TW202131300A - 畫素結構與顯示面板 - Google Patents
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Abstract
一種畫素結構包含發光模組、多個子畫素電路與內部驅動電路。發光模組包含多個子畫素發光元件,且設置於第一平面。多個子畫素電路設置於第二平面,且各自電性連接於多個子畫素發光元件中對應的一者。內部驅動電路設置於第二平面,且電性連接於多個子畫素電路的其中之一。第一平面不同於第二平面,且多個子畫素電路與內部驅動電路位於發光模組於第二平面的垂直投影之內。
Description
本揭示文件有關一種顯示面板,尤指一種窄邊框之顯示面板。
窄邊框設計常被應用於個人電腦的螢幕或家用電視中,以在玩遊戲或觀賞電影時營造視覺沉浸感。近年來隨著行動裝置的普及,窄邊框技術也被大量應用於行動裝置上,以在裝置體積受限的情況下提供最佳的視覺效果。然而,顯示面板周邊區域通常設置有許多的解多工器、測試用電路與移位暫存器等等,這些周邊電路使得邊框寬度難以進一步縮減。
本揭示文件提供一種畫素結構,其包含發光模組、多個子畫素電路與內部驅動電路。發光模組包含多個子畫素發光元件,且設置於第一平面。多個子畫素電路設置於第二平面,且各自電性連接於多個子畫素發光元件中對應的一者。內部驅動電路設置於第二平面,且電性連接於多個子畫素電路的其中之一。第一平面不同於第二平面,且多個子畫素電路與內部驅動電路位於發光模組於第二平面的垂直投影之內。
本揭示文件提供一種顯示面板,其包含N個多工控制線、M個測試控制線與多個畫素結構。N個多工控制線在第一方向上延伸。M個測試控制線在第一方向上延伸,且N和M為正整數。多個畫素結構中的部分畫素結構包含發光模組、多個子畫素電路與內部驅動電路。發光模組包含多個子畫素發光元件,且設置於第一平面。多個子畫素電路設置於第二平面,且各自電性連接於多個子畫素發光元件中對應的一者。內部驅動電路設置於第二平面,電性連接於N個多工控制線的其中之一或M個測試控制線的其中之一,且電性連接於多個子畫素電路的其中之一。第一平面不同於第二平面,且多個子畫素電路與內部驅動電路位於發光模組於第二平面的垂直投影之內。
本揭示文件提供一種顯示面板,其包含周邊區與主動區。主動區用於提供顯示畫面,且包含測試走線區、中央區與多工走線區。測試走線區、中央區與多工走線區各自包含多個畫素結構,且每個畫素結構包含發光模組與多個子畫素電路。發光模組包含多個子畫素發光元件。多個子畫素電路各自電性連接於多個子畫素發光元件中對應的一者。測試走線區與多工走線區的每個畫素結構另包含內部驅動電路,內部驅動電路耦接於多個子畫素電路的其中之一。中央區的每個畫素結構不包含內部驅動電路。
上述的畫素結構與顯示面板有助於進一步縮減窄邊框設計中的邊框寬度極限。
以下將配合相關圖式來說明本揭示文件的實施例。在圖式中,相同的標號表示相同或類似的元件或方法流程。
第1圖為根據本揭示文件一實施例的顯示面板100簡化後的功能方塊圖。顯示面板100包含主動區AA、周邊區PA、第一移位暫存器110與第二移位暫存器120。主動區AA包含多個畫素結構PX,多個畫素結構PX用於自驅動晶片101接收資料電壓,並用於依據資料電壓提供顯示畫面。第一移位暫存器110與第二移位暫存器120設置於圍繞主動區AA的周邊區PA,且用於驅動主動區AA中的畫素結構PX接收資料電壓。主動區AA包含多工走線區130、測試走線區140與中央區150。顯示面板100可藉由將解多工器與用於功能測試的線路分別設置於多工走線區130與測試走線區140內來縮減周邊區PA的寬度,進而縮減邊框寬度。為使圖面簡潔而易於說明,顯示面板100中的其他元件與連接關係並未繪示於第1圖中。另外,在一些實施例中,顯示面板100也可以使用單獨一個驅動能力較大的移位暫存器。
第2圖為根據本揭示文件一實施例的多工走線區200簡化後的功能方塊圖。第3圖為依據本揭示文件一實施例的畫素結構PX簡化後的功能方塊圖。第4圖為根據本揭示文件一實施例的測試走線區400簡化後的功能方塊圖。在一實施例中,第1圖的多工走線區130和測試走線區140分別是由第2圖的多工走線區200和第4圖的測試走線區400來實現。請先參考第2圖與第3圖,多工走線區200中的每個畫素結構PX包含多個子畫素電路210(例如,第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b與第三子畫素電路210c)、內部驅動電路220以及發光模組310。發光模組310包含多個子畫素發光元件312(例如,第一子畫素發光元件312a、第二子畫素發光元件312b與第三子畫素發光元件312c)。每個子畫素電路210對應地電性連接於多個子畫素發光元件312的其中之一,以驅動該子畫素發光元件312發光。例如,在本實施例中,第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b與第三子畫素電路210c分別電性連接於第一子畫素發光元件312a、第二子畫素發光元件312b與第三子畫素發光元件312c。
