示有這種自發光型顯示裝置。

可是，在以這種方式組成的顯示裝置，其發光元件的特性，免不了會因為使用期間或周圍環境而讓元件的內部電阻值變化。尤其如果是使用期間增長的話，會有隨著時間經過讓內部電阻變高，而流動於元件的電流減少的性質。因此，例如在進行選單顯示等時，如果畫面內的同一部位的畫素持續點亮，該部分會產生烙印現象。為了修正該狀態，而需要檢測畫素的狀態。所採取的檢測方法是在顯示的回掃期間來檢測畫素的狀態。由於在回掃期間是不會使畫素發光的，所以不會施加電壓。因此，是使用不同於發光所使用的電源的其他電源，在回掃期間對於畫素施加某程度的電流，檢測在該狀態的電壓，藉此來檢測因為電壓變化而產生烙印現象的惡化情形的方法。而作為檢測出畫素狀態而予以修正的方法，例如像日本特開2006-91860號公報所示，將監視器元件並排設置在顯示部的發光元件的各行方向，藉由基本電流源，將定值電流供給到上述監視器元件，將該監視器元件產生的電壓，施加到：並排於監視器元件配置在行方向的複數的發光元件，而以定值電壓驅動該發光元件。

可是，在上述專利文獻2所揭示的顯示裝置，只能在設置有監視器元件的行方向檢測出顯示部的各畫素的狀態，並沒有考慮到列方向的誤差特性。因此，雖然希望檢測出各畫素的狀態，但免不了會增加檢測電路的規模。所以希望能夠不增加檢測電路的規模，可對於伴隨著顯示部的面內傾斜或誤差而惡化的畫素的顯示進行修正。

本發明的目的，是要提供一種顯示裝置，不會增加檢測電路的規模，可對於伴隨著顯示部的面內傾斜或誤差而惡化的畫素的顯示進行修正。

本發明的顯示裝置，是將檢測的基準值設定在最開始(例如顯示部的左端)，雖然理想的方式是，在一圖框或一線部分的一次檢測不變更基準值，可是實際上，會因為外來因素讓檢測值的變動量變大，為了避免這種情形，而將檢測區域細分化。雖然會因為面內傾斜的影響讓檢測電壓變動，而只要是在檢測器(A/D轉換器)的檢測範圍內可以對應的變動範圍的話，電路的規模就不會增加。因此為了讓檢測電壓變動範圍保持在A/D轉換器的檢測範圍內，而將檢測畫素數量相對於一個參考電壓予以細分化，換言之，將其區塊化再予以檢測。

藉由本發明的一種實施方式，是具有：由因應於電流量而讓發光量變化的複數畫素所構成的顯示部、以及用來將顯示訊號電壓輸入到上述畫素的訊號線，的顯示裝置，是具備有：

將藉由對於上述畫素供給電源所得到的上述畫素的畫素狀態所對應的訊號，藉由切換上述訊號線來予以輸出的開關電路、沿著上述顯示部的水平線上，將上述畫素的畫素狀態所對應的訊號依序檢測的A/D轉換器；上述A/D轉換器，具備有：將其參考電壓予以變更的電路，對於將在上述水平線上的畫素數量分割為複數的每個區塊，來檢測與該區塊內的各畫素的畫素狀態對應的訊號。

藉由本發明的顯示裝置，不會增加檢測電路(A/D轉換器)的規模，可對於伴隨著顯示部的面內傾斜或誤差而惡化的畫素的顯示進行修正。

而本發明的其他效果，可從說明書全部記載中了解。

參考圖面來說明本發明的實施例。在各圖及各實施例，對於相同或類似的組成元件是用相同元件符號，而省略說明。

(第一實施方式)

