TW202143691A - 影像雜訊抑制裝置及其方法 - Google Patents

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Abstract

一種影像雜訊抑制裝置及方法。該方法包括：接收原始影像，原始影像包括多個影像像素，各個影像像素具有影像像素值及固定雜訊值，固定雜訊值包括小數；依據小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值，獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數；依據位移後影像像素值、位移後固定雜訊值、隨機數及抑制方程式，獲得位移後雜訊抑制影像像素值；依據小數的位元數及位移後雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像像素值；以及，依據雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像。

Description

影像雜訊抑制裝置及其方法
本案是關於影像雜訊抑制領域，特別是一種影像雜訊抑制裝置及其方法。
影像感測器（Image Sensor）為將光訊號轉換成電訊號的裝置，影像感測器又稱為感光元件。現今影像感測器在擷取景象為影像的過程，影像感測器最終產生的影像會受到許多不同的雜訊影響，例如各個頻率的光線（例如紅色光、綠色光、藍色光、紅外線）之間的串擾、影像感測器的元件與光線之間的串擾、或者是影像感測器的元件本身或彼此之間的運作產生的雜訊。當影像感測器沒有對這些不同的雜訊施以對應的抑制時，時常會導致影像感測器產生的影像失真，而與景象有所誤差。
影像中的固定圖像雜訊（Fix Pattern Noise），例如行與行之間有不一樣的亮度差異，同樣也是諸多影像失真的問題之一。而現今的固定雜訊抑制方法仍無法有效解決前述固定圖像雜訊的問題，造成影像的品質被嚴重影響。
鑑於上述，本案提出一種影像雜訊抑制裝置及其方法。
依據一些實施例，一種影像雜訊抑制方法，包括：接收原始影像，原始影像包括多個影像像素，各個影像像素具有影像像素值及固定雜訊值，固定雜訊值包括小數；依據小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值，獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數；依據位移後影像像素值、位移後固定雜訊值、隨機數及抑制方程式，獲得位移後雜訊抑制影像像素值，其中抑制方程式為O=I-F2+R，O為位移後雜訊抑制影像像素值，I為位移後影像像素值，F2為位移後固定雜訊值，R為隨機數；依據小數的位元數及位移後雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像像素值；以及，依據雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像。
依據一些實施例，一種影像雜訊抑制裝置，包括處理電路用以依據影像雜訊抑制程序，獲得雜訊抑制影像。影像雜訊抑制程序包括：接收原始影像，原始影像包括多個影像像素，各個影像像素具有影像像素值及固定雜訊值，固定雜訊值包括小數；依據小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值，獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數；依據位移後影像像素值、位移後固定雜訊值、隨機數及抑制方程式，獲得位移後雜訊抑制影像像素值，其中抑制方程式為O=I-F2+R，O為位移後雜訊抑制影像像素值，I為位移後影像像素值，F2為位移後固定雜訊值，R為隨機數；依據小數的位元數及位移後雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像像素值；以及，依據雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像。