在一些實施例中,子畫素發光元件312可以用有機發光二極體(Organic Light-Emitting Diode,簡稱OLED)或是微發光二極體(Micro LED)來實現。
另外,在本案說明書和圖式中,若使用某一元件編號時沒有指明該元件編號的索引,則代表該元件編號是指稱所屬元件群組中不特定的任一元件。例如,元件編號210a指稱的對象是第一子畫素電路210a,而元件編號210指稱的對象則是第一子畫素電路210a至第三子畫素電路210c中不特定的任意子畫素電路。又例如,元件編號312a指稱的對象是第一子畫素發光元件312a,而元件編號312指稱的對象則是第一子畫素發光元件312a至第三子畫素發光元件312c中不特定的任意子畫素發光元件。
如第2圖所示,顯示面板100還包含在第一方向Xd上延伸的多個閘極線GL以及在第二方向Yd上延伸的多個資料傳輸線DT。多個閘極線GL耦接於第1圖的第一移位暫存器110與第二移位暫存器120。多個子畫素電路210設置的位置對應於多個閘極線GL與多個資料傳輸線DT的交叉處,且每個子畫素電路210電性連接於多個閘極線GL中對應的一者與多個資料傳輸線DT中對應的一者。每個資料傳輸線DT則電性連接於位於對應的一直行中的所有子畫素電路210。
在本實施例中,子畫素電路210可以包含電晶體T1、電晶體T2、電容C1與第一穿孔VA1,且子畫素電路210透過第一穿孔VA1電性連接於子畫素發光元件312,但本揭示文件中子畫素電路210的電路結構不以此為限。
顯示面板100中的畫素結構PX在第二方向Yd上排列成i列畫素列R[1]~R[i],且多工走線區200包含該i列畫素列R[1]~R[i]中的前三列畫素列R[1]~R[3],其中i為正整數。多工走線區200還包含在第二方向Yd上延伸的多個資料來源線DSL以及在第一方向Xd上延伸的多個(例如,3個)多工控制線MX。多個資料來源線DSL電性連接於第1圖的驅動晶片101以接收資料電壓。多個多工控制線MX與多個資料來源線DSL可以只設置於畫素列R[1]~R[3]而不延伸至其餘的畫素列。換言之,多個多工控制線MX與多個資料來源線DSL可以僅電性連接於畫素列R[1]~R[3]中的畫素結構PX。
內部驅動電路220包含電晶體222,且電晶體222包含第一端、第二端與控制端。電晶體222的第一端耦接於多個資料來源線DSL中對應的一者。電晶體222的第二端耦接於多個資料傳輸線DT中對應的一者。設置於同一畫素列的電晶體222的閘極端耦接於同一個多工控制線MX。
在電性連接於同一個資料來源線DSL的多個電晶體222中,設置於畫素列R[1]的電晶體222電性連接於用於驅動第一子畫素電路210a的資料傳輸線DT;設置於畫素列R[2]的電晶體222電性連接於用於驅動第二子畫素電路210b的資料傳輸線DT;設置於畫素列R[3]的電晶體222電性連接於用於驅動第三子畫素電路210c的資料傳輸線DT。
換言之,電性連接於同一個資料來源線DSL的多個電晶體222會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配資料電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[1]~R[3]的電晶體222與子畫素電路的對應關係不以第2圖的實施例為限。電性連接於同一個資料來源線DSL的多個內部驅動電路220共同形成了一個一對三解多工器,且該解多工器可用於將該同一資料來源線DSL上的資料電壓分配至不同的資料傳輸線DT。
第一子畫素發光元件312a、第二子畫素發光元件312b與第三子畫素發光元件312c分別用於提供紅光、綠光與藍光,但本實施例的子畫素之顏色排列方式不以此為限。
在本實施例中,多個子畫素電路210和內部驅動電路220位於發光模組310的垂直投影230之內。垂直投影230包含第一區域232和第二區域234,其中多個子畫素電路210位於第一區域232內,而內部驅動電路220位於第二區域234內。在一些實施例中,第一區域232的形狀包含矩形,而第二區域234的形狀包含L形,且第二區域234可以連接於第一區域232的相鄰兩側邊。
