442 78 8 A7 B7 五、發明說明（） 本發明係關於一種積體記憶體，其具有可寫入之記億 胞0 (請先間讀背面之江意事項再填窝本頁) 鐵電質記憶體（例如，FRAMs或FeRAMs)是可寫入之 具有記憶胞之積體記憶體，記憶胞至少具有一鐵電質電 容器以作為記億元件◊此種電容器具有一種鐵電質材料 Μ作為介電質。此種材料可Μ各種不同之方式而被極化 ，適相當於可儲存各種不同之資訊。當記憶體被電源電 壓隔離時，則此種鐵電質材科仍保持其極性。因此* FRAMs是一種可寫入之永久性記憶體。當然在此種娥電 質記憶胞中亦會出現老化問題，其會使新的資訊不容易 被儲存。因此，記憶胞例如試圖保持一種已程式化之狀 態（所謂"Impr· int (壓印）”）。 US5270967涉及一種藉由锇電質電容器之更新（refresh) 而使鐵電質記憶胞之老化作用去除。此種更新是Μ下述 方式進行：在記憶電容器上施加電懕，此種電壓須較一 般操時所產生者堪大。在更新期間此種較大之電壓是Μ 交替變化之極性_加至記憶電容器◊ Μ此種方式可使上 述之壓印（Imprint)現象減弱。此種記憶胞之更新因此 是在對記憶胞進行一些固定次數之寫入過程之後進行。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在US5270967A中，在記憶胞更新之前其内容須暫時儲 存在讀出放大器中.讀出放大器然後藉由開闞而與記憶 胞相隔離。於是一種特殊之電路翬元產生此種更新時所 需之交替變換之電壓。在更新過程结束之後此種開關關 閉且上述暫時儲存在謓出放大器中之資訊可再寫入記憶 -3- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 44278 8 A7 _B7_ 五、發明說明（2) 胞中Μ形成先前之狀態。 上述方式所具有之缺點是：由於另外設置一種電路單 元（其可產生此種更新過程所需之較高之電壓），則面 積需求會較大。 本發明之目的是提供一種上述形式之積體記憶體，其 中記憶胞之更新是Μ較低之硬體費用來建成。 此種目的是Μ申請專利範圍第1項之積體記憶體Μ及 第8項之去除記憶胞之老化現象所用之方法來建成。本 發明有利之其它形式敘述在申謫專利範圍各附觴項中。 此種積體記憶體具有第一差動式讀出放大器（其具有 一些接點），這痤接點是與資料線對（pair·)相連接，第 一讀出放大器在謫出過程時由記憶胞中經由資料線對而 謓出資訊，Μ便随後可使這些資訊放大，且讀出放大器 在寫入過程時經由資料線對而將資訊寫人記憶胞中，其 中相瞄之資訊Μ差動信號之形式經由資料線對來傳送且 在每寫入時暫時儲存在第一謓出放大器中。此外，此積 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 元依切時講中來資 單是來入一 胞用種 換元點寫第憶只此 切單接在被記不將 此換各態會之此且 由切之狀不闞因訊 經種器換先枏器資 對此大切首入大之 線，放之訊寫放中 料接出元資式出胞 資連謓單之方謓憶 ，相此換入相一記, 元點於切寫反第在-4 單接對。將以，存 換之相線即後中儲 切器態導使然體前 個大狀條-且億新 1 放換各次相記更 有出切之一 反之種 具謫之對變所明此 體一 身線改器發存 憶第本料會大本儲 記與其資少放在時 體而據換至出 暫 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 44278 8 A7 _ B7_—_ 五、發明說明（3 ) 訊在更新结束之後寫回至記憧胞中，魷像US5270967A中 所示之情況一樣。此外，第一讚出放大器在更新時是用 來傅送交變之霣壓（其對應於不同之邏輯吠想）至記憶 胞，因此逭裡不需其它之霄路單元。稹《記慊體中之差 動式謓出放大器習知方式是用來使此種與其相連接之資 料媒對中之霣位互補，即，在寫入或讓出時烺對中之一 條専線具有离位準（其例如是*輯”1”），另一條導線 則具有低位準，其例如是邏輯”0"。