TWI424151B - 組合式光源之色度測量方法與系統 - Google Patents

Description

組合式光源之色度測量方法與系統

本發明係關於一種組合式光源之色度測量方法與系統，並且特別是關於一種利用組合式光源模擬出適當的子光源以進行量測之色度測量方法與系統。

有關物體反射色度的量測方法，可以分為兩種不同技術，其一為分光式量測色度。大致來說，分光式量測色度之技術係利用分光儀(Spectrometer)得到物體反射光的光譜(Spectrum)，再計算出其色度。舉例來說，利用光柵(Grating)配合一個一維影像偵測器，可以得到物體單點的色度；如果配合一個二維影像偵測器，可以得到物體某一維的色度，如果再配合物體移動掃描，則可以得到整個物體的二維量測，也稱為影像式光譜儀(Spectral-Imager)。然而，利用“影像式光譜儀”，雖然可以得到二維的物體色度，但是仍然必須配合物體的掃描移動，因而其量測速度仍然不夠快，而且通常其價格昂貴，此為其另一缺點。

另一種量測物體反射色度的方法為利用濾鏡式量測色度的技術，配合三色視效函數(Color Matching Function)，求其三刺激值(Tri-Stimulus Values)，再算出其色度值。如果利用單點光偵測器，則可以量測單點物體色度；如果利用影像偵測器，則可以量測物體二維色度。但利用濾鏡式技術的最大缺點為濾鏡的透射率(Transmittance) T(x)必須配合光感測器的響應函數(Spectrum-Response) R(λ)。尤其當影像偵測器的響應函數因製程的關係，呈現出每個影像偵測器個別差異時，極易造成量測誤差，因此十分不易匹配出完全符合的視效函數，使量測色度之準確度降低。然而，濾鏡式量測色度最大優點為價格低廉，量測速度也比較快。

此外，在一般的組合式光源的量測系統中，僅僅是將組合式光源所投射出的光源模擬為一標準光源。於實務上以發光二極體(LED)的組合式光源為例，若要模擬出標準光源，則組合式光源必須包含相當多的LED才將模擬誤差縮小，進而逼近真正的標準光源。然而，除了模擬誤差的問題之外，傳統的組合式光源之量測系統更會因LED數量過多所造成的物體表面受光不均或是散熱上的問題。

有鑑於欲以有限顆數的LED組合成完全等於標準光源是有困難的，通常其間存在有某個程度的誤差。本發明更進一步揭露運用複數個子光源模擬標準光源的方法，以組合出更精確的光源頻譜，並據以得到待測物之色度量測結果。同時，本發明將提出一種新的色溫可調式方法，可達到分光式量測色度技術的精確度，又可以達到濾鏡式量測色度技術的低價格，同時量測速度也可以比濾鏡式量測色度技術更快。

本發明揭露一種組合式光源之色度測量方法與系統，調整組合式光源中複數顆發光體的亮度能進行物體反射色度的量測，並同時適當的運算量測的結果，可精確得出所述物體之色度座標。

本發明提出一種組合式光源之色度測量方法，所述方法包含下列步驟：提供複數個能量轉換構件，每一能量轉換構件用以將一電能轉換成一光能，且所述多個能量轉換構件所產生之光能具有不同之中心波長；調整所述多個能量轉換構件之發光強度，依序產生複數個子光源，每一子光源係歸類於一第一群組或一第二群組；分別將所述多個子光源照射於一待測物之一表面；分別擷取反射後之所述多個子光源，據以產生複數個影像測量值，當影像測量值所對應之子光源屬於第一群組時，則影像測量值係歸類於一第三群組，當影像測量值所對應之子光源屬於第二群組時，則影像測量值係歸類於一第四群組；將第三群組與第四群組中之所述多個影像測量值相減，據以產生複數個標準測量值。

於一示範實施例中，本發明之組合式光源之色度測量方法中，其中所述多個能量轉換構件對應一權值組，權值組具有複數個權值，每一權值對應所述多個能量轉換構件其中之一，調整權值係用以調整對應之能量轉換構件之發光強度。在此，本發明更可調整權值組，使所述多個能量轉換構件模擬所述多個子光源其中之一。此外，權值組指示當所述多個能量轉換構件模擬所述多個子光源其中之一時，每一能量轉換構件之最適當的發光強度。