第1圖是顯示本發明的顯示裝置的概略情形的組成圖。顯示裝置是以驅動器1與顯示部2所構成。在驅動器1具備有：顯示控制部3、檢測開關4、檢測部5、檢測用電源6。在顯示部2，具備有：顯示用電源7、顯示元件8、畫素控制部9、開關10。來自外部的顯示資料是輸入到驅動器1的顯示控制部3。顯示控制部3，是用來進行上述顯示資料的時序控制或訊號控制。驅動器1內的訊號流有三種，可以掌握為顯示路線、檢測路線、修正路線。上述顯示路線，是讓上述顯示資料，經由顯示控制部3、檢測開關4而進入到顯示部2，為經由畫素控制部9以顯示用電源7來驅動顯示元件8的流動。上述檢測路線，為從顯示元件8經由開關10、檢測開關4而進行到檢測部5的流動。上述檢測開關4，是在顯示時與檢測時將資料方向進行切換。在顯示時利用顯示用電源7作為顯示部2的電源，在檢測時利用檢測用電源6作為顯示部2的電源。在本實施例，電源的數量雖然顯示為兩個，而往往會因為構造而增減，電源的種類也會因為電流來源或電壓來源而構成。畫素控制部9，是在顯示時藉由上述顯示資料進行顯示用電源7的控制，在檢測時使用檢測用電源6，來將顯示元件8的狀態資料傳達到檢測部5。

第2圖，是將第1圖所示的組成圖更詳細地予以說明的圖面。是顯示：例如將有機EL元件作為顯示元件(在圖中以圖號8顯示)的顯示裝置。顯示元件8的驅動電源，在檢測時與顯示時具有獨立的型態。也就是說，當檢測時，使用檢測用電流源11來作為檢測用電源6，在顯示時，使用顯示用電壓源12來作為顯示用電源7。顯示用電壓源12，最好是共通於用來顯示的顯示元件。開關14是以訊號線18連接於顯示運算部16，當顯示時則開啟。檢測用電流源11，是以檢測線13與開關15連接。這裡的開關14與開關15不會同時開啟。顯示運算部16，進行各開關或電源的控制及檢測與修正。移位暫存器17，也可組裝於顯示運算部16中，也可配置為獨立的控制部，控制則由顯示運算部16進行。訊號線21，是在顯示時與檢測時的兩方使用的共用線。連接到訊號線21的開關14，是以顯示運算部16控制的控制訊號20所控制，開關15，是以移位暫存器17控制的控制訊號19所控制。顯示用電壓源12與顯示元件8是以畫素控制部9連接。而檢測用電流源11與顯示用電壓源12雖然是個別的電源，而也可因為檢測構造，彙整成電流源或電壓源任一種的電源。訊號線21與顯示元件8，是以開關10連接。開關10，是以訊號運算部16控制的模式選擇訊號22所控制。畫素狀態的檢測結果，可經由檢測線13以檢測部5獲得。檢測部5，是藉由：緩衝器24、A/D轉換部25、檢測運算部26所構成。緩衝器24，會將檢測線13的值放大再輸出到訊號27。A/D轉換部25，將訊號27的類比值轉換為訊號28的數位值。檢測運算部26，根據訊號28的數位值來計算出修正量，藉由訊號23而輸出到上述顯示運算部16。而藉由來自檢測運算部26的控制訊號29來控制A/D轉換部25。在檢測運算部26，可含有：設定暫存器或設定記憶體，可藉由該設定值來變更檢測方法或各種設定。

第3圖是顯示上述A/D轉換部25的一實施例的內部組成圖。如第3圖所示，A/D轉換部25，將顯示檢測結果的訊號27輸入，藉由A/D電路30將經過A/D轉換的訊號28取出作為輸出。而在A/D轉換部25，具備有：參考電壓產生電路31、加法電路32、減法電路35。從上述檢測運算部26(參考第2圖)將控制訊號29取入到A/D轉換部25，將該控制訊號29輸入到上述參考電壓產生電路31，從該參考電壓產生電路31將訊號33及訊號36輸出。訊號33的值與訊號36的值是相同或相異都可以。將訊號33輸入到加法電路32，該加法電路32會輸出基準電壓A將其供給到上述A/D電路30。將訊號36輸入到減法電路35，該減法電路35會輸出基準電壓B而將其供給到上述A/D電路30。基準電壓A34與基準電壓B37是使用作為上述A/D電路30的基準電壓。

