TW202101908A - 用於產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出的電路 - Google Patents

用於產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出的電路 Download PDF

Info

Publication number
TW202101908A
TW202101908A TW109121404A TW109121404A TW202101908A TW 202101908 A TW202101908 A TW 202101908A TW 109121404 A TW109121404 A TW 109121404A TW 109121404 A TW109121404 A TW 109121404A TW 202101908 A TW202101908 A TW 202101908A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
delay
stage
delay line
pulse
circuit
Prior art date
Application number
TW109121404A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI768384B (zh
Inventor
沈瑞濱
蔡銘憲
張智賢
蔡宗憲
Original Assignee
台灣積體電路製造股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 台灣積體電路製造股份有限公司 filed Critical 台灣積體電路製造股份有限公司
Publication of TW202101908A publication Critical patent/TW202101908A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI768384B publication Critical patent/TWI768384B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G04—HOROLOGY
    • G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F10/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
    • G04F10/005—Time-to-digital converters [TDC]
    • G—PHYSICS
    • G04—HOROLOGY
    • G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F5/00—Apparatus for producing preselected time intervals for use as timing standards
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/131—Digitally controlled
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/14—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of delay lines
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K2005/00013—Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
    • H03K2005/00019—Variable delay
    • H03K2005/00058—Variable delay controlled by a digital setting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

提供一種用於電路之系統、方法及設備，此電路用於產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出。系統及方法可包括具有複數個級之延遲線。每級延遲計算電路為用以使用第一時脈輸入來確定延遲線之每級延遲。脈衝產生電路用以基於每級延遲使用第二時脈輸入而使用延遲線產生脈衝輸出，第二時脈輸入具有比第一時脈輸入低的頻率。