在寫入遇程時由於 本發明中賁料嬢對（pair*)之導嬢配置相對於第一讀出放 大器之接酤而言是交替地變換，則此二條導線之每一條 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -----------1 --------訂---------竣Y <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 變記 偁後 次胞長憶寫元模慢 改至。是之 每憧變記在單作較 間加I數束 之記間此態換操則 之施 次结 胞行時式吠切一程 準壓)1換程。憶進之形換中第過 位ant切通中記動需它切其在入 低之Γ1之入胞之自所其之，。寫 和變npli寫憶«會程之元式次中 準交(I狀在紀憧時過明軍棋一式 位使印換後在記程入發換作變棋 高可颸切然存在遇寫本切搡改作 在器之之。» 可入使據中二少操 地大胞元的而如寫會依其第至二 鑛放憶單利態例次然.....中第 持出記換有狀用毎當是式的程而 畲讓小切是轘作在樣況棋變« , 此則減此況邏換。埴情作改入快 因，可中情之切行。之搡會寫較 位式扰程種來之進用利一不在程 m方樣過此原元中作有第是態邊 之種埴入則其單程化，：中狀入 中此。寫，以換通老此有程換寫 線 K 胞若時訊切入去因具通切中 導。憧 數寳 寫之。體入之式 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 44278 8 A7 B7 五、發明說明（4) 在此種寫入過程（其中切換單元之切換狀餱會改變） 中，其可能是一種一般之寫入過程，此時外部之資料傳 送至記憶體且儲存在記憶胞中；其亦可能是一種特殊之 寫入過程，其中須首先讀出此種儲存在即將更新之記憶 胞中之資訊，暫時儲存在第一讀出放大器中，然後以交 變之罱位使資訊寫回至記憶胞中數次（several times) 。為了在更新之後在記憶胞中具有原來之資訊（就像更 新前一樣），則在記憶胞謓出之後切換狀態改變之次數 必須也是偶数的。 在本發明之實施形式中，第一謓出放大器是一種主 (main)讀出放大器且資料線對是記憶體之位元線對（Pair·) ，主讀出放大器是與位元線對直接相連接。在此種實施 形式中每一個位元線對都需一個切換單元。 依據本發明之其它實施形式，第一謓出放大器是一種 副謓出放大器且此記憶體具有至少二個第二讀出放大器 ,它們是主謓出放大器且一方面分別經由至少一對位元 線而與記憶胞相建接且另一方面經由資料線對而與第一 講出放大器相連接。在可寫入之稹體記憶體（例如， DRAMs或FRA Ms)中多個主謓出放大器通常經由實料線對 而分別與副謓出放大器相連，副讀出放大器對這些由記 憶胞所讀出之信號而言是作為另一放大器用。在此種實 施形式中每一與副謓出放大器相連接之資料線對只需一 個電路單元，使電路單元之數目較先前所述之實施形式 者堪少。 一 6 _ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) i,w--------訂----- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 4278 8 A7 B7 五、發明說明（ 憶少 記至 質有 電具 餓別 使分 來胞 用憶 >記 門些 專瑄 是 ， 不除 但去 ί象 合琨 適化 是老 佳之 較胞 明憶 發記 本之 禮 經一 上第 胞較 憶若 記中 各式 在模 中.作 程操 過二 入第 寫在 在降 ，應 器電 容之 電上 憶器 記容 質電 電憶 鐵記 個其 一 由 器線Κ 容元中 電位式 憶與橫 記個作 。一 操 的成二 利達第 有式在 是方器 況述 倩下 etas 此可 則如 例 大壓 堪電 者之 中大 式較 模種連 作此相 操上對 大 放 出 讀二 第 或 一 第 之 接 出對 謓線 是元 於位 。