於另一示範實施例中，本發明之組合式光源之色度測量方法更依據已求得之多個標準測量值，進一步產生用以指示待測物之一色度座標。在此，依本方法所求得之多個標準測量值可為一組三刺激值，並由三刺激值產生色度座標。此外，組合式光源之色度測量方法更可分別擷取反射後之子光源之影像，據以產生二維之影像測量值。

此外，本發明另揭露一種組合式光源之色度測量系統，調整組合式光源中複數顆發光體的亮度能進行物體反射色度的量測，並同時適當的運算量測的結果，可精確得出所述物體之色度座標。

本發明所提出一種組合式光源之色度測量系統，包含複數個能量轉換構件、控制單元、影像偵測器以及處理單元。每一能量轉換構件用以將一電能轉換成一光能，且所述多個能量轉換構件所產生之光能具有不同之中心波長。控制單元耦接所述多個能量轉換構件，用以調整所述多個能量轉換構件之發光強度，驅動所述多個能量轉換構件依序照射複數個子光源於一待測物之一表面，每一子光源係歸類於一第一群組或一第二群組。影像偵測器分別擷取反射後之子光源，據以產生複數個影像測量值。處理單元耦接影像偵測器，將一第三群組與一第四群組中之影像測量值相減，據以產生複數個標準測量值。其中，當影像測量值所對應之子光源屬於第一群組時，則影像測量值係歸類於第三群組，當影像測量值所對應之子光源屬於第二群組時，則影像測量值係歸類於第四群組。

於一示範實施例中，本發明之處理單元更可依據已求得之多個標準測量值，進一步產生用以指示待測物之一色度座標。在此，依本方法所求得之多個標準測量值可為一組三刺激值，並由三刺激值產生色度座標。此外，本發明之影像偵測器更可分別擷取反射後之子光源之二維畫面，據以產生二維之影像測量值。

因此，本發明之組合式光源之色度測量系統將一標準光源運用複數個子光源加以模擬，並藉由處理單元運算多個影像測量值，據以得到更精確的待測物之色度量測結果。此外，本發明更運用二維的影像偵測器於濾鏡式量測色度之技術，搭配校正參數即可運算得到三刺激值，並藉以產生色度座標，使得量測速度相較於習知濾鏡式量測色度技術快。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

請參閱圖一，圖一係繪示根據本發明之一示範實施例之組合式光源之色度測量系統的功能方塊圖。如圖一所示，本發明之組合式光源之色度測量系統1包含能量轉換構件組10、控制單元12、影像偵測器14、處理單元16以及儲存單元18。其中，能量轉換構件組10耦接控制單元12，處理單元16分別耦接影像偵測器14以及儲存單元18。以下分別描述組合式光源之色度測量系統1之中的元件。

能量轉換構件組10具有複數個能量轉換構件，其中每一能量轉換構件用以將一電能轉換成一光能，且所述多個能量轉換構件所產生之光能具有不同之中心波長，並將產生之光能投射至待測物2之表面20。於實務中，為了達到足夠精確的量測，能量轉換構件組10中可包含複數顆發光二極體(LED)，且這些LED所產生的光能之中心波長必須足夠涵蓋整個可見光區，例如大約由380nm至730nm的範圍內。此外，上述各中心波長間的間距也不能太遠，才足以準確地模擬、組合出所需的光頻譜。

控制單元12用以調整能量轉換構件組10中每一能量轉換構件之發光強度，並驅動能量轉換構件組10依序投射出複數個子光源於待測物2之表面20，其中每一子光源係歸類於一第一群組或一第二群組。詳細來說，這些能量轉換構件對應一包含複數個權值之權值組，每一權值對應這些能量轉換構件其中之一，例如每個LED有其對應之權值。控制單元12調整權值以調整對應之能量轉換構件之發光強度。舉例來說，控制單元12可為一種脈衝寬度變調(PWM)控制器，在此本發明並不加以限制控制單元12的類型，只要是能夠調整發光二極體的亮度大小，皆在本發明之範疇內，於所屬技術領域具有通常知識者可自行替換適當的控制單元12。

承接上述，於實務中，在組合所需的子光源時，須要準確的推導每一LED所需提供的亮度，再由控制單元12依據推導的結果調控每一LED的發光權值，使得能量轉換構件組10中的每個LED能提供最適當的發光強度。由於能量轉換構件組10中的每個LED之亮度應至少為0，如果每一LED推導出的最佳權值不為負數，則控制單元12即可依據所述發光權值控制能量轉換構件組10中的每個LED組合出所需的子光源。