Description

用於產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出的電路
本揭示案中所述之技術通常係關於電子系統，且更特定言之係關於脈衝信號產生。
脈衝信號為用於多種目的之數位電路中之常見機制，諸如，用信號通知記憶體讀取/寫入時間，指示事件的發生，提供時序同步，等等。電路之正確功能通常指示脈衝信號有指定寬度。未被提供達足夠長時間之脈衝可能導致不完整之下游過程或可能根本無法偵測到。經提供達過長時間之脈衝可能導致錯誤的下游電路操作（例如，原本為單個脈衝者可能被解釋為多個脈衝）。因此，準確的脈衝持續時間（亦即，寬度）會確保數位電路之正確功能。隨著電路大小縮小且操作速度增大，包括脈衝產生之所有態樣的功率及電路面積效率變得非常重要。
一種用於產生具有一可控脈衝寬度之一脈衝輸出的電路，包括一延遲線、一每級延遲計算電路及一脈衝產生電路。延遲線具有多個級；每級延遲計算電路用以使用一第一時脈輸入來確定延遲線之一每級延遲；脈衝產生電路用以基於每級延遲使用一第二時脈輸入而使用延遲線產生脈衝輸出，第二時脈輸入具有比第一時脈輸入低的一頻率。
以下揭示內容提供用於實施所提供標的之不同特徵的許多不同實施例或實例。以下描述部件及佈置之特定實例以簡化本揭示案。當然，此些僅為實例，且並不意欲為限制性的。舉例而言，在如下描述中第一特徵在第二特徵之上或在第二特徵上形成可包括其中第一特徵與第二特徵形成為直接接觸之實施例，且亦可包括其中額外特徵可在第一特徵與第二特徵之間形成而使得第一特徵與第二特徵可不直接接觸的實施例。另外，本揭示案可在各種實例中重複元件符號及/或字母。此重複是出於簡化及清楚目的，且其自身並不表示所論述之各種實施例及/或配置之間的關係。
傳統上，已使用高速時脈來提供準確的脈衝產生，其中最小之可產生脈衝寬度是由時脈頻率或由大面積消耗解決方案（諸如，電荷泵控制迴路）決定。此些傳統方法在功率及電路面積中之一者/兩者中是低效的。本文所述之某些實施例利用包括複數個延遲級之延遲線。量測與彼些級中之一者相關聯的延遲（每級延遲）。使用彼些延遲線級中之兩者的輸出產生所要寬度之脈衝，其中基於所量測之每級延遲來確定用於產生此脈衝之精確級。以此方式，最小之可產生脈衝寬度是基於延遲線之每級延遲（而不是輸入時脈頻率），從而使得能夠產生準確的小脈衝寬度，而無需功耗之快速輸入時脈。
第1圖圖示根據本揭示案之各種實施例的示例性寬度可控脈衝產生器。寬度可控脈衝產生器102利用延遲線104以使用脈衝產生電路108產生脈衝輸出106。在實施例中，脈衝輸出寬度總是相同並預程式化至脈衝產生電路108中。在其他實施例中，所要脈衝寬度為可控的（例如，經由至脈衝產生電路108之輸入），且可在寬度可控脈衝產生器102之操作期間在運作中受控制。
實施例中之延遲線104由串聯連接之複數個延遲級（例如，緩衝級）構成。來自彼些級中之每一者的輸出可經由分接線而可用於脈衝產生電路108。選定延遲線104級中之兩者的輸出，以產生具有所要寬度之脈衝輸出106，其中對不同級之選擇導致不同寬度的脈衝，其中在一些實施例中，脈衝產生電路108利用由每級延遲計算電路110所確定的每級延遲。
第2圖圖示根據本揭示案之各種實施例的用於基於延遲線之兩個選定級之輸出產生脈衝輸出的示例性電路。延遲線104由諸多級（例如，以三角形表示之緩衝電路，其中每一級具有相關聯之分接線，可自此分接線單獨地存取每一級之輸出）構成。經由兩個多工器(MUX1, MUX2)來存取選定級之輸出，並將其提供至SR（設定-重設）正反器（在此實例中其包括如所圖示連接之兩個NOR閘），作為輸入DR及DS，以便產生如第3圖中所圖示之脈衝輸出。