第4圖是上述A/D電路30的一種實施例的內部組成的示意圖。在第4圖，上述A/D電路30，會藉由比較器42來比較：藉由基準電壓A34及基準電壓B37所產生的基準值41、所輸入的訊號27的檢測結果。基準電壓A34與基準電壓B37是將其中一方作為基準線的值，作為在參考電壓值上加上或減去偏移值後所求出的值。比較用的基準值41是在基準電壓A34與基準電壓B37之間以電阻梯40所分割的值。藉此，比較器42將檢測結果27與基準值41進行比較。第4圖所示的比較器42例如由7個所構成。可是，該比較器42的數量、及電阻梯40的數量，是可因應於所需要的比較精度而增減的。

第5圖是顯示：在針對顯示裝置(面板)的顯示區域的一條水平線來觀察的情況的沒有外來因素的狀態的檢測結果。在第5圖中，橫軸是表示上述一條水平線上的部位，縱軸為檢測值。在第5圖中，考慮了面板特有的例如畫素選擇用的薄膜電晶體(TFT)的開關誤差。如第5圖所示，一條線的檢測結果50沒有任何誤差，也沒有產生烙印現象，顯示大致檢測出定值。這裡看到左端部51、中心部52、右端部53來作為一條線中的檢測部位。在第5圖的下側顯示了各部位的檢測結果的放大圖，可看出各畫素的檢測結果(例如在圖中由元件符號56所顯示)是在範圍54內散開。圖中範圍55是顯示A/D電路30所進行的檢測的最小波段。在沒有誤差的情況，則沒有範圍54，檢測值56全部為相同值。相對地，第6圖顯示了針對顯示區域的一條水平線來觀察的情況的包含外來因素的狀態的檢測結果。與第5圖的情況同樣地顯示了顯示區域的一條水平線來觀察的情況。除了面板特有的誤差之外考慮了周圍溫度等的影響。一條線的檢測結果60，在一條線之中並不一定受到外來 因素的影響。這裡是看到左端部61、中心部62、右端部63來作為一條線中的檢測部位。範圍64是顯示誤差的範圍，該範圍是面板原有的誤差，所以與第5圖所示的範圍54是大致相同的值。範圍65是顯示A/D檢測的最小波段。在該例子中，在中央部62，與左端部61或右端部63的檢測電壓大幅不同，而判斷A/D檢測的波段涵蓋兩階段。本發明，提出了將該外來因素造成的影響考慮進去的檢測方法。

第7圖，關於面板的顯示區域70的水平方向的上述檢測，將顯示區域70的上部的檢測結果顯示於(a)作為檢測值71，將中央部的檢測結果顯示於(b)作為檢測值72，將下部的檢測結果顯示於(c)作為檢測值73。在該例子中，所顯示的特性是顯示區域70的上部的誤差較小，隨著移動到下部誤差漸漸變大。該特性會因為面板而不同，所以並不限於第7圖所示的類型，也存在有其他各種類型。

第8圖是上述A/D電路30的波段組成的示意圖。在A/D轉換器30的波段80，最小波段為圖中範圍81。在該範圍，以參考電壓82為中心的電壓的正側設定了三階段的電壓範圍83，電壓的負側設定了三階段的電壓範圍84。該階段的數量對應於比較器42的總數(在本實施例是7個)，在本實施例，如之後的說明，對應於相對於修正的次數。這裡在例如實施三階段的檢測的情況，在某範圍，如果必須進入到四階段的話，則藉由一開始的檢測結果，來改變設定。例如，剛開始的畫素是正常作動，如果其檢測結果是〝0〞的話，使用範圍為〝0〞、〝1〞、〝2〞、〝3〞。而剛開始的畫素例如惡化1.5%，其檢測結果如果是〝-1〞的話，則為〝-1〞、〝0〞、〝1〞、〝2〞。而剛開始的畫素例如惡化3.0%，其檢測結果如果是〝-2〞的話，則為〝-2〞、〝-1〞、〝0〞、〝1〞。而剛開始的畫素例如惡化4.5%，其檢測結果如果是〝-3〞的話，則為〝-3〞、〝-2〞、〝-1〞、〝0〞。一條線的檢測結果全部進入該範圍的話就沒有問題，可是還是有會因為外來因素而脫離範圍的可能性。