然而，如果部分LED推導出的最佳權值為負數，則須將最佳權值為正數的LED所組合出所需的子光源歸類於第一群組，並將最佳權值為負數的LED所組合出所需的子光源歸類於第二群組。更詳細的說，控制單元12係模擬出6個子光源，於第一群組中包含最佳權值為正數的LED所模擬出的子光源S_x ⁺ 、S_y ⁺ 以及S_z ⁺ ，而於第二群組中包含最佳權值為負數的LED所模擬出的子光源S_x ^- 、S_y ^- 以及S_z ^- 。

影像偵測器14分別擷取反射後之子光源，據以產生複數個影像測量值。其中，當影像測量值所對應之子光源屬於第一群組時，則影像測量值係歸類於第三群組，當影像測量值所對應之子光源屬於第二群組時，則影像測量值係歸類於第四群組。換句話說，影像偵測器14在接收不同群組之子光源時，其對應產生的影像測量值也需要對應分類。於實務中，影像偵測器14分別擷取反射後之六個子光源所對應的影像量測值，其中第三群組包含三個對應第一群組之影像測量值X’⁺ 、Y’⁺ 以及Z’⁺ ，第四群組包含三個對應第二群組之影像測量值X’^- 、Y’^- 以及Z’^- 。所述之影像測量值應大致對應到CIE之XYZ色彩空間。

另外，且由於待測物2之表面20反射的色度，通常會隨著入射光的角度及影像偵測器/觀察者的角度而變化，故影像偵測器14以及能量轉換構件10擺設位置須按照CIE的標準(如45/0、0/45、d/0、0/d)。舉例來說，標準45/0表示照射光源以45±5°由垂直物體表面入射，而觀察者角度恰位於垂直物體表面0°附近，但以不超過10°為原則。於本發明所述技術領域具有通常知識者應能了解，故在此不加以贅述

處理單元16將第三群組與第四群組中之影像測量值相減，據以產生標準測量值。於實務中，第三群組中的影像測量值X’⁺ 與第四群組中的影像測量值X’^- 相減，可得標準測量值X；第三群組中的影像測量值Y’⁺ 與第四群組中的影像測量值Y’^- 相減，可得標準測量值Y；第三群組中的影像測量值Z’⁺ 與第四群組中的影像測量值Z’^- 相減，可得標準測量值Z。進一步來說，這些標準測量值X、Y、Z係一組三刺激值，而處理單元16依據這組三刺激值便可以產生於待測物2之表面20的一色度座標。

儲存單元18用以儲存若干之校正參數、儲存影像測量值，或經處理單元16運算過後之色度座標。於實務中，可為一種非揮發性記憶體(例如：EEPROM)中，以作為實際量測時使用。

然而，本發明之能量轉換構件組10可不僅僅將子光源投射至表面20上的一點，更可將子光源可投射於表面20上的一個區域，而藉由影像偵測器14接收上述區域的二維畫面，並且處理單元16可從其中運算出三刺激值，以快速且精確的產生待測物之色度量測結果。以下搭配本發明之組合式光源之色度測量方法加以說明。

請參閱圖一及圖二，圖二係繪示根據本發明之一示範實施例之組合式光源之色度測量方法的流程圖。於步驟S30中，能量轉換構件組10提供複數個能量轉換構件，每一能量轉換構件用以將一電能轉換成一光能，且所述多個能量轉換構件所產生之光能具有不同之中心波長。於實務中，本發明之能量轉換構件組10更將子光源可投射於待測物2之二維表面20。

於步驟S31中，一使用者可透過控制單元12調整能量轉換構件組10中每一能量轉換構件之發光強度，使得能量轉換構件組10組合出複數個子光源。於實務上，S_x (x_n ,y_n ,λ)⁺ 、S_y (x_n ,y_n ,λ)⁺ 以及S_z (x_n ,y_n ,λ)⁺ 分別表示第一群組中的子光源於表面20之分佈，同樣的，第二群組中的子光源可表示為S_x (x_n ,y_n ,λ)^- 、S_y (x_n ,y_n ,λ)^- 以及S_z (x_n ,y_n ,λ)^- 。使用者可透過控制單元12調整能量轉換構件組10中每一LED的亮度大小，使其恰足以模擬如S_x (x_n ,y_n ,λ)⁺ 的光譜。接著，於步驟S32中，控制單元12驅動能量轉換構件組10將子光源投射於待測物2之表面20上的一個區域。

