TW202311924A - 觸摸屏干擾檢測方法、觸控芯片以及電子設備 - Google Patents

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大陸商敦泰科技(深圳)有限公司
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Abstract

本申請提供一種觸摸屏干擾檢測方法，包括：掃描觸摸屏上之至少一行或一列節點，生成每個節點對應之觸摸訊號；將每個節點對應之觸摸訊號對應轉換為飽和訊號；檢測飽和訊號，並根據飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定觸摸屏是否受到干擾。本申請還提供一種觸控芯片以及電子設備。由此，本申請提供之觸摸屏干擾檢測方法、觸控芯片以及電子設備，可以判定觸摸屏是否受到干擾、干擾類型以及干擾影響區域。

Description

觸摸屏干擾檢測方法、觸控芯片以及電子設備
本申請涉及觸摸技術領域，尤其涉及一種觸摸屏干擾檢測方法、觸控芯片以及電子設備。
隨著電子科技之發展，觸摸屏得到了更為廣泛之應用。觸摸屏可以感測用戶之觸摸動作，從而生成觸摸訊號，以反饋用戶之觸摸位置。但當觸摸屏受到干擾時，觸摸訊號會發生飽和失真，影響觸摸位置之精確性。習知技術中，通過判斷觸摸訊號之幅度是否超出閾值，可以判斷觸摸屏是否受到干擾。然而，觸摸屏之干擾包括電源共模干擾以及顯示干擾，發明人在工作過程中發現，由於這兩種噪聲干擾在干擾原理上之不同，造成在數據方面之特徵不一樣，想要分別消除這兩種干擾對觸摸訊號之影響，那就需要準確之識別和區分它們。但習知技術無法區分出干擾類型。
鑒於上述問題，本申請提供一種觸摸屏干擾檢測方法、觸控芯片以及電子設備，可以檢測觸摸屏是否受到干擾以及干擾類型。
第一方面，本申請提供一種觸摸屏干擾檢測方法，包括：掃描觸摸屏上之至少一行或一列節點，生成每個節點對應之觸摸訊號；將每個節點對應之觸摸訊號對應轉換為飽和訊號；檢測飽和訊號，並根據飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定觸摸屏是否受到干擾。
在一些可能之實現方式中，若飽和訊號在預設時間內之檢測次數小於第一閾值，判定飽和訊號對應之節點沒有受到干擾。
在一些可能之實現方式中，觸摸屏之第一方向上之所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第一閾值而小於第二閾值，判定觸摸屏之第一方向上所有節點受到第一干擾，第一干擾為顯示干擾。
在一些可能之實現方式中，根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域；觸摸區域中之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第二閾值，且非觸摸區域中之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均小於第二閾值，則判定觸摸區域中所有節點受到第二干擾，第二干擾為電源共模干擾。
在一些可能之實現方式中，觸摸屏為自電容式觸摸面板，觸摸面板上設置觸控電極，每個觸控電極構成一個節點。
在一些可能之實現方式中，觸摸屏為互電容式觸摸面板或自互一體式觸控面板，觸摸面板第一方向和第二方向設置絕緣相交之觸控電極，觸控電極之絕緣相交處構成一個節點。
在一些可能之實現方式中，檢測觸控面板內所有節點之飽和訊號，並根據飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定觸摸屏是否受到干擾。
在一些可能之實現方式中，觸摸屏統計第一方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數，具體是指第二方向上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。
在一些可能之實現方式中，觸摸屏為自容式觸摸面板或自互一體式觸控面板，觸摸屏檢測隨機一行節點、一列節點或一行加一列節點組合之任意一種方式，並根據節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定觸摸屏是否受到干擾。
第二方面，本申請提供一種觸控芯片，包括掃描單元，用於掃描觸摸屏上之至少一行或一列節點，生成每個節點對應之觸摸訊號；轉換單元，電連接於掃描單元，轉換單元用於將每個節點對應之觸摸訊號對應轉換為飽和訊號；分析單元，電連接於轉換單元，分析單元用於檢測飽和訊號，並根據飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定觸摸屏是否受到干擾。
在一些可能之實現方式中，若分析單元檢測到飽和訊號在預設時間內之檢測次數小於第一閾值，分析單元判定飽和訊號對應之節點未受到干擾。
在一些可能之實現方式中，若分析單元檢測到觸摸屏之第一方向上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第一閾值而小於第二閾值，分析單元判定第一方向上所有節點受到第一干擾，第一干擾為顯示干擾。
在一些可能之實現方式中，觸控芯片還包括計算單元，電連接於掃描單元，計算單元用於根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域；若分析單元檢測到觸摸區域中之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第二閾值，且非觸摸區域中之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均小於第二閾值，分析單元判定觸摸區域中所有節點受到第二干擾，第二干擾為電源共模干擾。
在一些可能之實現方式中，觸控芯片還包括放大單元，電連接於掃描單元，放大單元用於接收觸摸訊號，並將觸摸訊號轉換為電壓訊號；濾波單元，電連接於放大單元，濾波單元用於對電壓訊號進行濾波；模數轉換單元，電連接於濾波單元，模數轉換單元用於將濾波後之電壓訊號轉換為飽和訊號。