藉由選擇來自不同級之輸出（例如，相隔1級的輸出，相隔3級的輸出，相隔8級的輸出），脈衝產生電路108可選擇性地控制所產生脈衝之寬度。第3圖圖示根據本揭示案之各種實施例的脈衝產生電路108之信號之示例性時序圖。在第3圖之實例中，將延遲線之第一級的分接輸出提供至SR正反器之DR輸入，且將延遲線之第二級的分接輸出提供至SR正反器之DS輸入。對應地，SR正反器輸出脈衝(PWG_OUT)，此脈衝具有與DR及DS輸入的上升沿之間的時間差相關聯之寬度。藉由為DS輸入選擇不同級之分接線（例如，使用第2圖中所圖示之MUX2），將具有不同寬度之脈衝輸出為PWG_OUT。舉例而言，若後一級被分接且輸出至DS，則DR及DS之上升沿之間的時間將較長，從而導致PWG_OUT之較寬脈衝輸出。以此方式，由脈衝產生電路108產生之脈衝的寬度可在運作中改變，諸如，基於由脈衝產生電路108接收到之控制信號。
用以產生輸出脈衝之延遲線受輸入時脈（FREF）控制。如本文中進一步論述，此時脈信號（有時在本文中稱作第二時脈輸入）可實施為具有基於需要產生之頻率脈衝來選擇的頻率之相對慢的時脈（例如，50MHz），其中可經由延遲線級之輸出的分接對在FREF時脈之每個循環產生介於1個與（延遲線級/2）個之間的脈衝。第二時脈頻率僅限制可產生脈衝之速度，而不限制脈衝之寬度，脈衝之寬度取決於與延遲線之各級相關聯的延遲而不是FREF頻率。此提供了實質性功率節省的可能。
返回參考第1圖，由於可基於延遲線104之每級延遲來控制脈衝輸出之寬度，因此具有對每級延遲之準確量測可能是有益的。實務上，每級延遲可能會基於製造製程差異、較大電路中之位置（例如，寄生電容）、溫度等而與其設計不同。由於使用間隔N個級之級之上升沿輸出中的差來產生脈衝，因此每級延遲準確度之誤差可能導致所產生之脈衝寬度的複合誤差（例如，每級延遲準確度的x秒誤差可導致與所要脈衝寬度的N*x偏差）。
在實施例中，一旦寬度可控脈衝產生器102初始化，便可量測、確定或計算每級延遲。每級延遲可基於與提供脈衝輸出106之延遲線104或與類似於延遲線104(例如，具有與延遲線104相同或類似的級，具有與延遲線104相同或類似的級數)之複製延遲線(第1圖中未示出)的相互作用來確定。在一些實施例中，使用第一時脈輸入來確定每級延遲，其中在一些情況下，第一時脈輸入是相對於第二時脈輸入之快速時脈（例如，4GHz、5GHz、比此第二時脈輸入快10倍、快20倍、快50倍、快100倍），此第二時脈輸入用於在操作期間（亦即，在初始化階段之後在確定每級延遲時）產生脈衝。在知曉由每級延遲計算電路110確定之每級延遲的情況下，脈衝產生電路108可選擇來自延遲線之合適級的輸出，以產生具有所要寬度之脈衝輸出。
第4圖圖示根據本揭示案之各種實施例的利用複製延遲線412來確定每級延遲之示例性寬度可控脈衝產生器102。雖然不同延遲線在每級延遲上將具有一定量值的差異，但通常而言，對於使用共同製造製程（例如，其將具有類似製程，經歷類似的寄生電容，經歷類似的溫度）彼此靠近定位的延遲線而言，差異會小。因此，複製延遲線412處之經量測每級延遲可用作延遲線104之每級延遲的代理。在第4圖之實例中，使用快速的第一時脈輸入來控制複製延遲線412，其中根據取樣時脈輸入（例如，100MHz、50MHz）對複製延遲線412之最後一級的輸出進行取樣。
可以多種方式來計算每級延遲。舉例而言，可確定第一時脈輸入之上升沿與複製延遲線412之輸出的對應上升沿之間的時間差，並將其除以複製延遲線412之級的數目。但，諸如工作循環比（例如，第一時脈輸入與取樣時脈輸入之工作循環比）的變化之因素可能導致使用此方法的不準確性。
第5圖圖示根據本揭示案之各種實施例的使用時間與數位轉換器及週期級計算器來確定每級延遲之示例性寬度可控脈衝產生器。第5圖之實例實施例執行對每級延遲之量測（例如，在電路初始化時執行一次）。接著，利用彼量測結果以調諧脈衝輸出(PWG_OUT)之產生，以提供準確的、為所要寬度之脈衝，其中彼寬度在一些實施例中為可控的（例如，根據基於所要的PulseWidth參數之PWC信號設定）。第5圖之脈衝產生器500包括脈衝產生電路502，此脈衝產生電路502用以使用延遲線504、脈衝寬度限幅電路508及相位選擇電路506產生脈衝輸出(PWG_OUT)。延遲線504包括複數個級，其各自將輸入時脈信號(FREF)延遲一段時間。在一個實施例中，此些級串聯連接，使得延遲線504之每一級將FREF時脈循環延遲一個每級延遲週期或更長時間。除了提供給延遲線504之下一級以外，延遲線504之每一級的輸出還可由相位選擇電路506存取。脈衝產生電路502使用由每級延遲計算電路510提供之每級延遲指示測量PSC[N:0]，以根據PWC[M:0]選擇來自延遲線504之特定級之分接的信號，以便產生所要寬度(PulseWidth)之脈衝。相位選擇電路506根據基於所要脈衝寬度及延遲線504之每一級的每級延遲而設定的PWC[M:0]來存取延遲線504之級中兩者的輸出，並將彼些輸出提供至脈衝寬度限幅電路508（例如，如第2圖中所圖示之SR正反器）以產生脈衝輸出(PWG_OUT)。