綜上，依據本案一些實施例，影像雜訊抑制裝置及其方法能依據原始影像中的各個影像像素的固定雜訊值及對應的隨機數，獲得對應的各個雜訊抑制影像素值，再依據雜訊抑制影像素值獲得雜訊抑制影像。其中影像雜訊抑制裝置及其方法依據固定雜訊值的小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值而獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數，再依據位移後影像像素值、位移後固定雜訊值、隨機數及抑制方程式而獲得位移後雜訊抑制影像像素值，而後依據固定雜訊值的小數的位元數及位移後雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像像素值。
本案是關於影像雜訊抑制。儘管在說明書中描述了數個被認為是實施本案的較佳模式，但應理解本案仍可以諸多方式來實現，且不應限定於下述之特定實施例或實現下述特徵的特定方式。在其他情況下，公知細節將不再贅述或討論以避免模糊本案重點。
圖1繪示依據本案一些實施例的影像雜訊抑制裝置10的示意圖，圖2繪示依據本案一些實施例的影像雜訊抑制方法的流程圖。請同時參照圖1及圖2，在一些實施例，影像雜訊抑制裝置10包括一處理電路100。處理電路100用以依據一影像雜訊抑制程序，獲得一雜訊抑制影像IM2。具體而言，處理電路100執行影像雜訊抑制程序，將原始影像IM1轉換為雜訊抑制影像IM2。影像雜訊抑制程序包括以下步驟：影像接收步驟（步驟S210）；參數獲得步驟（步驟S220）；雜訊抑制步驟（步驟S230）；位移調整步驟（步驟S240）；以及，雜訊抑制影像獲得步驟（步驟S250）。
圖3繪示依據本案一些實施例的原始影像IM1的示意圖。請同時參照圖1、圖2及圖3，在一些實施例，影像接收步驟（圖2之步驟S210）包括：接收原始影像IM1，原始影像IM1包括多個影像像素PX1。各個影像像素PX1具有影像像素值及固定雜訊值，固定雜訊值包括小數。具體而言，處理電路100接收的固定雜訊值為包括整數及小數的數值，小數的位元數（即取至小數點後的位數精確度）可由使用者決定或由處理電路100中的預設值決定，並且，固定雜訊值的整數及固定雜訊值的小數皆能以十進位或二進位表示。換句話說，處理電路100接收的固定雜訊值例如但不限於以十進位或二進位表示。例如，十進位的固定雜訊值為「3.6」，其中十進位的整數為「3」，十進位的小數為「6」。二進位的固定雜訊值為「0011.1010」，其中二進位的整數為「0011」，二進位的小數為「1010」，也就是以4位元（bit）為單位代表二進位的整數及小數，但不以此為限。在一些實施例，二進位的整數與小數的單位可以不同，例如二進位的固定雜訊值為「00000001.1000」時，整數的單位為「8位元」，小數的單位為「4位元」。二進位的固定雜訊值為「01.1000」時，整數的單位為「2位元」，小數的單位為「4位元」。二進位的固定雜訊值為「1.1000」時，整數的單位為「1位元」，小數的單位為「4位元」。二進位的固定雜訊值為「1.10」時，整數的單位為「1位元」，小數的單位為「2位元」。在一些實施例，影像像素PX1依據第一軸向D1及第二軸向D2呈二維陣列排列。
在一些實施例，參數獲得步驟（圖2之步驟S220）包括：依據小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值，獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數。具體而言，處理電路100先依據固定雜訊值的小數，獲得小數的位元數（可由使用者決定或由預設值決定）。而後，處理電路100再依據小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值，獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數。在一些實施例，處理電路100依據固定雜訊值的小數的單位，獲得小數的位元數。例如，小數的單位為4位元時，則小數的位元數為「4」。或著，小數的單位為8位元時，則小數的位元數為「8」。