第9A圖是在沿著顯示區域的一條水平線的檢測值的變化很大的情況(假設第7圖的(c)的情況)，顯示用來得到全部檢測值的一種方法。包含全部檢測值所設定的第9A圖的圖中的區塊90，顯示了在一個A/D電路30，必須具有可覆蓋上述區塊90的波段。在該情況，A/D電路30的比較器42的數量為以A/D電路30的最小波段將需要範圍w分配的數量以上。例如，檢測範圍為1V而最小波段為20mV的話，則需要50階段。在該情況，則必須增加A/D電路30的電路規模。

相對的，第9B圖顯示了藉由本發明來得到檢測值的方法，將相較於上述區塊90小很多的區域也就是區塊，如第9B圖所示，像區塊91、區塊92、區塊93…這樣，使其追隨於檢測值的變化，分別對於每個區塊91、區塊92、區塊93…得到檢測結果。在這種情況，即使上述A/D電路30的比較器42的數量例如少於7個的情況，藉由將其區塊保持於檢測範圍內，且將區塊朝水平方向因應於分割數量移動，則可得到檢測結果。

第10圖，是顯示上述各區塊上的並設於水平線上的每個畫素的檢測。在第10圖，圖中箭頭相當於水平線方向，區塊91、92、93…，為了方便說明，相對於上述水平線方向在垂直方向依序錯開描繪。在該實施例，各區塊的畫素的檢測數量是一定的，其數量為Gn。在各區塊91依序檢測從第一個到第Gn個的各畫素，例如從第一個畫素得到檢測結果100，從第Gn的畫素得到檢測結果101。其檢測值分別為絶對值也可以，也可計算鄰接的畫素間的差分而檢測出相對值。在該情況，在第二個區塊92，檢測出：從之前的區塊91的最後的畫素也就是Gn直到加上檢測數量的G2n。同樣的第三個區塊93，檢測出：從之前的區塊92的最後的畫素也就是G2n直到加上檢測數量的G3n。這樣藉由讓某區塊的最後畫素與下個區塊的最初的畫素共通，則如上述以相對值檢測的情況，可達到可靠性更好且能確保區塊間的連續性的效果。

第11圖是顯示與檢測的時序的示意圖。在該實施例，例如相對於一圖框的顯示進行一條線的檢測。如第11圖的上方的圖面所示，顯示的一圖框是由顯示期間與回掃期間所構成，而這期間會互相更換。在本實施例，將上述回掃期間分配於檢測期間，藉此，一圖框則成為顯示期間110與檢測期間111的組成。檢測期間111，是分割成一條線的區塊數量也就是n個來進行檢測。在該圖，區塊112為第一區塊，區塊113為第n區塊。同樣地針對下個圖框的檢測期間114也分割成n個區塊，區塊115成為第一個區塊，區塊116成為第n’個區塊。第11圖的下方的圖，是檢測期間11的各區塊的詳細情形的示意圖。在該圖，在一區塊中，分配著參考電壓產生期間與畫素檢測期間，畫素118成為第一個畫素，畫素119成為第p個畫素。這裡的一個區塊的p個畫素，相當於以區塊數量n來除以一條水平線的總畫素數量的數量。

第12圖是針對各水平線的垂直方向的依序檢測的方法的例子的示意圖。如第12圖的上方的圖面所示，一條水平線上的總畫素數量為Xn個。線(水平線)y的檢測結果得到結果120，下條線也就是線y+1的檢測結果得到結果121，再下條線也就是線y+2的檢測結果得到結果122。在該例子中，例如，線y的最後的畫素的檢測值123、與下條線y+1的最初的畫素的檢測值124不同。如第12圖的下方的圖面所示，分別對每條水平線進行檢測，例如在線y與線y+1，檢測值共通而不會重複地進行檢測。

第13圖是顯示進行畫素顯示的控制流程圖。在第13圖，在處理步驟130開始顯示處理，然後在處理步驟131將系統初始化。然後，在處理步驟132開始進行顯示處理，在處理步驟133開始進行檢測處理。在系統啟動中，重覆進行處理步驟132與處理步驟133。這裡的處理步驟132的顯示開始與處理步驟133的檢測開始是在顯示的一圖框內進行，該方式如上述。