第三方面，本申請提供一種電子設備，電子設備包括上述之觸控芯片。
由此，本申請提供之觸摸屏干擾檢測方法、觸控芯片以及電子設備，可以通過觸摸面板上節點輸出之觸摸訊號判定用戶之觸摸位置，以及觸摸面板是否受到干擾、干擾類型以及干擾影響區域，從而可以準確、快速地分析干擾原因以及降低干擾。
本申請實施例中，“第一”、“第二”等詞匯，僅是用於區別不同之對象，不能理解為指示或暗示相對重要性，也不能理解為指示或暗示順序。例如，第一應用、第二應用等是用於區別不同之應用，而不是用於描述應用之特定順序，限定有“第一”、“第二”之特徵可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特徵。
請參閱圖1，本申請提供一種觸摸屏干擾檢測系統10，用於檢測觸摸屏是否受到干擾以及受到干擾之類型與干擾強度。觸摸屏干擾檢測系統10包括觸摸面板11、以及控制單元12。
控制單元12包括掃描單元121、計算單元122、轉換單元123與分析單元124，掃描單元121包括m條掃描線T x1-T xm，m條掃描線T x1-T xm延伸至觸摸面板11上，且m條掃描線T x1-T xm電連接於觸摸面板11上之觸控電極。在一些實施方式中，m條掃描線T x1-T xm用於向觸摸面板11提供激勵訊號（例如，方波訊號或正弦波振盪訊號），觸摸面板11包括至少一個觸控電極，當用戶觸摸到觸摸屏時，觸摸區域內之觸控電極之電容值變化，該觸控電極輸出對應之觸摸訊號到計算單元122，計算單元122可以根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域，並輸出區域訊號到分析單元124。
轉換單元123電連接於觸摸面板11以及分析單元124，轉換單元123用於接收觸摸面板11輸出之觸摸訊號，並將觸摸訊號轉換為飽和訊號。
分析單元124用於接收飽和訊號以及區域訊號，並根據飽和訊號判斷觸摸屏是否受到干擾，若觸摸屏受到干擾，判斷干擾類型以及干擾區域。
可以理解，若觸摸屏受到干擾，觸摸訊號之幅值會超過預設閾值，飽和訊號可以指示觸摸訊號之幅度是否超出預設閾值，從而分析單元124可以根據飽和訊號判斷觸摸屏是否受到干擾。
請參閱圖2，在一些實施方式中，觸摸面板11為自電容式觸摸面板，觸摸面板11包括多個觸控電極，命名每個電容耦合處為節點，控制單元12可通過感測電容耦合處之電容值變化判斷發生在觸摸面板上之觸摸動作。
圖2中行方向有N個觸控電極，列方向有M個電極，因此會有M*N個節點。
在T x1時刻，掃描第一行S x1-S xn所有之通道，在T x2時刻，掃描第二行S x1-S xn所有通道，依次類推到T xm時刻，即完成整個觸摸面板之掃描，產生M*N個飽和檢測數據。
以節點110為例，節點110中觸控電極之一端接地，節點110中觸控電極之另一端電連接於掃描線T xi，其中1≤i≤m。當用戶觸摸到觸摸屏時，節點中觸控電極對地電容值變化，節點通過感應通道S x1-S xn輸出觸摸訊號，可以理解，觸摸訊號與節點中觸控電極之電容值相關聯，若控制單元12判定節點中觸控電極之電容值變化，則可根據觸摸訊號變化確定用戶之觸摸位置。
觸摸屏在使用過程中碰到之干擾類型包括第一干擾與第二干擾之至少一種，第一干擾為顯示干擾。可以理解，當觸摸裝置包括顯示部件時，觸摸面板11臨近設置於顯示部件，顯示部件用於向用戶顯示內容。顯示干擾是由顯示部件在不同時刻顯示不同內容引發之干擾，顯示干擾之幅度會跟隨顯示內容變化而變化。
第二干擾為電源共模干擾。舉例說明，電源共模干擾是由充放電設備（例如，充電器）連接觸摸面板11時，由於電壓波動以及電網干擾訊號引發之干擾，在一些實施方式中，電源共模干擾可能在用戶觸摸到觸摸面板11時，對觸摸區域造成影響，或者，電源共模干擾可能影響第二方向（例如，列方向）上所有之節點。
請參閱圖3A及圖3B，此實施方式中，觸摸面板11為互電容式觸摸面板，掃描單元121包括m條掃描線T x1-T xm和n條接收線R x1-R xn，掃描線和接收線分別延伸於觸摸面板11上，且m條掃描線T x1-T xm與n條接收線R x1-R xn彼此垂直相交，且掃描線和接收線相交處絕緣。每條接收線與每條掃描線之交點處會產生一個節點。
以節點110為例，節點110在接收線R x1與掃描線T x1之交點處產生。圖3A中N條接收線Rx與M條掃描線Tx共產生M*N個節點。圖3B中4條接收線Rx與4條掃描線Tx產生4*4共16個節點。
當用戶觸摸到觸摸屏時，節點中觸控電極之電容值變化，節點通過接收線Rxj向控制單元12輸出觸摸訊號，可以理解，觸摸訊號與節點處觸控電極之電容值相關聯，若控制單元12確定觸摸訊號變化，則可確定節點處觸控電極之電容值變化，從而確定用戶之觸摸區域。
請參閱圖4，在一些實施方式中，轉換單元123包括放大單元1231、濾波單元1232以及模數轉換單元1233，放大單元1231電連接於節點以及濾波單元1232，濾波單元1232電連接於模數轉換單元1233，模數轉換單元1233電連接於分析單元124。
此實施方式中，放大單元1231用於接收觸摸訊號，並將觸摸訊號轉換為電壓訊號，具體地，放大器123a可以包括電荷放大器，電荷放大器可以將節點上觸控電極電荷變化量之觸摸訊號轉換為電壓訊號。其它實施方式中，放大單元1231用於接收觸摸訊號，並將觸摸訊號轉換為電流訊號。
濾波單元1232用於對電壓訊號進行濾波，可以理解，對電壓訊號進行濾波可以濾除電壓訊號中之噪聲分量。在一些實施方式中，濾波單元1232包括自適應陷波濾波器（Adaptive Notch Filter，ANF）。
模數轉換單元1233用於將濾波後之模擬訊號轉換為數字訊號，可以理解，分析單元124可以判定數字訊號之幅度是否超過預設閾值，超出預設閾值之數字訊號定義為飽和訊號。分析單元124可以在預設時間內計算檢測到飽和訊號之次數，並根據飽和訊號之檢測次數判斷觸摸屏是否受到干擾，並且根據對應之觸摸訊號判斷受到干擾之類型。
