TW202223451A - 光學薄膜的緣部檢測方法 - Google Patents

Abstract

[課題] 提供一種光學薄膜緣部的檢測方法，其能夠確實地檢測貼合於矩形面板的光學薄膜的緣部。 [解決手段] 一種檢測方法，係包含：搬運步驟，係搬運層疊有光學薄膜的矩形面板；拍攝步驟，係拍攝矩形面板上的包含光學薄膜的緣部的對象區域；最佳圖像選擇步驟，係從在複數個位置拍攝對象區域而藉此獲得的複數個圖像當中，選擇用以檢測緣部的最佳圖像；以及緣部檢測步驟，係於最佳圖像中檢測緣部。於拍攝步驟，係依序照射來自沿著前述矩形面板的搬運方向配置的複數個光源的光，藉由1個攝像手段在搬運方向的上游側至下游側的複數個位置拍攝對象區域。

Description

光學薄膜的緣部檢測方法

本發明係關於使用於光學顯示面板之檢測光學薄膜的緣部的方法，更具體而言，係關於一種光學薄膜的緣部檢測方法，其係在檢查矩形面板與貼合於該矩形面板的光學薄膜之間的貼合偏差之際，從所拍攝的複數個圖像中，選擇能夠最確實地檢測到光學薄膜的緣部的最佳圖像，並使用該最佳圖像檢測光學薄膜的緣部。

就光學顯示面板而言，藉由將具有光學功能的各種光學薄膜視必要貼合於矩形面板，能夠實現各種顯示功能。於光學顯示面板的製程中，在對於矩形面板的面貼合光學薄膜之後，為了確認兩者貼合的精度，係進行矩形面板與光學薄膜的貼合狀態的檢查(所謂貼合偏差檢查)。作為以往之貼合偏差檢查方法，係例如提出有專利文獻1及專利文獻2所記載之方法。

於專利文獻1中，係揭示有將貼合有偏光板及液晶面板的光學顯示面板的角落部，藉由配置為能夠從角落部的垂直上方進行拍攝的區域攝影機或線攝影機進行攝影之事項。貼合的偏差量，係使用以攝影機所攝影的圖像算出。又，於專利文獻2中，係揭示有能夠一邊將貼合有光學薄膜片的光學顯示面板搬運至光學檢測腔室，一邊使用區域感測器攝影機攝影面板的角落部，藉此檢查貼合偏差的方法。就該方法而言，係從所拍攝的圖像算出光學檢測腔室的端部與光學薄膜片的端部之間的距離，並根據該距離判定貼合偏差。 [先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1] 日本特開2011-197281號公報 [專利文獻2] 日本特開2016-118580號公報 [專利文獻3] 日本特許第4377964號公報

[發明所欲解決之問題]

就包含專利文獻1及專利文獻2之以往的貼合偏差檢查方法而言，係在光學顯示面板之包含矩形面板及光學薄膜之兩方的角落部之一定的區域(以下稱為對象區域)進入攝影機的攝影區域並到達攝影點時進行拍攝。攝影點係一般上為光學顯示面板上的光學薄膜的緣部(一般係光學薄膜的移動方向的最前方的邊)到達攝影機的垂直下方時的位置。於所拍攝的圖像中，光學薄膜的緣部，係因來自光源的光在光學薄膜的緣部被反射而作為發光的線(明線)顯現，藉由辨認該反射光而能夠檢測到圖像內之光學薄膜的緣部。然而，視貼合於矩形面板的光學薄膜的緣部的狀態，會有僅藉由緣部到達攝影點時所拍攝的圖像難以檢測緣部之情事。

例如，在所拍攝的圖像中之光學薄膜的端面係不易反射來自光源的光的形狀的情形，或是來自端面的反射光為不易到達攝影機的角度的情形，係難以檢測光學薄膜的緣部。

本發明係以提供一種光學薄膜緣部的檢測方法為目的，該方法係為了運用於能夠精確地實施矩形面板與光學薄膜的貼合偏差檢查之檢查方法，能夠確實地檢測貼合於矩形面板的光學薄膜的緣部。 [解決問題之技術手段]