第14圖，是顯示用來進行畫素檢測的控制流程圖，是顯示第13圖所示的處理步驟133的詳細動作。在第14圖，在處理步驟140開始進行檢測控制，之後在處理步驟141進行移位暫存器(在第2圖以符號17表示)的初始化設定。然後，在處理步驟142設定參考電壓，在處理步驟143檢測畫素的狀態。在處理步驟144，判斷是否達到區塊內的畫素數量的設定數量，如果沒有達到，則在處理步驟145將上述移位暫存器移位，回到處理步驟143再重覆進行。如果在處理步驟144達到區塊內的畫素數量的設定數量，則在處理步驟146判斷區塊數量是否達到設定數量，如果沒有達到，則回到處理步驟142再重覆進行。如果在處理步驟146達到區塊內的畫素數量的設定數量，則在處理步驟147完成檢測動作。

(第二實施方式)

第15圖是本發明的顯示裝置的第二實施方式的示意圖，且是第一實施方式的第11圖的對應圖。如第15圖所示，在該構造對於顯示的兩圖框進行於一條水平線的檢測。如上述，一圖框是由顯示期間和回掃期間所構成，且將檢測期間(圖中符號151)分割為上述回掃期間。

在此，檢測期間151是分割為一條水平線的區塊數量也就是n個的一半，也就是m個來進行檢測。換言之，在本例，令m=n/2。這樣做的理由是，假設在一圖框的檢測期間，一條水平線部分的檢測不足的情況，所以在下條水平線進行對剩餘區塊的畫素的檢測。因此，進一步在需要時間來檢測的情況，可增加分割數量，如此一來，使得檢測的一條水平線上的顯示圖框數量增加。在第15圖，於最初一個圖框的檢測期間151，區塊152表示第一個區塊，區塊153表示第m個區塊。然後，在下一個圖框的檢測期間，區塊154表示第m+1個區塊，區塊155表示第n個區塊。藉由從第一個區塊到第n個區塊完成各畫素的檢測，完成一條水平線上的畫素的檢測。

第16圖是顯示以第15圖所示的方式，進行畫素的檢測時的控制流程圖。在處理步驟160開始進行檢測控制，之後在處理步驟161檢查線分割旗標是否開啟。在此，線分割旗標，顯示檢測的一條水平線的處理是正在以複數個圖框加以處理之際或是已經完成。如果線分割旗標開啟，則表示正在進行檢測處理；如果線分割旗標關閉，則表示檢測處理已經完成。在處理步驟161，如果線分割旗標關閉，也就是在線最初的檢測時，則在處理步驟162進行移位暫存器(以第2圖的圖號17所示)的初始化設定。在處理步驟162之後，或是如果在處理步驟161，線分割旗標開啟，則在處理步驟163設定參考電壓，在處理步驟164檢測畫素的狀態。在處理步驟165，判斷是否達到區塊內的畫素數量的設定數量，如果沒有達到，則在處理步驟166將移位暫存器移位，回到處理步驟164再重覆進行。如果在處理步驟165達到區塊內的畫素數量的設定數量，則在處理步驟167判斷區塊數量是否達到設定數量，如果沒有達到，則回到處理步驟163再重覆進行。如果在處理步驟167達到區塊內的畫素數量的設定數量，且在處理步驟168達到線分割數量的設定數量，則在處理步驟169將線分割旗標關閉。如果在處理步驟168沒有達到線分割數量的設定數量，則在處理步驟170將線分割旗標開啟。之後，在處理步驟171完成檢測動作。

(第三實施方式)

