TW548807B - Hermetically sealing enclosure for housing photo-semiconductor devices and photo-semiconductor module incorporating the enclosure - Google Patents
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- TW548807B TW548807B TW091114046A TW91114046A TW548807B TW 548807 B TW548807 B TW 548807B TW 091114046 A TW091114046 A TW 091114046A TW 91114046 A TW91114046 A TW 91114046A TW 548807 B TW548807 B TW 548807B
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title abstract 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 58
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 67
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 67
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 44
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 35
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 35
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 35
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 21
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims description 12
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 11
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N [Fe].[Co].[Ni] Chemical compound [Fe].[Co].[Ni] KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 5
- QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N [Co].[Ni] Chemical compound [Co].[Ni] QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 107
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 7
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 5
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 3
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001080 W alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N copper tungsten Chemical compound [Cu].[W] SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- WUUZKBJEUBFVMV-UHFFFAOYSA-N copper molybdenum Chemical compound [Cu].[Mo] WUUZKBJEUBFVMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical class O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/02002—Arrangements for conducting electric current to or from the device in operations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/10—Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0203—Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Description
548807 五、發明說明(Ο 發明背景 發明領域 本發明係有關一種用於收容光半導體元件之密封封閉物 及其他相關元件(其後統稱爲光半導體元件)。更特別的是 ,本發明係有關一種用於收容需要其電極端子具有至少兩 倍於習知元件之電流承載容量之電子元件(諸如光元件、配 備有半導體ic之光纖放大器及激態光源之類)的密封封閉 物。本發明進一步係有關一種配合此封閉物的光半導體模 組。 相關技術說昍 第6圖顯示的是一種用於收容光半導體元件之習知密封 封閉物的典型實例。該封閉物係包括:(a)金屬底板1,係 由銅-鎢合金製成的且在其頂面的中央部分含有一用於裝 設光半導體元件的區域;(b)側框構件2,由鐵-鎳-鈷族合金 製成的且係硬焊在該金屬底板1上使之包圍該用於裝設光 半導體元件的區域;(c)支持機制,係用於將光纖穩固地支 持於該側框構件2的前面框架上;(d)陶瓷端子構件3,係 結合於該側框構件2內且設置有其上連接有由鐵-鎳-鈷合 金製成之外部引線4的金屬佈線條;及⑷封裝環5,係硬 焊在由該陶瓷端子構件3之頂部表面以及該側框構件2之 頂部表面產生的平坦表面上以形成用以密封地封裝該封閉 物的金屬框架。 548807 五、4务明說明(2 ) 一種由光半導體模組構成的總成通常係使用上述封閉物 依下列程序完成的:(a)將諸如光半導體元件及熱電式冷卻 器之類電子元件裝設於用以將這些電子元件裝設於該金屬 底板上的區域內;(b)藉由接合電線將這些電子元件的電極 連接於其上連接有各外部引線的各金屬佈線條上;(c)藉由 釔銘石榴石(YAG)雷射束焊接法將光纖接合到落在該側框構 件之前面框架上的光纖固定環上;(d)將封裝蓋放在該封裝 環的頂部表面上以便氣密地封裝該封閉物。 該陶瓷端子構件係藉由對由陶瓷預成層構成的至少兩個 層壓層進行火燒而形成的。可藉由預先將各金屬佈線條印 刷於該陶瓷預成層的表面上而提供該封閉物在內外側之間 的電氣連續性。各金屬佈線條係由諸如鎢、鉬或錳之類高 熔點金屬製成的。 該封閉物必需具有以下兩種主要特性:(a)必須能夠有效 ’地使於光學信號與電氣信號之間相互轉換期間所產生的熱 能消散掉;(b)必須具有一種特殊結構使得其熱畸變不致造 成該光纖與光半導體元件之間光軸出現不對準的現象。吾 人熟知的是爲了使熱能有效地消散掉,係將一熱電式冷卻 器直接放在該光半導體元件底下,並將具有及高導熱性的 材料用在構成該封閉物的各構件上。 這種該封閉物以及配合此封閉物的光半導體模組已揭示 於例如已發表的日本專利申請案特公開平1 1 -1453 1 7號文 件中。此專利申請案中所揭示的封閉物係具有下列結構以 抑制熱畸變的產生:(a)該封閉物的主體使金屬底板與側 -4- 548807
五、 發明說明 ( 3 ) 框 構 件結合而 形 成的 5 在 側 框 構 件的 前面 框架上設 置 有用 於 穩 固地支 持 光 纖 之 機 制(b)切 除 該側 框 構 件的上邊 部 分以 設 置 用於陶 瓷 上山 子 構 件 的 空 間 層 ,而 該 陶 瓷端子構 件 係由 至 少 兩個陶 瓷 層 組 成的 且 係 設 置 有各 金 屬 佈線條;(C)將該 陶 瓷 端子構 件 放 置 於 該 空 間 層 內 ,使 得 其 上沿著縱 軸 方向 的 某 一端點 接 觸 到 該 刖 面 框 架 的 內部 表 面 ,並露出 其 相對 贿 點 以產生 一 與 該 後 面 框 架 的 外 部表 面 齊 平的表面 ;(d)將 —' 金 屬封裝 環 放 置 於 由 該 陶 瓷 端 子構 件 之 頂部表面 以 及該 側 框 構件之 頂 部 表 面 產 生 的平 坦 表面 上 〇 如 上所述 截 至 S 刖 用 於收 容 光半 導 體 元件之密 封 封閉 物 的 熱能消 散 率 皆係取決於 諸 如 組成 材料的選擇之 類 的設 計 槪 念。習 知 封 閉 物 的 陶 瓷 端 子 構件 皆 設 置有電阻 非 吊尚 的 金 屬佈線 條 〇 這 種 非常 筒 的 電 阻造 成的 問題並不 重 要’ 因 爲 流經該 電 阻 的 電 流 只 產 生 了 很小 量 額 的熱能。 不 過, 最 近 在的技 術 性 發 展 已 增 加 了 用 於光 纖 放 大器之雷 射 二極 體 (LD)以及 激. 態: 光: 源E 的輸出 。結果,用於冷卻LD的 冷 卻器 需 要 至少兩 倍 於 習 知 冷 卻 器 的 電 流。 在 習 知冷卻器 中 ,電 流 最 多是大 約 2 安培 且 產 生 了 可 忽略 量 額 的熱能。 不 過, 至 少 增加了 兩 倍的 電 流 會 產 生 不 可忽 略 旦 里 額的熱能 〇 更特 別 的 是,所 增 加 的 電 流 不 僅 增 加 了其 電 力 消耗且使 各 金屬 佈 線 條內的 溫 度 上升 增 加 到 不 可忽略 的 程 度。