TWI417514B - 檢測裝置 - Google Patents

Description

檢測裝置

本發明涉及一種檢測裝置，特別涉及一種適用於檢測工件之孔心距之檢測裝置。

請同時參閱圖1和圖2，待測工件100大致為一方形殼體，其包括盒形主體10。主體10下端朝兩側延伸形成第一圓管部11。第一圓管部11內沿軸向開設有第一通孔111。主體10上端向一側延伸形成第二圓管部13。第二圓管部13內沿軸向開設有第二通孔131。第二通孔131之直徑為D，其中D為標準工件之第二孔之直徑。第一通孔111與第二通孔131之孔心距之預設值為L±e，其中L為標準工件之孔心距尺寸，e為預設偏差值。為了保證產品之品質及精度，必須嚴格判斷每個待測工件100之孔心距是否在允許之預設偏差範圍內。

惟，由於第一通孔111與第二通孔131之中心線之位置不易確定，故較難使用傳統檢具對上述距離進行測量。若使用三次元量測儀或用投影法進行測量，工序複雜且耗時過長，較難滿足大規模工業生產之需求。

有鑒於此，有必要提供一種可方便快捷地判斷待測工件之孔心距 是否在允許之預設偏差範圍內之檢測裝置。

一種檢測裝置，用以檢測待測工件上之第一孔至第二孔之孔心距是否位於標準工件之孔心距尺寸加減預設偏差值之範圍內。該檢測裝置包括基板、設於基板上之定位板、固定設於定位板上之固定銷、活動設於定位板上之測量銷、固設於該基板上之固定塊及活動設於該固定塊上之定位組件。該定位組件與該固定銷配合以使該待測工件之第一孔之中心線與該固定銷之軸線重合。測量銷用以穿設於待測工件之第二孔內。測量銷之軸線至固定銷之軸線之距離等於標準工件之孔心距尺寸。測量銷之直徑等於標準工件之第二孔之直徑減去兩倍之預設偏差值。

使用該檢測裝置時，首先將待測工件放置到基板上，並使用固定銷將待測工件之第一孔定位，而後根據測量銷能否***第二孔來判斷待測工件之孔心距是否在允許之偏差範圍內。操作方便快捷，檢測效率高，適合大規模生產使用。

100‧‧‧待測工件

10‧‧‧主體

11‧‧‧第一圓管部

111‧‧‧第一通孔

13‧‧‧第二圓管部

131‧‧‧第二通孔

200‧‧‧檢測裝置

20‧‧‧基板

21、631‧‧‧導柱孔

23‧‧‧螺釘

25‧‧‧第一導柱

27‧‧‧第二導柱

30‧‧‧定位板

31‧‧‧支撐部

311‧‧‧導柱孔

33、37‧‧‧銷孔

35‧‧‧通孔

40‧‧‧固定銷

41、711‧‧‧主體

43、713‧‧‧卡合部

45‧‧‧定位凸緣

50‧‧‧測量組件

51‧‧‧測量銷

53‧‧‧第一擋止件

55‧‧‧第二擋止件

57、79‧‧‧螺釘

59‧‧‧擋銷

511、715‧‧‧卡槽

60‧‧‧固定塊

61‧‧‧本體

611‧‧‧通槽

63‧‧‧固定部

613‧‧‧導向孔

70‧‧‧定位組件

71‧‧‧定位銷

717‧‧‧螺紋孔

73‧‧‧第三擋止件

75‧‧‧彈性件

77‧‧‧第四擋止件

圖1係一種待測工件之立體示意圖，該工件具有第一孔和第二孔。

圖2係沿圖1中II-II線之剖面示意圖。

圖3係本發明實施方式之檢測裝置之立體示意圖。

圖4係圖3所示檢測裝置之立體分解示意圖。

圖5係圖3所示檢測裝置檢測圖1所示待測工件時之立體示意圖。

圖6係沿圖5中之VI-VI線之剖面示意圖。

下面將結合附圖及實施方式對本發明之檢測裝置作進一步詳細說明。請參閱圖3，本發明實施方式之檢測裝置200包括基板20、設於基板20上之定位板30、固定設於定位板30上之固定銷40及活動設於定位板30上之測量組件50。檢測裝置200進一步包括設於基板20上之固定塊60及活動設於固定塊60上之定位組件70。

請參閱圖4，基板20大致為方形，其上對應定位板30和固定塊60之位置開設有若干導柱孔21。檢測裝置200還包括用以將定位板30和固定塊60固定至基板20上之若干螺釘23。

定位板30大致為倒T字型，其底端向兩側延伸形成二支撐部31。每一支撐部31上開設有一導柱孔311。檢測裝置200還包括二第一導柱25。第一導柱25可依次穿過導柱孔311和導柱孔21，從而保證定位板30與基板20之間精確定位。定位板30中部開設有與固定銷40相配合之銷孔33。定位板30靠近頂部之位置還設有一通孔35和二位於通孔35兩側之銷孔37。通孔35與銷孔33之孔心距預先通過儀器精確確定為L，即為標準工件之孔心距尺寸。