第17圖是本發明的顯示裝置的第三實施方式的示意圖，且內容與第一實施方式的第17圖的說明有關。以此構造，在進行各水平線上的畫素的檢測時，即使區塊的分割數量不變，仍可變更一區塊的檢測畫素數量。如第17圖所示，區塊號碼175顯示一條線的分割區塊，將一條線分割為例如10個區塊。類型一(等間隔)176顯示每個區塊以等間隔的畫素加以檢測，且在第一實施方式及第二實施方式採用類型一為前提來加以說明。相對於此，在本實施方式，如類型二(可變長度)177所示，在一條水平線最初的端部減少檢測的畫素數量，在中央部增加，然後，在最後的端部減少。假設如果檢測值的誤差特性是例如第7圖(c)所示時，在其中央部增加檢測畫素數量，是因可進行具有信賴性的畫素特性的修正。其他也有許多的組合，可以配合面板的特性加以設定。

第18圖是顯示以第17圖所示的方式，進行畫素的檢測時的控制流程圖。如第18圖所示，在處理步驟180開始進行檢測控制，之後在處理步驟181檢查線分割旗標是否開啟。所謂的線分割旗標，是用來顯示檢測的一條水平線的處理是正在以複數個圖框加以處理之際或是已經完成。當線分割旗標開啟時，表示正在進行檢測處理；當線分割旗標關閉時，表示檢測處理已經完成。在處理步驟181，如果線分割旗標關閉，也就是在線最初的檢測時，則在處理步驟182進行移位暫存器的初始化設定。在處理步驟182之後，或是如果在處理步驟181，線分割旗標開啟，則在處理步驟183根據類型表來設定檢測畫素數量的個數，在處理步驟184設定參考電壓，在處理步驟185檢測畫素的狀態。在處理步驟186，判斷是否達到區塊內的畫素數量的設定數量，如果沒有達到，則在處理步驟187將移位暫存器移位，回到處理步驟185再重覆進行。如果在處理步驟186達到區塊內的畫素數量的設定數量，則在處理步驟188判斷區塊數量是否達到設定數量，如果沒有達到，則回到處理步驟183再重覆進行。如果在處理步驟188達到區塊內的畫素數量的設定數量，且在處理步驟189達到線分割數量的設定數量，則在處理步驟190將線分割旗標關閉。如果在處理步驟189沒有達到線分割數量的設定數量，則在處理步驟191將線分割旗標開啟。之後，在處理步驟192完成檢測動作。

(第四實施方式)

第19圖是本發明的顯示裝置的第四實施方式的示意圖，且是與第一實施方式的第12圖對應的圖面。如第19圖上方的圖式所示，在本實施方式，將水平線方向的總畫素數量顯示為Xn個，線y的檢測結果顯示為結果200，下條線也就是線y+1的檢測結果顯示為結果201，再下條線也就是線y+2的檢測結果顯示為結果202。然後，使上述結果200的最後的檢測值203和結果201的最初的檢測值相同，在下一個檢測令線y+1的第一個檢測值為檢測值204。如第19圖下方的圖面所示，當進行水平線上的畫素的檢測時，於線y的最後的檢測和線y+1的最初的檢測，測定它們的差分而利用相對值計算出檢測值。在此情況下，對畫素的檢測值在面板的顯示區域兩端沒有變動的情況極為有效。

(第五實施方式)

第20圖是本發明的顯示裝置的第五實施方式的示意圖，且是與第19圖對應的圖面。在本實施方式，如由第20圖下方的圖面所清楚顯示地，在畫素的檢測方向，第奇數號碼的水平線和第偶數號碼的水平線不同。也就是，以蛇行行經顯示區域的方式，完成畫素的依序檢測。在此情況下，如第20圖上方的圖面所示，如果令線y的檢測結果為結果210，下條線也就是線y+1的檢測結果為結果211，再下條線也就是線y+2的檢測結果為結果212，則會使結果210的最後的檢測值213和結果211的最初的檢測值相同，而在下一個檢測令線y+1的最後的檢測值為檢測值214。如上所述，即使在結果211，線內的檢測方向相反，仍可檢測出連續的相對值。

(第六實施方式)