這種 溫 度上 升 會 轉而增 加 了 各 金 屬 佈 線 條 的 電阻 0 這 種電阻的 增 加會 產 生 諸如造 成 該 熱 電 式冷 卻 器 在 操作 性 控 制上的困 難 、各 佈 線 條之可 靠 度 減 低 以 及 肇 -5 因 於熱 能 轉 換而減少 了 LD 548807 五、名务明說明(4) 的光學輸出之類的各種問題。 吾人可藉由使用導電性高於鎢及其他高熔點金屬的金屬 而減小形成於由陶瓷材料構成之主體內各佈線條的電阻。 不過,這種方法會增加該陶瓷材料與各佈線條之間在熱膨 脹係數上的差異,造成在該陶瓷材料內產生破裂的問題。 吾人也可藉由增加各佈線條的厚度而減小各佈線條的電阻 。不過,這種方法會在對該陶瓷預成層進行火燒時於該陶 瓷材料內產生縫隙而排除了完全密封的封裝作用。吾人也 可藉由增加形成於該陶瓷材料表面上以及該陶瓷材料主體 內各佈線條的寬度而減小各佈線條的電阻。不過,吾人很 難充分增加其寬度,因爲會產生諸如各相鄰佈線條之間具 有很差的絕緣作用以及減少了佈線條數目之類的問題。 發明之槪要說明 爲了解決上述問題,本發明的目的是提供一種具有下列 特性之用於收容光半導體元件之密封封閉物:(a)減小了設 置於該陶瓷端子構件上各金屬佈線條的電阻;(b)減小了各 佈線條上所產生的熱能;(c)各佈線條允許比習知封閉物更 大的電流在其內流動而同時維持很低的電力消耗;(d )使該 封閉物內的元件輸出維持穩定。本發明的另一目的是提供 一種配合此封閉物的光半導體模組。 本發明的密封封閉物具有下列組件: (a) 底板,係含有一用於裝設光半導體元件的區域; (b) 側框構件,係接合在該底板上使得該側框構件會包圍 該用於裝設光半導體元件的區域; 548807 五、省务明說明(5) (c )陶瓷端子構件,係結合於該側框構件內使得該陶瓷端 構件之頂部表面以及該側框構件之頂部表面產生一平坦 袠面; (d )第一佈線層: (dl)係包括複數個佈線條;且 (d2)會穿透該陶瓷端子構件; (e) —第二佈線層(以下稱爲該第二佈線層): (el)係包括至少一佈線條; (e2)係連接於落在該陶瓷端子構件外側上之第一佈線 層上;且 (e3)會向上伸展; (f) 另一第二佈線層(以下稱爲另一第二佈線層): (fl)係包括至少一佈線條; (f2)係連接於落在該陶瓷端子構件內側上之第一佈線 層上;且 (卬會向上伸展; (g )至少一第三佈線層: (g1)係包括至少一佈線條; (g2)係連接於落在該第二佈線層及另一第二佈線層上 •,且 (§ 3)係經由與該第一佈線層絕緣的通道穿透該陶瓷端 子構件; (g4)係在使用一個以上之第三佈線層時與其他第三佈 線層呈絕緣的; 548807 五、發明說明(6) (h) 支持機制,係用於支持光纖且係設於該側框構件上; (i) 封裝環,係放置在由該陶瓷端子構件之頂部表面以及 該側框構件之頂部表面產生的平坦表面上; (j )封裝蓋’係放置在該封裝環的頂部表面上; (k)複數個外部引線,係在該封閉物的外側上連接於該第 一佈線層內的各佈線條上。 在本發明的某一實施例中,各外部引線中包含至少一個 厚度大於該第一佈線層與第三佈線層或最外層的第三佈線 層之間距離的外部引線(以下稱爲外部引線AA)。該外部引 線AA或是每一個外部引線AA皆係連接於該第一佈線層 的某一佈線條上。該佈線條則係連接於該第二佈線層的某 —佈線條上。該外部引線AA或是每一個外部引線AA皆 係連接於該第三或是每個佈線層上。 在本發明的另一實施例中,各外部引線中包含至少一個 具有L字-形狀的外部引線(以下稱爲外部引線BB)。該外 部引線B B或是每一個外部引線B B皆係連接於該第一'佈 線層的某一佈線條上,該佈線條則係連接於該第二佈線層 的某一佈線條上。該外部引線BB或是每一個外部引線 BB上,長度大於該第一佈線層與第三佈線層或最外層的 第三佈線層之間距離的彎折較短部分係連接於該·第三或是 每個佈線層上。 在本發明約又一實施例中,該封閉物係在其側面上設置 有至少一個具有L字-形狀的金屬部位。該金屬部位或是 每一個金屬部位上的彎折部分皆係連接於該第一佈線層的 548807 五、發明說明(7) 某一佈線條上,該佈線條則係連接於該第二佈線層的某一 佈線條上。該金屬部位或是每一個金屬部位上,長度大於 該第一佈線層與第三佈線層或最外層的第三佈線層之間距 離的剩餘筆直部分係連接於該第三或是每個佈線層上。 上述具有L字-形狀的各外部引線及金屬部位都是由無 氧銅、散佈有鋁的銅基材、或是將銅三夾於鐵-鎳-鈷合金 之間的包層材料製成的。 本發明的光半導體模組係包括上述用於收容光半導體元 件之密封封閉物。 圖式簡述 第1圖係用以顯示一種習知陶瓷端子構件的展開圖。 第2圖係用以顯示一種根據本發明某一實施例之已開發陶 瓷端子構件的示意圖。 第3圖係用以顯示一種根據本發明某一實施例之陶瓷端子 構件及各外部引線的透視圖。 第4圖係用以顯示一種根據本發明另一實施例之陶瓷端子 構件及各外部引線的透視圖。 第5圖係用以顯示一種根據本發明某一實施例中陶瓷端子 構件之外觀及內側模樣的透視圖。 