在一些實施方式中，觸摸面板11為自電容式觸摸面板，自電容式觸摸面板上之掃描線T x1-T xm提供激勵訊號後，在T x1-T xm時間段內，觸摸面板11之感應通道S x1-S xn輸出對應之觸摸訊號。此處T x1-T xm各個時間段為對應之激勵訊號從波形發出到結束之時間段。
分析單元124統計在預設時間內檢測到每個節點對應之飽和訊號之次數如表1所示： 表1
  S x1 S x2 S x3 S x4 S x5 S x6 S x7 … S x （ n-1 ） S xn
T x1 122 116 120 121 119 119 117 … 120 118
T x2 60 63 63 62 61 62 60 … 63 59
T x3 350 352 348 349 350 350 351 … 353 348
T x4 266 264 268 268 267 265 266 … 267 267
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 4 0 1 0 0 0 2 … 2 0
T xm 352 349 3352 352 349 350 353 … 350 349
其中，飽和訊號之次數為在T x1-T xm各個時間段內對應之感應通道S x1-S xn上節點之總共觸發干擾次數。
可以理解，在用戶未觸摸到觸摸面板11之情況下，表1中共有m*n個飽和檢測數據。在第一方向（即感應通道S x1-S xn方向，本實施例中為行方向）上之各個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第一閾值（例如，第一閾值可以為100），且均小於第二閾值（例如，第二閾值可以為130），即表1中第一方向上之各個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，分析單元124可以判定觸摸面板11受到了顯示干擾。
需要說明，對於不同之掃描時間段，第一閾值以及第二閾值可以不同。例如，在T x1時間段內，第一閾值可以設定為100，第二閾值可以設定為130，而在T x2時間段內，第一閾值可以設定為55，第二閾值可以設定為65。若同一條掃描時間段所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均在對應之第一閾值與第二閾值之間，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了顯示干擾。
在另一些實施方式中，若用戶觸摸到觸摸面板11，且計算單元122根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域為感應通道S x3-S x4與掃描線T x2-T x3圍合之區域，分析單元124統計每個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表2所示： 表2
  S x1 S x2 S x3 S x4 S x5 S x6 S x7 … S x （ n-1 ） S xn
T x1 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x2 0 0 100 45 0 0 0 … 0 0
T x3 0 0 90 76 0 0 0 … 0 0
T x4 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T xm 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
可以理解，用戶之觸摸區域中節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數不為零，而其他區域中節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數為零，但觸摸區域中所在之單元表2中第二方向（即掃描通道T x1-T xm方向，本實施例中為列方向），即S x3和S x4兩列上之相鄰節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數明顯大於其他區域，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了電源共模干擾。
本實施例中，S x3列之數據相對大於S x4列之數據，可以理解，受手指接觸面積影響，用戶之手指相對偏向於S x3一側。
可以理解，出現多處觸摸區域時，電源共模干擾會出現在對應之多處觸控區域中。
在本實施方式中，若分析單元124統計每個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表3所示： 表3
  S x1 S x2 S x3 S x4 S x5 S x6 S x7 … S x （ n-1 ） S xn
T x1 122 116 120 121 119 119 117 … 120 118
T x2 60 63 163 110 61 62 60 … 63 59
T x3 350 352 433 420 350 350 351 … 353 348
T x4 266 264 268 268 267 265 266 … 267 267
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 4 0 1 0 0 0 2 … 2 0
T xm 352 349 352 352 349 350 353 … 350 349
若用戶觸摸到觸摸面板11，且計算單元122根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域為感應通道S x3-S x4與掃描線T x2-T x3圍合之區域，觸摸區域內存在四個節點。觸摸區域之外每個節點，表3中第一方向（即感應通道S x1-S xn方向）上之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，可參考T x1、T x4、T x （ m-1 ）、T xm方向之節點數值，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了顯示干擾。