請參照第4圖,測試走線區400包含第一測試控制線CSa、多個子測試控制線SCS與多個(例如,3個)測試來源線TSL,其中第一測試控制線CSa電性連接於多個子測試控制線SCS。第一測試控制線CSa與多個測試來源線TSL在第一方向Xd上延伸,而多個子測試控制線SCS在第二方向Yd上延伸。測試走線區400包含畫素列R[1]~R[i]中的末三列畫素列R[i-2]~R[i]。多個子測試控制線SCS與多個測試來源線TSL可以只設置於末三列畫素列R[i-2]~R[i]而不延伸至其餘的畫素列。亦即,多個子測試控制線SCS與多個測試來源線TSL可以僅電性連接於畫素列R[i-2]~R[i]中的畫素結構PX。
測試走線區400的畫素結構PX相似於多工走線區200的畫素結構PX。測試走線區400中的每個畫素結構PX包含第一子畫素電路210a至第三子畫素電路210c、第一子畫素發光元件312a至第三子畫素發光元件312c、以及內部驅動電路420。內部驅動電路420包含電晶體422,且電晶體422包含第一端、第二端與控制端。電晶體422的第一端與第二端分別耦接於多個測試來源線TSL中對應的一者與多個資料傳輸線DT中對應的一者,且設置於同一畫素列的電晶體422耦接於同一個測試來源線TSL。
電晶體422的控制端耦接於子測試控制線SCS中對應的一者。在電性連接於同一個子測試控制線SCS的多個電晶體422中,設置於畫素列R[i]的電晶體422電性連接於用於驅動第一子畫素電路210a的資料傳輸線DT;設置於畫素列R[i-1]的電晶體422電性連接於用於驅動第二子畫素電路210b的資料傳輸線DT;設置於畫素列R[i-2]的電晶體422電性連接於用於驅動第三子畫素電路210c的資料傳輸線DT。亦即,電性連接於同一個子測試控制線SCS的多個電晶體422會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配測試電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[i]~R[i-2]的電晶體422與子畫素電路的對應關係不以第4圖的實施例為限。
在一些實施例中,當顯示面板100進行品質測試時,第一測試控制線CSa會同時導通所有的電晶體422,以將多個測試來源線TSL上的測試電壓對應地分配至多個資料傳輸線DT。
前述多工走線區200的其餘連接方式、元件、實施方式以及優點,皆適用於測試走線區400,為簡潔起見,在此不重複贅述。
值得一提的是,在第1圖的多工走線區130和測試走線區140分別是由第2圖的多工走線區200和第4圖的測試走線區400來實現的實施例中,每個資料傳輸線DT會透過一個電晶體222和一個電晶體422分別電性連接於多個資料來源線DSL的其中之一與多個測試來源線TSL的其中之一。
第5圖為沿著第2圖中剖線A-A’簡化後的剖面示意圖。如第5圖所示,顯示面板100包含由下至上依序堆疊設置的基板SB、緩衝層BF、第一閘極絕緣層GI1、第二閘極絕緣層GI2、夾層介電層(Interlayer Dielectric Layer)IN、平坦化層(Planarization Layer)PL以及畫素定義層(Pixel Definition Layer)PI。電晶體T1包含源極SE、汲極DE、閘極GE與半導體層SM。半導體層SM設置於緩衝層BF上方,且第一閘極絕緣層GI1覆蓋於半導體層SM上方。閘極GE設置於第一閘極絕緣層GI1上方,且第二閘極絕緣層GI2覆蓋於閘極GE上方。源極SE和汲極DE設置於夾層介電層IN上方,其中源極SE和汲極DE分別透過第二穿孔VA2和第三穿孔VA3穿過夾層介電層IN、第二閘極絕緣層GI2與第一閘極絕緣層GI1而電性連接於半導體層SM。電晶體222的結構相似於電晶體T1,為簡潔起見,在此不重複贅述。
子畫素發光元件312包含橋接層BR、陽極AN、陰極CA與有機發光層OE。橋接層BR設置於平坦化層PL上方,且透過第一穿孔VA1穿過橋接層BR而電性連接於電晶體T1的汲極DE。陽極AN設置於橋接層BR上方,且畫素定義層PI覆蓋於橋接層BR和陽極AN上方。有機發光層OE設置於畫素定義層PI上方,且透過第四穿孔VA4穿過畫素定義層PI而電性連接於陽極AN。陰極CA設置於畫素定義層PI上方,且覆蓋於有機發光層OE上方。在一些實施例中,畫素結構PX還可以包含設置於畫素定義層PI上方的多個光電間隔件(Photo Spacer)PS,其中陰極CA覆蓋於多個光電間隔件PS上方。
在本實施例中,畫素結構PX還可以包含夾層金屬層(Interlayer Metal Layer)IM。夾層金屬層IM設置於第一閘極絕緣層GI1的上方,且第二閘極絕緣層GI2覆蓋於夾層金屬層IM上方。夾層金屬層IM用於與電晶體222的閘極GE形成第2圖的電容C1,但本揭示文件不以此為限。實作上,第2圖的電容C1可以用第3圖中任兩種位於不同層的導體來實現。