本發明，係根據若比較從配置於矩形面板的搬運方向的上游側的光源照射光而拍攝光學薄膜的緣部時的圖像，與從配置於搬運方向的下游側的光源照射光而拍攝緣部時的圖像，可知能夠獲得容易檢測到緣部的圖像的照射方向會因光學薄膜的搬運方向的位置有所不同之見解而完成者。

於本發明中，對於在矩形面板層疊有光學薄膜的光學顯示面板，藉由從複數個光源依序照射的光取得複數張包含矩形面板的角落部及光學薄膜的角落部之對象區域的圖像，選擇該等複數張圖像當中能夠最為確實地檢測到光學薄膜的緣部的最佳圖像，並使用該最佳圖像檢測光學薄膜的緣部。

亦即，本發明係提供一種於檢測層疊於矩形面板的光學薄膜的緣部之光學薄膜緣部檢測方法，其包含：搬運步驟，係搬運層疊有光學薄膜的矩形面板；拍攝步驟，係拍攝矩形面板上的包含光學薄膜的緣部的對象區域；最佳圖像選擇步驟，係從在複數個位置拍攝對象區域而藉此獲得的複數個圖像當中，選擇用以檢測緣部的最佳圖像；以及緣部檢測步驟，係於最佳圖像中檢測緣部。於拍攝步驟，係依序照射來自沿著前述矩形面板的搬運方向配置的複數個光源的光，藉由1個攝像手段在搬運方向的上游側至下游側的複數個位置拍攝對象區域。最佳圖像，係根據圖像之各者中緣部的亮度進行選擇。

於一實施形態中，較佳為：複數個光源，係至少包含：對於拍攝對象區域的攝像手段配置於搬運方向的上游側之上游側光源以及配置於下游側的下游側光源。較佳為：於拍攝步驟，在緣部位於比作為緣部到達攝像手段的垂直下方時的位置之攝影點更靠搬運方向的上游側時，從上游側光源照射光並進行拍攝，在緣部位於比攝影點更靠搬運方向的下游側時從下游側光源照射光並進行拍攝。

於一實施形態中，較佳為：於最佳圖像選擇步驟，係根據沿著緣部設定的複數個部位的亮度選擇前述最佳圖像。並且，於其他實施形態中，較佳為：前述拍攝步驟，係在每次拍攝，一邊使矩形面板停止一邊拍攝複數個圖像，並且進一步使用來自配置為對向於矩形面板的寬度方向的光源的光拍攝複數個圖像。 [發明之效果]

依據本發明，係因從拍攝了包含貼合於矩形面板的光學薄膜的端部的預定區域的複數個圖像，選擇能夠確實檢測到光學薄膜的緣部的明線的最佳圖像，故能夠使用該圖像以更為輕易且高精度的方式檢查光學薄膜的貼合偏差。

以下，針對本發明的實施形態，一邊參照圖式一邊詳細說明。 於以下說明中，雖以使用偏光薄膜作為光學薄膜、使用矩形面板作為液晶胞、於矩形面板貼合有光學薄膜的光學顯示面板係液晶面板的情形為例進行說明，然而不限定於該等，本發明係亦能夠使用於藉由將具有光學功能的薄膜貼合於矩形面板而製造的各種光學顯示面板的檢查。

[液晶面板製造裝置及偏光薄膜緣部檢測裝置的概要] 本發明之薄膜緣部檢測方法，係例如能夠為達成以下目的而使用：於藉由將從輥送出的偏光薄膜連續地貼合於液晶胞而藉此製造液晶面板的裝置(RTP方式的裝置)中，對於所製造的液晶面板，為了檢查偏光薄膜是否在偏離了預先訂定的貼合位置的狀態下貼合於液晶胞的面(以下，稱為貼合偏差)，而檢測偏光薄膜的緣部。RTP方式，係於液晶面板的製程中，於帶狀的脫膜薄膜上透過黏著劑層支承有複數個薄片狀偏光薄膜的帶狀層疊體，僅將不存在有缺陷的正常的薄片狀偏光薄膜與黏著劑層一起從脫膜薄膜依序剝離，並透過黏著劑層與液晶胞貼合，而藉此連續地製造液晶面板的方式。實現如此方式的連續製造系統，為了與實現將預先切出的偏光薄膜的薄片貼合於液晶胞之以往的個別貼合方式的裝置進行區別，係稱為「連續貼合(RTP；Roll to Panel)」裝置。作為RTP方式的裝置，係能夠使用例如專利文獻3所記載的裝置。