於步驟S33中，影像偵測器14分別擷取反射後之子光源，據以產生複數個影像測量值。於實務上，影像偵測器14可以是一種CCD偵測器，所述之影像測量值更可經由一透鏡成像到影像偵測器14中，且所述影像測量值可分為兩群組，其中第三群組中包含於表面20之指定位置(x_n ,y_n )之三個影像測量值X’(x_n ,y_n )⁺ 、Y’(x_n ,y_n )⁺ 以及Z’(x_n ,y_n )⁺ ，同樣地，第四群組中包含於表面20之指定位置(x_n ,y_n )之三個影像測量值X’(x_n ,y_n )^- 、Y’(x_n ,y_n )^- 以及Z’(x_n ,y_n )^- 。

詳細來說，以第三群組之影像測量值為例，X’(x_n ,y_n )⁺ 、Y’(x_n ,y_n )⁺ 以及Z’(x_n ,y_n )⁺ 分別為：

X’(x_n ,y_n )⁺ =∫S_x (x_n ,y_n ,λ)⁺ R(x_n ,y_n ,λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

Y’(x_n ,y_n )⁺ =∫S_y (x_n ,y_n ,λ)⁺ R(x_n ,y_n ,λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

Z’(x_n ,y_n )⁺ =∫S_z (x_n ,y_n ,λ)⁺ R(x_n ,y_n ,λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

如果子光源照射在表面20上一個區域時，S_x (x_n ,y_n ,λ)⁺ 、S_y (x_n ,y_n ,λ)⁺ 以及S_z (x_n ,y_n ,λ)⁺ 分別為所述三個子光源於表面20上一個區域之分佈，R(x_n ,y_n ,λ)係於二維畫面之指定位置(x_n ,y_n )的反射頻譜，D(x_n ,y_n ,λ)係於二維畫面之指定位置(x_n ,y_n )時影像偵測器14之響應函數。

於步驟S34中，處理單元16將第三群組與第四群組中之影像測量值相減，據以產生複數個標準測量值。在此，儲存單元18可另儲存三個校正參數分別為C_x (x_n ,y_n )、C_y (x_n ,y_n )以及C_z (x_n ,y_n )，影像測量值可透過這些校正參數進行正規化或校正。舉例來說，所述校正參數C_x (x_n ,y_n )、C_y (x_n ,y_n )以及C_z (x_n ,y_n )可由利用已知色度的標準片求得。詳細來說，本發明可利用一個非常均勻的已知色度的標準片R_s (λ)，作為校正基礎，因為所述標準片在每一個位置的反射係數皆一樣，因此其反射係數R只為波長λ的函數。當利用此標準片置入圖一中的待測物2的位置，利用所述六個標準子光源S_x (x_n ,y_n ,λ)⁺ 、S_y (x_n ,y_n ,λ)⁺ 、S_z (x_n ,y_n ,λ)⁺ 以及S_x (x_n ,y_n ,λ)^- 、S_y (x_n ,y_n ,λ)^- 、S_z (x_n ,y_n ,λ)^- 依序照射，由影像偵測器14已知的響應函數D(x_n ,y_n ,λ)得到六個量測值，分別為：

X_c ’(x_n ,y_n )⁺ =∫S_x (x_n ,y_n ,λ)⁺ R_s (λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

Y_c ’(x_n ,y_n )⁺ =∫S_y (x_n ,y_n ,λ)⁺ R_s (λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

Z_c ’(x_n ,y_n )⁺ =∫S_z (x_n ,y_n ,λ)⁺ R_s (λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

X_c ’(x_n ,y_n )^- =∫S_x (x_n ,y_n ,λ)^- R_s (λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

Y_c ’(x_n ,y_n )^- =∫S_y (x_n ,y_n ,λ)^- R_s (λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ，

Z_c ’(x_n ,y_n )^- =∫S_z (x_n ,y_n ,λ)^- R_s (λ)D(x_n ,y_n ,λ)dλ。

在此，X_c ’(x_n ,y_n )⁺ 與X_c ’(x_n ,y_n )^- 可組合出X_c ’(x_n ,y_n )，Y_c ’(x_n ,y_n )⁺ 與Y_c ’(x_n ,y_n )^- 可組合出Y_c ’(x_n ,y_n )，Z_c ’(x_n ,y_n )⁺ 與Z_c ’(x_n ,y_n )^- 可組合出Z_c ’(x_n ,y_n )，如下式：