由上述可知,第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c與內部驅動電路220可以設置於同一層或同一平面,例如緩衝層BF的上表面。發光模組310可以設置於另一平面,例如平坦化層PL的上表面。此時,第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c與內部驅動電路220便會位於發光模組310於緩衝層BF的上表面的垂直投影230之內。
第6圖為根據本揭示文件另一實施例的多工走線區600簡化後的功能方塊圖。第7圖為根據本揭示文件另一實施例的測試走線區700簡化後的功能方塊圖。在一實施例中,第1圖的多工走線區130和測試走線區140分別是由第6圖的多工走線區600和第7圖的測試走線區700來實現。多工走線區600和測試走線區700的畫素結構PX分別相似於多工走線區200和測試走線區400的畫素結構PX,差異在於,多工走線區600和測試走線區700的畫素結構PX包含6個子畫素電路210,例如第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c、第四子畫素電路210d、第五子畫素電路210e與第六子畫素電路210f。上述的6個子畫素電路210各自耦接於一對應的子畫素發光元件312。因此,第6圖和第7圖的畫素結構PX的發光模組310會對應地包含6個(圖未示)子畫素發光元件312。
第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c、第四子畫素電路210d、第五子畫素電路210e與第六子畫素電路210f對應地電性連接的6個子畫素發光元件312分別用於提供紅色、綠色、藍色、紅色、綠色以及藍色的光線,但本實施例的子畫素之顏色排列方式不以此為限。
請參考第6圖,多工走線區600相似於第2圖的多工走線區200,其中一項差異在於,多工走線區600包含畫素列R[1]~R[n]中的前六列畫素列R[1]~R[6]。多工走線區600的多個資料來源線DSL與多個(例如,6個)多工控制線MX可以設置於前六列畫素列R[1]~R[6],但不延伸至其他的畫素列,亦即多個資料來源線DSL與多個多工控制線MX可以僅電性連接於畫素列R[1]~R[6]中的畫素結構PX。電性連接於同一個資料來源線DSL的多個電晶體222會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配資料電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[1]~R[6]的電晶體222與子畫素電路的對應關係不以第6圖的實施例為限。因此,電性連接於同一個資料來源線DSL的多個內部驅動電路220共同形成了一個一對六解多工器。
請參考第7圖,測試走線區700相似於第4圖的測試走線區400,其中一項差異在於,測試走線區700包含畫素列R[1]~R[n]中的末六列畫素列R[i-5]~R[i]。測試走線區700的多個測試來源線TSL與多個子測試控制線SCS可以只設置於末六列畫素列R[i-5]~R[i]而不延伸至其他的畫素列,亦即多個測試來源線TSL與多個子測試控制線SCS可以僅耦接於畫素列R[i-5]~R[i]中的畫素結構PX。電性連接於同一個子測試控制線SCS的多個電晶體422會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配測試電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[i]~R[i-5]的電晶體422與子畫素電路的對應關係不以第7圖的實施例為限。
第8圖為根據本揭示文件另一實施例的多工走線區800簡化後的功能方塊圖。第9圖為根據本揭示文件另一實施例的測試走線區900簡化後的功能方塊圖。在一實施例中,第1圖的多工走線區130和測試走線區140分別是由第8圖的多工走線區800和第9圖的測試走線區900來實現。多工走線區800和測試走線區900的畫素結構PX分別相似於多工走線區200和測試走線區400的畫素結構PX,差異在於,多工走線區800和測試走線區900的畫素結構PX包含5個子畫素電路210,例如第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c、第四子畫素電路210d與第五子畫素電路210e。上述的5個子畫素電路210各自耦接於一對應的子畫素發光元件312。因此,第8圖和第9圖的畫素結構PX的發光模組310會對應地包含5個(圖未示)子畫素發光元件312。