第6圖係用以顯示一種習知用於收容光半導體元件之密封 封閉物的單一圖示。 較佳竇施例的詳細說明 第1圖顯示的是一種習知密封封閉物上的佈線條圖案及 陶瓷端子構件結構。如第1圖所不’係將複數個佈線條3 d 548807 五、發明說明(8 ) 設置於第一陶瓷層3 b上。各佈線條3 d提供了該封閉物在 內外側之間的電氣連續性。 弟2圖顯不的是一種根據本發明一實施例之陶瓷端子構 件的結構。如同習知封閉物一般,係將各佈線條3 d(第一 佈線層)設置於第一陶瓷層上。將各佈線條3d(第一佈線層) 連接於設置在第二陶瓷層外面上的各佈線條3 e(第二佈線 層)上。各佈線條3e(第二佈線層)則轉而連接於設置在第 二陶瓷層頂面上的各佈線條3 f(該第三佈線層)上。然後, 將各佈線條3 f (該第三佈線層)連接於設置在第二陶瓷層內 面上的其他佈線條3 e (另一第二佈線層)上。其他佈線條 3 e (另一第二佈線層)則轉而連接於各佈線條3 d(第一佈線 層)上。在第2圖中,該兩個第二佈線層及第三佈線層內 的佈線條數目會與該第一佈線層內的佈線條數目重合。不 過,該兩個第二佈線層及第三佈線層並不需要數目與該第 一佈線層內的佈線條數目相同的佈線條。它們必需取決於 該封閉物內所收容元件之電流等級在個別層內具有至少一 個佈線條。 雖則第2圖中顯不了 §亥%二佈線層包括了單一佈線層, 然而該第三佈線層也可能包括複數個藉由陶瓷層而相互絕 緣的佈線層。這種結構提供了至少一個第三佈線層係依平 行方式透過兩個第二佈線層連接於該第一佈線層上。換句 話說,係藉由複數個呈並聯連接的佈線電路而提供了該封 閉物在內外側之間的電氣連續性。結果,可使其總佈線電 阻從藉由習知方法得到的數値減少下來。(如上所述,該習 -10- 548807 五、号务明說明(9) 知方法只藉由該第一陶瓷層上所設置的單·一佈線電路而提 供其電氣連續性。)該已減少的佈線電阻可抑制由上述已 增加電流所產生熱能的量額。 當電流增加時,甚至該兩個第二佈線層的電阻也會造成 問題。爲了減小該封閉物外面上所設置之第二佈線層的電 阻,必要的是使各外部引線4具有特定厚度以便使各外部 引線4能夠抵達該第三佈線層(如第3圖所示)並允許將各 外部引線4連接該第三佈線層上。當該第三佈線層包括了 複數個佈線層時,必需令各外部引線4具有的厚度允許各 引線能夠抵達將要連接於每個第二佈線層的最外層該第三 佈線層。在第3圖中,穿透該陶瓷端子構件的所有佈線電 路都具有落在該第三佈線層內的各佈線條,且據此所有外 部引線4都具有已增加的厚度。不過,如上所述具有落在 該第三佈線層內各佈線條之佈線電路的數目會在各封閉物 中改變。因此,具有已增加厚度之外部引線4的數目會與 落在該第三佈線層內的佈線電路數目重合。 如第4圖所示,可能具有L字-形狀的各外部引線4會使 每一個外部引線的彎折較短部分抵達將要連接於每個第三 佈線層的最外層該第三佈線層。如第3圖所示,第4圖中 所有佈線電路都具有落在該第三佈線層內的各佈線條,且 所有外部引線4都具有L字-形狀。不過,如同以上的解釋 具有L字-形狀之外部引線的數目會與落在該第三佈線層內 的佈線電路數目重合。 爲了減小該封閉物內面上所設置之另一第二佈線層的電 -11- 548807 五、發明說明(10) 阻,必要的是使該封閉物內面設置有呈L字-形狀的各金 屬^^位6,如第5圖所示。此例中,係將每一個金屬部位 的彎折部分連接於第一佈線層上,並使每一個金屬部位上 剩餘筆直部分具有的長度會使之能夠抵達將要連接於每個 第三佈線層的最外層該第三佈線層。在第5圖中,所有佈 線電路都具有落在該第三佈線層內的各佈線條以及具有L 字-形狀的各金屬部位6。不過,如同以上的解釋具有L字 -形狀之金屬部位6的數目會與落在該第三佈線層內的佈線 電路數目重合。 本發明的密封封閉物係由具有高導熱性材料製成之構件 組成的,且它們之間在熱膨脹係數上有微小的差異。吾人 將根據本發明一實施例解釋如下作爲實例。 含有一用於裝設光半導體元件之區域的底板係藉由使用 例如銅-鎢合金或是銅-鉬合金而製成的。用以包圍上述區 域的側框構件係藉由使用例如鐵-鎳-鈷族合金而製成的。 該陶瓷端子構件係藉由使用諸如氮化鋁或是氧化錦之類 陶瓷材料而製成的。每一個佈線層內的各佈線條都是藉由 印刷糊狀物而設置於一陶瓷薄片上的,該糊狀物係藉由使 有機溶劑與諸如鎢、鉬或錳之類高熔點金屬粉末混合而得 到的。該印刷作業係藉由吾人熟知的網印法施行的。吾人 也能夠藉由下列程序設置落在該第二佈線層內的各佈線條 :(a)將各特定穿孔設置於一陶瓷薄片上;(b)將上述含有高熔 點金屬的糊狀物塡充到各穿孔內;(〇切開陶瓷薄片使得各 穿孔在其中心上被分開。如是,製備了所需要的各陶瓷層 -12- 548807 五、發明說明(11 ) 。隨後’將各陶瓷層層壓在一起並使之接受加壓作用以形 成聯合體。對設置有由高熔點金屬製成之佈線條的聯合體 進行火燒及燒結以完成該陶瓷端子構件的製作。 將由鐵-鎳-銘合金製成的封裝環5放在由該陶瓷端子構 件3之頂部表面以及具有前面框架之側框構件2之頂部表 面產生的平坦表面上(參見第6圖)。