X_c ’(x_n ,y_n )=X_c ’(x_n ,y_n )⁺ -X_c ’(x_n ,y_n )^- ，

Y_c ’(x_n ,y_n )=Y_c ’(x_n ,y_n )⁺ -Y_c ’(x_n ,y_n )^- ，

Z_c ’(x_n ,y_n )=Z_c ’(x_n ,y_n )⁺ -Z_c ’(x_n ,y_n )^- 。

但由按CIE規定可知，如果R_s (λ)為已知，則三個刺激值X_s (x_n ,y_n )、Y_s (x_n ,y_n )、Z_s (x_n ,y_n )可推算出來。又：

X_s (x_n ,y_n )=X_c ’(x_n ,y_n )‧Cx(x_n ,y_n )，

Y_s (x_n ,y_n )=Y_c ’(x_n ,y_n )‧C_y (x_n ,y_n )，

Z_s (x_n ,y_n )=Z_c ’(x_n ,y_n )‧C_z (x_n ,y_n )。

因此個別的校正參數可分別求得為：

C_x (x_n ,y_n )=X_s /X_c ’(x_n ,y_n )，

C_y (x_n ,y_n )=Y_s /Y_c ’(x_n ,y_n )，

C_z (x_n ,y_n )=Z_s /Z_c ’(x_n ,y_n )。

於步驟S35中，處理單元16依據得到的標準測量值產生於待測物2之表面20的一色度座標，其中這些標準測量值係一組三刺激值。舉例來說，處理單元16可依據所述三刺激值運算於指定位置(x_n ,y_n )的色度座標(x ,y )，其中：

x (x_n ,y_n )=X(x_n ,y_n )/[X(x_n ,y_n )+Y(x_n ,y_n )+Z(x_n ,y_n )]，且

y (x_n ,y_n )=Y(x_n ,y_n )/[X(x_n ,y_n )+Y(x_n ,y_n )+Z(x_n ,y_n )]。

進一步來說，所述之X(x_n ,y_n )可由下式求得：

X(x_n ,y_n )=X’(x_n ,y_n )‧C_x (x_n ,y_n )，

其中，X’(x_n ,y_n )=X’(x_n ,y_n )⁺ -X’(x_n ,y_n )^- ，

同理可得Y(x_n ,y_n )、Z(x_n ,y_n )，在此不予贅述。

藉此，相較於傳統的色度儀，本發明可克服最佳發光權值為負數時的不理想狀態，並快速地得到待測物2之表面20的精確色度座標。

綜上所述，本發明之組合式光源之色度測量方法與系統，可應用於顏料、紡織、太陽能板(Solar Cell)等材質色度的一致性檢驗或是分色作業，未來更可應用於電子紙生產製造產業。此外，本發明運用二維的影像偵測器於濾鏡式量測色度之技術，搭配校正參數即可運算得到三刺激值，並藉以產生色度座標，改善以往利用濾鏡式技術或是相機量測色度不準確，以及使用影像是光譜儀色度量測速度不足的問題。此外，透過本發明揭露之組合子光源技術，可運用控制單元以組合出更精確的子光源頻譜，並可克服最佳發光權值為負數時的不理想狀態，據以得到更精確的待測物之色度量測結果。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

1．．．組合式光源之色度測量系統

10．．．能量轉換構件組

12．．．控制單元

14．．．影像偵測器

16．．．處理單元

18．．．儲存單元

2．．．待測物

20．．．待測物之表面

S30~S35．．．流程步驟

圖一係繪示根據本發明之一示範實施例之組合式光源之色度測量系統的功能方塊圖。

圖二係繪示根據本發明之一示範實施例之組合式光源之色度測量方法的流程圖。

1．．．組合式光源之色度測量系統

10．．．能量轉換構件組

12．．．控制單元

14．．．影像偵測器

16．．．處理單元

18．．．儲存單元

2．．．待測物

20．．．待測物之表面

Claims (15)

