TWI415133B - 使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路及其方法 - Google Patents
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- TWI415133B TWI415133B TW098129818A TW98129818A TWI415133B TW I415133 B TWI415133 B TW I415133B TW 098129818 A TW098129818 A TW 098129818A TW 98129818 A TW98129818 A TW 98129818A TW I415133 B TWI415133 B TW I415133B
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Description
本發明揭示一種峰值量測及保持電路及其方法,特別是一種使用斜坡取樣法之峰值量測及保持方法及其電路。
一般峰值量測及保持(peak detect and hold,PDH)電路係用以量測及保持電壓波例如弦波之峰值,其可應用核脈衝光譜(nuclear pulse spectroscopy)、通訊系統之自動化增益控制(automatic gain control)等。
圖1所示為一傳統峰值量測及保持電路之電路圖。如圖所示,此峰值量測及保持電路輸入一輸入電壓Vi
,並輸出一追蹤電壓VT
,其包括一運算轉導放大器(operational transconductance amplifier,OTA)、一二極體D以及一保持電容Ch
。其中,運算轉導放大器OTA之正端接收輸入電壓Vi
,負端接收回授之追蹤電壓VT
;當追蹤電壓VT
小於輸入電壓Vi
時,表示輸入電壓Vi
波形仍在上升,運算轉導放大器OTA導通二極體D並經由二極體D對保持電容Ch
充電,而使追蹤電壓VT
不斷增加以追蹤輸入電壓Vi
;當追蹤電壓VT
等於輸入電壓Vi
時,表示輸入電壓Vi
波形抵達峰值,運算轉導放大器OTA截止二極體D以停止對保持電容Ch
充電而維持於當時之追蹤電壓VT
,即為峰值。
因此,運算轉導放大器OTA具有比較追蹤電壓VT
與輸入電壓Vi
以控制二極體導通或截止,而控制跨保持電容Ch
之追蹤電壓VT
繼續追蹤輸入電壓Vi
,或維持於一峰值電壓的功能;以及作為保持電容Ch
之充電電流源(charging current source)的功能。
傳統峰值量測及保持電路一般有三種產生峰值量測及保持誤差的情況,分別為始差電壓(pedestal voltage)、過衝電壓(overshoot voltage)以及電壓下墜(voltage droop),如圖2之波形圖所示。始差電壓為輸入電壓Vi
與輸出電壓Vo
之恆差,係由例如運算轉導放大器OTA之偏移誤差(offset error)所造成。過衝電壓係指當追蹤電壓VT
抵達輸入電壓Vi
之峰值時,運算轉導放大器OTA應截止二極體D以停止對保持電容Ch
充電,但因運算轉導放大器OTA截止二極體D具有一延遲時間,使運算轉導放大器OTA仍繼續對保持電容Ch
充電而造成追蹤電壓Vo
超過峰值。電壓下墜係於保持電容Ch
停止被充電而進入維持狀態時,因保持電容Ch
與二極體D及運算轉導放大器OTA之寄生電容(paracistic capacitance)相接,而造成洩漏(leakage)使追蹤電壓VT
逐漸下降。
因此,本發明提供一種使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路及其方法,以減少因始差電壓、過衝電壓以及電壓下墜所造成之峰值量測及保持誤差。
本發明提供一種使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路及其方法,其利用取代傳統峰值量測及保持電路之運算轉導放大器,而減少因始差電壓、過衝電壓以及電壓下墜所造成之峰值量測及保持誤差。