圖4繪示依據本案一些實施例的參數獲得方法的流程圖。請同時參照圖1、圖2及圖4，在一些實施例，處理電路100用以依據一參數獲得程序（即參數獲得步驟，圖2之步驟S220），參數獲得程序依據小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值，獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數。具體而言，處理電路100執行參數獲得程序，將小數的位數、影像像素值及固定雜訊值轉換為位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數。參數獲得程序包括以下步驟：隨機數獲得步驟（步驟S222）；位移後影像像素值獲得步驟（步驟S224）；以及，位移後固定雜訊值獲得步驟（步驟S226）。具體而言，處理電路100執行步驟S222、步驟S224及步驟S226的順序不限於圖4所示，處理電路100能依任意順序執行步驟S222、步驟S224及步驟S226，也能同時或不同時執行步驟S222、步驟S224及步驟S226之任意組合。
在一些實施例，隨機數獲得步驟（圖4之步驟S222）包括：依據小數的位元數及隨機函數，獲得隨機數。具體而言，在一些實施例，處理電路100依據小數的位元數及隨機函數，獲得隨機數。其中，隨機函數例如但不限於循環冗餘校驗（cyclic redundancy check、CRC）。在一些實施例，隨機數的範圍為-2n >R>2n ，R為隨機數，n為小數的位元數。而在一些實施例，隨機數為整數。在一些實施例，小數的位元數為「4」時，隨機數的範圍為-16>R>16。也就是，隨機數不大於16，並且不小於-16。例如，十進位的隨機數能為「9」。
在一些實施例，位移後影像像素值獲得步驟（圖4之步驟S224）包括：依據小數的位元數及影像像素值，獲得位移後影像像素值。具體而言，處理電路100用以將二進位的影像像素值的小數點右移「小數的位元數」的位數，獲得位移後影像像素值。影像像素值包括影像像素整數值及影像像素小數值。例如，小數的位元數為「4」及二進位的影像像素值為「00100000.0000」時，也就是二進位的影像像素整數值為「00100000」以及二進位的影像像素小數值為「0000」時，二進位的位移後影像像素值為「001000000000」。以十進位表示，當十進位的影像像素整數值為「32」以及十進位的影像像素小數值為「0」時，則十進位的位移後影像像素為「512」。換句話說，處理電路100依據小數的位元數「4」及二位元的影像像素值「00100000.0000」，獲得位移後影像像素值「001000000000」，相當於將影像像素值的小數點右移「4」位數來獲得位移後影像像素值。
在一些實施例，位移後固定雜訊值獲得步驟（圖4之步驟S226）包括：依據小數的位元數及固定雜訊值，獲得位移後固定雜訊值。具體而言，步驟S226相似於步驟S224，差別在於，處理電路100用以將二進位的固定雜訊值的小數點右移「小數的位元數」的位數，獲得位移後固定雜訊值。例如，小數的位元數為「4」及二進位的固定雜訊值為「00000001.1001」時，也就是二進位的整數為「00000001」以及二進位的小數為「1001」時，二進位的位移後固定雜訊值為「000000011001」。以十進位表示，當十進位的整數為「1」以及十進位的小數為「9」時，十進位的位移後固定雜訊值為「25」。換句話說，處理電路100依據小數的位元數「4」及二進位的固定雜訊值為「00000001.1001」，獲得位移後固定雜訊值「000000011001」，相當於將固定雜訊值的小數點右移「4」位數來獲得位移後固定雜訊值。
在一些實施例，雜訊抑制步驟（圖2之步驟S230）包括：依據位移後影像像素值、位移後固定雜訊值、隨機數及抑制方程式，獲得位移後雜訊抑制影像像素值。抑制方程式為O=I-F2+R，其中，O為位移後雜訊抑制影像像素值，I為位移後影像像素值，F2為位移後固定雜訊值，R為隨機數。具體而言，當處理電路100獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值、隨機數之後，即可透過抑制方程式獲得位移後雜訊抑制影像像素值。需特別說明的是，當處理電路100運行抑制方程式時，會將位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數轉換為相同的進位形式（例如二進位或十進位），在獲得對應的進位形式的位移後雜訊抑制影像像素值。