設置將要放在該封裝 環5上的封裝蓋。將具有L字-形狀之金屬部位6設置於該 陶瓷端子構件的內側上。設置已增加厚度或是具有L字-形狀的各外部引線4。藉由銀-硬焊法對除了該封裝蓋之外 的這類組成構件進行組合以完成用於收容光半導體元件之 密封封閉物的製造。必要的是呈L字-形狀的各金屬部位及 外部引線都是由無氧銅、散佈有鋁的銅基材、或是將銅三 夾於鐵-鎳-銘合金之間的包層材料製成的。 一種光半導體模組係藉由下列步驟完成的:(a)將至少一 個光半導體元件收容於藉由上述方法製成的密封封閉物內 ;(b)令光纖與該元件耦合;(c)將該封裝蓋放在該封裝環 上以便氣密地封裝該封閉物。 藉由上述方法製造出具有不同結構的各種密封封閉物。 在該封閉物的內外側之間對該陶瓷端子構件上所設置各佈 線條的電阻進行量測。具有如第1圖所示之習知結構之佈 線條的電阻爲1 0.7毫歐姆。該佈線條係藉由使用鎢糊而形 成的。在進行火燒之後,該佈線條具有1 .5毫米的寬度以 及1 0微米的厚度。 本發明的某一實施例形成了 一種具有由兩個第二佈線層 -13- 548807 五、發明說明(12) 及一個第三佈線層組成之並聯電路的佈線電路,如第2圖 所示。該佈線電路的電阻爲6 · 8毫歐姆。該佈線條係藉由 使用鎢糊而形成的。該佈線條具有1 · 5毫米的寬度以及10 微米的厚度。其上形成有第二佈線層的第二陶瓷層的厚度 爲0.5耄米。 在另一實施例(實例2)中,如第3圖所示使用的是一種 具有實例1中所製備一第三佈線層的樣品,係藉由銀-硬 焊法製造出一種由無氧銅製成的外部引線4。該外部引線 具有1.5毫米的寬度以及1毫米的厚度。此例中,係將其 電阻減爲5.3毫歐姆。 在另一實施例(實例3)中,如第4圖所示以0.5毫米的間 隔設置了三個佈線層,並連接以一由無氧銅製成的L-形外 部引線4,其他條件則維持是與實例1相同的。該外部引 線具有1 .5毫米的寬度以及3 00微米的厚度。此例中,係 將其電阻減爲3.2毫歐姆,這大約是由習知結構所得到電 阻的三分之一*。 在又一實施例(實例4)中,如第5圖所示係將一由無氧 銅製成的L-形金屬部位6連接於實例3中所製備封閉物 內側。該金屬部位具有1 .5毫米的寬度以及3 00微米的厚 度。此例中,係將其電阻減爲2.1毫歐姆,這大約是由習 知結構所得到電阻的五分之一。 在實例1到4中,該第三佈線層的組成是一單一層或三 層結構。不過,該第三佈線層的數目可藉由目標電阻及組 合人力-工時而定出。 -14- 548807 五、發明說明(13) 各L-形外部引線及金屬部位係在執行彎折作用之前藉 由半蝕刻法對彎折地點上設置各蝕刻線段加以製備。如上 所述,各外部引線皆係由無氧銅製成的。不過,在使一由 無氧銅製成的外部引線銀-硬焊到一佈線條之上時,該外部 引線會取決於其條件而肇因於銅內所成長的結晶顆粒而遭 受強度減低的破壞。若無法忽視這種可能性,必要的是使 用散佈有鋁的銅基材、或是將銅三夾於鐵-鎳-鈷合金之間 的包層材料以取代無氧銅。考量這種可能性,製備配合由 這類替代材料製成之外部引線的各樣品以量測其電阻。其 量測結果証明了這類替代材料會呈報與無氧銅例子裡相當 的電阻。例如,當藉由使用散佈有鋁的銅基材製備出類似 實例2的樣品時,所得到的電阻爲5.4毫歐姆,這幾乎等 於實例2中所得到的5 · 3毫歐姆。 —種光半導體模組係藉由下列步驟完成的:(a)將至少一 個光半導體元件收容於藉由上述方法製成的密封封閉物內 ;(b)令光纖與該元件耦合;(c)將該封裝蓋放在該封裝環 上以便氣密地封裝該封閉物。 符號說明 1 2 3 3b 3 d,3e,3f 4 5 6 金屬底板 側框構件 陶瓷端子構件 第一陶瓷層 佈線條 外部引線 封裝環 金屬部位
Claims (1)
- 548807 七、申請專利範圍 1 . 一種用於收容光半導體元件之密封封閉物’係包括: (a) —底板,含有一用於裝設光半導體兀件的區域, (b) —側f匡構件,接合在該底板上使得該側框構件會包 圍該用於裝設光半導體元件的區域; (c) 一陶瓷端子構件,結合於該側框構件內使得該陶瓷 端子構件之頂部表面以及該側框構件之頂部表面產生一平 坦表面; (d) —第一佈線層: (dl) —包括複數個佈線條;且 (d2)穿透該陶瓷端子構件; (e) —第二佈線層(以下稱爲該第二佈線層): (el)包括至少一佈線條; (e2)連接於落在該陶瓷端子構件外側上之第一佈線 層上;且 (e3)會向上伸展; ⑴另一第二佈線層(以下稱爲另一第二佈線層): (f 1)包括至少一佈線條; (f2)連接於落在該陶瓷端子構件內側上之第一佈線 層上;且 (f3)會向上伸展; (g)至少一第三佈線層: (gi)包括至少一佈線條; (g2)連接於落在該第二佈線層及另一第二佈線層上;且 -16- 548807 ~、申請專利範圍 (g 3)經由與該第一佈線層絕緣的通道穿透該陶 瓷端子構件; (g 4)在使用一個以上之第三佈線層時與其他第 三佈線層呈絕緣的; (h) —支持機制,用於支持光纖且係設於該側框構件上; ⑴一封裝環,放置在由該陶瓷端子構件之頂部表面以 及該側框構件之頂部表面產生的平坦表面上; ⑴一封裝蓋,放置在該封裝環的頂部表面上; (k) 一複數個外部引線,在該封閉物的外側上連接於 第一佈線層內的各佈線條上。 