本發明之峰值量測及保持電路一實施例包括一取樣信號產生器、一第一比較器、一第一取樣/保持電路、一第二比較器、一第二取樣/保持電路以及一第三比較器。
其中,取樣信號產生器係產生至少一第一取樣信號與一第二取樣信號,其中第一取樣信號與第二取樣信號為一上升波形;以及第一取樣信號之斜率高於第二取樣信號之斜率。其中,上升波形為線性或非線性。於一實施例中,上升波形為斜坡;並且,於一實施例中,第一取樣信號之斜率大約為第二取樣信號之斜率的兩倍。另外,於一實施例中,第一取樣信號與第二取樣信號之斜率係為輸入電壓之振幅除其一達峰值時間之1%以內。
其中,第一比較器,係接收取樣信號產生器產生之第一取樣信號與輸入電壓。第一取樣/保持電路,其受第一比較器控制於第一取樣信號小於輸入電壓時,使一第一追蹤電壓持續追蹤輸入電壓,於第一取樣信號等於輸入電壓時,則取樣輸入電壓使第一追蹤電壓維持於取樣當時之輸入電壓。於一實施例中,第一取樣/保持電路為無回授型取樣/保持電路。
其中,第二比較器,係接收取樣信號產生器產生之第二取樣信號與輸入電壓;第二取樣/保持電路,其受第二比較器控制於第二取樣信號小於輸入電壓時,使一第二追蹤電壓持續追蹤輸入電壓,於第二取樣信號等於輸入電壓時,則取樣輸入電壓使第二追蹤電壓維持於取樣當時之輸入電壓。於一實施例中,第二取樣/保持電路為無回授型取樣/保持電路。
其中,第三比較器,係接收第二追蹤電壓與輸入電壓,其中當第二追蹤電壓小於輸入電壓時,第三比較器控制取樣信號產生器產生另一第一取樣信號與另一第二取樣信號;以及當第二追蹤電壓大於輸入電壓時,第一追蹤電壓即為峰值。
本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路之一實施例比較第二追蹤電壓與輸入電壓以決定繼續產生取樣信號,再比較取樣信號與輸入電壓以控制追蹤電壓繼續追蹤輸入電壓,或取樣且維持於取樣之輸入電壓;或以第一追蹤電壓作為峰值,取代傳統運算轉導放大器比較回授之追蹤電壓與輸入電壓以決定繼續追蹤輸入電壓,或維持追蹤電壓於一峰值電壓之功能。。
本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路之一實施例使用無回授型取樣/保持電路,而使其保持電容,直接由輸入電壓進行充電,取代傳統運算轉導放大器作為保持電容之充電電流源的功能。
本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持方法一實施例包括下列步驟:首先,產生至少一第一取樣信號與一第二取樣信號,其中第一取樣信號與第二取樣信號為一上升波形,以及第一取樣信號之斜率高於第二取樣信號之斜率。
接著,比較第一取樣信號與輸入電壓,其中當第一取樣信號小於輸入電壓時,使一第一追蹤電壓持續追蹤輸入電壓,其中當第一取樣信號等於輸入電壓時,則取樣輸入電壓並使第一追蹤電壓維持於取樣之輸入電壓。
並且,比較第二取樣信號與輸入電壓,其中當第二取樣信號小於輸入電壓時,使一第二追蹤電壓持續追蹤輸入電壓,其中當第二取樣信號等於輸入電壓時,則取樣輸入電壓並使第二追蹤電壓維持於取樣之輸入電壓。
接著,比較第二追蹤電壓與輸入電壓,其中當第二追蹤電壓小於輸入電壓時,產生另一第一取樣信號與另一第二取樣信號繼續進行比較步驟;以及當第二追蹤電壓大於輸入電壓時,第一追蹤電壓即為峰值。
峰值量測及保持電路係用以量測及保持電壓波例如弦波之峰值。傳統峰值量測及保持電路之運算轉導放大器具有比較回授之追蹤電壓與輸入電壓以控制追蹤電壓繼續追蹤輸入電壓或維持於一峰值電壓的功能,以及作為追蹤電壓之保持電容的充電電流源之功能,但卻因此造成追蹤電壓具有始差電壓、過衝電壓以及電壓下墜的可能情況,成為峰值量測及保持誤差之來源。
本發明提供一種使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路及其方法,其利用取代傳統峰值量測及保持電路之運算轉導放大器,而減少因始差電壓、過衝電壓以及電壓下墜所造成之峰值量測及保持誤差。