第21圖是本發明的顯示裝置的第六實施方式的示意圖，且是與第12圖對應的圖面。如第21圖下方的圖面所示，在各水平線，畫素的檢測是以同方向進行。接著，如第21圖上方的圖面所示，令各水平線的總畫素數量為Xn個。令線y的檢測結果為結果220，下條線也就是線y+1的檢測結果為結果221，再下條線也就是線y+2的檢測結果為結果222。再來，令結果221的最初的檢測值223為線y的最初的畫素的檢測值，而檢測值224為線y+1的最初的畫素的檢測值。藉由在線的最前面的畫素比較y線的值和y+1線的值，可相對地判斷線的基準。也就是說，藉由以線y最初的檢測和線y+1最初的檢測來測定差分，再來，以線y+1最初的檢測和線y+2最初的檢測來測定差分，可得到作為相對值的檢測結果。

本發明能夠利用作為顯示裝置單體、內建面板、或是資訊處理終端的顯示裝置。

1．．．驅動器

2．．．顯示部

3．．．顯示控制部

4．．．檢測開關

5．．．檢測部

6．．．檢測用電源

7．．．顯示用電源

8．．．顯示元件

9．．．畫素控制部

10．．．開關

11．．．檢測用電流源

12．．．顯示用電壓源

13．．．檢測線

14．．．開關

15．．．開關

16．．．顯示運算部

17．．．移位暫存器

18．．．訊號線

19．．．控制訊號

20．．．控制訊號

21．．．訊號線

24．．．緩衝器

25．．．A/D轉換部

26．．．檢測運算部

27．．．訊號

28．．．訊號

29．．．控制訊號

31．．．參考電壓產生電路

32．．．加法電路

33．．．訊號

35．．．減法電路

36．．．訊號

40．．．電阻梯

41．．．基準值

42．．．比較器

第1圖是顯示本發明的顯示裝置的概略情形的組成圖。

第2圖是顯示本發明的顯示裝置的畫素的檢測部的組成圖。

第3圖是顯示畫素的檢測部的A/D轉換部的組成圖。

第4圖是顯示A/D轉換部內的A/D電路的組成圖。

第5圖是在畫素檢測的理想狀態的線檢測的示意圖。

第6圖是在畫素檢測的實際環境的線檢測的示意圖。

第7圖是面板的顯示部的線檢測的每條線的變化情形的示意圖。

第8圖是上述A/D轉換器的波段組成的說明圖。

第9A圖及第9B圖是顯示本發明的每個區塊的畫素檢測的說明圖。

第10圖是區塊檢測與該區塊內的畫素的關係的示意圖。

第11圖是第一實施方式的顯示與檢測的時序的示意圖。

第12圖是在第一實施方式的顯示部的垂直方向的檢測方法的示意圖。

第13圖是針對第一實施方式的全體控制的流程圖。

第14圖是針對第一實施方式的檢測控制的流程圖。

第15圖是第二實施方式的顯示與檢測的時序的示意圖。

第16圖是針對第二實施方式的檢測控制的流程圖。

第17圖是在第三實施方式的區塊內的檢測畫素數量的一個例子的示意圖。

第18圖是針對第三實施方式的檢測控制的流程圖。

第19圖是第四實施方式的顯示部的垂直方向的檢測方法的示意圖。

第20圖是第五實施方式的顯示部的垂直方向的檢測方法的示意圖。

第21圖是第六實施方式的顯示部的垂直方向的檢測方法的示意圖。

1．．．驅動器

2．．．顯示部

3．．．顯示控制部

4．．．檢測開關

5．．．檢測部

6．．．檢測用電源

7．．．顯示用電源

8．．．顯示元件

9．．．畫素控制部

10．．．開關

Claims (9)