在 電會 供時 來程 壓過 電入 源寫 電行 之進 高中 堪式 者模 中作 式操 模二 作第 操在 一 器 第大 較放 記記 人其 寫至 料加 資施 將會 在位 是電 於之 〇 高 號堪 信中 動式 差模 之作 高操 較一 壓第 電較 _| UUHl 1 1 出時 發胞 上憶 放生 出產 謓上 於器 由容 會電 此憶 因記 。 之 極胞 電憶 之記 接在 連而 相壓 線電 元源 位電 與之 之大 器較 容之 電器 憶大 壓之 電線 源元 電位 之離 器逭 大之 放器 出容 誧電 使憶 了記 除之 或胞 式憶 方記 一 使 另可 。亦 壓 ， 電外 之之 大高 較提 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
例 施 實二 第列 之陣。 _ @ @ 80 憶憶憶 記記記 之之之 明體體 發憶憶 本記記 7 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 442788 A7 B7 五、發明說明（6) (請先閲績背面之注意事項再填寫本頁) 第1圖是本發明積體記憶髖之第一實施例，其中只顚 示一些了解本發明時所需之組件。此處所考盧之實施例 是有關一種餓電質記憶體，其具有一些如第3圖所示之 Μ矩陣形式配置之位元線BL及字元線WL，其交叉點處則 配置記憶胞MC。 此種嫌爾霣記憶胞MC之每一個之構造均如第4圖所示 。其是一種單一電晶體/單一電容器形式之記憶胞，此 記憶胞可藉由字元線WL而謫出，實訊可經由位元線虬中 之一而寫入記憶胞中•或可將所儲存之資訊由記憧胞經 由位元線BL而謫出。位元線BL經由記憶胞電晶臞Τ之主 電流路徑而與鐮電質記憧電容器c之第一電搔相連接。 電容器C之第二電棰是與平板窜位v相連接。記憶胞電 晶臁之阚極是與字元線WL中之一相連接°依據記憶胞MC 之型式，平板電位VP固定地處於—種平均值（其是介於 二個電源鼋屋之間，例如Vcc /2)處或是此平板電位Vp 在記憶胞MC每次寫入或謓出時畲出規脈波式之變化。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
依據第1圖，資訊以差動信號之方式經由位元線對 BLL"BLL;BLR,/BLR而傅送至記憶胞或由記慷胞（例如 ，DRAMs及FRAMs)中傅送而出。每二傾位元線對（Pair) 配靥於一個差動式主讀出放大器SA,其在謓出過程中是 用來放大該差動信號•而此差動信號是形成在一對位元 媒上。主讀出放大器SA將此種已放大之差動信號發送至 資料線對DL,/DL。在寫入過程時即將寫入之資訊在相反 方向中由資料線DL,/DL,謫出放大器SA从及位元線對BLL -8- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 44278 8 A7 B7 五、發明說明（） ,/BLL中之一傳送至相對懕之記憶胞。 在對一傾記億胞MC進行請寫通程時，則須藉由一種施 加至記億體之相葑應之位址來對此記博胞所属之字元線 WL和位元線BL進行定址。在鱭出之前位元線BLU/BLL之 二條導線預充電至相闻之電位。在謫出過程時記憶胞之 實訊謓出至非反相之位元線BLL ,而反相之位元線/ BLL Μ具有定值之電位·主讀出放大器SA將上述非反相之位 元線BLL上之笛位來與位元線/Β1Α上之電位相比較。若 在記憶胞MC謓出之後非反相之位元媒BLL上之電位败目 反相位元線/BLL上者堪大，則此差動式主讀出放大器SA 使此種電位差放大且在非反相之位元線BLL上產生一種 高的位準（Vcc )。反之，若在記憶胞MC調出之後非反相 之位元線BLL上之電位小於反相之位元線/BLL上之爾位 ,則主謓出放大器使非反相之位元線BLL上之信號放大 成一種低位準（接地 > 。主讀出放大器SA在反相之位元 媒/BLL上齑生此種與非反相之位元線BLL之電位反相之 缠輯狀態。上述之原理已為DRAMs及FR AMs之專家所熟知 ，因此在這裡不再詳述。 