在一些實施例，以十進位為例，位移後影像像素I為「512」，位移後固定雜訊值F2為「25」，十進位的隨機數R為「9」時。處理電路100依據抑制方程式，獲得對應的位移後雜訊抑制影像像素值O為「496」。同樣的，以二進位為例，位移後影像像素I為「001000000000」，位移後固定雜訊值F2為「000000011001」，隨機數R為「000000001001」時。處理電路100依據抑制方程式，獲得對應的位移後雜訊抑制影像像素值O為「000111110000」。
在一些實施例，位移調整步驟（圖2之步驟S240）包括：依據小數的位元數及位移後雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像像素值。具體而言，處理電路100用以將二進位的位移後雜訊抑制影像像素值的小數點左移「小數的位元數」的位數，獲得雜訊抑制影像像素值。例如，小數的位元數為「4」及二進位的位移後雜訊抑制影像像素值為「000111110000」時，則二進位的雜訊抑制影像像素值為「00011111.0000」。以十進位表示，當十進位的位移後雜訊抑制影像像素值為「496」時，則十進位的雜訊抑制影像像素值為「31」。換句話說，處理電路100依據小數的位元數「4」及二進位的位移後雜訊抑制影像像素值「000111110000」，獲得雜訊抑制影像像素值為「00011111.0000」，相當於將位移後雜訊抑制影像像素值的小數點左移「4」位數來獲得雜訊抑制影像像素值。
請同時參照圖1、圖2及圖3，雜訊抑制影像獲得步驟（圖2之步驟S250）包括：依據雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像IM2。具體而言，雜訊抑制影像IM2包括多個雜訊抑制影像像素。換句話說，雜訊抑制影像像素於雜訊抑制影像IM2的排列方式對應於影像像素PX1於原始影像IM1的排列方式。各個雜訊抑制影像像素具有對應的雜訊抑制影像像素值，其中雜訊抑制影像像素值以一對一的方式對應於影像像素值。因此，處理電路100能依據雜訊抑制影像像素值獲得雜訊抑制影像IM2。在一些實施例，雜訊抑制影像像素依據第一軸向D1及第二軸向D2呈二維陣列排列。
圖5繪示依據本案另一些實施例的影像雜訊抑制裝置10’的示意圖，圖6繪示依據本案一些實施例的影像擷取方法的流程圖。請同時參照圖5及圖6，在一些實施例，相對於影像雜訊抑制裝置10，影像雜訊抑制裝置10’更包括一影像擷取電路300，影像擷取電路300耦接處理電路100。影像擷取電路300用以依據一影像擷取程序，獲得接收的原始影像IM1。具體而言，影像擷取電路300執行影像擷取程序，將景象SC擷取為原始影像IM1。並且，影像擷取電路300傳送原始影像IM1至處理電路100，使處理電路100能接收到原始影像IM1。影像雜訊抑制程序包括以下步驟：最大固定雜訊值獲得步驟（步驟S410）；當前影像獲得步驟（步驟S420）；雜訊調整步驟（步驟S430）；以及，原始影像獲得步驟（步驟S440）。
圖7繪示依據本案另一些實施例的原始影像的示意圖。請同時參照圖5、圖6及圖7，在一些實施例，最大固定雜訊值獲得步驟（圖6之步驟S410）包括：設定一影像擷取電路300的一放大增益至一最大增益，並針對一景象SC擷取一測試影像IM0。測試影像IM0包括多個測試像素PX0，測試像素PX0對應於影像像素PX1，各個測試像素PX0具有最大固定雜訊值。具體而言，影像擷取電路300的放大增益能設定於最大增益與最小增益之間，其中最大增益為放大增益的最大值，最小增益為放大增益的最小值。當影像擷取電路300的放大增益設定為最大增益時，影像擷取電路300針對景象SC擷取的影像即為測試影像IM0。而各個測試像素PX0具有最大固定雜訊值，也就是各個測試像素PX0有其對應的一個最大固定雜訊值。於此，測試影像IM0中的測試像素PX0以一對一的方式對應於原始影像IM1中的影像像素PX1，測試像素PM0的排列方式對應於影像像素PX1的排列方式。在一些實施例，測試像素PX0具有的「最大固定雜訊值」是「最大行固定雜訊值」，也就是位於同一「行」的各個測試像素PX0具有相同的「最大行固定雜訊值」。