本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持方法一實施例包括下列步驟,並請同時參閱圖3、圖4a及圖4b之波形圖(waveform diagram),其中圖4a與圖4b所示為圖3之局部放大圖:產生至少一第一取樣信號VS1
與一第二取樣信號VS2
,其中第一取樣信號VS1
與第二取樣信號VS2
為一上升波形,且第一取樣信號VS1
之斜率高於第二取樣信號VS2
之斜率;比較第一取樣信號VS1
與輸入電壓Vi
,以決定一第一追蹤電壓VT1
持續追蹤輸入電壓Vi
,或取樣且維持於取樣之輸入電壓;比較第二取樣信號VS2
與輸入電壓Vi
,以決定一第二追蹤電壓VT2
持續追蹤輸入電壓Vi
,或取樣且維持於取樣之輸入電壓;以及比較第二追蹤電壓VT2
與輸入電壓Vi
,以決定產生另一第一取樣信號VT1
與另一第二取樣信號VT2
繼續進行比較步驟,或第一追蹤電壓VT1
即為峰值。
如圖3所示,第一取樣信號VS1
為上升波形,產生後逐漸上升以致交於輸入電壓Vi
而於交點處取樣。因此,於比較第一取樣信號VS1
與輸入電壓Vi
之步驟中,當第一取樣信號VS1
小於輸入電壓Vi
時,使第一追蹤電壓VT1
持續追蹤輸入電壓Vi
(追蹤重疊部分於圖3中僅以輸入電壓Vi
示出);當第一取樣信號VS1
等於輸入電壓Vi
時,使第一追蹤電壓VT1
取樣輸入電壓Vi
且維持於取樣之輸入電壓Vi
(如圖中VT1
持平部分)。
如圖3所示,第二取樣信號VS2
之取樣方法與第一取樣信號VS1
相同。因此,於比較第二取樣信號VS2
與輸入電壓Vi
之步驟中,當第二取樣信號VS2
小於輸入電壓Vi
時,使第二追蹤電壓VT2
持續追蹤輸入電壓Vi
(追蹤重疊部分於圖3中僅以輸入電壓Vi
示出);當第二取樣信號VS2
等於輸入電壓Vi
時,使第二追蹤電壓VT2
取樣輸入電壓Vi
且維持於取樣之輸入電壓Vi
(如圖中VT2
持平部分)。
於一實施例中,第一取樣信號VS1
之斜率高於第二取樣信號VS2
之斜率,因此第一取樣信號VS1
與第二取樣信號VS2
分別先後對輸入電壓Vi
取樣,而分別先後使第一追蹤電壓VT1
與第二追蹤電壓VT2
進入維持狀態,如圖3所示。於第二追蹤電壓VT2
進入維持狀態後,進行比較第二追蹤電壓VT2
與輸入電壓Vi
之步驟。當第二追蹤電壓VT2
小於輸入電壓Vi
時,表示輸入電壓Vi
之波形仍在上升,因此重新產生第一取樣信號VS1
與第二取樣信號VS2
,繼續進行比較步驟以追蹤輸入電壓Vi
;當第二追蹤電壓VT2
大於輸入電壓Vi
時,表示輸入電壓Vi
已過了峰值而開始下降,則以第一追蹤電壓VT1
作為峰值。
以第一追蹤電壓VT1
作為峰值之理由如下,請同時參閱圖3及其局部放大圖圖4a及圖4b。於圖4a中取樣點P3
所標示之處,維持之第二追蹤電壓VT2
大於輸入電壓Vi
,表示第二取樣信號VS2
取樣當時之輸入電壓Vi
波形為下降,如圖4b所示;於圖4a中於取樣點P1
所標示之處,維持之第二追蹤電壓VT2
仍小於輸入電壓Vi
,表示第二取樣信號VS2
取樣當時之輸入電壓Vi
波形仍為上升。因此表示峰值係出現於兩次取樣點P1
及P3
之間。因第一取樣信號VS1
與第二取樣信號VS2
分別先後對輸入電壓Vi
取樣,因此第二取樣信號VS2
兩次取樣之間,有一次第一取樣信號VS1
之取樣,其有很大可能較接近峰值,如圖4b所示。於一實施例如圖3所示,第一取樣信號VS1
之斜率為第二取樣信號VS2
之斜率的兩倍。於不同實施例中,亦可以三個或以上斜率不同之取樣信號進行取樣,但其效果與兩個取樣信號相差不大。
另外,於圖3所示之實施例中,上升波形為一斜坡(ramp),其斜率為時間t之常數(線性)。並且,於一實施例中,第一取樣信號VS1
與第二取樣信號VS2
之斜率為輸入電壓Vi