圖中之主請出放大器SA具有二個接點，其一方面 是對應於左进之位元線對BLL,/BLL且另一方面是對應於 右邊之位元線對BLR,/BLR,此二個位元線對躕於不同之 晶胞陣列（共用之感測放大器槪念）。主饋出放大器之 第一接點經由第一電晶體T1而此鏑出放大器之第二接點 朗經由第二電晶熥T2而與左方之非反相之位元線BLL相 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） <請先閲讀背面之注項再填窝本頁) 襄 -------訂！ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
44278 8 A7 _______^Β7 五、’發明說明（8 ) 連接。此外，第二接贴經由第三且第一接點經由 第四電晶體T4而與左方之反相之位元線/BLL相建接。又 ，第一接點經由第五電晶體T5且第二接點經由第六電晶 艘T6而與右方之非反相之位元線BLR相連接。第二接點 絰由第七電晶體口且第一接點經由第八電晶體T8而與右 方之反相之位元線/BLI{相建接。在本實施例中此主謓出 放大器SA對應於二個記憶胞陣列，即，左右各一個。藉 由對8僩電晶體進行適當之控制，則讓出放大器之各接 酤分別與左方之位元線對BLL,/BLL (其位於左方之記憶 胞陣列中）相連接，或分別與右方之位元線對BLR，/BLR (其位於右方之記憶胞陣列中）相連接。 第1圖中之8個電晶體是η -通道型的。第一電晶體T1 和第三電晶體T3之閘極是與第一控制線（L1)相連接°第 二電晶體T2和第四電晶體T4之閘極是與第二控制線L2相 連接。第六電晶體T7和第八爾晶體T8之閘極是與第三：控 制線R1相連接。第五電晶體T5和第t電晶體T7之閘極是 與第四控制線R2相連接。 第一至第四電晶體（Τ1至Τ4)形成第一切換單元SW而其 餘之4個電晶體Τ5至Τ8形成第一切換軍元SW。切換單元 SW之電晶體是用來切換各別位元線對BLU/BLL至主謓出 放大器SA之各接點所爾各導線之配置方式。對應於各別 切換單元SW之控制線LI, L2或！il, R2因此具有三種不同 之狀態。其中一種是低電位存在於此二條控制線LI, L2 中，使所有相關之切換T1至T4都截止（off)。此外•第 -10 — 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格<210 X 297公釐〉 (請先閲讀背面之汰意事項再填寫本頁) --------訂---------. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 i、發明說明（） —或第二控制線可具有一種髙位準° 若此二條控制線LI, L2具有一種低位準，則此主謓出 放大器SA會與此位元嬅鲟BLU/BLL相隔離。於是此SA例 如可將資料傳.送至右方之位元線對BLR，/BLR或自此對位 元線BLR,/BLR中使資料傅送進來，若第三（R1)或第四（R2) 控制線受到通當之控制時° 在記憶體於第一操作橫式中操作時，在寫入或讀出時 在一與左方之位元線對BLU/BLL相逋接之記憶胞上之第 一控制線L1之電位通常是高位準的，而第二控制線[2上 之電位通常畏低位準的。主讀出放大器以之接點對位元 媒BLL,/BLL之二條導線之配置方式在第一操作模式中保 持固定。 此外，此記愤體具有第二操作模式，其中第—控制線 Lisfc第二控制線L2上之罨位持缅地改變，使第一電晶體 T1和第二電晶體T3導通而第二電晶體T2和第四罨晶SIT4 截止（off) ·然後第二電晶體T2和第四電晶體T4導通而 第一電晶體T1和第三窜晶體T3截止。此種交變規象在第 二操作横式中在對位元線對之記憶胞MC*之—進行寫人 過程時發生。在本實施例中對所對應之記憧胞MC所通行 之謓取過程在第二操作模式中發生於寫入過程之前。於 是此記憶胞中所儲存之資訊經由位元線對bll，/bll而傳 送至主讀出放大器SA且在該處暫時儲存。