TW202101243A - Electronic device, memory device and method of reading memory data thereof - Google Patents
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Abstract
Description
本發明是有關於一種電子裝置、記憶體裝置、記憶資料的讀取方法,且特別是有關於一種具有附加資訊產生電路的電子裝置及其記憶體裝置,以及其記憶資料的讀取方法。The invention relates to an electronic device, a memory device, and a method for reading memory data, and more particularly to an electronic device with an additional information generating circuit and its memory device, and a method for reading the memory data.
為了確認所傳輸的資料的完整性,記憶體裝置通常會針對被讀取的記憶資料附加對應的一段資訊,例如訊息鑑別碼(Message authentication code,MAC)。訊息鑑別碼是經過特定演算法後產生的一小段資訊,檢查某段訊息的完整性,以及作為訊息的身分驗證。訊息鑑別碼可以用來檢查在訊息傳遞過程中,其內容是否被更改過。同時可以作為訊息來源的身分驗證,確認訊息的來源。訊息鑑別碼會連同被讀取的記憶資料一起傳送到資料傳收端,作為資料傳收端驗證記憶資料之用。然而,記憶體裝置會等待欲傳輸的資料備妥後才進行附加資訊的運算,因而增加了讀取時間並降低了讀取的效能。In order to confirm the integrity of the transmitted data, the memory device usually attaches a corresponding piece of information to the read memory data, such as a message authentication code (MAC). The message authentication code is a small piece of information generated after a specific algorithm, which checks the integrity of a certain piece of information and serves as the identity verification of the message. The message authentication code can be used to check whether the content of the message has been changed during the transmission of the message. At the same time, it can be used as the identity verification of the message source to confirm the source of the message. The message identification code will be sent to the data transmitting and receiving end together with the read memory data, and used as the data transmitting and receiving end to verify the memory data. However, the memory device waits for the data to be transferred before performing additional information calculations, which increases the reading time and reduces the reading performance.
本發明提供一種記憶資料的讀取方法、記憶體裝置以及電子裝置,可以減少記憶體的讀取時間並增加讀取的效能。The invention provides a method for reading memory data, a memory device and an electronic device, which can reduce the reading time of the memory and increase the reading performance.
本發明的記憶資料的讀取方法包括:提供儲存電路以儲存指定資料長度資訊;接收讀取指令,依據讀取指令以由記憶體電路讀出至少一記憶資料;依據指定資料長度資訊以針對各記憶資料進行附加資訊運算,以產生對應各記憶資料的附加資訊;以及依序輸出記憶資料以及對應的附加資訊。The method for reading memory data of the present invention includes: providing a storage circuit to store designated data length information; receiving a read command, and reading at least one memory data from the memory circuit according to the read command; The memory data performs additional information operations to generate additional information corresponding to each memory data; and sequentially outputs the memory data and the corresponding additional information.
本發明的記憶體裝置包含儲存電路、記憶體電路、附加資訊產生電路以及輸入輸出介面。儲存電路用以儲存指定資料長度資訊。記憶體電路用以依據讀取指令產生至少一記憶資料。附加資訊產生電路用以依據指定資料長度資訊以針對各記憶資料進行附加資訊運算,以產生對應各記憶資料的附加資訊。輸入輸出介面用以接收讀取指令,以及依序輸出記憶資料以及對應的附加資訊。The memory device of the present invention includes a storage circuit, a memory circuit, an additional information generating circuit, and an input and output interface. The storage circuit is used to store the specified data length information. The memory circuit is used for generating at least one memory data according to the read command. The additional information generating circuit is used to perform additional information operations on each memory data according to the designated data length information to generate additional information corresponding to each memory data. The input and output interface is used to receive read commands, and sequentially output memory data and corresponding additional information.