第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c、第四子畫素電路210d與第五子畫素電路210e對應地電性連接的5個子畫素發光元件312分別用於提供紅色、綠色、藍色、紅色以及綠色的光線,但本實施例的子畫素之顏色排列方式不以此為限。
請參考第8圖,多工走線區800相似於第2圖的多工走線區200,其中一項差異在於,多工走線區800包含畫素列R[1]~R[n]中的前五列畫素列R[1]~R[5]。多工走線區800的多個資料來源線DSL與多個(例如,5個)多工控制線MX可以設置於前五列畫素列R[1]~R[5],但不延伸至其他的畫素列,亦即多個資料來源線DSL與多個多工控制線MX可以僅電性連接於畫素列R[1]~R[5]中的畫素結構PX。電性連接於同一個資料來源線DSL的多個電晶體222會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配資料電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[1]~R[5]的電晶體222與子畫素電路的對應關係不以第8圖的實施例為限。因此,電性連接於同一個資料來源線DSL的多個內部驅動電路220共同形成了一個一對五解多工器。
請參考第9圖,測試走線區900相似於第4圖的測試走線區400,差異在於,測試走線區900包含畫素列R[1]~R[n]中的末十列畫素列R[i-9]~R[i],且測試走線區900還包含在第一方向Xd上延伸的第二測試控制線CSb。測試走線區900的多個測試來源線TSL與多個子測試控制線SCS可以只設置於末十列畫素列R[i-9]~R[i]而不延伸至其他的畫素列,亦即多個測試來源線TSL與多個子測試控制線SCS可以僅電性連接於畫素列R[i-9]~R[i]中的畫素結構PX。測試走線區900中設置於相鄰列的內部驅動電路420會電性連接於不同的測試控制線,例如設置於畫素列R[i-2]的內部驅動電路420電性連接於第一測試控制線Csa;設置於畫素列R[i-1]的內部驅動電路420電性連接於第二測試控制線Csb;設置於畫素列R[i]的內部驅動電路420電性連接於第一測試控制線Csa,依此類推。另外,電性連接於同一個子測試控制線SCS的多個電晶體422會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配測試電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[i]~R[i-9]的電晶體422與子畫素電路的對應關係不以第9圖的實施例為限。
第10圖為根據本揭示文件另一實施例的多工走線區1000簡化後的功能方塊圖。第11圖為根據本揭示文件另一實施例的測試走線區1100簡化後的功能方塊圖。在一實施例中,第1圖的多工走線區130和測試走線區140分別是由第10圖的多工走線區1000和第11圖的測試走線區1100來實現。多工走線區1000和測試走線區1100的畫素結構PX分別相似於多工走線區200和測試走線區400的畫素結構PX,差異在於,多工走線區1000和測試走線區1100的畫素結構PX包含4個子畫素電路210,例如第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c和第四子畫素電路210d。上述的4個子畫素電路210各自耦接於一對應的子畫素發光元件312。因此,第10圖和第11圖的畫素結構PX的發光模組310會對應地包含4個(圖未示)子畫素發光元件312。
第一子畫素電路210a、第二子畫素電路210b、第三子畫素電路210c與第四子畫素電路210d對應地電性連接的4個子畫素發光元件312分別用於提供紅色、綠色、藍色以及綠色的光線,或分別用於提供藍色、綠色、紅色以及綠色的光線,但本實施例的子畫素之顏色排列方式不以此為限。
請參考第10圖,多工走線區1000相似於第2圖的多工走線區200,其中一項差異在於,多工走線區1000包含畫素列R[1]~R[n]中的前四列畫素列R[1]~R[4]。多工走線區1000的多個資料來源線DSL與多個(例如,4個)多工控制線MX可以設置於前四列畫素列R[1]~R[4],但不延伸至其他的畫素列,亦即多個資料來源線DSL與多個多工控制線MX可以僅電性連接於畫素列R[1]~R[4]中的畫素結構PX。電性連接於同一個資料來源線DSL的多個電晶體222會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配資料電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[1]~R[4]的電晶體222與子畫素電路的對應關係不以第10圖的實施例為限。因此,電性連接於同一個資料來源線DSL的多個內部驅動電路220共同形成了一個一對四解多工器。