固定銷40包括圓柱形主體41和由主體41一端向外延伸形成之卡合部43。主體41之直徑與定位板30之銷孔33之直徑相等或略大，從而使得主體41能夠固定穿設於銷孔33內，並使主體41之軸線與銷孔33之中心線重合。卡合部43大致為錐形，其直徑自末端沿軸向逐漸增大。待測工件100之第一通孔111之直徑位於卡合部43之最小直徑與最大直徑之間，故卡合部43可部分容置於第一通孔111 內，並使得第一通孔111之中心線與卡合部43及主體41之軸線重合。固定銷40進一步包括形成於主體41上靠近卡合部43一端之定位凸緣45。定位凸緣45一側可與定位板30靠近銷孔33之側壁相抵，進一步防止固定銷40與定位板30發生相對滑動。可理解，若固定銷40與定位板30一體成型，則定位凸緣45也可省略。

測量組件50包括測量銷51、第一擋止件53、第二擋止件55、螺釘57及二擋銷59。測量銷51大致為圓柱體，其直徑為預先通過儀器精確確定為d，其中d=D-2e。即測量銷51之直徑等於第二通孔131之直徑減去兩倍之預設偏差值。測量銷51之直徑等於定位板30之通孔35之直徑，故測量銷51可活動穿設於通孔35，且測量銷51之軸線與通孔35之中心線重合。測量銷51中部開設有環形卡槽511。第一擋止件53可卡合至卡槽511內，從而限制測量銷51在通孔35內滑動之距離。測量銷51一端還開設有螺紋孔(圖未示)。螺釘57通過該螺紋孔鎖合於測量銷51。第二擋止件55套設並固定於螺釘57上，並與第一擋止件53分別位於定位板30之兩側。本實施方式中，第一擋止件53為卡簧，第二擋止件55為螺母。二擋銷59相互平行，且每一擋銷59之一端可分別固定穿設於定位板30之一銷孔37內。二擋銷59之間之最短距離略大於待測工件100之第二圓管部13之外徑。

固定塊60包括大致為方形之本體61和本體61一端向下垂直延伸形成之固定部63。本體61上開設有大致為方形之通槽611。本體61相對兩側還開設有與通槽611相通之二導向孔613。該二導向孔613相互同軸，且每一導向孔613之軸線到基板20之高度與定位板 30之銷孔33到基板20之高度相同。固定部63上貫穿開設有二導柱孔631。檢測裝置200還包括二第二導柱27。第二導柱27可依次穿過導柱孔631和導柱孔21，從而保證固定塊60與基板20之間精確定位。

定位組件70包括定位銷71、第三擋止件73、彈性件75、第四擋止件77及螺釘79。定位銷71包括主體711和由主體711一端向外延伸形成之卡合部713。主體711大致為圓柱體，其直徑小於固定塊60之導向孔613之直徑，故定位銷71可活動穿設於導向孔613內。主體711中部還開設有環形卡槽715，第三擋止件73可卡合至卡槽715內，從而限制定位銷71在導向孔613內滑動之距離。卡合部713與固定銷40之卡合部43形狀相同，故其可部分容置於第一通孔111內，並使得第一通孔111之中心線與卡合部713及主體711之軸線重合。彈性件75套設在主體711上並位於固定塊60之通槽611內。主體711遠離卡合部713之一端還開設有螺紋孔717。螺釘79可鎖合與螺紋孔717內。第四擋止件77套設並固定於螺釘79上。本實施方式中，第三擋止件73為卡簧，彈性件75為彈簧，第四擋止件77為螺母。

組裝檢測裝置200時，首先藉由若干螺釘23將定位板30固定至基板20上，並使二第一導柱25依次穿過導柱孔311和導柱孔21，從而保證定位板30與基板20之間精確定位。將固定銷40固定安裝至定位板30之銷孔33內。測量銷51穿過定位板30之通孔35後，第一擋止件53進入卡槽511內，然後螺釘57穿過第二擋止件55並固定於測量銷51之一端。由此，測量銷51活動穿設於通孔35，且只能 在第一擋止件53至第二擋止件55之間之距離內滑動。二擋銷59之一端分別固定穿設於定位板30之二銷孔37內。

固定塊60藉由螺釘23固定至基板20上，並使二第二導柱27依次穿過導柱孔631和導柱孔21，從而保證固定塊60與基板20之間精確定位。將彈性件75放入通槽611內，然後定位銷71依次穿過固定塊60一側之導向孔613和彈性件75後，從固定塊60另一側之導向孔613穿出。第三擋止件73進入定位銷71之卡槽715內。由此，彈性件75一端與第三擋止件73相抵，另一端與通槽611開有導向孔613之側壁相抵。螺釘79穿過第四擋止件77並固定於定位銷71一端之螺紋孔717內。由此，定位銷71活動穿設於導向孔613，且只能在第三擋止件73至第四擋止件77之間之距離內滑動。檢測裝置200組裝完畢。