本發明的電子裝置包含上述的記憶體裝置以及主機。主機包括主機輸入輸出介面以及驗證電路。主機輸入輸出介面用以發出讀取指令,以及依序接收記憶資料以及對應的附加資訊。驗證電路用以依據附加資訊針對對應的記憶資料進行驗證。The electronic device of the present invention includes the aforementioned memory device and host. The host includes a host input and output interface and a verification circuit. The input and output interface of the host is used to issue read commands, and sequentially receive memory data and corresponding additional information. The verification circuit is used for verifying the corresponding memory data according to the additional information.
基於上述,本發明藉由指定資料長度資訊,針對等於設定長度的記憶資料先行進行附加資訊運算,以即時輸出記憶資料以及對應的附加資訊,有效減少記憶資料的讀取時間,並增加記憶資料的讀取效能。Based on the above, the present invention performs additional information calculations on the memory data equal to the set length by specifying the data length information to output the memory data and the corresponding additional information in real time, effectively reducing the reading time of the memory data and increasing the memory data Read performance.
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。In order to make the above-mentioned features and advantages of the present invention more comprehensible, the following specific embodiments are described in detail in conjunction with the accompanying drawings.
請參照圖1,圖1繪示本發明一實施例的記憶體裝置的示意圖。記憶體裝置100包含記憶體電路110、附加資訊產生電路120、輸入輸出介面130以及儲存電路140。Please refer to FIG. 1. FIG. 1 is a schematic diagram of a memory device according to an embodiment of the present invention. The
記憶體電路110用以依據寫入指令以將記憶資料寫入記憶體電路110,以及依據讀取指令CMD以將記憶資料DA讀出。附加資訊產生電路120耦接記憶體電路110,用以接收記憶體電路110依據讀取命令CMD所產生的記憶資料DA,並針對記憶資料DA進行附加資訊運算,以產生對應記憶資料DA的附加資訊MAC。在本實施例中,附加資訊產生電路120所產生的附加資訊MAC為訊息鑑別碼(Message authentication code)。訊息鑑別碼是將資料經過特定演算後所產生的一小段資訊,作為資料的身分驗證之用,以確認資料的完整性(是否被更改過)。訊息鑑別碼的演算法中,通常會使用帶密鑰的雜湊函式(Cryptographic hash function)。本領域之技術人員熟知訊息鑑別碼的產生細節,故在此省略說明。在其他實施例中,附加資訊產生電路120所產生的附加資訊MAC可以是數位簽章(Digital Signature)。本發明並不限制附加資訊MAC的類型。The
輸入輸出介面130耦接記憶體電路110以及附加資訊產生電路120,輸入輸出介面130用以接收讀取指令CMD以及依序輸出各記憶資料DA以及對應的該附加資訊MAC。一般來說,輸出記憶資料DA之後緊接著輸出對應前述記憶資料DA的附加資訊MAC。The input-