請參考第11圖,測試走線區1100相似於第4圖的測試走線區400,差異在於,測試走線區1100包含畫素列R[1]~R[n]中的末八列畫素列R[i-7]~R[i],且測試走線區1100還包含在第一方向Xd上延伸的第二測試控制線CSb。測試走線區1100的多個測試來源線TSL與多個子測試控制線SCS可以只設置於末八列畫素列R[i-7]~R[i]而不延伸至其他的畫素列,亦即多個測試來源線TSL與多個子測試控制線SCS可以僅電性連接於畫素列R[i-7]~R[i]中的畫素結構PX。測試走線區1100中設置於相鄰列的內部驅動電路420會電性連接於不同的測試控制線。另外,電性連接於同一個子測試控制線SCS的多個電晶體422會電性連接於不同的資料傳輸線DT以分配測試電壓至不同的子畫素電路,但畫素列R[i-7]~R[i]的電晶體422與子畫素電路的對應關係不以第11圖的實施例為限。
由上述可知,多工走線區200、600、800和1000各自所包含的畫素列數量,可以相同於多工走線區200、600和800各自包含的解多工器的輸出端數量,或是相同於多工控制線MX的數量。例如,多工走線區200的解多工器的輸出端數量與多工控制線MX的數量皆為三,則多工走線區200包含三列畫素列R[1]~R[3]。又例如,多工走線區600的解多工器的輸出端數量與多工控制線MX的數量皆為六,則多工走線區600包含六列畫素列R[1]~R[6],依此類推。
另外,測試走線區400、700、900和1100各自包含的畫素列數量,可以是其測試控制線的數量乘上對應的多工走線區200、600或800包含的多工控制線MX的數量。例如,測試走線區400包含一個測試控制線(第一測試控制線CSa),且多工走線區200包含三個多工控制線MX,所以測試走線區400包含三列畫素列R[i-2]~R[i]。又例如,測試走線區900包含二個測試控制線(第一測試控制線CSa和第二測試控制線CSb),且多工走線區800包含五個多工控制線MX,所以測試走線區900包含十列畫素列R[i-9]~R[i],依此類推。
此外,請再次參照第1圖,在上述的多個實施例中,中央區150的畫素結構PX相似於多工走線區130與測試走線區140的畫素結構PX,但中央區150的畫素結構PX可以不包含上述的內部驅動電路220與內部驅動電路420。例如,在多工走線區130與測試走線區140分別是以多工走線區200與測試走線區400實現的實施例中,中央區150的畫素結構PX可以包含第一子畫素電路210a至第三子畫素電路210c以及發光模組310,其中發光模組310包含三個子畫素發光元件312。又例如,在多工走線區130與測試走線區140分別是以多工走線區600與測試走線區700實現的實施例中,中央區150的畫素結構PX可以包含第一子畫素電路210a至第六子畫素電路210f以及發光模組310,其中發光模組310包含六個子畫素發光元件312。又例如,在多工走線區130與測試走線區140分別是以多工走線區800與測試走線區900實現的實施例中,中央區150的畫素結構PX可以包含第一子畫素電路210a至第五子畫素電路210e以及發光模組310,其中發光模組310包含五個子畫素發光元件312。 又例如,在多工走線區130與測試走線區140分別是以多工走線區1000與測試走線區1100實現的實施例中,中央區150的畫素結構PX可以包含第一子畫素電路210a至第四子畫素電路210b以及發光模組310,其中發光模組310包含四個子畫素發光元件312。
上述多個實施例中的電晶體可以用各種合適種類的N型電晶體來實現,例如薄膜電晶體(Thin-Film Transistor,TFT)、金氧半場效電晶體或雙載子接面電晶體等等,但本揭示文件不以此為限。實作上,上述多個實施例中的電晶體也可以改由各種合適種類的P型電晶體來實現。
綜上所述,顯示面板100能將解多工器與品質測試所需的元件與走線全部設置於主動區AA中,而無需將這些元件與走線設置於周邊區PA。因此,顯示面板100將有助於進一步縮減窄邊框設計中的邊框寬度極限,以提供良好的視覺效果。
在說明書及申請專利範圍中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。然而,所屬技術領域中具有通常知識者應可理解,同樣的元件可能會用不同的名詞來稱呼。說明書及申請專利範圍並不以名稱的差異做為區分元件的方式,而是以元件在功能上的差異來做為區分的基準。在說明書及申請專利範圍所提及的「包含」為開放式的用語,故應解釋成「包含但不限定於」。
