TWI277719B - Image inspection method and structure for attachment machine - Google Patents
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1277719 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係一種偏貼機影像檢查方法及結構,其係最主要係針對偏光板 之偏貼後的部份做一損壞檢測,讓偏貼過後的偏貼板達成較高的良率。 【先前技術】 大約70年前(西元1929年)在美國發明了偏光板,並申請 專利,偏光板大部分被運用於(顯微鏡、飛行員鏡片及太陽眼鏡…)也用 於軍事及科學上,傳言飛行員利用偏光板找尋到水底下沉沒的 船隻及潛水艇,於1937年後,偏光板被大量生產及運用,並利用自動化設 備來製造,且讓它大量商品化。 偏光板原理係將-般不具偏極性的自然光轉變成偏極光,當沒有偏光 板時’光線可自由進出液晶槽,不受外加電場的影響,但在上下層各外加 偏光板後,光線的透過就可财卜加電場加以控制,使得視覺上可以感受到 明暗的變化,由此可知,偏光板在於將非偏極光轉為偏極光,而液晶顯示 -说疋彻此偏極光加上液晶扭轉特性來達到控制光線的通過與否,形成 明暗。 偏光板基本結構是由幾層厚度僅數十#m薄膜材料貼合而成,其中最 要的偏光子疋利用透光性良好的高分子薄膜(常用聚乙婦醇)吸附上 -色性物質(硪系、染料性等),幾秒内使破離子或染料擴散渗入内層的μ 中二微=後用人卫或機械拉伸,直魏倍長度,且在變長_時也將變得 一乍原本PVA刀子為任意角度無規則性分布,受力拉伸後分子就逐 1277719 漸偏轉於作用力方向上,而附著在PVA上的蛾離子或染料也就隨之有方向 性,因此可雜平行於其制方向的光束f場分量,只讓垂直方向的光束 _ 電場分量通過,另外,在偏光子兩側有保護層,由於PVA膜在經過延伸之 後,通常機械性質會降低,變得容易破碎,因此在偏光基體(PVA)延伸完後 會在兩側貼上三醋酸纖維素(TAC)所組成的透明基板,作為支撐保護偏光子 且防止回縮,再則現多數15吋以上之TFTLCD產品均會要求再貼上一層光 學補償膜以增加偏光板的廣角最後在外層再加上一層離型膜及保護膜,以 ®便紐晶槽齡。 偏光板製程上較困難之處在於如何做出一片完全無缺點的偏光板,尤 其疋現頰示裔產品尺寸有曰盈變大的現象,尺寸愈大耗損難度也提高,製 程良率將進一步降低,另外,現顯示器薄型化發展為趨勢之一,目前偏光 板主流產品整體厚度約255//m,未來主流為175/zm,未來趨勢將強調愈來 愈薄,由於產品愈薄愈難作,不僅是材料較貴且良率也較低,因此偏光板 薇商如何在更大尺寸及更薄產品製造上保持一定良率為考驗之處。 ® 故偏光板的檢測無庸致疑是一個相當重要的環結,一但偏光板的檢測 良率不高則相對得會使液晶面板產品良率大幅降低,然就以往所知之偏光 板檢查裝置,最主要係藉由人力目檢方式來進行檢測,其主要係由進料裝 置將欲檢測之液晶顯示器面板輸送至人力目視檢查機臺内,並配合機臺所 設之顯微鏡做目視檢測’以檢測出點燈後之液晶顯示器面板是否有壞點 (MURA)或亮點(DOT/LINE)等缺陷,待檢測完畢後再輸送給出料裝置,而 經查此種人力目檢方式不但檢測速度慢、容易誤判且亦不符自動化需求之 1277719 原則。 