進一步，在觸摸區域內，第一方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於對應之第二閾值，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了電源共模干擾。
在本實施方式中，若分析單元124統計每個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表4所示： 表4
  S x1 S x2 S x3 S x4 S x5 S x6 S x7 … S x （ n-1 ） S xn
T x1 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x2 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x3 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x4 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T xm 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
可以理解，表4中觸摸面板11上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均未超出預設閾值，分析單元124可以判定觸摸面板11沒有受到干擾。
在一些實施方式中，觸摸面板11為互電容式觸摸面板或者自互電容一體式觸摸面板。互電容式觸摸面板上之掃描線T x1-T xm提供激勵訊號後，觸摸面板11之接收線R x1-R xn輸出對應之觸摸訊號，存在m*n個節點，可以獲得m*n個飽和檢測數據。
分析單元124統計在預設時間內檢測到每個節點對應之飽和訊號之次數如表5所示： 表5
  R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
T x1 122 116 120 121 119 119 117 … 120 118
T x2 60 63 63 62 61 62 60 … 63 59
T x3 350 352 348 349 350 350 351 … 353 348
T x4 266 264 268 268 267 265 266 … 267 267
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 4 0 1 0 0 0 2 … 2 0
T xm 352 349 3352 352 349 350 353 … 350 349
可以理解，在用戶未觸摸到觸摸面板11之情況下，分析單元表5中m*n個飽和檢測數據在第一方向（即接收線R x1-R xn方向，本實施例中為行方向）上之各個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第一閾值（例如，第一閾值可以為100），且均小於第二閾值（例如，第二閾值可以為130），即表5中第一方向上之各個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，分析單元124可以判定觸摸面板11受到了顯示干擾。
需要說明，對於不同之掃描時間段，第一閾值以及第二閾值可以不同。例如，在T x1時間段，第一閾值可以設定為100，第二閾值可以設定為130，而在T x2時間段，第一閾值可以設定為55，第二閾值可以設定為65。若同一條掃描時間段所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均在對應之第一閾值與第二閾值之間，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了顯示干擾。
在另一些實施方式中，若用戶觸摸到觸摸面板11，且計算單元122根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域為接收線R x3-R x4與掃描線T x2-T x3圍合之區域，分析單元124統計每個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表6所示： 表6
  R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
T x1 0 0 10 88 0 0 0 … 0 0
T x2 0 0 100 45 0 0 0 … 0 0
T x3 0 0 90 76 0 0 0 … 0 0
T x4 0 0 44 36 0 0 0 … 0 0
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 0 0 96 75 0 0 0 … 0 0
T xm 0 0 28 39 0 0 0 … 0 0
可以理解，用戶之觸摸區域中節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數不為零。但觸摸區域所在之單元表6中第二方向（即掃描通道T x1-T xm方向，本實施例中為列方向），即R x3和R x4兩列上之左右相鄰節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數不為零，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了電源共模干擾。
同理出現多處觸控位置時，觸控區域涉及列之數據會存在不同幅度之干擾。
在本實施方式中，若分析單元124統計每個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表7所示： 表7