之振幅除其達峰值時間(peaking time)之1%以內。達峰值時間係指一波形由電壓值為0至峰值之時間。一般來說,第一取樣信號VS1
與第二取樣信號VS2
之斜率越大,表示其取樣頻率越高,則取樣之峰值越接近實際之峰值。於不同實施例中上升波形亦可為非線性(nonlinear),則第一取樣信號VS1
隨時之切線斜率(tangent slope)大於第二取樣信號VS2
隨時之切線斜率。
圖5所示為本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路一實施例之方塊圖。如圖所示,本發明之峰值量測及保持電路一實施例包括:一取樣信號產生器110、一第一比較器CP1、一第一取樣/保持電路121、一第二比較器CP2、一第二取樣/保持電路122以及一第三比較器CP3。
於本實施例中,取樣信號產生器110產生至少一第一取樣信號VS1
與一第二取樣信號VS2
,其中第一取樣信號VS1
與第二取樣信號VS2
為一上升波形,且第一取樣信號VS1
之斜率高於第二取樣信號VS2
之斜率。第一比較器CP1接收取樣信號產生器110產生之第一取樣信號VS1
與輸入電壓Vi
,且控制第一取樣/保持電路121於第一取樣信號VS1
小於輸入電壓Vi
時,使一第一追蹤電壓VT1
持續追蹤輸入電壓Vi
;於第一取樣信號VS1
等於輸入電壓Vi
時,則取樣輸入電壓Vi
使第一追蹤電壓VT1
維持於取樣當時之輸入電壓Vi
。第二比較器CP2接收取樣信號產生器110產生之第二取樣信號VS2
,其控制第二取樣/保持電路122之方式與第一比較器CP1之控制第一取樣/保持電路121之方式相同。第三比較器CP3接收第二追蹤電壓VT2
與輸入電壓Vi
,於第二追蹤電壓VT2
小於輸入電壓Vi
時,第三比較器CP3控制取樣信號產生器110產生另一第一取樣信號VS1
與另一第二取樣信號VS2
;以及於第二追蹤電壓VT2
大於輸入電壓Vi
時,以第一追蹤電壓VT1
作為峰值。
請參閱圖5,本發明之峰值量測及保持電路之取樣/保持電路121、122一實施例為無回授型取樣/保持電路包括一開關S1
、S2
,以及一保持電容Ch1
、Ch2
。其中開關S1
、S2
導通時,保持電容Ch1
、Ch2
則被充電,跨保持電容Ch1
、Ch2
之電壓即追蹤電壓VT1
、VT2
則追蹤輸入電壓Vi
;開關S1
、S2
截止時,保持電容Ch1
、Ch2
則停止被充電而取樣當時之輸入電壓Vi
於追蹤電壓VT1
、VT2
,並且維持追蹤電壓VT1
、VT2
。
於本實施例中,開關S1
、S2
之導通與截止係由比較器CP1、CP2控制;比較器CP1、CP2於取樣信號VS1
、VS2
產生時開始導通開關S1
、S2
;於取樣信號VS1
、VS2
等於輸入電壓Vi
時截止開關S1
、S2
。取樣信號VS1
、VS2
之產生係由比較器CP3控制,其比較第二追蹤電壓VT2
與輸入信號Vi
以決定是否已量測峰值或需重新產生取樣信號VS1
、VS2
以繼續進行取樣。因此上述比較器CP1、CP2、CP3之作動取代傳統運算轉導放大器比較追蹤電壓與輸入電壓以控制二極體之導通或截止,以控制追蹤電壓繼續追蹤輸入電壓或維持於一峰值電壓之功能,因而具有降低輸入電壓與輸出電壓之始差電壓的優點,其詳細說明如下。
首先,追蹤電壓追蹤輸入電壓有一時間延遲(time delay),其為比較偏移誤差的來源之一,傳統用回授之追蹤電壓以控制保持電容Ch
之電位,可能造成輸入電壓與追蹤電壓具有一始差電壓。本實施例用以驅動開關S1
、S2
之比較器CP1、CP2係比較取樣信號VS1
、VS2
與輸入電壓Vi
,取樣信號VS1
、VS2
與輸入電壓沒有此時間延遲,因此減少了比較偏移誤差的來源。再者,用以比較第二追蹤電壓VT2
與輸入信號Vi
之比較器CP3即便有偏移誤差,其並不直接驅動開關S1
、S2
,而是決定是否已量測到峰值或是需重新產生取樣信號VS1
、VS2
,因此不會使此偏移誤差反應於保持電容Ch
之電位。