又如第一圖所示,台灣新型專利公告號碼578905液晶顯示器面板(LCD Panel)點燈後顯像品質自動檢測裝置所述,其係以龍門式跨架之裝置跨設於 LCD製程中之人工目檢測設備上方,藉由跨架運動機構所裝設之數位攝影 機以上下或左右之移動方式移至定點後,以靜止拍攝方式逐次將液晶顯示 器面板(LCD Panel)點燈後顯示影像完整拍入系統以提供電腦軟體分析辨識 壞點(MURA)、亮點(DOT/LINE)等缺陷;又如第二圖所示,台灣新型專利 公告號:M261685用以檢測表面設置偏光板之玻璃基板之缺陷檢測設傷中 所述,其係利用一光源提供光束,以照射該表面設置偏光板之玻璃基板, 並利用一連接該光源之角度調整裝置,以調整該光源以控制光束照射該表 面5又置偏光板之玻璃基板之照射角度,接著以一影像感測器感應該光束照 射該表面設置偏光板之玻璃基板所產生之缺陷影像係具灰階變化之顯像 點,最後藉由一分析模組根據該顯像點之灰階值,以分析確認該顯像點所 對應之缺陷。 然上所述之習知技術,其人工目視檢測方式良率相當不好,且好工費 時,而台灣新型專利公告號碼578905液晶顯示器面板(LCDPanel)點燈後顯 像品質自動檢赚置所述,其I;、為組裝完錢才能檢測其表面找出缺陷, 故在組裝的過程中是無法做一各別之檢測,需等組裝完成才能做檢測,找 出缺陷後再將成品淘汰或重組則將會浪費大量的製造成本及加工過程;又 台灣新型專利公告號:媳義5用讀_面設置偏光板之玻璃基板之缺 陷檢測稍帽述,其係必翻用―特定光束及肖度内做_灰階顯像處理 Ϊ277719 才旎比對出缺陷處,且每次偏光板經運輸的過程若產生檢測位置上的偏 差’需常更改光線角度,否則會產生灰階部份(缺陷部份)的誤判,實感麻煩 ~ 且檢測常會造成不精確的狀況。 【發明内容】 本發明係一種偏貼機影像檢查方法及結構,其係主要將經過偏貼過後 的偏光板置放於本發明檢測裝置上,當經過偏貼過後的偏光板輸送至止擋 • 裝置時,先由傳輸裝置部份的止擋裝置上之定位攝影機掃瞄此時偏光板的 置放點位置,將掃瞄過後置放點位置的資料傳送至偏光板檢測系統,並將 其誤差值加以註記且分析比對,藉此透過誤差值校正其偏光板掃瞄誤差, 然後利用正、背兩種光源去照射經過偏貼過後的偏光板,再由CCD攝影鏡 頭再次進行面掃瞒及線掃瞒影像感測方式攝取得其經過偏貼過後的偏光板 之正光與背光之光源顯影圖,由電腦去比對偏貼過後的偏光板之位移量、 磨邊量檢查等等,且將檢查出偏移或損壞等等之偏光板,以確保偏光板之 φ 品質。 然針對上述習知之缺陷而言,就人工目視檢測的方式,已不需要利用 人工做-不精確的目視檢測工作,此自動化的方式大幅減少了人力使用上 的成本,且經由本發明的嚴密比對方式可大幅提高良率;就台灣新型專利 公告號碼578905液晶顯示器面板(LCD panel)點燈後顯像品質自動檢測裝置 所述’本發明係針對偏光板部份加以各別檢測,不需經過組裝後再去檢測 其缺陷;就台灣新型專利公告號:廳娜用以檢測表面設置偏光板之玻 璃絲之缺陷檢測設備中所述,本發明係利用一影像比對的方式達到更多 8 1277719 •的缺_試,例如磨邊量檢查、偏移量檢查«,甚至本發簡別設置了 Z止措結構加上校正感測功能使其為全自動之職並不絲過多的測試調 , 整使用上極為方便且大幅度的提升其良率。 【實施方式】 .如圖三所示,-觀貼機鱗方法及結構,其整體係為—個偏光 .板檢查機H),其前端為—倾機u部份,其係為麵基板經過偏貼㈣ φ處理過後成為偏光板,再將處理過後的偏光輪送到偏光板檢測裝置η的部 份做-檢錢轉(然其偏光板檢職置可與倾機做—整合性之整體機 台,亦可梅的蝴設上偏光板檢賴的部份),轉偏光板崎 置上具有分賴個部份町幾瓣份,—是雜部份Η,—是偏光板撐起 架部份14,-是傳輸裳置部份15,一是偏光板檢測系統μ ; 配合第四圖所示,然其掃瞎部份ls分了幾個單元: - ccd攝影機m ’其係負責將待測之偏光板做完整的掃瞒,其掃瞎又可 籲大致分為面掃晦及線掃晦,其面掃瞒影像技術(亦稱為面陣列,矩陣或漸進 