  R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
T x1 122 116 130 208 119 119 117 … 120 118
T x2 60 63 163 110 61 62 60 … 63 59
T x3 350 352 433 420 350 350 351 … 353 348
T x4 266 264 312 304 267 265 266 … 267 267
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 4 0 96 75 0 0 2 … 2 0
T xm 352 349 380 391 349 350 353 … 350 349
若用戶觸摸到觸摸面板11，且計算單元122根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域為感應通道S x3-S x4與掃描線T x2-T x3圍合之區域，觸摸區域內存在四個節點。觸摸區域之外每個節點，在表7中第一方向（即接收線R x1-R xn方向）上之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，可參考T x1、T x4、Tx（m-1）、T xm方向之節點數值，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了顯示干擾。進一步，在觸摸區域內，第一方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於對應之第二閾值，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了電源共模干擾。
在本實施方式中，若分析單元124統計每個節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表8所示： 表8
  S x1 S x2 S x3 S x4 S x5 S x6 S x7 … S x （ n-1 ） S xn
T x1 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x2 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x3 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x4 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
… … … … … … … … … … …
T x （ m-1 ） 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T xm 0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
可以理解，表8中觸摸面板11上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均未超出預設閾值，分析單元124可以判定觸摸面板11沒有受到干擾。
在另一些實施方式中，觸摸面板11包括互電容式觸摸面板，或自互電容一體式觸摸面板，掃描線T x1-T xm提供激勵訊號後，接收線R x1-R xn輸出對應之觸摸訊號，轉換單元123將觸摸訊號轉換為對應之飽和訊號。分析單元124可以統計第一方向（即接收線R x1-R xn方向）上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數，其中，R xs是指第二方向（即掃描線T x1-T xn方向）上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。例如接收線R x1之數據是指接收線R x1所在列之所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。
本實施方式，可以按行統計噪聲分佈情況，僅針對N個飽和訊號次數進行分析，而非統計每個節點（即M*N個節點）噪聲分佈情況。分析單元124統計數據如表9所示： 表9
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
1154 1154 1152 1152 1146 1146 1149 … 1155 1141
可以理解，在用戶未觸摸到觸摸面板11之情況下，表9中第一方向上之所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，分析單元124可以判定觸摸面板11受到了顯示干擾。
在本實施方式中，若用戶觸摸到觸摸面板11，且分析單元124確定用戶之觸摸區域位於接收線R x3-R x4圍合區域內，分析單元124統計之所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表10所示： 表10
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
0 0 312 209 0 0 0 … 0 0
可以理解，用戶之觸摸區域中兩個節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數不為零，而其他區域中節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數為零。即用戶之觸摸區域不同列上存在不同幅度之干擾，非觸摸區域之列方向沒有檢測到干擾。則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了電源共模干擾。
在本實施方式中，若分析單元124統計之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表11所示： 表11