每級延遲計算電路510可用以以多種方式確定延遲線504之每級延遲。在一些實例中，每級延遲基於對延遲線504執行之量測來確定。在第5圖之實例中，每級延遲計算電路510基於針對複製延遲線512執行之操作及量測估計延遲線504之每級延遲。大體上類似於延遲線504（例如，基於延遲級之數目、延遲級之類型、在製造電路上之位置接近性中的一或更多者）之複製延遲線512提供了延遲線504之行為的良好指示符。當經由TDC_EN及TDC_PD啟用每級延遲計算時（例如，在電路初始化期間進行一次，在電路操作期間週期性地進行以確保準確的電路操作），時間與數位轉換器514使用第一時脈輸入CKV_IN來操作複製延遲線512。在一些實施例中，第一時脈明顯比用以產生PWG_OUT處之脈衝的第二FREF時脈信號快。舉例而言，用於確定每級延遲之第一時脈信號(CKV_IN)可能比第二時脈輸入(FREF)操作快10倍、快20倍、快50倍、快100倍，其中在一個實例中，第一時脈信號以4GHz至5GHz操作，而第二時脈信號以50MHz操作。時間與數位轉換器514對使用第一時脈信號(CKV_IN)操作之複製延遲線512的輸出取樣，其中根據取樣時脈頻率來取得樣本，此取樣時脈頻率在第5圖之實例中為用以在產生脈衝輸出(PWG_OUT)時操作延遲線504的第二時脈信號(FREF)。在其他實例中，具有不同（例如，更快）時脈信號之不同時脈信號可用於在時間與數位轉換器514處取樣。來自時間與數位轉換器514之樣本在週期級計算器516處經處理以確定量度，該量度指示在產生脈衝輸出(PWG_OUT)時轉移至相位選擇電路506並由相位選擇電路506使用的每級延遲(PSC[N:0])。
第6圖圖示根據本揭示案之各種實施例的示例性時間與數位轉換器。時間與數位轉換器514藉由為複製延遲線512提供第一時脈信號CKV_IN來操作此複製延遲線512。第一取樣電路602提供取樣陣列之第一位元(Q0 )，在CKV_IN信號到達複製延遲線512之前基於CKV_IN信號將取樣陣列提供給週期級計算器516。後續取樣電路（例如，與來自複製延遲線512之每一級之分接輸出相關聯的取樣電路直至與最後一級相關聯之最終取樣電路604）提供取樣陣列之後續位元(Q1 -QN )，此取樣陣列受取樣時脈輸入(FREF)控制。
第7圖圖示根據本揭示案之各種實施例的由時間與數位轉換器產生之示例性取樣陣列。取樣時脈FREF之上升沿被用作用於對複製延遲線之每一級的狀態取樣之觸發器。將彼些樣本表示為取樣陣列之Q0 至QN ，取樣陣列經提供至週期級計算器516。週期級計算器516確定複製延遲線512之與取樣陣列之循環相關聯的級數。第8圖圖示根據本揭示案之各種實施例的取樣陣列之循環的不同實例定義，其中上升至上升循環（亦即，藉由採樣陣列中自0-1過渡至後一個0-1過渡來表示）或下降至下降週期提供對每級延遲之最準確量測。可利用上升至下降循環（亦即，藉由自0-1至下一個1-0過渡來表示），但工作循環比變化會在每級計算中引入不準確性。
使用第7圖之實例中的上升至上升循環，需要八個複製延遲線級輸出S1 至S8 ，用於對陣列Q進行取樣，以自0-1過渡回1-0並接著再次自0-1過渡（亦即，PSC[N:0]=8）。將PSC值提供至相位選擇電路506，此相位選擇電路506根據下式來計算每級延遲： Tstage =(1/頻率(CKVIN ))/PSC[N:0] 相位選擇電路506接著基於每級延遲Tstage 及控制信號PWC所要求之所要脈衝寬度PulseWidthPWG_OUT 來存取延遲線504之兩個特定級的輸出。在一個實例中，PWC為用以在與延遲線504級相關聯之值中具有1的陣列，此延遲線504級經選擇為脈衝寬度限幅電路508之一個輸入以及第一級之第0級作為脈衝寬度限幅電路508之第二輸入。在一個實施例中，根據下式來確定將以1填充之PWC陣列值： PWC[M:0]=PulseWidthPWG_OUT /((1/頻率(CKVIN ))/PSC[N:0])。