於本實施例中,取樣/保持電路121、122係為無回授型取樣/保持電路,其係以輸入電壓Vin
直接對保持電容Ch1
、Ch2
進行充電取代傳統運算轉導放大器之充電功能。因此,保持電容Ch1
、Ch2
之充電至多可達到與輸入電壓Vi
相同而避免過衝電壓的情況,並且亦進一步降低追蹤電壓VT1
、VT2
與輸入電壓Vi
具有始差電壓之可能性。
於本實施例中,係以第一追蹤電壓VT1
作為峰值,其並無回授至比較器,因此減少了保持電容Ch1
、Ch2
連接比較器寄生電容造成之洩漏;傳統保持電容連接至運算轉導放大器,而使保持電容連接運算轉導放大器之寄生電容。因此,本實施例減少了洩漏路徑而減少了電壓下墜的情況。
綜合上述,本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路及其方法利用二斜率不同之取樣信號取樣輸入信號於追蹤電壓,並比較以斜率較低之取樣信號進行取樣的追蹤電壓與即時之輸入電壓,以決定輸入電壓波形為上升或下降,且於輸入電壓波形剛開始下降時,以斜率較大之取樣信號進行取樣的追蹤電壓作為峰值。本發明提供一種實現上述方法之峰值量測及保持電路,其分別比較二斜率不同之取樣信號與輸入電壓以控制二取樣/保持電路之開關的導通或截止,而使追蹤電壓繼續追蹤輸入電壓,或取樣且維持於取樣之輸入電壓;並比較以斜率較低之取樣信號取樣且維持之追蹤電壓與即時之輸入電壓,以決定重新產生二斜率不同之取樣信號以繼續取樣輸入電壓,或者以斜率較高之取樣信號取樣且維持之追蹤電壓為峰值。本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路取代傳統運算轉導放大器比較追蹤電壓與輸入電壓以控制二極體之導通或截止,而決定追蹤電壓繼續追蹤輸入電壓,或維持於一峰值電壓的功能;並以輸入電壓直接充電追蹤電壓之保持電容,以取代傳統運算轉導放大器作為充電電流源之功能;因此,可減少始差電壓、過衝電壓以及電壓下墜的情況,降低峰值量測及保持誤差。
以上所述之實施例僅是為說明本發明之技術思想及特點,其目的在使熟習此項技藝之人士能夠瞭解本發明之內容並據以實施,當不能以之限定本發明之專利範圍,即大凡依本發明所揭示之精神所作之均等變化或修飾,仍應涵蓋在本發明之專利範圍內。
Vi
...輸入電壓
VT
...追蹤電壓
D...二極體
Ch
...保持電容
VS1
、VS2
...取樣信號
VT1
、VT2
...追蹤電壓
P1
...上升波形取樣點
P2
...峰值取樣點
P3
...下降波形取樣點
110...取樣信號產生器
CP1、CP2、CP3...比較器
121、122...取樣/保持電路
S1
、S2
...開關
Ch1
、Ch2
...保持電容
圖1所示為一傳統峰值量測及保持電路之電路圖。
圖2所示為輸入電壓與追蹤電壓之波形圖,用以顯示三種峰值量測及保持誤差的情況。
圖3所示為本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持方法一實施例之波形圖。
圖4a與圖4b所示為圖3之局部放大圖。
圖5所示為本發明使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路一實施例之電路圖。
Vi
...輸入電壓
VS1
、VS2
...取樣信號
VT1
、VT2
...追蹤電壓
110...取樣信號產生器
121、122...取樣/保持電路
CP1、CP2、CP3...比較器
S1
、S2
...開關
Ch1
、Ch2
...保持電容
Claims (15)