圖示的某些元件的尺寸及相對大小會被加以放大,或者某些元件的形狀會被簡化,以便能更清楚地表達實施例的內容。因此,除非申請人有特別指明,圖示中各元件的形狀、尺寸、相對大小及相對位置等僅是便於說明,而不應被用來限縮本揭示文件的專利範圍。此外,本揭示文件可用許多不同的形式來體現,在解釋本揭示文件時,不應侷限於本說明書所提出的實施例態樣。
在說明書及申請專利範圍中,若描述第一元件位於第二元件上、在第二元件上方、連接、接合、耦接於第二元件或與第二元件相接,則表示第一元件可直接位在第二元件上、直接連接、直接接合、直接耦接於第二元件,亦可表示第一元件與第二元件間存在其他元件。相對之下,若描述第一元件直接位在第二元件上、直接連接、直接接合、直接耦接、或直接相接於第二元件,則代表第一元件與第二元件間不存在其他元件。
另外,除非說明書中特別指明,否則任何單數格的用語都同時包含複數格的涵義。
以上僅為本揭示文件的較佳實施例,凡依本揭示文件請求項所做的均等變化與修飾,皆應屬本揭示文件的涵蓋範圍。
100:顯示面板
101:驅動晶片
110:第一移位暫存器
120:第二移位暫存器
130、200、600、800、1000:多工走線區
140,400,700,900,1100:測試走線區
150:中央區
AA:主動區
PA:周邊區
PX:畫素結構
Xd:第一方向
Yd:第二方向
210a:第一子畫素電路
210b:第二子畫素電路
210c:第三子畫素電路
220、420:內部驅動電路
222、422:電晶體
230:垂直投影
232:第一區域
234:第二區域
A-A’:剖線
310:發光模組
312a:第一子畫素發光元件
312b:第二子畫素發光元件
312c:第三子畫素發光元件
GL:閘極線
DT:資料傳輸線
T1、T2:電晶體
C1:電容
R[1]~R[i]:畫素列
DSL:資料來源線
MX:多工控制線
CSa:第一測試控制線
CSb:第二測試控制線
SCS:子測試控制線
TSL:測試來源線
SB:基板
BF:緩衝層
GI1:第一閘極絕緣層
GI2:第二閘極絕緣層
IN:夾層介電層
PL:平坦化層
PI:畫素定義層
SE:源極
DE:汲極
GE:閘極
SM:半導體層
VA1:第一穿孔
VA2:第二穿孔
VA3:第三穿孔
VA4:第四穿孔
BR:橋接層
AN:陽極
CA:陰極
OE:有機發光層
PS:光電間隔件
IM:夾層金屬層
第1圖為根據本揭示文件一實施例的顯示面板簡化後的功能方塊圖。
第2圖為根據本揭示文件一實施例的多工走線區簡化後的功能方塊圖。
第3圖為依據本揭示文件一實施例的畫素結構簡化後的功能方塊圖。
第4圖為根據本揭示文件一實施例的測試走線區簡化後的功能方塊圖。
第5圖為沿著第3圖中剖線A-A’簡化後的剖面示意圖。
第6圖為根據本揭示文件另一實施例的多工走線區簡化後的功能方塊圖。
第7圖為根據本揭示文件另一實施例的測試走線區簡化後的功能方塊圖。
第8圖為根據本揭示文件另一實施例的多工走線區簡化後的功能方塊圖。
第9圖為根據本揭示文件另一實施例的測試走線區簡化後的功能方塊圖。
第10圖為根據本揭示文件另一實施例的多工走線區簡化後的功能方塊圖。
第11圖為根據本揭示文件另一實施例的測試走線區簡化後的功能方塊圖。
100:顯示面板
101:驅動晶片
110:第一移位暫存器
120:第二移位暫存器
130:多工走線區
140:測試走線區
150:中央區
AA:主動區
PA:周邊區
Claims (20)
- 一種畫素結構,包含: 一發光模組,包含多個子畫素發光元件,且設置於一第一平面; 多個子畫素電路,設置於一第二平面,各自電性連接於該多個子畫素發光元件中對應的一者;以及 一內部驅動電路,設置於該第二平面,且電性連接於該多個子畫素電路的其中之一; 其中該第一平面不同於該第二平面,且該多個子畫素電路與該內部驅動電路位於該發光模組於該第二平面的一垂直投影之內。
- 如請求項1所述的畫素結構,其中,若該多個子畫素電路設置於該第二平面的一矩形區域內,則該內部驅動電路設置於該第二平面的一L形區域內,且該L形區域連接於該矩形區域的兩相鄰側邊。
- 如請求項1所述的畫素結構,其中,每個子畫素發光元件為有機發光二極體(Organic Light-Emitting Diode)。
- 如請求項1所述的畫素結構,其中,該多個子畫素發光元件的其中三者分別用於提供紅色、綠色與藍色的光線。
- 如請求項1所述的畫素結構,其中,該多個子畫素發光元件的其中六者分別用於提供紅色、綠色、藍色、紅色、綠色與藍色的光線。
- 如請求項1所述的畫素結構,其中,該多個子畫素發光元件的其中五者分別用於提供紅色、綠色、藍色、紅色與綠色的光線。