2 ·如申請專利範圍第1項之密封封閉物,其中·· (a) 各外部引線中包含至少一個厚度大於該第一佈線層 與第三佈線層或最外層的第三佈線層之間距離的外部引線 (以下稱爲外部引線AA); (b) 該外部引線AA或是每一個外部引線AA皆係連接於 該第一佈線層的某一佈線條上,該佈線條則係連接於該第 二佈線層的某一佈線條上;且 (c) 該外部引線AA或是每一個外部引線AA皆係連接於 該第三或是每個佈線層上。 3 ·如申請專利範圍第1項之密封封閉物,其中: (a) 各外部引線中包含至少一個具有L字,狀的外部引 線(以下稱爲外部引線BB); (b) 該外部引線BB或是每一個外部引線bb皆係連接於 -17- 548807 六、中請專利範圍 該第一佈線層的某一佈線條上,該佈線條則連接於該第二 佈線層的某一佈線條上;且 (C)該外部引線BB或是每一個外部引線BB上,長度大 於該第一佈線層與第三佈線層或最外層的第三佈線層之間 £巨離的彎折較短部分係連接於該第三或是每個佈線層上。 4 ·如申請專利範圍第1項之密封封閉物,其中·’ (a)該封閉物在其內側上設置有至少一個具有L字-形狀 的金屬部位; (b) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的彎折部分皆連接 於該第一佈線層的某一佈線條上,該佈線條則係連接於該 第二佈線層的某一佈線條上; (c) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的剩餘筆直部分,具 有大於該第一佈線層與第三佈線層或最外層的第三佈線層 之間距離的長度;且 (d) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的剩餘筆直部分係 連接於該第三或是每個佈線層上。 5 ·如申請專利範圍第2項之密封封閉物,其中: (a) 該封閉物進一步在其內側上設置有至少一個具有L字-形狀的金屬部位; (b) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的彎折部分皆係連 接於該第一佈線層的某一佈線條上,該佈線條則係連接於 該第二佈線層的某一佈線條上; (c) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的剩餘筆直部分’ -18- 548807 六、中請專利範圍 具有大於該第一佈線層與第三佈線層或最外層的第三佈線 層之間距離的長度;且 (d)該金屬部位或是每一個金屬部位上的剩餘筆直部分係 連接於該第三或是每個佈線層上。 6 ·如申請專利範圍第3項之密封封閉物,其中: (a) 該封閉物進一步在其內側上設置有至少一個具有[字_ 形狀的金屬部位; (b) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的彎折部分皆連接 於該第一佈線層的某一佈線條上,該佈線條則連接於該第 二佈線層的某一佈線條上; (c) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的剩餘筆直部分, 具有大於該第一佈線層與第三佈線層或最外層的第三佈線 層之間距離的長度;且 (d) 該金屬部位或是每一個金屬部位上的剩餘筆直部分係 連接於該第三或是每個佈線層上。 7 .如申請專利範圍第1項之密封封閉物,其中各外部引線 都是由選自由無氧銅、散佈有鋁的銅基材、或是將銅三夾 於鐵-鎳·鈷合金之間的包層材料組成族群的一種材料製成 的。 8 .如申請專利範圍第2項之密封封閉物,其中各外部引線 都是由選自由無氧銅、散佈有鋁的銅基材、或是將銅三夾 於鐵_鎳-鈷合金之間的包層材料組成族群的一種材料製成 的。 -19- 548807 六、申請專利範圍 9 ·如申請專利範圍第3項之密封封閉物,其中各外部引 線都是由選自由無氧銅、散佈有鋁的銅基材、或是將銅 三夾於鐵-鎳-鈷合金之間的包層材料組成族群的一種材 料製成的。 1 0 .如申請專利範圍第4項之密封封閉物,其中該金屬 部位或是每一個金屬部位都是由選自由無氧銅、散佈有 鋁的銅基材、或是將銅三夾於鐵-鎳-鈷合金之間的包層 材料組成族群的一種材料製成的。 1 1 .如申請專利範圍第5項之密封封閉物,其中該金屬 部位或是每一個金屬部位都是由選自由無氧銅、散佈有 鋁的銅基材、或是將銅三夾於鐵-鎳-鈷台金之間的包層 材料組成族群的一種材料製成的。 i 2 .如申請專利範圍第6項之密封封閉物,其中該金屬 部位或是每一個金屬部位都是由選自由無氧銅、散佈有 銘的銅基材、或是將銅三夾於鐵-鎳-鈷合金之間的包層 材料組成族群的一種材料製成的。 