如上所述，可使用延遲線及用於估計每級延遲之複製延遲線來操作用於產生脈衝輸出之電路。在一些實施例中，可使用用以產生脈衝輸出之同一延遲線來確定每級延遲。第9圖圖示用於產生使用單個延遲線之脈衝輸出的示例性電路902。在每級延遲計算階段期間，延遲線904使用第一（例如，快速）時脈輸入進行操作，其中根據取樣時脈輸入（例如，如以上參考第5圖所述之第二時脈輸入或單獨的取樣時脈）對延遲線之級的輸出取樣，並將其提供給每級延遲計算電路906。每級延遲計算電路906計算代表延遲線904之每級延遲的量度，並將彼量度（例如，PSC[N:0]）提供至脈衝產生電路908。脈衝產生電路908使用此量度及所要脈衝寬度以選擇自其至分接輸出之級，以便在操作期間（例如，第一與第五級；第零（在任何級之前）與第七級）產生脈衝輸出。脈衝產生電路908存取選定級之輸出，且使用彼些輸出以產生脈衝輸出（例如，藉由將兩個選定級之輸出提供給如上所述之SR正反器）。
在某些實施例中，可產生具有大體上等於延遲線504之每級延遲之寬度的脈衝，其中此脈衝之寬度並不取決於第二時脈信號。第二時脈信號頻率僅指示可多久產生一次彼寬度之脈衝（例如，每第二時脈信號週期進行1至N次，其中N取決於延遲線中可用級的數目）。
第10圖為產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出之示例性方法的流程圖，此示例性方法包括存取具有複數個級之延遲線。在1002方塊處，存取具有複數個級之延遲線。在1004方塊處，基於由第一時脈輸入產生之延遲線輸出來確定延遲線之每級延遲。在1006方塊處，基於每級延遲，藉由向延遲線提供第二時脈輸入而使用延遲線產生脈衝輸出，第二時脈輸入具有比第一時脈輸入低的頻率。
使用如本文所述之各種電路及配置可提供諸多優勢。舉例而言，當PLL以分數N模式操作時，由於消除了PLL內振盪器所產生之相位雜訊，因此抖動效能得以提高。因為重新對準以分數N模式起作用，所以在分數N模式與整數N模式之間的切換操作變得容易。
在一個實施例中，一種用於產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出的電路包括具有複數個級之延遲線。每級延遲計算電路為用以使用第一時脈輸入來確定延遲線之每級延遲的電路。脈衝產生電路用以基於每級延遲使用第二時脈輸入而使用延遲線產生脈衝輸出，第二時脈輸入具有比第一時脈輸入低的頻率。在一實施例中，其中用以產生脈衝輸出之第二時脈輸入的頻率大體上低於用以確定每級延遲之第一時脈頻率的頻率。在一實施例中，其中第二時脈頻率比第一時脈頻率低10％。在一實施例中，電路進一步包括一複製延遲線具有大體上類似於延遲線之多個級；其中每級延遲計算電路基於複製延遲線接收第一時脈輸入之操作來確定延遲線之每級延遲。在一實施例中，其中每級延遲計算電路在確定延遲線之每級延遲時不控制延遲線。在一實施例中，其中每級延遲計算電路使用第一時脈輸入及一取樣時脈輸入來確定每級延遲。在一實施例中，其中每級延遲計算電路包括一時間與數位轉換器及一週期級計算器。時間與數位轉換器用以根據取樣時脈輸入來取樣複製延遲線之一輸出；以及週期級計算器用以使用複製延遲線之取樣輸出以確定多個取樣時脈週期之一數目在複製延遲線之取樣輸出的一循環內。在一實施例中，其中基於上述取樣時脈週期之已確定數目及第一時脈輸入之頻率來確定每級延遲；以及其中取樣時脈輸入頻率與第二時脈輸入之一頻率大體上相同。在一實施例中，其中複製延遲線具有與延遲線的上述級的一相同數目。在一實施例中，其中脈衝產生電路基於每級延遲及一選定脈衝寬度選擇性地存取延遲線之上述級中之兩者的多個輸出，以產生脈衝輸出。在一實施例中，電路進一步包括一SR正反器接收兩個級之上述輸出並產生脈衝輸出。在一實施例中，其中電路用以在電路之每次初始化時恰好確定每級延遲一次。