1. 一種組合式光源之色度測量方法，該方法包含下列步驟：提供複數個能量轉換構件，每一該能量轉換構件用以將一電能轉換成一光能，且該些能量轉換構件所產生之該些光能具有不同之中心波長；調整該些能量轉換構件之發光強度，依序產生複數個子光源，每一該子光源係歸類於一第一群組或一第二群組，其中該些能量轉換構件對應一權值組，該權值組具有複數個權值，每一該權值對應該些能量轉換構件其中之一，調整該權值係用以調整對應之該能量轉換構件之發光強度；分別將該些子光源照射於一待測物之一表面；分別擷取反射後之該些子光源，據以產生複數個影像測量值，當該影像測量值所對應之該子光源屬於該第一群組時，則該影像測量值係歸類於一第三群組，當該影像測量值所對應之該子光源屬於該第二群組時，則該影像測量值係歸類於一第四群組；以及將該第三群組與該第四群組中之該些影像測量值相減，據以產生複數個標準測量值。
2. 如申請專利範圍第1項所述之組合式光源之色度測量方法，其中於調整該些能量轉換構件之發光強度，依序產生複數組子光源之步驟中，更包含下列步驟：調整該權值組，使該些能量轉換構件模擬該些子光源其中之一。
3. 如申請專利範圍第1項所述之組合式光源之色度測量方法，其中該權值組指示當該些能量轉換構件模擬該些子光源其中之 一時，每一該能量轉換構件之最適當的發光強度。
4. 如申請專利範圍第1項所述之組合式光源之色度測量方法，更包含下列步驟：依據該些標準測量值產生於該待測物之該表面的一色度座標，其中該些標準測量值係一組三刺激值。
5. 如申請專利範圍第1項所述之組合式光源之色度測量方法，其中該些能量轉換構件所產生之該些光能之中心波長範圍至少包含380nm至730nm。
6. 如申請專利範圍第1項所述之組合式光源之色度測量方法，其中於分別擷取反射後之該些子光源，據以產生複數個影像測量值之步驟中，更包含下列步驟：分別擷取反射後之該些子光源之二維畫面，據以產生二維之該些影像測量值。
7. 如申請專利範圍第1項所述之組合式光源之色度測量方法，更包括：以複數個校正參數分別對於該些標準量測值進行校正。
8. 一種組合式光源之色度測量系統，包含：複數個能量轉換構件，每一該能量轉換構件用以將一電能轉換成一光能，且該些能量轉換構件所產生之該些光能具有不同之中心波長；一控制單元，耦接該些能量轉換構件，用以調整該些能量轉換構件之發光強度，驅動該些能量轉換構件依序照射複數個子光源於一待測物之一表面，每一該子光源係歸類於一第一群組或一第二群組；一影像偵測器，分別擷取反射後之該些子光源，據以產生複數個影像測量值，該些影像測量值係歸類於一第 三群組或一第四群組；一處理單元，耦接該影像偵測器，將該第三群組與該第四群組中之該些影像測量值相減，據以產生複數個標準測量值，其中，當該影像測量值所對應之該子光源屬於該第一群組時，則該影像測量值係歸類於該第三群組，當該影像測量值所對應之該子光源屬於該第二群組時，則該影像測量值係歸類於該第四群組。
9. 如申請專利範圍第8項所述之組合式光源之色度測量系統，其中該些能量轉換構件對應一權值組，該權值組具有複數個權值，每一該權值對應該些能量轉換構件其中之一，該控制單元調整該權值以調整對應之該能量轉換構件之發光強度。
10. 如申請專利範圍第9項所述之組合式光源之色度測量系統，其中該控制單元調整該權值組，使該些能量轉換構件模擬該些子光源其中之一。
11. 如申請專利範圍第9項所述之組合式光源之色度測量系統，其中該權值組指示當該些能量轉換構件模擬該些子光源其中之一時，每一該能量轉換構件之最適當的發光強度。
12. 如申請專利範圍第9項所述之組合式光源之色度測量系統，其中該些標準測量值係一組三刺激值，並該處理單元更依據該組三刺激值產生於該待測物之該表面的一色度座標。
13. 如申請專利範圍第8項所述之組合式光源之色度測量系統，其中該些能量轉換構件所產生之該些光能之中心波長範圍至少包含380nm至730nm。
14. 如申請專利範圍第8項所述之組合式光源之色度測重系統，其中該影像偵測器分別擷取反射後之該些子光源之二維畫面，據以產生二維之該些影像測量值。
15. 如申請專利範圍第8項所述之組合式光源之色度測量系統，其中該處理單元還包括以複數個校正參數分別對於該些標準量測值進行校正。