圖1，係表示用以檢測貼合於液晶胞的偏光薄膜的緣部的偏光薄膜緣部檢測裝置之構成之一例的示意圖。該裝置，係例如能夠搭載作為使用於藉由前述RTP方式所進行之對於所製造的液晶胞貼合偏光薄膜之後的步驟之檢查步驟的裝置的一部分。

圖1所示之裝置，係具備：搬運路1，係搬運對於液晶胞C貼合偏光薄膜F而製造的液晶面板P；照明2，係配置於搬運路1的上方；以及攝影機3，係配置於照明2的上方。在藉由搬運路1所搬運的液晶面板P的對象區域A位於攝影機3的拍攝範圍內時，從液晶面板P的搬運方向D的上游側至下游側，照明2會亮燈複數次，並藉由攝影機3拍攝對象區域A的複數個圖像Is。對象區域A，係用以進行液晶胞C與偏光薄膜F的貼合偏差的檢查的區域，一般而言，係包含液晶胞C的緣部CE及角落部CC的區域，以及包含貼合於液晶胞C的偏光薄膜F的緣部FE(此係應檢測的緣部)及角落部FC的區域，然而不限於此，只要是至少包含緣部CE及FE的區域即可。對於對象區域A在複數個位置所拍攝的複數個圖像Is，係傳送至通用的電腦，於電腦選擇用以檢測偏光薄膜F的緣部FE的最佳圖像，並使用所選擇的最佳圖像檢測緣部FE。

使用以對於對象區域A從不同的方向照射光的方式沿著搬運方向D配置的複數個照明2為佳。在對象區域A從搬運方向D的上游側移動至下游側的期間之複數個位置，複數個照明2係依序亮燈。複數個照明2，係至少分別配置於液晶面板P的搬運方向D的上游側及下游側為佳(圖1的照明21、22)，除此之外，於橫跨搬運方向D的方向(液晶面板P的寬度方向)亦配置為佳(圖1的照明23、24)。藉由於液晶面板P的寬度方向亦配置照明2，偏光薄膜F的寬度方向的緣部FS亦能夠更為確實地檢測，故能夠進行更高精度的貼合偏差檢查。並且，作為照明2，例如使用複數個光源配置為圓環狀，並能夠使該等複數個光源個別依序亮燈的1個環狀照明亦可。在使用如此般之環狀照明的情形，藉由從圓周方向的複數個部位使個別的光源各自亮燈，能夠對於對象區域A從不同的複數個方向照射光。

本發明中所使用之攝影機3，視目的而定，能夠使用線攝影機、區域攝影機等。例如，在一邊使液晶面板P移動一邊進行對象區域A的拍攝的情形，使用線攝影機為佳。在使用線攝影機的情形，在使液晶面板P停止的狀態下一邊使線攝影機移動一邊拍攝對象區域A亦可。作為一邊使液晶面板P移動一邊進行對象區域A的拍攝的方法，亦能夠使用區域攝影機，並使快門速度充分比液晶面板P的移動速度更快而攝影。區域攝影機，在拍攝對象區域A之際使液晶面板P停止的情形亦可使用。

於以下之本實施形態中，係使用對於對象區域A在液晶面板P的搬運方向D的上游側及下游側分別配置1個照明21、22、在液晶面板P的寬度方向分別配置1個照明23、24的構成，藉由1個攝影機3拍攝複數個圖像Is，並從該等圖像Is選擇用以檢測液晶薄膜F的緣部FE的最佳圖像Ib。以下，係將使用來自以距離液晶面板P的搬運面高度為一定且照射方向不同的方式，沿著液晶面板P的搬運方向D配置的4個照明21～24的光，於緣部FE從搬運方向D的上游側至下游側移動的期間使照明依序亮燈而進行拍攝的方法作為實施形態，說明本發明。