儲存電路140耦接附加資訊產生電路120。儲存電路140用以儲存指定資料長度資訊I,以供附加資訊產生電路120讀取。儲存電路140所儲存的指定資料長度資訊I指示一指定長度。儲存電路140可以儲存一個或多個指定資料長度資訊I。在一實施例中,儲存電路140儲存一個指定資料長度資訊I(例如指示16位元組),附加資訊產生電路120可以自儲存電路140直接讀取指定資料長度資訊I。在一實施例中,儲存電路140儲存多個指定資料長度資訊I,多個指定資料長度資訊I分別指示多個指定長度(例如16位元組、32位元組、64位元組以及128位元組),並分別對應多個索引碼。在一實施例中,附加資訊產生電路120可以獲取一個索引碼,並將此索引碼傳送至儲存電路140,以讀取對應此索引碼的指定資料長度資訊I。儲存電路140可以是揮發性記憶體電路(例如動態記憶體電路、靜態記憶體電路或暫存器),或是非揮發性記憶體電路(例如唯讀記憶體電路或電子熔絲)。本發明不限制儲存電路140的型態。The
請參照下面的表一,此表格示例本發明一實施例的儲存電路140所儲存的多個指定資料長度資訊I。請同時參照圖1與表一,附加資訊產生電路120可以接收索引碼,以自儲存電路140讀取對應前述索引碼的指定資料長度資訊I。換言之,儲存電路140可以依據索引碼輸出對應索引碼的一個指定資料長度資訊I。舉例來說,當索引碼被指定為兩個位元的二進位碼00時,附加資訊產生電路120依據前述索引碼從儲存電路140讀取對應16 位元組(指定長度)的指定資料長度資訊I。在本實施例中,索引碼是由兩個位元所組成。在其他多個實施例中,索引碼可以單一位元表示或是以更多位元表示,設計者可依據實際的需求設置索引碼的資料寬度,沒有固定的限制。又或者,儲存電路140可以直接儲存指定長度的值。並且,本發明並不限制指定資料長度資訊I的資料形式。另外,索引碼可以是系統預設值(例如為00),也可以由發送讀取命令CMD的主機(圖1未示)所指定。
表一:
附加資訊產生電路120在針對記憶資料DA進行附加資訊運算之前,會先自儲存電路140讀取指定資料長度資訊I,並依據指定資料長度資訊I來執行各記憶資料DA的附加資訊運算。具體來說,附加資訊產生電路120持續地接收記憶體電路110所產生的記憶資料DA,當所接收的記憶資料DA的資料長度等於指定資料長度資訊I指示的指定長度時,即針對所接收的記憶資料DA進行附加資訊運算,以產生對應所接收的記憶資料DA的附加資訊MAC。舉例來說,附加資訊產生電路120可以累計所接收的記憶資料DA的長度,並比較此長度與指定資料長度資訊I指示的指定長度。當所接收的記憶資料DA的長度與指定資料長度資訊I指示的指定長度(例如16位元組)相同時,附加資訊產生電路120針對所接收的記憶資料DA進行附加資訊運算。The additional
在一實施例中,附加資訊產生電路120可以針對長度為16位元組的一筆記憶資料DA產生對應的附加資訊MAC。在另一實施例中,附加資訊產生電路120可以針對長度為16位元組的多筆記憶資料DA分別產生對應的多筆附加資訊MAC。換言之,附加資訊產生電路120持續地接收記憶資料DA,當已接收的記憶資料DA的長度等同於指定資料長度資訊I指示的指定長度時,即對已接收的記憶資料DA進行附加資訊運算。接著,附加資訊產生電路120繼續接收其餘的記憶資料DA,並以相同的方式對其餘的記憶資料DA進行附加資訊運算。In one embodiment, the additional
如此一來,當進行記憶資料DA的連續讀出動作時,一旦記憶資料DA的長度等同於指定資料長度資訊I指示的資料長度時,可針對目前接收的記憶資料DA執行附加資訊MAC的產生動作。在此同時,記憶資料DA的讀取動作可以持續的進行。也就是說,附加資訊MAC產生動作所需要的時間,不會影響到記憶資料DA的讀取所需的時間,可提升記憶體裝置的工作效能。In this way, when the continuous reading operation of the memory data DA is performed, once the length of the memory data DA is equal to the data length indicated by the designated data length information I, the generation of additional information MAC can be performed for the currently received memory data DA . At the same time, the reading action of the memory data DA can be continued. In other words, the time required for generating the additional information MAC does not affect the time required for reading the memory data DA, which can improve the working performance of the memory device.