式面觸是採用二維矩陣圖素㈣),經由一次曝光時間内,搁取整個影 像資訊,而不需要移動圖素或CCD攝影鏡頭,而其另一種線掃瞎影像感測 是以-列微感測器(-維)’在某—方向掃瞒,同_取—列訊號,依序讀出 資料後,再掃钉-列,而其必須重覆讀取影像魏才可形成整張二維的 影像晝面,並且其將掃猫過後的光源顯影圖傳輪至偏光板檢測系統,然其 CCD攝影機有各種的機種,有彩色、黑白、微型、高低解析度等等,然其 一般係使用高解析度CCD攝影機; 9 1277719 一可移動支撐_,當然c_f職要—個可鶴支撐架,才可順利
移動其CCD攝影機至制面板處進行齡透過可移動支撐架可讓CCD 攝影機做-全雜及妨㈣觸,錢可_轉糾崎瞄的方式將 待測偏光板進行掃_的動作; 一正、背光光源m、m,其係裝設於CCD攝影機下方,當可移動支撐架 攝影機移動到待測偏光板時,此時的正、背光光源會各別或同時的 提供光源,以達成正背光顯影的效果,使CCD攝影機可以做—正、背光的 掃瞄顯影資料; 而偏光板撐起架14部份分成以下幾個結構: 一撐起平台⑷,其係先經由傳輸裝置部份之輸送帶將偏貼過後的偏光板傳 送至撐起平台上,在送謂起平台_時,在傳魏置部份有—止撞裝置 將偏光板大約歸在敏置,再由止難置上的定輯韻照攝偏光 板位置,《位置雜送至偏光板檢測纽做分析與崎,透過分析比對 達到檢測定位的成效; 一馬達裝置,㈣裝設在撐起平台下方與撐起平台相連接,然其偏光板檢 測系齡下齡餅起平台下方的騎裝置運作,將偏光板撐起供掃越部 份做掃猫’再將掃晦過後的偏光板經由傳輸裝置傳妓: 配合第五圖及第六圖,而傳輸裝置部份15係分為以下幾個結構: :傳輸帶裝置’其通常為—般之輸送帶錢,最主要储偏貼過後的偏 光板輸送至檢職置,再測過制偏光板魏至粒,其所述之輸送 帶裝置即係権綱繼,峨咖_議,如针對硫 1277719 去設計的滾輪式傳輸裝置等等; -止撞裝請及定倾频153,錢配合偏光板物㈣份,其係是將 偏貼過後_光板傳送讀起平台± ’錢至物平台的前方、在傳輸裝 置部份前端麟有-止财置將偏光板幼停滯在特定的位置,再由止撞 裝置上的定_顧__,絲_料___ 做分析與比對,透過分析比對達到檢测定位的成效; 一偏光板檢測系統16可分為下列幾種模組: -傳送接收模組,先將定位攝影機的定位資料做_接_動作,並將資料 傳送至處理模財,再射㈣部份所傳送出來卿崎料做—接收,並將 掃瞒資料傳送至處理模組; -處理歡,毅«料做—分減理,獄位雜麟與驗位置資料 做-比對產生-個誤差調整值,再將偏光板掃聪的光源顯影圖加以處理與 預設之良好的偏光板資料做一比對,檢測出端子間之破損(含啊㈣、端 子部破損、魏子部破損、祕麵、歸、_、轉量檢查、磨邊量檢 查等等…再將檢測結果由顯示裝置顯示出來,然處理模組有將既定行程指 令輸出至傳送接收模組,將作動指令傳送至掃_份、傳送至偏光板樓起 架部份與傳輸裝置部份讓整體的掃_到其最好的狀態。 弟七、八、九、十圖為其運作側視圖及俯視圖,然在其檢測方法係先 將偏貼過後的偏光板2〇經由傳輸裝置部份1S之輸送帶裝置1S1,將偏貼過 後的偏光板20輪送至偏絲檢_置13之偏光板支料臺⑷上,當輸 送至偏光板檢測裝置D之偏光板支撐平臺⑷時會有一個止撞裝置152讓 1277719 偏貼過後的偏光板20停止於偏光板支撐平臺141之該檢測位置,但此時偏 貼過後的偏光板20置於偏光板支撐平臺141之該檢測位置時通常會有些許 的誤差,但透過止擋裝置152旁之定位攝影機153的定位攝影後,藉由偏 光板檢測系統16校正感測功能來修正偏貼過後的偏光板2〇所照攝的位 置,將其該修正數值先儲存至偏光板檢測系統16裡,接著再由偏光板支撐 平臺141旋轉移動,令掃瞄部份13中之CCD攝影鏡頭131進行掃瞄影像 