[偏光薄膜緣部的檢測] (液晶面板的搬運及拍攝) 於圖1所示之裝置中，對於液晶胞C的緣部CE及角落部CC、偏光薄膜F的緣部FE及角落部FC皆包含的對象區域A，拍攝複數個圖像Is。以能夠拍攝對象區域A的方式配置的攝影機3，係配合複數個照明21、22亮燈的時機，在從對象區域A進入至離開攝影機3的拍攝範圍內的期間取得複數個圖像Is。具體而言，在從對象區域A進入至離開攝影機3的拍攝範圍內的期間，在複數個預定位置進行液晶面板P的搬運停止及拍攝，藉此取得複數個圖像Is。預定位置，係能夠為在偏光薄膜F的緣部FE對於攝影點位於搬運方向D的上游側時、位於攝影點或接近攝影點時，或是對於攝影點為搬運方向D的下游側時等。拍攝係例如能夠為在緣部FE對於攝影點位於搬運方向D的上游側時使上游側的照明21亮燈，位於攝影點時使上游側的照明21及下游側的照明22依序亮燈，或是對於攝影點位於搬運方向D的下游側時使下游側的照明22亮燈，而藉此進行。所取得之圖像Is的張數並未特別限定，係能夠考慮用以檢測偏光薄膜F的緣部FE所必要的精度，以及選擇用以檢測緣部FE的最佳圖像的處理的速度來決定。

複數個圖像Is的拍攝，雖如前述般以使從上游側往下游側移動的液晶面板P在每次拍攝停止而藉此進行為佳，然而不限於此，從拍攝範圍的上游側至下游側一邊使液晶面板P移動一邊依序進行亦可。在一邊使液晶面板P移動一邊拍攝的情形，係能夠在從對象區域A進入至離開攝影機3的視野的期間，配合照明21及照明22各自的亮燈的時機使攝影機3的快門開放而拍攝圖像，藉此取得複數個圖像Is。或者，在從對象區域A進入至離開攝影機3的視野的期間使攝影機3的快門開放而連續地進行拍攝，並在該期間使照明21及照明22分別依序亮燈，藉此取得複數個圖像Is亦可。所取得的複數個圖像Is，係從攝影機3例如對於未圖示之通用的電腦透過有線或無線傳送，並儲存於硬碟等之記憶部。

(最佳圖像的選擇) 所取得的複數張圖像Is，係從記憶部被取出，並從該等圖像Is中選擇最佳圖像Ib。最佳圖像Ib，係複數個圖像Is當中，能夠最確實檢測到貼合於液晶胞C的偏光薄膜F的緣部FE的圖像。最佳圖像的選擇，係對於所拍攝的複數個圖像Is之各者，測定偏光薄膜F的緣部FE的亮度，根據亮度求取評估分數，比較圖像之間之所求取的評估分數，並選擇評估分數最高的圖像作為能夠最確實地檢測到緣部FE的最佳圖像Ib。

圖2，係表示從所拍攝的複數個圖像Is選擇最佳圖像Ib的處理整體之流程的流程圖200。並且，圖3係表示求取用以評估複數個圖像Is的評估分數之分數化步驟的具體處理之一例的流程圖，圖4係表示分數化步驟的處理之一例的圖像。以下，一邊參照圖2至圖4，一邊具體地說明選擇最佳圖像Ib的方法。又，圖2至圖4所示之最佳圖像選擇處理的內容僅係一例，視光學顯示面板的種類亦能夠採用其他處理。

首先，於流程圖200之s201中，在液晶面板P被從搬運方向D的上游側往下游側搬運的期間，獲得複數個圖像Is。接著，於s202，對於複數個圖像Is之各者，測定薄膜緣部的亮度，並根據亮度求取各個圖像Is的評估分數。接著，於s203，比較複數個圖像Is之間的評估分數，並選擇評估分數最高的圖像作為能夠最確實地檢測到緣部FE的最佳圖像Ib。