1 3 · —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第1項所定義之密封封閉物。 1 4 ·一種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第2項所定義之密封封閉物。 1 5 . —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第3項所定義之密封封閉物。 1 6 · —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第4項所定義之密封封閉物。 -20- 548807 六、申請專利範圍 1 7 . —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第5項之密封封閉物。 1 8 . —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第6項所定義之密封封閉物。 1 9 · 一種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第7項所定義之密封封閉物。 2 〇 · —種光半導體模,其特徵在於包括有如申請專利範 圍第8項所定義之密封封閉物。 2 1 · —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第9項所定義之密封封閉物。 2 2 · —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第1 〇項所定義之密封封閉物。 2 3 · —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第1 1項所定義之密封封閉物。 2 4 . —種光半導體模組,其特徵在於包括有如申請專利 範圍第1 2項所定義之密封封閉物。 -21 -
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001194457A JP2003007882A (ja) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 光半導体気密封止容器及びそれを用いた光半導体モジュール |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW548807B true TW548807B (en) | 2003-08-21 |
Family
ID=19032593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW091114046A TW548807B (en) | 2001-06-27 | 2002-06-26 | Hermetically sealing enclosure for housing photo-semiconductor devices and photo-semiconductor module incorporating the enclosure |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6600223B2 (zh) |
EP (1) | EP1278242A3 (zh) |
JP (1) | JP2003007882A (zh) |
KR (1) | KR20030004030A (zh) |
CN (1) | CN1393928A (zh) |
CA (1) | CA2388890A1 (zh) |
HK (1) | HK1049735A1 (zh) |
TW (1) | TW548807B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4514595B2 (ja) * | 2004-09-28 | 2010-07-28 | 京セラ株式会社 | 入出力端子ならびにこれを用いた電子部品収納用パッケージおよび電子装置 |
JP2012049288A (ja) * | 2010-08-26 | 2012-03-08 | Kyocera Corp | 素子収納用パッケージ、およびこれを備えた電子装置 |
CN104553134B (zh) * | 2014-12-31 | 2017-05-10 | 北京北冶功能材料有限公司 | 一种硬玻璃封装用三层复合材料及其制备方法 |
CN114566337B (zh) * | 2022-01-23 | 2024-04-16 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 一种热测试芯片 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS574147A (en) * | 1980-06-10 | 1982-01-09 | Nec Corp | Semiconductor device and its manufacturing process |