主講出放大器 SA因此就像在DRAMs或FRAMs中者一樣Μ —般方式來構成 。主謓出放大器SA之實雎形式例如顯示在已述及之 -11- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先間讀背面之注意事項再填寫本頁) ο裝--------訂---------3, 痒42 788 A7 B7 五、發明說明（1()) US5270967中。主讀出放大器SA將此種由記憶胞MC所鱭 出之資訊放大，使記憶體之相反之電源電位随後可施加 於位元線對BLU/BLL上。在此種謂出_程中第一控制線 L1具有高位準而第二控制線L2具有低位準。在所講出之 資訊巳暫時儲存在主謓出放大器SA之後，此二條控制線 LI, L2之電位持績地變換，使講出放大器SA之接點上之 差動信號缌是Μ相反之極性而傳送至位元線對BLU/BLL 。於是持績***替變化之電壓施加至各別選取之記憶胞 MC ° 由於第1圖中之主讀出放大器S Α在第二操作模式中暫 時儲存此種先前由記億胞中所譲出之資訊，則此種實訊 須依據切換單元SW之切換狀態Μ反相或非反相之方式而 寫回至記憶胞MC中。 在第1圖中藉由左邊之位元線對BLL,/BU來對記憶胞 HC中之一進行更新時，第三和第四控制線Rl, R2具有低 電位，使右方之位元線對BLR,/BLR由主讀出放大器SA中 去賴合（de-coupled)。右方之位元腺對之介入過程類似 於左方之位元線對BLL , /BLL·之去耦方式來進行，其中第 —組之二條控制線LI, L2具有低轚位。第1圖中之4條 控制線LI, L2, 1Ϊ1, R2因此具有二種功能：一方面是它 們可與8個電晶體T1至T8形成一種多工器（Mult p lexer) ，藉此多工器可選取左方或右方之位元媒對。另一方面 它們可在第二操作棋式中使所選取之位元線對之各條導 線相對於主_出放大器sa之接點而切換。因此t藉由此 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先S讀背面之注意事項再填窝本頁) -Λ^:--------訂---------線Dr 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 44278 8 A7 B7 五、發明說明（） 11 8锢電晶體之上述二種使用方式而使電路元件和面積所 需之耗費較少以梗達成此多工器之功能及切換單元sw^ 切換功能。 在此處所描述之賁施例中，第4圖中之平板電在 此二種操作模式中具有V /2之位準，此位準V /2在此 二種操作模式中正好在此記億體之二傾電源電位V ’ 接地之間〇在第二操作模式中此記憶體之電源窜壓較第 —操作楔式中者高，使此種由諛出放大器SA而讀出至位 元線對BLL，/BLL之信號具有一種較高之偉號位準》因此 在第二操作模式中施加至記憶胞M C之記億電容器C上之 電臃較第一操作模式中者還高且此種電壓由於切換單元 SW之切換狀態之改變而持鑛地改變其棰性。以此種方式 可達成記億胞之去老化作用。 第2圖是本發明之第二實施例，其顯示三個差動式主 讓出放大器SA1, SA2，SA3,其分別對應於位元線對811 ,/BLl, BL2,/BL2及BL3，/BL3e主讀出放大器SAi是與共 同之資料線對DL,/DL相連接。DL，/DL則經由差動式副讀 出放大器SSA而與外部資料線對D，/D相建接。在對一種 與第一位元線對8111，/81«1相對應之記億胞進行讀出過程 時令在此位元線對上産生一種相對應之差動信號且由主 讓出放大器SA1所放大而傳送至資料線對DL,/DLe副 讀出放大器SSA使此種差動倍號進一步放大，然後將 此信號發送至外部之資料線對D，/D。在本實施例中此記 億體具有切換軍元SW，其用來使資料線對DL，/DL之各條 -1 3- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS〉A4規格（210 X 297公釐） <請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