接著，具體說明流程圖200中之各處理。 流程圖200之s201所記載之圖像的取得，就液晶面板的拍攝的項目而言係如前述。接著，如流程圖200的s202所示般，對於所獲得的複數個圖像Is之各者，求取評估確實檢測到偏光薄膜F的緣部FE的可能性之評估分數。具體而言，對於複數個圖像Is之各者在包含緣部FE的複數個部位測定亮度，並將複數部位的亮度分數化，例如求取合計值、平均值、最大值等，將該等值作為評估分數。複數個圖像Is當中該評估分數最高的圖像，係能夠最確實地檢測到緣部FE的最佳圖像Ib。

圖3係流程圖300，該流程圖300，係表示針對複數個圖像Is之各者求取評估分數而選擇最佳圖像，並且於圖像Is之各者中訂定偏光薄膜F的緣部FE的位置的處理之一例的詳情。首先，於s301，將包含設想為偏光薄膜緣部存在的位置以及該等的周邊之複數個小區域(圖4(a)所示之四角形SR1)，沿著偏光薄膜緣部的長度方向進行設定。複數個小區域，係讀取設於液晶胞C的對準標記，並根據對準標記的位置，計算能夠將偏光薄膜F無偏差地按規範貼合於液晶面板P的位置，而設定於如此計算的該位置。對於小區域的尺寸，雖並未限定，然而橫跨偏光薄膜緣部的方向的小區域的長度，係設定為即便偏光薄膜F有偏差地貼合於液晶面板P，緣部亦會位於小區域內的長度為佳。並且，沿著偏光薄膜緣部的長度方向之小區域的長度，係考慮到緣部的檢測精度及處理速度適當設定為佳。小區域的個數係並未限定，考慮到緣部的檢測精度及處理速度設定為佳。於複數個小區域中測定亮度並圖表化。圖表，係如圖4(b)所示，能夠表示從小區域的端部往液晶面板P的內側的方向的距離與亮度的關係。

接著，於s302，對於就複數個小區域之各者所生成的各圖表，搜尋表現為圖表的線與判定偏光薄膜F的緣部FE的有無之預定的閾值TH的交點。採用作為閾值TH的亮度，係能夠是設想為只要是該亮度以上則能夠於圖像中確實地檢測到緣部FE，且該亮度比表示緣部FE以外的明線的最大亮度(OBmax)更大的數值。圖像所表示的緣部FE的明線係具有寬度，故圖表與閾值TH的交點通常存在有2個。2個交點當中，相當於液晶面板P的內側方向的交點的位置CP1，係作為表示緣部FE的明線的內側邊緣的位置。當連結如此般辨認的各小區域的內側邊緣的位置，則連結出的直線係表示緣部FE的明線的內側邊緣(s303)，該位置係表示偏光薄膜F的緣部FE的明線的位置。

另一方面，於s304，係對於複數個小區域之各者，將小區域內之表示緣部FE的明線的最大亮度Bmax分數化。分數化，係例如能夠作為在攝影機3的受光元件能夠接收的最大入射能量所對應的亮度為100時之相對性的亮度表示。或者，亦能夠將所測定的最大亮度Bmax本身作為該小區域的分數。藉由亮度的分數化，小區域的分數，係例如表示為82分、85分、90分...等。對於複數個小區域之各者算出分數之後，於s305，例如將所有小區域的分數合計，並將該合計值作為該圖像的評估分數。又，圖像的評估分數，只要能夠判斷圖像之間的緣部FE的檢測確實性，則不限於小區域的分數的合計值。例如，圖像的評估分數，係複數個小區域的分數的平均点，或是分數為一特定分數以上的小區域的數目等亦可。對於複數個圖像Is之各者如此般求取評估分數，並將評估分數最高的圖像作為最佳圖像Ib。

舉出具體例子，例如，對於所拍攝的2張圖像A及圖像B，沿著緣部FE設定10個小區域，並測定各小區域的亮度。在圖像A之各個小區域的分數合計的值係800分，圖像B之各個小區域的分數合計的值係700分的情形，評估分數較高的圖像A，係判斷為能夠更確實地檢測到偏光薄膜緣部的最佳圖像Ib。又，該圖像A之偏光薄膜F的緣部FE的內側邊緣，係連結10個小區域之內側邊緣的直線。