另一方面,附加資訊產生電路120具有進行附加資訊運算的一運算總長度資訊,並且在當附加資訊產生電路120的運算總長度資訊大於指定資料長度資訊I時,附加資訊產生電路120可使記憶資料DA與一個或多個等於0的位元相組合,並進行附加資訊運算。On the other hand, the additional
在本實施例中,記憶體電路110可以是揮發性記憶體(Volatile memory)電路或非揮發性記憶體(Non-volatile memory,NVM)電路。揮發性記憶體電路可以是動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory,DRAM)電路、靜態隨機存取記憶體(Static Random-Access Memory,SRAM)電路或任意形式為本領域具通常知識者所熟知的揮發性記憶體電路。非揮發性記憶體電路可以是唯讀記憶體(Read-Only Memory,ROM)電路、快閃記憶體(flash memory)電路或任意形式為本領域具通常知識者所熟知的非揮發性記憶體電路。本發明並不限制記憶體電路110的類型。在本實施例中,記憶體電路110可以是NOR型快閃記憶體。在其他實施例中,記憶體電路110也可以是NAND型快閃記憶體。本領域之技術人員熟知各類記憶體電路的寫入與讀出的實施細節,故在此省略說明。In this embodiment, the
圖2繪示本發明一實施例的記憶資料的讀取方法的流程圖。請同步參照圖1與圖2,在步驟S210中,提供儲存電路140以儲存指定資料長度資訊I。在步驟S220中,由輸入輸出介面130接收讀取指令CMD,並且由記憶體電路110依據讀取指令CMD讀出至少一記憶資料DA。在步驟S230中,由附加資訊產生電路120依據指定資料長度資訊I以針對各記憶資料DA進行附加資訊運算,以產生對應各記憶資料DA的附加資訊MAC。在步驟S240中,由輸入輸出介面130依序輸出各記憶資料DA以及對應的附加資訊MAC。2 shows a flowchart of a method for reading memory data according to an embodiment of the present invention. 1 and FIG. 2 synchronously, in step S210, a
其中,步驟S230更包括當附加資訊產生電路120所接收的記憶資料DA的資料長度等於指定資料長度資訊I指示的指定長度時,由附加資訊產生電路120針對所接收的記憶資料DA進行附加資訊運算。舉例來說,資訊產生電路120持續地接收記憶體電路110產生的記憶資料DA,並在所接收的記憶資料DA的長度達到指定資料長度資訊I指示的指定長度(例如16位元組)時,針對這16位元組長度的記憶資料DA進行附加資訊運算,以產生對應的附加資訊MAC。然後,資訊產生電路120以相同的方式對接下來的記憶資料DA進行附加資訊運算。Wherein, step S230 further includes when the data length of the memory data DA received by the additional
另一方面,附加資訊產生電路120具有進行附加資訊運算的一運算總長度資訊。當附加資訊產生電路120的運算總長度資訊大於指定資料長度資訊I時,步驟S230更包括由附加資訊產生電路120將記憶資料DA與一個或多個等於0的位元相組合,並進行附加資訊運算。On the other hand, the additional
在步驟S240中,輸入輸出介面130可以依序地輸出第一筆記憶資料DA(長度為16位元組)以及對應的附加資訊MAC、第二筆記憶資料DA(長度為16位元組)以及對應的附加資訊MAC、…依此類推。其中,輸入輸出介面130所輸出的最後一筆資料可能為經補充的記憶資料DA(長度為16位元組)以及對應的附加資訊MAC。In step S240, the input/
請參照圖3,圖3繪示本發明另一實施例的記憶體裝置100的示意圖。記憶體裝置110包含記憶體電路110、附加資訊產生電路120、輸入輸出介面130、儲存電路140、亂數產生電路150以及金鑰產生電路160。其中,記憶體電路110、附加資訊產生電路120、輸入輸出介面130以及儲存電路140可以參照圖1所示記憶體電路110、附加資訊產生電路120、輸入輸出介面130以及儲存電路140的相關說明來類推,故不再贅述。記憶體裝置100的亂數產生電路150耦接金鑰產生電路160,用以產生亂數R。金鑰產生電路160耦接附加資訊產生電路120,用以依據亂數R來產生金鑰K。附加資訊產生電路120則依據金鑰K以針對記憶資料DA來產生對應記憶資料DA的附加資訊MAC。訊息鑑別碼(或數位簽章)、亂數以及金鑰的產生細節為本發明所屬領域中具有通常知識者所熟知,故在此不贅述。Please refer to FIG. 3. FIG. 3 is a schematic diagram of a