請參閱圖5，使用檢測裝置200時，首先向後拉動螺釘79，使定位銷71朝遠離固定銷40之方向運動一段距離，此時彈性件75處於壓縮狀態。然後將待測工件100之第一圓管部11置於定位銷71與固定銷40之間，並使待測工件100之第二圓管部13置於二擋銷59之間。停止對螺釘79施力後，在彈性件75之回彈力作用下，定位銷71會朝靠近固定銷40之方向運動，從而將第一圓管部11卡持在定位銷71和固定銷40之間。此時，第一通孔111之中心線與定位銷71及固定銷40之軸線重合(見圖6)。待測工件100之第二圓管部13此時能以第一通孔111之中心線為軸在二擋銷59之間稍作擺動，以使第二通孔131與測量銷51進行粗定位。對螺釘57施力，以推動測量銷51朝靠近第二圓管部13之方向運動。若待測工件100之 第一通孔111與第二通孔131之實際孔心距在L±e之範圍內時，則測量銷51能夠進入第二通孔131之內部，此時即可判斷該工件為合格品；反之當待測工件100之實際孔心距位於L±e之範圍外時，由於測量銷51與第二通孔131之直徑差等於2e，故測量銷51無法進入第二通孔131之內部，此時即可判斷該工件為不良品。

本發明實施方式之檢測裝置200之結構簡單，操作方便，特別適用以大規模工業生產使用。

可理解，第一、二、三及四擋止件53、55、73及77皆可省略。若用手直接按壓待測工件100使其與固定銷40相抵，則固定塊60及定位組件70也可省略。若待測工件100之第一通孔111或第二通孔131不為圓孔，例如為三角形孔，則固定銷40之卡合部43之形狀也可不為圓錐形，例如可為三棱錐形。另，二擋銷59也可省略。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出申請專利。惟，以上該者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之如申請專利範圍內。

200‧‧‧檢測裝置

20‧‧‧基板

30‧‧‧定位板

40‧‧‧固定銷

50‧‧‧測量組件

60‧‧‧固定塊

70‧‧‧定位組件

Claims (9)

1. 一種檢測裝置，用以檢測待測工件上之第一孔至第二孔之孔心距是否位於標準工件之孔心距尺寸加減預設偏差值之範圍內，該檢測裝置包括基板和設於該基板上之定位板，其改良在於：該檢測裝置還包括固定設於該定位板上之固定銷、活動設於該定位板上之測量銷、固設於該基板上之固定塊及活動設於該固定塊上之定位組件，該定位組件與該固定銷配合以使該待測工件之第一孔之中心線與該固定銷之軸線重合，該測量銷用以穿設於該待測工件之第二孔內，該測量銷之軸線至該固定銷之軸線之距離等於該標準工件之孔心距尺寸，該測量銷之直徑等於該標準工件之第二孔之直徑減去兩倍之該預設偏差值。
2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該固定銷包括主體和設於主體一端之卡合部，該卡合部為直徑自末端沿軸向逐漸增大之圓錐形，該卡合部之最小寬度小於該第一孔之孔徑，該卡合部之最大寬度大於該第一孔之孔徑。
3. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中該定位板上開設有容置該主體之銷孔，該固定銷進一步包括形成於該主體上，並與該定位板相抵之定位凸緣。
4. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該定位板上開設有供該測量銷穿過之通孔，該檢測裝置還包括設於該測量銷上且分別位於該定位板兩側之第一擋止件和第二擋止件。
5. 如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置，其中該測量銷上開設有 卡槽，該第一擋止件為卡合於該卡槽內之卡簧。
6. 如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置，其中該檢測裝置還包括鎖合於該測量銷一端之螺釘，該第二擋止件為固定於該螺釘上之螺母。
7. 如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置，其中該定位板上位於該通孔之兩側還分別開設有一銷孔，該檢測裝置還包括分別設於該二銷孔內之二擋銷。
8. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中該定位組件包括定位銷，該固定塊上開設有供該定位銷穿過之導向孔，該定位銷包括主體和設於主體一端之卡合部，該卡合部為直徑自末端沿軸向逐漸增大之圓錐形，該卡合部之最小寬度小於該第一孔之孔徑，該卡合部之最大寬度大於該第一孔之孔徑。
9. 如申請專利範圍第8項所述之檢測裝置，其中該固定塊上開設有與該導向孔相通之通槽，該定位組件還包括設於該定位銷上之第三擋止件和位於該通槽內之彈性件，該彈性件兩端分別與該第三擋止件和該通槽之側壁相抵。