感測方式取得偏貼過後的偏光板之光源顯影圖,然其掃瞄影像感測方式分 為面掃瞄影像技術跟線掃瞄影像技術,其面掃瞄影像技術(亦稱為面陣列, 矩陣或漸進式面掃瞄)是採用二維矩陣圖素(pixel),經由一次曝光時間内, 擷取整個影像資訊,而不需要移動圖素或CCD攝影鏡頭,而其另一種線掃 瞄影像感測是以一列微感測器(一維),在某一方向掃瞄,同時擷取一列訊 號,依序讀出資料後,再掃瞄下一列,而其必須重覆讀取影像資訊才可形 成整張二維的影像畫面,再其將掃瞄過後之光源顯影圖送至偏光板檢測系 統16,再配合先前由偏光板檢測系統16中所產生的修正數值修正顯影圖中 偏貼過後的偏光板位置,將其與正確之光源顯影圖比對,判定待測之偏貼 過後的偏光板是否有損壞處,再將檢測過後的偏光板由傳輸裝置部份15之 輪送帶裝置151送至指定地方。 綜上所述,本發明所述之偏貼機影像檢查方法及結構,不僅可達預期 之實用功效外並且為前所未見之設計,已符合專利法發明之要件,爰依法 具文申請之。為此,謹請責審委員詳予審查,並祈早曰賜請專利,至减 德便。 12 1277719 以上已將發明作—詳細_,惟以上所述者’僅為本發明之較佳實施 例而已’當不能限定本發明實施之範圍,即凡—本發明巾請專利範圍所作 之均等變化與修鱗’皆應屬本發明之專稿蓋細賴保護之範峰。
13 1277719 【圖式簡單說明】 第一圖係習知公告號碼578905號之立體圖 第二圖係習知公告號碼M261685號之立體圖 第三圖本發明偏貼機影像檢查方法及結構之立體圖 第四圖本發明掃瞄部份分之立體圖 第五圖本發明傳輸裝置部份立體圖 第六圖本發明傳輸裝置部份剖面圖 第七圖本發明運作方式剖視圖之一 第八圖本發明運作方式剖視圖之二 第九圖本發明運作方式俯視圖之一 第十圖本發明運作方式俯視圖之二 【主要元件符號說明】 10偏光板檢查機 11偏貼機 12偏光板檢測裝置 13掃目苗部份 131 CCD攝影機 132可移動支撐架 133 正光光源 134背光光源 14偏光板撐起架部份 14 1277719 141偏光板支撐平臺 15傳輸裝置部份 151輸送帶裝置 152止擋裝置 153定位攝影機 16偏光板檢測糸統
Claims (1)
1277719 十、申請專利範圍: 1、 一種偏貼機影像檢查結構,其係包括有: . 一偏光板檢查機: 其月ίι端為一偏貼機部份,其後緊接裝設有一偏光板檢測裝置; - 一偏光板檢測裝置: 其包含有掃瞄部份及偏光板支撐平臺,供以檢測偏光板狀態;其 巾該掃晦部份,其有光絲置及CCD攝影鏡頭.成之檢測手 臂,且此裝置裝設於輸送平臺前;該偏光板支撐平臺,其在掃瞄 • 部份下方’可依循所設計的動向移動,使偏光板可令面板掃瞒部 份完全照射及照攝; -偏光板檢齡統,其將偏光板檢測裝置所得之資料接收並利用軟 體測試; 一輸送平臺,其供檢測完成之偏光板輪送。 2、 如中請專鄉圍第!項所述之偏貼機影像檢查結構,其中輸送平臺 可為傳統皮帶帶動。 3、 如申請專利範圍第!項所述之偏貼機影像檢查結構,其中輸送平臺 • 上有—止餘置’崎止偏光板突然超出偏綠檢測裝置之置放範 圍。 4、 如申請專利範圍第w所述之偏貼機影像檢查結構,其中輸送平臺 上有-止擋裝置,止擋裝置上有-定位攝影機,透過定位攝影機= 定位攝影後’藉由基板檢義統之校正❹彳功能祕正基板所照攝 的位置。 5、 如申請專利顧第1項所述之偏貼機影像檢查結構,其中掃畴份 中之光源裝置可為一正光光源裝置。 6、 如申請專利範圍f 1項所述之偏貼機影像檢查結構,其中掃目苗部份 中之光源裝置可為一背光光源裝置。 16 1277719 7、 如申請專利範圍第1項所述之偏貼機影像檢查結構,其中掃瞒部份 中之光源裝置可為一正、背光光源一體之裝置。 