請參照圖4,圖4繪示本發明另一實施例的電子裝置10的示意圖。其中,電子裝置10包含相互耦接的記憶體裝置100以及主機200。圖4所示記憶體裝置100可以參照圖3所示記憶體裝置100的相關說明來類推,故不再贅述。主機200包含主機輸入輸出介面210以及驗證電路220。主機200透過主機輸入輸出介面210發出讀取命令CMD,以及透過主機輸入輸出介面210接收對應讀取命令CMD的記憶資料DA與對應的附加資訊MAC。Please refer to FIG. 4. FIG. 4 is a schematic diagram of an
驗證電路220耦接主機輸入輸出介面220,用以依據附加資訊MAC對記憶資料DA進行驗證。在本實施例中,驗證電路220可以針對記憶資料DA進行相同的附加資訊運算,以產生驗證用附加資訊。接著,驗證電路220將接收到的附加資訊MAC與驗證用附加資訊進行比對。如比對結果相符,則可以確認記憶資料DA的內容未被更改過。如前面所述,本實施例的附加資訊MAC可以是訊息鑑別碼,在其他實施例中,附加資訊MAC可以是數位簽章,本發明並不限制附加資訊的型態。The
附帶一提的,為確保附加資訊MAC的正確性,本發明實施例的附加資訊產生電路120可更針對附加資訊MAC執行循環冗餘校驗(Cyclic Redundancy heck,CRC)運算。循環冗餘校驗是一種雜湊函式,循環冗餘校驗運算可以根據附加資訊MAC產生簡短的固定位數的驗證碼,用以檢測或校驗資料傳輸或者儲存後可能出現的錯誤。循環冗餘校驗運算產生的驗證碼會附加到附加資訊MAC中,以供主機200進行檢驗以確定附加資訊MAC是否正確。Incidentally, in order to ensure the correctness of the additional information MAC, the additional
請參照圖5,圖5繪示本發明的記憶資料的輸入輸出波形圖。首先,請見圖5中輸入信號SI的波形,在致能信號CS#被拉低的狀態下(表示記憶體裝置被致能),記憶體裝置可依據時脈SCLK來串列地接收讀取命令CMD以及讀取位址ADD。依據所接收的讀取位址ADD,記憶體裝置可提供記憶資料DA1~DA16。接著,在虛週期(dummy cycle)DC後,記憶體裝置可依據時脈SCLK來串列地輸出記憶資料DA1~DA16,並緊接著輸出對應記憶資料DA1~DA16的附加資訊MAC(請見圖5中輸出信號SO的波形)。其中,虛週期DC可因應電路運算速度或使用者的操作速度而產生。請見圖5,在本實施例中,虛週期DC產生在記憶資料DA1之前。在其他實施例中,虛週期DC可以產生在附加資訊MAC之前。在另一實施例中,對應附加資訊MAC的驗證碼更可以在附加資訊MAC之後被輸出。Please refer to FIG. 5. FIG. 5 shows the input and output waveforms of the memory data of the present invention. First, please refer to the waveform of the input signal SI in Figure 5. When the enable signal CS# is pulled down (indicating that the memory device is enabled), the memory device can receive and read serially according to the clock SCLK Command CMD and read address ADD. According to the received read address ADD, the memory device can provide memory data DA1~DA16. Then, after the dummy cycle DC, the memory device can serially output the memory data DA1~DA16 according to the clock SCLK, and then output the additional information MAC corresponding to the memory data DA1~DA16 (see Figure 5) Output signal SO in the waveform). Among them, the virtual period DC can be generated in response to the circuit operation speed or the user's operation speed. Please refer to Figure 5. In this embodiment, the dummy period DC is generated before the memory data DA1. In other embodiments, the dummy period DC may be generated before the additional information MAC. In another embodiment, the verification code corresponding to the additional information MAC may be output after the additional information MAC.