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
1154 1144 1464 1361 1146 1146 1149 … 1155 1141
可以理解，在用戶觸摸到觸摸面板11之情況下，除觸摸區域外，表11中第一方向（即接收線R x1-R xn方向）上之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，而在觸摸區域內，第一方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於對應之第二閾值，則分析單元124可以判定觸摸面板11既受到了顯示干擾，又受到了電源共模干擾。
在本實施方式中，若分析單元124統計之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表12所示： 表12
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
可以理解，表12中觸摸面板11上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均未超出預設閾值，分析單元124可以判定觸摸面板11沒有受到干擾。
在另一些實施方式中，觸摸面板11為自電容式觸摸面板或自互電容一體式觸摸面板，掃描線T x1-T xm提供激勵訊號後，接收線R x1-R xn輸出對應之觸摸訊號，轉換單元123將觸摸訊號轉換為對應之飽和訊號。
自互電容一體式觸摸面板採用檢測“M+N”個節點之方法與區分電源共模干擾和顯示干擾。M個數據是同一時間段內在掃描線T x1-T xm方向上檢測到之節點對應之飽和訊號次數。N個數據是同一時間段內在接收線R x1-R xn方向上檢測到之節點對應之飽和訊號次數。R xs是指第二方向（即掃描線T x1-T xm方向）上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。例如接收線R x1之數據是指接收線R x1所在列之所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。同理，T xs是指第一方向（即接收線線R x1-R xn方向）上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。例如接收線T x1之數據是指接收線T x1所在行之所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。
分析單元124也可以分別統計第一方向以及第二方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數，例如，如表13所示： 表13
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
1154 1144 1152 1152 1146 1146 1149 … 1155 1141
T x1 2321
T x2 2320
T x3 2325
T x4 2325
…… ……
T x （ m-1 ） 2328
T xm 2323
可以理解，在用戶未觸摸到觸摸面板11之情況下，表13中第一方向（R xn方向，行方向）上之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，且第二方向（T xm方向，列方向）上之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，分析單元124可以判定觸摸面板11只受到了顯示干擾。
在本實施方式中，若用戶觸摸到觸摸面板11，且分析單元124確定用戶之觸摸區域為接收線R x3-R x4與掃描線T x2-T x3圍合之區域，分析單元124分別統計第一方向以及第二方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表14所示： 表14
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
0 0 312 209 0 0 0 … 0 0
T x1 0
T x2 145
T x3 166
T x4 0
…… ……
T x （ m-1 ） 0
T xm 0
可以理解，用戶之觸摸區域中節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數不為零，且數值有差異，而其他區域中節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數為零，則分析單元124可以判定觸摸面板11受到了電源共模干擾。
在本實施方式中，用戶觸摸到觸摸面板11，且分析單元124確定用戶之觸摸區域為掃描線T x2-T x3與接收線R x3-R x4之圍合區域。若分析單元124分別統計第一方向以及第二方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表15所示： 表15
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
1154 1144 1464 1361 1146 1146 1149 … 1155 1141
T x1 2321
T x2 2465
T x3 2481
T x4 2325
…… ……
T x （ m-1 ） 2328
T xm 2323
可以理解，在用戶觸摸到觸摸面板11之情況下，觸摸區域之外，表15中第一方向（即接收線R x1-R xn方向）上之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，而在觸摸區域內，第一方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於對應之第二閾值。且觸摸區域之外，表15中第二方向（即掃描線T x1-T xm方向）上之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數相近，而在觸摸區域內，第二方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於對應之第二閾值，則分析單元124可以判定觸摸面板11在用戶既受到了顯示干擾，又受到了電源共模干擾。