8、 如申請專利範圍第1項所述之偏貼機影像檢查結構,其中掃晦部份 -中之CCD攝影鏡頭可進行線掃瞄影像感測。 . 9、如申請專利範圍第丄項所述之偏貼機影像檢查結構,其中掃瞄部份 中之CCD攝影鏡頭可進行面掃瞄影像感測。 10、如申請專利範圍第1項所述之偏貼機影像檢查結構,其中掃瞄部 份中之CCD攝影鏡頭可進行線及面掃瞄影像感測同時進行。 Φ 11、如申請專利範圍第1項所述之偏貼機影像檢查結構,其中偏光板 檢測系統有一校正感測功能,其可將正、背光之顯影作一校正誤差 之功能。 1 2、-種偏貼機影像檢查方法,絲將偏貼過後的偏光板經由傳輸裝 置之輸送帶裝置,將偏貼過後的偏光板輸送至偏光板檢測裝置之偏 光板支撐平臺上,當輸送至偏光板檢測裝置之偏光板支撐平臺時會 有個止播裝置讓偏貼過後的偏光板停止於偏光板支撐平臺之該檢 麻置,鱗偏_後義綠胁偏歧支撐平臺之該檢測位置 _ 2通常轉些許的誤差,但透過止擔裝置上之定位攝影機的定位攝 〜後藉由偏光板檢n統之校正感測功能來修正偏貼過後的偏光 =所照攝的位置,將其該修正數值絲存至偏光板檢啦統裡,接 者再由面板支撐平臺旋轉移動,令掃瞎部份中之CCD攝影鏡頭進行 掃瞒影像感财式取得偏闕後的偏光板之光源顯顏,再將掃瞒 過後之光W湖送至偏光板檢_、統,再配合先前由偏光板檢測 系統中所產生的修正數值修正顯影圖中偏貼過後的偏光板位置,將 其與正叙光賴影w比對,由f腦分析損壞的_關定待測之 偏貼過後的偏光板是否有損壞處,再將檢測過後的偏光板由傳輸裝 置之輸送帶裝置送至指定地方。 17 1277719 13、 如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法 損壞的關鍵點有位移量檢查。 14、 如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法: ~ 損壞的關鍵點有磨邊量檢查。 ^ 15、如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法: 損壞的關鍵點有端子間之破損(含chipping)。 1 6、如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法, 損壞的關鍵點有端子部破損。 | 1 7、如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法, 損壞的關鍵點有非端子部破損。 18、 如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法, 損壞的關鍵點有角落破損。 19、 如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法, 損壞的關鍵點有毛邊。 20、 如申請專利範圍第5項所述之偏貼機影像檢查方法, 損壞的關鍵點有内凹。 參 其中電腦分析 其中電腦分析 其中電腦分析 其中電腦分析 其中電腦分析 其中電腦分析 其中電腦分析 其中電腦分析 18 1277719 七、指定代表圖·· (一) 本案指定代表圖為··第(四)圖。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明: 13掃瞄部份 131 CCD攝影機 132可移動支撐架 133 正光光源 134背光光源 八、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式:
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