- 一種顯示面板,包含: N個多工控制線,在一第一方向上延伸; M個測試控制線,在該第一方向上延伸,其中N和M為正整數;以及 多個畫素結構,其中該多個畫素結構中的部分畫素結構包含: 一發光模組,包含多個子畫素發光元件,且設置於一第一平面; 多個子畫素電路,設置於一第二平面,各自電性連接於該多個子畫素發光元件中對應的一者;以及 一內部驅動電路,設置於該第二平面,電性連接於該N個多工控制線的其中之一或該M個測試控制線的其中之一,且電性連接於該多個子畫素電路的其中之一; 其中該第一平面不同於該第二平面,且該多個子畫素電路與該內部驅動電路位於該發光模組於該第二平面的一垂直投影之內。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,若該多個子畫素電路設置於該第二平面的一矩形區域內,則該內部驅動電路設置於該第二平面的一L形區域內,且該L形區域連接於該矩形區域的兩相鄰側邊。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,該多個畫素結構中的另一部份畫素結構的每一者不包含該內部驅動電路。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,該多個畫素結構在該第一方向上排列成I列畫素列,該多個畫素結構中的該部分畫素結構設置於該I列畫素列中的第1畫素列至第N畫素列與第(I-J+1)畫素列至第I畫素列,I與J為正整數且J等於M和N之積。
- 如請求項10所述的顯示面板,其中,該N個多工控制線設置於該第1畫素列至該第N畫素列。
- 如請求項10所述的顯示面板,另包含: 多個資料來源線,在不同於該第一方向的一第二方向上延伸,設置於該第1畫素列至該第N畫素列;以及 多個測試來源線,在該第一方向上延伸,設置於該第(I-J+1)畫素列至該第I畫素列,其中該多個測試來源線設置於該第(I-J+1)畫素列至該第I畫素列; 其中該內部驅動電路包含一電晶體,該電晶體包含一第一端、一第二端與控制端,該電晶體的該第一端電性連接於該多個子畫素電路的該其中之一,該電晶體的該第二端電性連接於該多個資料來源線的其中之一或該多個測試來源線的其中之一,且該電晶體的該控制端電性連接於該N個多工控制線的該其中之一或該M個測試控制線的該其中之一。
- 如請求項12所述的顯示面板,另包含在該第二方向上延伸的多個資料傳輸線,其中該電晶體的該第一端透過該多個資料傳輸線的其中之一電性連接於該多個子畫素電路的該其中之一, 其中每個資料傳輸線透過該部分畫素結構的該多個電晶體中的兩個電晶體分別電性連接於該多個資料來源線的其中之一與該多個測試來源線的其中之一。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,每個子畫素發光元件為有機發光二極體(Organic Light-Emitting Diode)。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,該多個子畫素發光元件的其中三者分別用於提供紅色、綠色與藍色的光線,且N為3。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,該多個子畫素發光元件的其中六者分別用於提供紅色、綠色、藍色、紅色、綠色與藍色的光線,且N為6。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,該多個子畫素發光元件的其中五者分別用於提供紅色、綠色、藍色、紅色與綠色的光線,且N為5。
- 如請求項7所述的顯示面板,其中,該多個子畫素發光元件的其中四者分別用於提供藍色、綠色、紅色與綠色的光線,或分別用於提供紅色、綠色、藍色以及綠色的光線,且N為4。
- 一種顯示面板,包含一周邊區與一主動區,其中該主動區用於提供一顯示畫面,且該主動區包含: 一測試走線區; 一中央區;以及 一多工走線區,其中該測試走線區、該中央區與該多工走線區各自包含多個畫素結構,且每個畫素結構包含: 一發光模組,包含多個子畫素發光元件;以及 多個子畫素電路,各自電性連接於該多個子畫素發光元件中對應的一者; 其中該測試走線區與該多工走線區的每個畫素結構另包含一內部驅動電路,該內部驅動電路耦接於該多個子畫素電路的其中之一,且該中央區的每個畫素結構不包含該內部驅動電路。
- 如請求項19的顯示面板,其中,該多工走線區的該多個畫素結構排列成多個畫素列,且該多工走線區的該多個畫素結構的該多個內部驅動電路形成多個解多工器, 其中該多個畫素列的數目相同於每個解多工器的輸出端數量。
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