p I — II 一 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 442788 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 12 五、發嗎說明（） 導線相對於副謓出放大器SSA之接點而被切換。未反 相之資料線DL經由第九電晶體T9而與副讀出放大器之 第一接點相連接且經由第十鬣晶體T10而與副纊出放 大器之第二接.點相連接》反相之資料線/DL經由第十一 電晶體Τ11而與副讀出放大器SSA之第二接點相連接 且經由第十二電晶體而與SSA之第一接點相連接β第十 和第十二電晶體T1Q，Τ12之閘極是與第一控制線S1相迪 接且第九和第十一電晶體T9，Τ11之閘極是與第二控制 線S2相連接。第2圖中切換單元SW緒由控制線SI, S2來 進行控制是和第1圖中切換單元SW雜由控制線LI, L2或 Kl, R2來進行控制時所用之方式相同。 就像第1 , 2圖中之主讀出放大器SA, SAi —樣，第 2圖中之副讀出放大器SSA是一種差動式讀出放大器 ，其可暫時儲存此種由記億胞MC所讀出之資訊或儲存此 種即將寫入記憶胞中之資訊。SSA之溝成方式和主讀出 放大器者相同。在第1圖之實施例中每一對位元線BLL, /BLL或BLR，/BLR需要一櫥切換單元SW，以便對逭些與其 相連接之記憶胞進行一種更新（refresh)作用，在第2 圖之實施例中所有之位元線對BLi，/BLi只需一舾切換單 元SW,這些位元線對經由其所屬之主讀出放大器SAi而 與副釀出放大器SS A相逋接β這樣在硬體花費上可較 第1圃中之實施例還少。此外，第2圖之實施例所具有 之優點是：副讀出放大器通常可配置在仍有足夠之空 間可用於其它組件（例如，切換單元SW)之此種位置處 一 1 4 _ 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） -----------1、illi丨訂---------鍊 (請先閱讀背面之注$項再填寫本頁) ί ^42 78 q A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（） 。反之，主讀出放大器須配置在盡可能靠近記億胞MC之 處，其可放大記億胞MC之資訊。主讀出放大器因此通常 直接配置在晶胞陣列中或其邊緣處，該處不易設置其它 之電路組件（例如，切換單元SW之組件）。 記憶胞MC之去老化或更新在此處所述之實施例中只在 第二操作楔式中進行β去老化過程通常是在一定次數之 寫入過程之後才進行。為了測定此種寫入過程，則記億 胞須含有一種適當之計數器。若Β到速一種指定之計數 器狀態，則記憶體之所有記億胞MC須進行更新，其中須 黷出此種儲存於記憶胞中之資訊，皙時儲存且利用交變 之位準寫回至記億胞中。在這些實施例中切換單元SW之 切換狀態之交變次數是偶數的，因此在更新結束時原來 儲存在記億胞中之資訊又可寫回。 符號之說明 BL----位元線 WL----字元線 M C ....紀億胞 C.....記億電容器 Τ.....記億胞電晶體 SA,SA1，SA2，SA3....主謓出放大器 SSA...副讀出放大器 D , /D , DL , /DL----•資料線對 BLL，/BLL;BLR,/BLR..· 位元線對 Τ , ΤΙ- T12.....電晶體 SW......切換單元 L1,L2,R1,R2.....控制線 ---- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先ra缋背面之注i項再填窝本頁) d
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