JPS57141946A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-02 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
JPS6365649A (ja) * | 1986-09-05 | 1988-03-24 | Nec Corp | 半導体用パツケ−ジ |
JPH088321B2 (ja) * | 1987-01-19 | 1996-01-29 | 住友電気工業株式会社 | 集積回路パツケ−ジ |
JPH09237854A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Toshiba Corp | 半導体用パッケージ |
JP2848359B2 (ja) | 1996-09-24 | 1999-01-20 | 住友電気工業株式会社 | セラミック端子板及び半導体気密封止容器並びに複合半導体デバイス |
JP3013812B2 (ja) | 1997-07-15 | 2000-02-28 | 住友電気工業株式会社 | 半導体容器及び半導体モジュール |
EP0899795A3 (en) | 1997-08-27 | 1999-05-12 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical-semiconductor container or module |
JPH11145317A (ja) | 1997-11-07 | 1999-05-28 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光半導体素子用パッケージ及び光半導体モジュール |
US6440778B1 (en) * | 2000-01-07 | 2002-08-27 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Optical semiconductor element package and manufacturing method thereof |
JP3436243B2 (ja) * | 2000-09-04 | 2003-08-11 | 住友電気工業株式会社 | 光半導体気密封止容器及びそれを用いた光半導体モジュール |
-
2001
- 2001-06-27 JP JP2001194457A patent/JP2003007882A/ja active Pending
-
2002
- 2002-06-04 CA CA002388890A patent/CA2388890A1/en not_active Abandoned
- 2002-06-20 CN CN02122686A patent/CN1393928A/zh active Pending
- 2002-06-25 KR KR1020020035684A patent/KR20030004030A/ko not_active Application Discontinuation
- 2002-06-25 US US10/178,520 patent/US6600223B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-06-26 EP EP02254474A patent/EP1278242A3/en not_active Withdrawn
- 2002-06-26 TW TW091114046A patent/TW548807B/zh not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-03-08 HK HK03101701.5A patent/HK1049735A1/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1278242A3 (en) | 2004-03-17 |
EP1278242A2 (en) | 2003-01-22 |
US6600223B2 (en) | 2003-07-29 |
JP2003007882A (ja) | 2003-01-10 |
HK1049735A1 (zh) | 2003-05-23 |
CN1393928A (zh) | 2003-01-29 |
KR20030004030A (ko) | 2003-01-14 |
US20030001259A1 (en) | 2003-01-02 |
CA2388890A1 (en) | 2002-12-27 |
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