在一些實施例，當前影像獲得步驟（圖6之步驟S420）包括：設定影像擷取電路300的放大增益至一當前增益，並針對景象SC擷取一當前影像。具體而言，當前增益為介於最大增益與最小增益之間的放大增益。當影像擷取電路300的放大增益設定為當前增益時，影像擷取電路300針對景象SC擷取的影像即為當前影像。因此當前增益等於最大增益時，當前影像即為測試影像IM0。
在一些實施例，影像擷取電路300能動態調整當前增益，例如但不限於下列示例：影像擷取電路300依據景象SC的背景亮度而動態調整當前增益（例如，當景象SC的背景亮度較暗時，影像擷取電路300能調高當前增益，使得擷取的當前影像不會因為背景亮度較暗而顯得不夠亮。同理，當景象SC的背景亮度較亮時，影像擷取電路300能調低當前增益）。影像擷取電路300依據自身設定的自動曝光已達到最大值或最小值時，影像擷取電路300動態調整當前增益以補足當前影像的亮度。影像擷取電路300依據影像雜訊抑制裝置10’的其他電路的調整指令而動態調整當前增益（例如，其他電路為處理電路100時，處理電路100依據不同的影像擷取電路300，輸出不同的調整指令，因為不同的的影像擷取電路300獲得的當前影像具有不同的固定雜訊值）。
在一些實施例，雜訊調整步驟（圖6之步驟S430）包括：依據雜訊調整方程式，獲得各個影像像素PX1對應的固定雜訊值。雜訊調整方程式為：F1=（C/M）*F0，其中，F1為固定雜訊值，C為當前增益，M為最大增益，F0為最大固定雜訊值。具體而言，固定雜訊值對應於當前增益，固定雜訊值會依據影像擷取電路300的當前增益的變化而對應變化，因此影像擷取電路300依據各個影像像素PX1對應的固定雜訊值、當前增益及最大增益，即可獲得對應的固定雜訊值。由於最大的當前增益為最大增益，最小的當前增益為最小增益，因此「當前增益除以最大增益C/M」的數值介於0至1之間。在一些實施例，同一個原始影像IM1中的各個影像像素PX1對應同一組的當前增益及最大增益，也就是同一個原始影像IM1中的各個影像像素PX1對應相同的「當前增益除以最大增益C/M」。
在一些實施例，原始影像獲得步驟（圖6之步驟S440）包括：依據當前影像及各個影像像素PX1對應的固定雜訊值，獲得原始影像IM1。具體而言，當前影像即為不包括固定雜訊值的原始影像IM1，因此影像擷取電路300依據當前影像及各個影像像素PX1對應的固定雜訊值，能獲得原始影像IM1。
請同時參照圖5及圖7，在一些實施例，影像擷取電路300用以依據一行固定雜訊值獲得程序，獲得各個測試像素PX0對應的最大行固定雜訊值。具體而言，最大行固定雜訊值即為一種以「行」為單位的最大固定雜訊值，也就是位於同一「行」的各個測試像素PX0的最大固定雜訊值皆為最大行固定雜訊值。行固定雜訊值獲得程序包括步驟S510至步驟S550（圖未繪示），如下所列：
在一些實施例，步驟S510包括，設定影像擷取電路300的放大增益至最大增益，針對景象SC擷取多個測試影像IM0。具體而言，測試影像IM0包括多個行C0，各個行C0與第二軸向D2平行，每一行C0具有多個測試像素PX0。在一些實施例，用來獲得多個測試影像IM0的景象SC的背景亮度為低亮度，其中低亮度是照度在10勒克斯（lux）以下的背景亮度。
在一些實施例，步驟S520包括，依據一平均方程式對各個測試影像IM0的總和做平均計算，獲得平均測試影像。平均方程式為
Figure 02_image001
，其中T為平均測試影像，Ti為第i個的測試影像IM0，N為計算總和的測試影像IM0的總數。具體而言，此步驟用於消除一般雜訊干擾。
在一些實施例，步驟S530包括，依據一單行平均像素值獲得公式、各個測試像素PX0的測試像素值及每一行C0中的測試像素PX0的個數，獲得單行平均像素值。單行平均像素值獲得公式為
Figure 02_image003
，其中Cx為單行平均像素值，T(x,y)為位於座標(x,y)的測試像素PX0的測試像素值，H為每一行C0中的測試像素PX0的個數。
在一些實施例，步驟S540包括，依據一行相鄰區域像素值獲得公式、單行平均像素值及行相鄰區域的寬度，獲得各行C0的行相鄰區域像素值。行相鄰區域像素值獲得公式為
Figure 02_image005