1. 一種顯示裝置，是具有：由因應於電流量而讓發光量變化的複數畫素所構成的顯示部、以及用來將顯示訊號電壓輸入到上述畫素的訊號線，的顯示裝置，其特徵為：是具備有：將藉由對於上述畫素供給檢測用電源所得到的上述畫素的畫素狀態所對應的訊號，藉由切換上述訊號線來予以輸出的開關電路、以及沿著上述顯示部的水平線上，將上述畫素的畫素狀態所對應的訊號依序檢測的A/D轉換器；上述A/D轉換器，具備有：將其參考電壓予以變更的電路，對於將在上述水平線上的畫素數量分割為複數的每個區塊，來檢測該區塊內的各畫素的畫素狀態所對應的訊號；上述A/D轉換器，是根據將顯示部的一條水平線上的各畫素分割為任意數量的每個區塊的檢測結果，再構成一條水平線上的各畫素的檢測結果；在複數的水平線上的每個區塊的畫素檢測，其檢測方向在各水平線相同，在下個水平線的最初的畫素檢測之前，會先再次檢測水平線上的最後畫素，藉由採取其差分而達到畫素間的檢測值的連續性。
2. 一種顯示裝置，是具有：由因應於電流量而讓發光量變化的複數畫素所構成的顯示部、以及用來將顯示訊號電壓輸入到上述畫素的訊號線，的顯示裝置，其特徵為： 是具備有：將藉由對於上述畫素供給檢測用電源所得到的上述畫素的畫素狀態所對應的訊號，藉由切換上述訊號線來予以輸出的開關電路、以及沿著上述顯示部的水平線上，將上述畫素的畫素狀態所對應的訊號依序檢測的A/D轉換器；上述A/D轉換器，具備有：將其參考電壓予以變更的電路，對於將在上述水平線上的畫素數量分割為複數的每個區塊，來檢測該區塊內的各畫素的畫素狀態所對應的訊號；上述A/D轉換器，是根據將顯示部的一條水平線上的各畫素分割為任意數量的每個區塊的檢測結果，再構成一條水平線上的各畫素的檢測結果；在複數的水平線上的每個區塊的畫素檢測，其檢測方向在鄰接的水平線相異，在下個水平線的最初的畫素檢測之前，會先再次檢測水平線上的最後畫素，藉由採取其差分而達到畫素間的檢測值的連續性。
3. 一種顯示裝置，是具有：由因應於電流量而讓發光量變化的複數畫素所構成的顯示部、以及用來將顯示訊號電壓輸入到上述畫素的訊號線，的顯示裝置，其特徵為：是具備有：將藉由對於上述畫素供給檢測用電源所得到的上述畫素的畫素狀態所對應的訊號，藉由切換上述訊號線來予以輸出的開關電路、 以及沿著上述顯示部的水平線上，將上述畫素的畫素狀態所對應的訊號依序檢測的A/D轉換器；上述A/D轉換器，具備有：將其參考電壓予以變更的電路，對於將在上述水平線上的畫素數量分割為複數的每個區塊，來檢測該區塊內的各畫素的畫素狀態所對應的訊號；上述A/D轉換器，是根據將顯示部的一條水平線上的各畫素分割為任意數量的每個區塊的檢測結果，再構成一條水平線上的各畫素的檢測結果；在複數的水平線上的每個區塊的畫素檢測，其檢測方向在各水平線相同，在下個水平線的最初的畫素檢測之前，會先再次檢測水平線上的最初畫素，藉由採取其差分而達到畫素間的檢測值的連續性。
4. 如申請專利範圍第1至3項其中任一項的顯示裝置，其中上述A/D轉換器，具備有：參考電壓產生電路、加法電路、及減法電路；以參考電壓為中心，由上述加法電路與上述減法電路分別產生基準電壓。
5. 如申請專利範圍第4項的顯示裝置，其中上述A/D轉換器，是設置有：由任意的兩畫素之中的第一畫素的畫素狀態輸出，來產生複數的基準狀態，將該複數的基準狀態與該任意的兩畫素之中的第二畫素的畫素狀態輸出予以比較的複數的比較器。
6. 如申請專利範圍第1至3項其中任一項的顯示裝置， 其中在連續的各區塊，最初的區塊的最後的檢測畫素、與下個區塊的最初的檢測畫素，為相同畫素。
7. 如申請專利範圍第1至3項其中任一項的顯示裝置，其中分別在各圖框的顯示期間，進行一條水平線上的畫素檢測。
8. 如申請專利範圍第1至3項其中任一項的顯示裝置，其中在複數圖框的顯示期間，將一條水平線上的畫素檢測予以分割進行。
9. 如申請專利範圍第1至3項其中任一項的顯示裝置，其中區塊內的檢測畫素數量與其他區塊內的檢測畫素數量相異。