於求取評估分數及偏光薄膜緣部位置的處理(處理流程圖200之s202、處理流程圖300之s301～s305)所生成的資料，係例如經由通訊線路記憶於硬碟(未圖示)等之記憶部。所記憶的資料，係視必要從記憶部讀取，而能夠運用於之後的步驟，例如求取貼合偏差量的處理等。

如以上般，從所拍攝的複數個圖像Is當中，選擇能夠更精確地檢測到貼合於液晶胞C的偏光薄膜F的緣部FE的最佳圖像Ib。使用所選擇的最佳圖像Ib，檢測緣部FE，例如，能夠從檢測到的緣部FE的位置與液晶胞C的緣部CE的位置的關係，使用發明所屬技術領域具有通常知識者所週知的方法求取偏光薄膜FE的貼合偏差量。

作為所選擇的最佳圖像Ib之緣部FE及其位置，係能夠直接使用選擇作為最佳圖像Ib的圖像之在選擇最佳圖像Ib的處理的過程中檢測到的緣部及其位置。作為其他方法，係能夠對於所選擇的最佳圖像Ib再度進行與為了選擇最佳圖像Ib而對於複數個圖像Is之各者進行的內側邊緣位置的檢測處理(流程圖300的s301～s303)相同的處理，並將最終所檢測到的緣部FE及其位置使用作為用以求取貼合偏差量的緣部及其位置。 [實施例]

以下，說明本發明之實施例。 於本實施例，係使用配置於液晶面板的搬運路的上方之1台攝影機(KEYENCE股份有限公司製，CA-035C)及2個照明(KEYENCE股份有限公司製，CA-DBR8)，取得包含液晶面板所包含的偏光薄膜的前端的緣部之2張圖像。作為液晶面板，係使用於厚度1.6mm之32吋液晶胞貼合有厚度0.1mm的偏光薄膜者。2個照明，係對於攝影機的位置在液晶面板的搬運方向的上游側及下游側分別配置1個，且皆調整為使光往攝影機的垂直下方的攝影點照射。攝影機的位置與液晶面板的位置之間的垂直方向的距離係91mm，照明的位置與液晶面板的位置之間的垂直方向的距離係8mm。使用藉由影像處理裝置(KEYENCE股份有限公司製，XG-5000)測定的亮度，評估所拍攝的2張圖像。

將評估結果示於表1。於表1中，「偏光薄膜緣部位置」，係意指使為了拍攝2張圖像(圖像1及圖像2)而使液晶面板停止的位置，「上游側」、「攝影點」及「下游側」係分別意指偏光薄膜的緣部位於攝影點的上游側時、緣部位於攝影點時，以及緣部位於攝影點的下游側時。「照射方向」，係為了進行拍攝而使液晶面板停止時朝向偏光薄膜的緣部照射光的照明的位置及照射方向，「從上游側」及「從下游側」係分別意指從配置於攝影機的上游側的照明往緣部照射光，以及從配置於攝影機的下游側的照明往緣部照射光。實施例1至實施例5之各者的「偏光薄膜緣部位置」及「照射方向」，係如表1所示。於本實施例中，作為用以選擇最佳圖像的評估分數，係使用亮度。選擇3個包含偏光薄膜緣部所存在的位置及其周邊的小區域(參照圖4)，對於3個小區域之各者測定Bmax，並將所獲得的3個Bmax的平均亮度作為評估分數。

於實施例1中，係比較偏光薄膜緣部位於上游側時藉由從上游側照射的光所拍攝的圖像1，與偏光薄膜緣部位於上游側時藉從下游側照射的光所拍攝的圖像2，而選擇最佳圖像。因圖像1的評估分數(165)比圖像2的評估分數(120)更高，故選擇圖像1作為能夠確實地檢測到偏光薄膜緣部的明線的最佳圖像。

於實施例2中，係比較以相同於實施例1的方式拍攝的圖像1，與偏光薄膜緣部位於攝影點時藉從下游側照射的光所拍攝的圖像2，而選擇最佳圖像。並且，於實施例3中，係比較以相同於實施例1的方式拍攝的圖像1，與偏光薄膜緣部位於下游側時藉從下游側照射的光所拍攝的圖像2，而選擇最佳圖像。實施例2及實施例3，皆選擇了圖像1。