，其中w為行相鄰區域的寬度，Cx為單行平均像素值。例如行相鄰區域的寬度w為2時，第「5」行的行相鄰區域像素值E5=（C3+C4+C5+C6+C7）/5，C3至C7分別為第「3」行至第「7」行的單行平均像素值。
在一些實施例，步驟S550包括，依據一最大行固定雜訊值獲得公式、單行平均像素值及行相鄰區域像素值，獲得各行C0的最大行固定雜訊值。最大行固定雜訊值獲得公式為Fx=Cx-Ex，其中Fx為最大行固定雜訊值，Cx為單行平均像素值，Ex為行相鄰區域像素值。
在一些實施例，影像雜訊抑制裝置10配置於一終端設備中，該終端設備例如但不限於手機、平板電腦、筆記型電腦、桌上型電腦、攝影設備或智慧型穿戴設備。
在一些實施例，影像雜訊抑制裝置10更包括一影像顯示裝置及一儲存裝置。影像顯示裝置用以顯示雜訊抑制影像IM2。影像顯示裝置例如但不限於液晶顯示器、發光二極體顯示器、有機發光二極體顯示器。儲存裝置用以儲存測試影像IM0、原始影像IM1及雜訊抑制影像IM2，以及儲存前述的各種數值及訊號。儲存裝置例如但不限於揮發性記憶體、唯讀記憶體、快閃記憶體、磁碟。
在一些實施例，各個影像像素PX1不僅能具有一種影像像素值，影像像素PX1也能具有多種的影像像素值，也就是影像像素值例如但不限於紅色光、綠色光、藍色光、紅外線等。影像雜訊抑制裝置10及影像雜訊抑制方法能適於不同的色彩空間，例如但不限於灰階（Gray）色彩空間、RGB色彩空間、YUV色彩空間、RAW格式的色彩空間等。
綜上，在本案一些實施例，影像雜訊抑制裝置及其方法能依據原始影像中的各個影像像素的固定雜訊值及對應的隨機數，獲得對應的各個雜訊抑制影像素值，再依據雜訊抑制影像素值獲得雜訊抑制影像。其中影像雜訊抑制裝置及其方法依據固定雜訊值的小數的位元數、影像像素值及固定雜訊值而獲得位移後影像像素值、位移後固定雜訊值及隨機數，再依據位移後影像像素值、位移後固定雜訊值、隨機數及抑制方程式而獲得位移後雜訊抑制影像像素值，而後依據固定雜訊值的小數的位元數及位移後雜訊抑制影像像素值，獲得雜訊抑制影像像素值。在一些實施例，影像雜訊抑制裝置及其方法依據固定雜訊值的小數的位元數，執行隨機函數而獲得隨機數，對影像像素值進行小數點位移而獲得該位移後影像像素值，對固定雜訊值進行小數點位移而獲得位移後固定雜訊值，以及對位移後雜訊抑制影像像素值進行小數點位移而獲得雜訊抑制影像像素值。在一些實施例，影像雜訊抑制裝置及其方法能利用隨機數及小數點位移以避免原始影像在抑制固定圖像雜訊的過程中產生影像失真，特別是因為忽略計算固定雜訊值的小數而產生的影像失真。因此，影像雜訊抑制裝置及其方法能獲得低固定圖像雜訊的雜訊抑制影像。
雖然本案的技術內容已經以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本案，任何熟習此技藝者，在不脫離本案之精神所作些許之更動與潤飾，皆應涵蓋於本案的範疇內，因此本案之專利保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10:影像雜訊抑制裝置 10’:影像雜訊抑制裝置 100:處理電路 300:影像擷取電路 SC:景象 IM0:測試影像 IM1:原始影像 IM2:雜訊抑制影像 PX0:測試像素 PX1:影像像素 C0:行 D1:第一軸向 D2:第二軸向 S210~S250、S222~S226、S410~S440:步驟
圖1繪示依據本案一些實施例的影像雜訊抑制裝置的示意圖。 圖2繪示依據本案一些實施例的影像雜訊抑制方法的流程圖。 圖3繪示依據本案一些實施例的原始影像的示意圖。 圖4繪示依據本案一些實施例的參數獲得方法的流程圖。 圖5繪示依據本案另一些實施例的影像雜訊抑制裝置的示意圖。 圖6繪示依據本案一些實施例的影像擷取方法的流程圖。 圖7繪示依據本案另一些實施例的原始影像的示意圖。
S210~S250:步驟

Claims (10)