在本實施方式中，若分析單元124分別統計第一方向以及第二方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數如表16所示： 表16
R x1 R x2 R x3 R x4 R x5 R x6 R x7 … R x （ n-1 ） R xn
0 0 0 0 0 0 0 … 0 0
T x1 0
T x2 0
T x3 0
T x4 0
…… ……
T x （ m-1 ） 0
T xm 0
可以理解，表16中觸摸面板11上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均未超出預設閾值，分析單元124可以判定觸摸面板11沒有受到干擾。
針對自電容式觸摸面板或自互電容一體式觸摸面板，因為單從Tx方向或單從Rx方向即可以檢測與區分電源共模干擾與顯示干擾，也可以定位到產生電源共模干擾和顯示干擾之節點大概位置，所以，從資源節省角度，可以只使用以上之一個方向（如：Tx方向或Rx方向）來檢測與區分電源共模干擾和顯示干擾。
在一些實施方式中，分析單元124也可以統計觸摸面板11上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數，從而判定觸摸面板11是否受到干擾及干擾類型，具體判定方法同表1-表16所述，在此不贅述。
由此，本申請提供之觸摸屏干擾檢測系統10，可以通過觸摸面板上節點輸出之觸摸訊號判定用戶之觸摸位置，以及觸摸面板是否受到干擾及干擾類型，從而可以準確、快速地降低干擾。
請參閱圖5，本申請提供一種觸摸屏干擾檢測方法，應用於觸摸屏裝置，該方法用於檢測觸摸屏是否受到干擾，以及受到干擾之類型。觸摸屏干擾檢測方法包括以下步驟：
步驟S1：掃描觸摸屏上之至少一行或一列節點，生成每個節點對應之觸摸訊號。
可以理解，掃描單元121中m條掃描線T x1-T xm提供激勵訊號（例如，方波訊號或正弦波振盪訊號）給觸摸面板11上之節點，節點通過感應通道S x1-S xn或接收線R x1-R xn輸出觸摸訊號到計算單元122以及轉換單元123。
步驟S2：根據觸摸訊號確定用戶之觸摸區域。
可以理解，當用戶觸摸到觸摸屏時，節點中觸控電極之電容值發生變化，觸摸訊號與節點中觸控電極之電容值相關聯，若計算單元122確定觸摸訊號變化，則可確定節點中觸控電極之電容值變化，從而確定用戶之觸摸區域，並將表示觸摸區域之訊號傳送至分析單元124。
步驟S3：將每個節點對應之觸摸訊號對應轉換為飽和訊號。
在一些實施方式中，轉換單元123將每個節點對應之觸摸訊號對應轉換為飽和訊號可以進一步包括：放大單元124接收觸摸訊號，並將觸摸訊號轉換為電壓訊號；濾波單元125對電壓訊號進行濾波；模數轉換單元1233將濾波後之電壓訊號轉換為飽和訊號。
可以理解，飽和訊號用於指示觸摸訊號之幅度是否超出預設閾值，可以理解，若觸摸訊號之幅值超出預設閾值，則對應節點可能受到干擾。
步驟S4：檢測飽和訊號，並根據飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定觸摸屏是否受到干擾。
可以理解，參考表1-表12，分析單元124可以根據接節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數，判定觸摸面板11是否受到干擾及干擾類型。
具體地，若在預設時間內，分析單元124檢測到飽和訊號在預設時間內之檢測次數小於第一閾值，則分析單元124判定飽和訊號對應之節點未受到干擾。
若在預設時間內，分析單元124檢測到飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第一閾值而小於第二閾值，則分析單元124判定觸摸面板11之第一方向上所有節點受到第一干擾。
若在預設時間內，分析單元124檢測到觸摸區域中之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第二閾值，且非觸摸區域中之節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數均小於第二閾值，則分析單元124判定觸摸區域中所有節點受到第二干擾。
請參閱圖6，本申請提供一種電子設備100，電子設備100包括上述實施例中之觸摸屏干擾檢測系統10。
在一些實施方式中，電子設備100包括，但不限於，便攜式或移動設備、手機、平板電腦、電視、個人數字助理、膝上型設備、臺式機、手持PC、服務器、網絡設備、圖形設備、視頻遊戲設備、蜂窩電話、便攜式媒體播放器、手持設備、可穿戴設備（例如，顯示眼鏡或護目鏡、頭戴式顯示器、手錶、頭戴設備等）、虛擬現實和/或增強現實設備、物聯網設備、工業控制設備、車載信息娛樂設備、流媒體客戶端設備、電子書閱讀設備、或者具有觸摸螢幕，可以實現觸控之其他電子設備。
本技術領域之普通技術人員應當認識到，以上之實施方式僅是用來說明本申請，而並非用作為對本申請之限定，只要在本申請之實質精神範圍之內，對以上實施例所作之適當改變和變化都落在本申請要求保護之範圍之內。
10:觸摸屏干擾檢測系統 11:觸摸面板 100:電子設備 110:節點 12:控制單元 121:掃描單元 122:計算單元 123:轉換單元 1231:放大單元 1232:濾波單元 1233:模數轉換單元 124:分析單元 T x1-T xm:掃描線 R x1-R xn:接收線 S x1-S xn:感應通道 S1-S4:步驟
圖1為本申請提供之觸摸屏干擾檢測系統之結構圖。 圖2為自電容式觸摸面板之結構示意圖。 圖3A為互電容式觸摸面板之一種結構示意圖。 圖3B為互電容式觸摸面板之另一種結構示意圖。 圖4為圖1中轉換單元之結構圖。 圖5為本申請提供之觸摸屏干擾檢測方法之流程圖。 圖6為本申請提供之電子設備之示意圖。