- 一種使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路,係用以量測及保持一輸入電壓的一峰值,其中該峰值量測及保持電路包含:一取樣信號產生器,係產生至少一第一取樣信號與一第二取樣信號,其中該第一取樣信號與該第二取樣信號為一上升波形;以及該第一取樣信號之斜率高於該第二取樣信號之斜率;一第一比較器,係接收該取樣信號產生器產生之該第一取樣信號與該輸入電壓;一第一取樣/保持電路,其受該第一比較器控制於該第一取樣信號小於該輸入電壓時,使一第一追蹤電壓持續追蹤該輸入電壓,於該第一取樣信號等於該輸入電壓時,則取樣該輸入電壓使該第一追蹤電壓維持於取樣當時之該輸入電壓;一第二比較器,係接收該取樣信號產生器產生之該第二取樣信號與該輸入電壓;一第二取樣/保持電路,其受該第二比較器控制於該第二取樣信號小於該輸入電壓時,使一第二追蹤電壓持續追蹤該輸入電壓,於該第二取樣信號等於該輸入電壓時,則取樣該輸入電壓使該第二追蹤電壓維持於取樣當時之該輸入電壓;以及一第三比較器,係接收該第二追蹤電壓與該輸入電壓,其中當該第二追蹤電壓小於該輸入電壓時,該第三比較器控制該取樣信號產生器產生另一該第一取樣信號與另一該第二取樣信號;以及當該第二追蹤電壓大於該輸入電壓時,該第一追蹤電壓即為該峰值。
- 如請求項1所述之峰值量測及保持電路,其中該上升波形為線性或非線性。
- 如請求項2所述之峰值量測及保持電路,其中該上升波形為斜坡(ramp)。
- 如請求項3所述之峰值量測及保持電路,其中該第一取樣信號之斜率大約為該第二取樣信號之斜率的兩倍。
- 如請求項1所述之峰值量測及保持電路,其中該第一取樣信號與該第二取樣信號之斜率係為該輸入電壓之振幅除其一達峰值時間(peaking time)之1%以內。
- 如請求項1所述之峰值量測及保持電路,其中該第一取樣/保持電路為無回授型取樣/保持電路。
- 如請求項1所述之峰值量測及保持電路,其中該第二取樣/保持電路為無回授型取樣/保持電路。
- 一種使用斜坡取樣法之峰值量測及保持方法,係用以量測及保持一輸入電壓的一峰值,其中該峰值量測及保持方法包含下列步驟:產生至少一第一取樣信號與一第二取樣信號,其中該第一取樣信號與該第二取樣信號為一上升波形;以及該第一取樣信號之斜率高於該第二取樣信號之斜率;比較該第一取樣信號與該輸入電壓,其中當該第一取樣信號小於該輸入電壓時,使一第一追蹤電壓持續追蹤該輸入電壓,其中當該第一取樣信號等於該輸入電壓時,則取樣該輸入電壓並使該第一追蹤電壓維持於取樣之該輸入電壓;比較該第二取樣信號與該輸入電壓,其中當該第二取樣信號小於該輸入電壓時,使一第二追蹤電壓持續追蹤該輸入電壓,其中當該第二取樣信號等於該輸入電壓時,則取樣該輸入電壓並使該第二追蹤電壓維持於取樣之該輸入電壓;以及比較該第二追蹤電壓與該輸入電壓,其中當該第二追蹤電壓小於該輸入電壓時,產生另一該第一取樣信號與另一該第二取樣信號繼續進行比較步驟;以及當該第二追蹤電壓大於該輸入電壓時,該第一追蹤電壓即為該峰值。
- 如請求項8所述之峰值量測及保持方法,其中該上升波形為線性或非線性。
- 如請求項9所述之峰值量測及保持方法,其中該上升波形為斜坡(ramp)。
- 如請求項10所述之峰值量測及保持方法,其中該第一取樣信號之斜率大約為該第二取樣信號之斜率的兩倍。
- 如請求項8所述之峰值量測及保持方法,其中該第一取樣信號與該第二取樣信號之斜率係為該輸入電壓之振幅除其一達峰值時間(peaking time)之1%以內。
- 如請求項8所述之峰值量測及保持方法,其中該第一追蹤電壓與該第二追蹤電壓分別係由一第一取樣/保持電路及一第二取樣/保持電路產生。
- 如請求項13所述之峰值量測及保持方法,其中該第一取樣/保持電路係為無回授型取樣/保持電路。
- 如請求項13所述之峰值量測及保持方法,其中該第二取樣/保持電路係為無回授型取樣/保持電路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098129818A TWI415133B (zh) | 2009-09-04 | 2009-09-04 | 使用斜坡取樣法之峰值量測及保持電路及其方法 |
US12/574,411 US7940089B2 (en) | 2009-09-04 | 2009-10-06 | Peak-detect-and-hold circuit and method thereof using ramp sampling technique |