  1. 一種影像雜訊抑制方法，包括： 接收一原始影像，該原始影像包括多個影像像素，各該影像像素具有一影像像素值及一固定雜訊值，該固定雜訊值包括一小數； 依據該小數的位元數、該影像像素值及該固定雜訊值，獲得一位移後影像像素值、一位移後固定雜訊值及一隨機數； 依據該位移後影像像素值、該位移後固定雜訊值、該隨機數及一抑制方程式，獲得一位移後雜訊抑制影像像素值，其中該抑制方程式為： O=I-F2+R 其中，O為該位移後雜訊抑制影像像素值，I為該位移後影像像素值，F2為該位移後固定雜訊值，R為該隨機數； 依據該小數的位元數及該位移後雜訊抑制影像像素值，獲得一雜訊抑制影像像素值；及 依據該些雜訊抑制影像像素值，獲得一雜訊抑制影像。
  2. 如請求項1所述的影像雜訊抑制方法，更包括一參數獲得程序，該參數獲得程序依據該小數的位元數、該影像像素值及該固定雜訊值，獲得該位移後影像像素值、該位移後固定雜訊值及該隨機數，該參數獲得程序包括： 依據該小數的位元數及一隨機函數，獲得該隨機數； 依據該小數的位元數及該影像像素值，獲得該位移後影像像素值；及 依據該小數的位元數及該固定雜訊值，獲得該位移後固定雜訊值。
  3. 如請求項2所述的影像雜訊抑制方法，其中，該隨機數的範圍為-2n >R>2n ，R為該隨機數，n為該小數的位元數。
  4. 如請求項1所述的影像雜訊抑制方法，其中，該小數的位元數為4時，該隨機數的範圍為-16>R>16。
  5. 如請求項1所述的影像雜訊抑制方法，更包括一影像擷取方法，該影像擷取方法用於獲得接收的該原始影像，該影像擷取方法包括： 設定一影像擷取電路的一放大增益至一最大增益，並針對一景象擷取一測試影像，該測試影像包括多個測試像素，該些測試像素對應於該些影像像素，各該測試像素具有一最大固定雜訊值； 設定該影像擷取電路的該放大增益至一當前增益，並針對該景象擷取一當前影像； 依據一雜訊調整方程式，獲得各該影像像素對應的該固定雜訊值，該雜訊調整方程式為： F1=（C/M）*F0 其中，F1為該固定雜訊值，C為該當前增益，M為該最大增益，F0為該最大固定雜訊值；及 依據該當前影像及各該影像像素對應的該固定雜訊值，獲得該原始影像。
  6. 一種影像雜訊抑制裝置，包括： 一處理電路，用以依據一影像雜訊抑制程序，獲得一雜訊抑制影像，該影像雜訊抑制程序包括： 接收一原始影像，該原始影像包括多個影像像素，各該影像像素具有一影像像素值及一固定雜訊值，該固定雜訊值包括一小數； 依據該小數的位元數、該影像像素值及該固定雜訊值，獲得一位移後影像像素值、一位移後固定雜訊值及一隨機數； 依據該位移後影像像素值、該位移後固定雜訊值、該隨機數及一抑制方程式，獲得一位移後雜訊抑制影像像素值，其中該抑制方程式為： O=I-F2+R 其中，O為該位移後雜訊抑制影像像素值，I為該位移後影像像素值，F2為該位移後固定雜訊值，R為該隨機數； 依據該小數的位元數及該位移後雜訊抑制影像像素值，獲得一雜訊抑制影像像素值；及 依據該些雜訊抑制影像像素值，獲得一雜訊抑制影像。
  7. 如請求項6所述的影像雜訊抑制裝置，其中該處理電路用以依據一參數獲得程序，該參數獲得程序依據該小數的位元數、該影像像素值及該固定雜訊值，獲得該位移後影像像素值、該位移後固定雜訊值及該隨機數，該參數獲得程序包括： 依據該小數的位元數及一隨機函數，獲得該隨機數； 依據該小數的位元數及該影像像素值，獲得該位移後影像像素值；及 依據該小數的位元數及該固定雜訊值，獲得該位移後固定雜訊值。
  8. 如請求項7所述的影像雜訊抑制裝置，其中，該隨機數的範圍為-2n >R>2n ，R為該隨機數，n為該小數的位元數。
  9. 如請求項6所述的影像雜訊抑制裝置，其中，該小數的位元數為4時，該隨機數的範圍為-16>R>16。
  10. 如請求項6所述的影像雜訊抑制裝置，更包括一影像擷取電路，用以依據一影像擷取程序，獲得接收的該原始影像，該影像擷取方法包括： 設定一影像擷取電路的一放大增益至一最大增益，並針對一景象擷取一測試影像，該測試影像包括多個測試像素，該些測試像素對應於該些影像像素，各該測試像素具有一最大固定雜訊值； 設定該影像擷取電路的該放大增益至一當前增益，並針對該景象擷取一當前影像； 依據一雜訊調整方程式，獲得各該影像像素對應的該固定雜訊值，該雜訊調整方程式為： F1=（C/M）*F0 其中，F1為該固定雜訊值，C為該當前增益，M為該最大增益，F0為該最大固定雜訊值；及 依據該當前影像及各該影像像素對應的該固定雜訊值，獲得該原始影像。
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