在另一實施例中，一種產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出的方法包括存取具有複數個級之延遲線。基於由第一時脈輸入產生之延遲線輸出來確定延遲線之每級延遲。基於每級延遲，藉由向延遲線提供第二時脈輸入而使用延遲線產生脈衝輸出，第二時脈輸入具有比第一時脈輸入低的頻率。在一實施例中，其中確定延遲線之每級延遲包括：將第一時脈輸入提供至一複製延遲線，複製延遲線具有大體上類似於延遲線之多個級；其中延遲線之每級延遲是基於複製延遲線接收第一時脈輸入的操作。在一實施例中，其中確定延遲線之每級延遲進一步包括：使用一取樣時脈輸入對複製延遲線之一輸出取樣。在一實施例中，其中確定延遲線之每級延遲進一步包括：使用取樣時脈輸入對受第一時脈輸入控制之複製延遲線的一輸出取樣；確定多個取樣時脈週期之一數目在複製延遲線之取樣輸出的一循環內。在一實施例中，其中基於上述取樣時脈週期之已確定數目及第一時脈輸入之頻率來確定每級延遲。在一實施例中，其中產生脈衝輸出包括：基於每級延遲及一選定脈衝寬度選擇性地存取延遲線之上述級中之兩者的多個輸出，以產生脈衝輸出。在一實施例中，其中基於一選定脈衝輸出寬度及每級延遲來選擇兩個級。
在另一實施例中，一種用於產生具有可控時長之脈衝寬度之脈衝輸出的電路包括具有複數個級之延遲線，以及具有與延遲線相同數目個級之複製延遲線，此些複製延遲線級為與延遲線之彼些級相同的類型。每級延遲計算電路用以基於複製延遲線使用第一時脈輸入之操作來確定延遲線之每級延遲，且脈衝產生電路用以使用第二時脈輸入基於每級延遲而使用延遲線產生脈衝輸出。
前文概述了若干實施例之特徵，使得熟習此項技術者可較佳理解本揭示案之態樣。熟習此項技術者應瞭解，他們可容易地使用本揭示案作為設計或修改用於實現相同目的及/或達成本文中所介紹之實施例之相同優勢的其它製程及結構的基礎。熟習此項技術者亦應認識到，此些等效構造不脫離本揭示案之精神及範疇，且他們可在不脫離本揭示案之精神及範疇的情況下在本文進行各種改變、代替及替換。
102:寬度可控脈衝產生器 104:延遲線 106:脈衝輸出 108:脈衝產生電路 110:每級延遲計算電路 412:複製延遲線 500:脈衝產生器 502:脈衝產生電路 504:延遲線 506:相位選擇電路 508:脈衝寬度限幅電路 510:每級延遲計算電路 512:複製延遲線 514:時間與數位轉換器 516:週期級計算器 602:第一取樣電路 604:最終取樣電路 902:電路 904:延遲線 906:每級延遲計算電路 908:脈衝產生電路 1002、1004、1006:方塊
當結合隨附諸圖閱讀時，得以自以下詳細描述最佳地理解本揭示案之態樣。應注意，根據行業上之標準實務，各種特徵未按比例繪製。事實上，為了論述清楚，可任意地增大或減小各種特徵之尺寸。 第1圖圖示根據本揭示案之各種實施例的示例性寬度可控脈衝產生器。 第2圖圖示根據本揭示案之各種實施例的用於基於延遲線之兩個選定級之輸出產生脈衝輸出的示例性電路。 第3圖圖示根據本揭示案之各種實施例的脈衝產生電路之信號之示例性時序圖。 第4圖圖示根據本揭示案之各種實施例的利用複製延遲線來確定每級延遲之示例性寬度可控脈衝產生器。 第5圖圖示根據本揭示案之各種實施例的使用時間與數位轉換器及週期級計算器來確定每級延遲之示例性寬度可控脈衝產生器。 第6圖圖示根據本揭示案之各種實施例的示例性時間與數位轉換器。 第7圖圖示根據本揭示案之各種實施例的由時間與數位轉換器產生之示例性取樣陣列。 第8圖圖示根據本揭示案之各種實施例的取樣陣列之循環的不同實例定義。 第9圖圖示用於產生使用單個延遲線之脈衝輸出的示例性電路。 第10圖為產生具有可控寬度之脈衝輸出之示例性方法的流程圖，此示例性方法包括存取具有複數個級之延遲線。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
102:寬度可控脈衝產生器
104:延遲線
106:脈衝輸出
108:脈衝產生電路
110:每級延遲計算電路