於實施例4中，係比較偏光薄膜緣部位於攝影點時藉由從上游側照射的光所拍攝的圖像1，與偏光薄膜緣部位於下游側時藉從下游側照射的光所拍攝的圖像2，而選擇最佳圖像。於此實施例中，因圖像2的評估分數(150)比圖像1的評估分數(135)更高，故選擇圖像2作為能夠確實地檢測到偏光薄膜緣部的明線的最佳圖像。並且，於實施例5中，係比較偏光薄膜緣部位於下游側時藉由從上游側照射的光所拍攝的圖像1，與偏光薄膜緣部位於下游側時藉從下游側照射的光所拍攝的圖像2，而選擇最佳圖像。於該實施例中，亦選擇了圖像2。

比較例1，係在偏光薄膜緣部位於攝影點使用與攝影機(KEYENCE股份有限公司製，CA-035C)同軸配置的環狀照明(KEYENCE股份有限公司製，CA-DRR8)取得圖像的結果。從實施例1至實施例5之任一情形，選擇作為最佳圖像的圖像的評估分數，接高於比較例1的評估分數(127)。因此，藉由使用本發明所選擇之最佳圖像，與藉由習知技術所拍攝的圖像相比，能夠更為確實地檢測到光學薄膜的緣部的明線。

1:搬運路 2:照明 21,22:照明 23,24:照明 3:攝影機 A:對象區域 C:液晶胞 CC:角落部 CE:緣部 D:搬運方向 F:偏光薄膜 FC:角落部 FE:緣部 FS:緣部 P:液晶面板

[圖1]係表示於液晶面板製造中所使用之用以檢測貼合於液晶胞的偏光薄膜的緣部的緣部檢測裝置之構成的示意圖。 [圖2]係表示於本發明之一實施形態之光學薄膜緣部檢測方法中，從所拍攝的複數個圖像選擇最佳圖像的處理之流程的流程圖。 [圖3]係表示於本發明之一實施形態之方法中進行分數化的處理之詳情的流程圖。 [圖4]係表示分數化處理的步驟的圖像。

Claims (5)

1. 一種光學薄膜緣部檢測方法，係檢測層疊於矩形面板的光學薄膜的緣部；其特徵為：包含： 搬運步驟，係搬運層疊有光學薄膜的矩形面板； 拍攝步驟，係對於前述矩形面板上的包含前述光學薄膜的緣部的對象區域，依序照射來自沿著前述矩形面板的搬運方向配置的複數個光源的光，並藉由1個攝像手段在前述搬運方向的上游側至下游側的複數個位置進行拍攝； 最佳圖像選擇步驟，係從在複數個位置拍攝前述對象區域而藉此獲得的複數個圖像當中，根據各個圖像中之前述緣部的亮度，選擇用以檢測前述緣部的最佳圖像；以及 緣部檢測步驟，係於前述最佳圖像中檢測前述緣部。
2. 如請求項1所述之光學薄膜緣部檢測方法，其中， 前述複數個光源，係至少包含：對於前述1個攝像手段配置於前述搬運方向的上游側之上游側光源以及配置於下游側的下游側光源， 前述拍攝步驟，係在前述緣部位於比作為前述緣部到達前述攝像手段的垂直下方時的位置之攝影點更靠前述搬運方向的上游側時，從前述上游側光源照射光並進行拍攝，在緣部位於比前述攝影點更靠前述搬運方向的下游側時從前述下游側光源照射光並進行拍攝。
3. 如請求項1或請求項2所述之光學薄膜緣部檢測方法，其中， 前述最佳圖像選擇步驟，係包含：根據沿著前述緣部設定的複數個部位的亮度，選擇前述最佳圖像。
4. 如請求項1至請求項3中任一項所述之光學薄膜緣部檢測方法，其中， 前述拍攝步驟，係包含：在每次拍攝，一邊使前述矩形面板停止一邊拍攝前述複數個圖像。
5. 如請求項1至請求項4中任一項所述之光學薄膜緣部檢測方法，其中， 前述拍攝步驟，係包含：進一步使用來自配置為對向於前述矩形面板的寬度方向的光源的光拍攝前述複數個圖像。

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