Applications Claiming Priority (1)
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6215335B1 (en) * | 1999-05-14 | 2001-04-10 | Level One Communications, Inc. | Nonoverlapping phased, resettable, peak detector |
US20030206244A1 (en) * | 1999-09-17 | 2003-11-06 | Elantec Semiconductor, Inc. | Alternative video sync detector |
US6788115B2 (en) * | 2002-07-26 | 2004-09-07 | Alcatel | Fast sample-and-hold peak detector circuit |
US20070126480A1 (en) * | 2005-12-07 | 2007-06-07 | Mcquirk Dale J | Circuit and method for peak detection of an analog signal |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5210527A (en) * | 1989-06-28 | 1993-05-11 | Ceridian Corporation | Programmable spike detector |
DE102005017004B4 (de) * | 2005-04-07 | 2010-01-14 | Atmel Automotive Gmbh | Demodulations-und Regelkonzept, insbesondere für IR-Empfänger |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6215335B1 (en) * | 1999-05-14 | 2001-04-10 | Level One Communications, Inc. | Nonoverlapping phased, resettable, peak detector |
US20030206244A1 (en) * | 1999-09-17 | 2003-11-06 | Elantec Semiconductor, Inc. | Alternative video sync detector |
US6788115B2 (en) * | 2002-07-26 | 2004-09-07 | Alcatel | Fast sample-and-hold peak detector circuit |
US20070126480A1 (en) * | 2005-12-07 | 2007-06-07 | Mcquirk Dale J | Circuit and method for peak detection of an analog signal |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Chang, P.Y. Chou, H.P., "A High Precision Peak Detect Sample and Hold Circuit", Nuclear Science Symposium Conference Record, 2006. IEEE, Page(s): 329 - 331 * |
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