在此請注意,在進入虛週期DC時,由於讀取位址ADD已經被接收(意即記憶資料DA正在或已經被附加資訊產生電路120接收),附加資訊產生電路120可以在虛週期DC即開始對記憶資料DA進行附加運算。在一實施例中,附加資訊產生電路120所產生的附加資訊MAC可以暫時停留在輸入輸出介面130中的緩衝器(圖未示),以緊接在記憶資料DA之後被輸出。Please note here that when entering the dummy period DC, since the read address ADD has been received (meaning that the memory data DA is being or has been received by the additional information generating circuit 120), the additional
請參照圖6,圖6繪示本發明的記憶資料的多輸入輸出波形圖。圖6與圖5的差異在於圖6具有4個輸出佇列,使得記憶資料DA1~DA16可經由4個輸出佇列SIO0~SIO3輸出。類似地,對應記憶資料DA1~DA16的附加資訊MAC也可經由4個輸出佇列SIO0~SIO3輸出。由於可以在一時間區間t1(記作第一時間區間)同時分別輸出記憶資料DA1~DA16的多個位元,以及在另一時間區間t2(記作第二時間區間)同時分別輸出附加資訊MAC的多個位元。由於同一時間區間的傳輸量增加,傳輸時間減少,使得記憶體裝置的傳輸效率更好。在其他實施例中,虛週期DC可以產生在附加資訊MAC之前。在另一實施例中,對應附加資訊MAC的驗證碼更可以在附加資訊MAC之後被輸出。Please refer to FIG. 6. FIG. 6 shows a multiple input and output waveform diagram of the memory data of the present invention. The difference between FIG. 6 and FIG. 5 is that FIG. 6 has 4 output queues, so that the memory data DA1 ~ DA16 can be output through the 4 output queues SIO0 ~ SIO3. Similarly, the additional information MAC corresponding to the memory data DA1~DA16 can also be output through the 4 output queues SIO0~SIO3. Because it is possible to simultaneously output multiple bits of the memory data DA1~DA16 in one time interval t1 (denoted as the first time interval), and simultaneously output the additional information MAC in another time interval t2 (denoted as the second time interval) Of multiple bits. As the transmission amount in the same time interval increases, the transmission time decreases, which makes the transmission efficiency of the memory device better. In other embodiments, the dummy period DC may be generated before the additional information MAC. In another embodiment, the verification code corresponding to the additional information MAC may be output after the additional information MAC.
請參照圖7,圖7繪示本發明的記憶資料的多輸入輸出波形圖。在圖7中,記憶資料DA1~DA16、對應記憶資料DA1~DA16的附加資訊MAC、記憶資料DA17~DA32,以及對應記憶資料DA17~DA32的附加資訊MAC依序地連續被輸出。記憶資料DA1~DA32可經由4個輸出佇列SIO0~SIO3輸出,對應記憶資料DA1~DA16的附加資訊MAC以及對應記憶資料DA17~DA32的附加資訊MAC也可經由4個輸出佇列SIO0~SIO3輸出。其中,記憶資料DA1~DA16的長度與記憶資料DA17~DA32的長度相同。Please refer to FIG. 7. FIG. 7 shows a multiple input and output waveform diagram of the memory data of the present invention. In FIG. 7, the memory data DA1 to DA16, the additional information MAC corresponding to the memory data DA1 to DA16, the memory data DA17 to DA32, and the additional information MAC corresponding to the memory data DA17 to DA32 are sequentially output in sequence. The memory data DA1~DA32 can be output via 4 output queues SIO0~SIO3, the additional information MAC corresponding to memory data DA1~DA16 and the additional information MAC corresponding to memory data DA17~DA32 can also be output via 4 output queues SIO0~SIO3 . Among them, the length of the memory data DA1 to DA16 is the same as the length of the memory data DA17 to DA32.