10:觸摸屏干擾檢測系統
11:觸摸面板
12:控制單元
121:掃描單元
122:計算單元
123:轉換單元
124:分析單元
Tx1-Txm:掃描線

Claims (15)

  1. 一種觸摸屏干擾檢測方法，其改良在於，包括： 掃描所述觸摸屏上之至少一行或一列節點，生成每個節點對應之觸摸訊號； 將每個節點對應之觸摸訊號對應轉換為飽和訊號； 檢測所述飽和訊號，並根據所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定所述觸摸屏是否受到干擾。
  2. 如請求項1所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，還包括： 若所述飽和訊號在所述預設時間內之檢測次數小於第一閾值，判定所述飽和訊號對應之節點沒有受到干擾。
  3. 如請求項1所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，所述方法還包括： 所述觸摸屏之第一方向上之所有節點對應之所述飽和訊號在所述預設時間內之檢測次數均大於第一閾值而小於第二閾值，判定所述觸摸屏之第一方向上所有節點受到第一干擾，所述第一干擾為顯示干擾。
  4. 如請求項3所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，還包括： 根據所述觸摸訊號確定用戶之觸摸區域； 所述觸摸區域中之節點對應之所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第二閾值，且非觸摸區域中之節點對應之所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數均小於第二閾值，則判定所述觸摸區域中所有節點受到第二干擾，所述第二干擾為電源共模干擾。
  5. 如請求項4所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，所述觸摸屏為自電容式觸摸面板，所述觸摸面板上設置觸控電極，每個所述觸控電極構成一個節點。
  6. 如請求項4所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，所述觸摸屏為互電容式觸摸面板或自互一體式觸控面板，所述觸摸面板第一方向和第二方向設置絕緣相交之觸控電極，所述觸控電極之絕緣相交處構成一個節點。
  7. 如請求項5或6所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，所述方法還包括：檢測所述觸控面板內所有節點之所述飽和訊號，並根據所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定所述觸摸屏是否受到干擾。
  8. 如請求項6所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，所述觸摸屏統計第一方向上節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數，具體是指第二方向上所有節點對應之飽和訊號在預設時間內之檢測次數總和或平均值。
  9. 如請求項5所述之觸摸屏干擾檢測方法，其中，所述觸摸屏為自容式觸摸面板或自互一體式觸控面板，所述觸摸屏檢測隨機一行節點、一列節點或一行加一列節點組合之任意一種方式，並根據所述節點之飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定所述觸摸屏是否受到干擾。
  10. 一種觸控芯片，其改良在於，包括： 掃描單元，用於掃描觸摸屏上之至少一行或一列節點，生成每個節點對應之觸摸訊號； 轉換單元，電連接於所述掃描單元，所述轉換單元用於將每個節點對應之觸摸訊號對應轉換為飽和訊號； 分析單元，電連接於轉換單元，所述分析單元用於檢測所述飽和訊號，並根據所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數判定所述觸摸屏是否受到干擾。
  11. 如請求項10所述之觸控芯片，其中，若所述分析單元檢測到所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數小於第一閾值，所述分析單元判定所述飽和訊號對應之節點未受到干擾。
  12. 如請求項10所述之觸控芯片，其中，若所述分析單元檢測到所述觸摸屏之第一方向上所有節點對應之所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第一閾值而小於第二閾值，所述分析單元判定所述第一方向上所有節點受到第一干擾，所述第一干擾為顯示干擾。
  13. 如請求項10所述之觸控芯片，其中，還包括： 計算單元，電連接於所述掃描單元，所述計算單元用於根據所述觸摸訊號確定用戶之觸摸區域； 若所述分析單元檢測到所述觸摸區域中之節點對應之所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數均大於第二閾值，且非觸摸區域中之節點對應之所述飽和訊號在預設時間內之檢測次數均小於第二閾值，所述分析單元判定所述觸摸區域中所有節點受到第二干擾，所述第二干擾為電源共模干擾。
  14. 如請求項10所述之觸控芯片，其中，還包括： 放大單元，電連接於所述掃描單元，所述放大單元用於接收觸摸訊號，並將觸摸訊號轉換為電壓訊號； 濾波單元，電連接於所述放大單元，所述濾波單元用於對所述電壓訊號進行濾波； 模數轉換單元，電連接於所述濾波單元，所述模數轉換單元用於將濾波後之電壓訊號轉換為飽和訊號。
  15. 一種電子設備，其改良在於，所述電子設備包括如請求項10-14任一項所述之觸控芯片。
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