Claims (1)

  1. 一種用於產生具有一可控脈衝寬度之一脈衝輸出的電路，包括： 一延遲線，該延遲線具有複數個級； 一每級延遲計算電路，該每級延遲計算電路用以使用一第一時脈輸入來確定該延遲線之一每級延遲；以及 一脈衝產生電路，該脈衝產生電路用以基於該每級延遲使用一第二時脈輸入而使用該延遲線產生該脈衝輸出，該第二時脈輸入具有比該第一時脈輸入低的一頻率。
TW109121404A 2019-06-27 2020-06-23 用於產生脈衝輸出的電路及方法 TWI768384B (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201962867328P 2019-06-27 2019-06-27
US62/867,328 2019-06-27
US16/733,379 2020-01-03
US16/733,379 US11031927B2 (en) 2019-06-27 2020-01-03 Systems and methods for generating a controllable-width pulse signal

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202101908A true TW202101908A (zh) 2021-01-01
TWI768384B TWI768384B (zh) 2022-06-21

Family

ID=74042777

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW109121404A TWI768384B (zh) 2019-06-27 2020-06-23 用於產生脈衝輸出的電路及方法

Country Status (2)

Country Link
US (3) US11031927B2 (zh)
TW (1) TWI768384B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10958257B1 (en) * 2020-04-28 2021-03-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited System and method for adjusting duty cycle of a signal
US11405027B1 (en) * 2021-06-17 2022-08-02 Infineon Technologies Ag System and method for measuring delays of delay elements

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2241620B (en) * 1990-02-13 1994-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd A pulse signal delay device
US8736323B2 (en) * 2007-01-11 2014-05-27 International Business Machines Corporation Method and apparatus for on-chip phase error measurement to determine jitter in phase-locked loops
JP2010114795A (ja) * 2008-11-10 2010-05-20 Nec Electronics Corp 遅延制御方法および遅延装置
TWI437817B (zh) * 2011-11-16 2014-05-11 Ind Tech Res Inst 電荷域濾波器及其方法

Also Published As

Publication number Publication date
US11539354B2 (en) 2022-12-27
US20210258003A1 (en) 2021-08-19
US11539355B2 (en) 2022-12-27
US20200412351A1 (en) 2020-12-31
US20210242862A1 (en) 2021-08-05
TWI768384B (zh) 2022-06-21
US11031927B2 (en) 2021-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2451391C2 (ru) Схемное устройство и способ измерения дрожания тактового сигнала
US8362932B2 (en) Circuit with a time to digital converter and phase measuring method
TWI398751B (zh) 時脈變換電路以及使用該電路的測試裝置
US7439724B2 (en) On-chip jitter measurement circuit
US9432009B2 (en) Circuit delay monitoring apparatus and method
US7930121B2 (en) Method and apparatus for synchronizing time stamps
TW202101908A (zh) 用於產生具有可控脈衝寬度之脈衝輸出的電路
US20100001777A1 (en) Flash Time Stamp Apparatus
US8786347B1 (en) Delay circuits for simulating delays based on a single cycle of a clock signal
Szplet et al. A 45 ps time digitizer with a two-phase clock and dual-edge two-stage interpolation in a field programmable gate array device
Kinniment et al. Measuring deep metastability
CN112152596B (zh) 用于产生脉冲输出的电路及方法
US20230003781A1 (en) Apparatus, method, system and medium for measuring pulse signal width
US7886176B1 (en) DDR memory system for measuring a clock signal by identifying a delay value corresponding to a changed logic state during clock signal transitions
CN116131821A (zh) 一种高精度延迟时钟校准电路及芯片
CN116318140A (zh) 一种高精度延迟链信息校准电路、校准方法
CN107317581B (zh) 具有高分辨率的时间数字转换器
CN116991227A (zh) 一种获取高精度信号的装置、SoC芯片以及电子设备
CN106918740B (zh) 一种等精度测频装置及方法
Li et al. A self-referred clock jitter measurement circuit in wide frequency range
CN117692005A (zh) Td转换器、pll电路、td转换方法及时钟产生方法
CN116991769A (zh) 一种spi主接口的数据采样方法和装置
JP2007198880A (ja) 半導体集積回路及びそれを用いたデューティ測定・補正方法
JP2005250893A (ja) パルス幅調整装置