類似地,在輸出佇列SIO0~SIO3處於虛週期DC時,記憶資料DA已被讀出並傳輸至附加資訊產生電路120,因此附加資訊產生電路120可以在虛週期DC即開始對記憶資料DA1~DA16進行附加運算,以產生對應記憶資料DA1~DA16的附加資訊MAC1。並且,在輸出佇列SIO0~SIO3輸出記憶資料DA1~DA16時,記憶資料DA17~DA32已被傳輸至附加資訊產生電路120,因此附加資訊產生電路120可開始對記憶資料DA17~DA32進行附加運算,以產生對應記憶資料DA17~DA32的附加資訊MAC2。在其他實施例中,虛週期DC可以產生在附加資訊MAC1之前,或是產生在附加資訊MAC2之前。在另一實施例中,附加資訊MAC的驗證碼更可以在附加資訊MAC之後被輸出。Similarly, when the output queues SIO0~SIO3 are in the dummy period DC, the memory data DA has been read out and transferred to the additional
在圖5~圖7中,記憶資料DA1~DA16的長度可以為16位元組。類似地,圖7的記憶資料DA17~DA32的長度可以為16位元組。In Figures 5-7, the length of the memory data DA1~DA16 can be 16 bytes. Similarly, the length of the memory data DA17 to DA32 in FIG. 7 can be 16 bytes.
綜上所述,本發明藉由讀取指定資料長度資訊,針對已接收的、達到指定長度的記憶資料先行進行附加資訊運算,有效提升記憶體裝置的讀取效能。進一步地,本發明可以針對小於設定長度的記憶資料***補充資料,以避免未經***補充資料的記憶資訊造成附加資訊運算結果錯誤。In summary, the present invention performs additional information operations on the received memory data that reaches the specified length by reading the specified data length information, thereby effectively improving the reading performance of the memory device. Further, the present invention can insert supplementary data for the memory data whose length is less than the set length, so as to avoid the memory information without inserting supplementary data from causing errors in the calculation results of the additional information.
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。Although the present invention has been disclosed in the above embodiments, it is not intended to limit the present invention. Anyone with ordinary knowledge in the technical field can make some changes and modifications without departing from the spirit and scope of the present invention. The scope of protection of the present invention shall be determined by the scope of the attached patent application.
10:電子裝置 100:記憶體裝置 110:記憶體電路 120:附加資訊產生電路 130:儲存電路 140:輸入輸出介面 150:亂數產生電路 160:金鑰產生電路 200:主機 210:主機輸入輸出介面 220:驗證電路 ADD:讀取位址 CMD:讀取指令 CS#:致能信號 DA、DA1~DA32:記憶資料 DC:虛週期 I:指定資料長度資訊 K:金鑰 MAC、MAC1、MAC2:附加資訊 R:亂數 S210~S240:步驟 SCLK:時脈 SI:輸入信號 SIO0~SIO3:輸出佇列 SO:輸出信號 t1、t2:時間區間10: Electronic device 100: Memory device 110: Memory circuit 120: additional information generating circuit 130: storage circuit 140: Input and output interface 150: Random number generation circuit 160: Key generation circuit 200: host 210: Host input and output interface 220: verification circuit ADD: read address CMD: Read command CS#: Enabling signal DA, DA1~DA32: memory data DC: imaginary cycle I: Specify data length information K: key MAC, MAC1, MAC2: additional information R: Random number S210~S240: steps SCLK: clock SI: Input signal SIO0~SIO3: output queue SO: output signal t1, t2: time interval
圖1繪示本發明一實施例的記憶體裝置的示意圖。 圖2繪示本發明一實施例的記憶資料的讀取方法的流程圖。 圖3繪示本發明另一實施例的記憶體裝置的示意圖。 圖4繪示本發明另一實施例的電子裝置的示意圖。 圖5繪示本發明的記憶資料的輸入輸出波形圖。 圖6繪示本發明的記憶資料的多輸入輸出波形圖。 圖7繪示本發明的記憶資料的多輸入輸出波形圖。FIG. 1 is a schematic diagram of a memory device according to an embodiment of the invention. 2 shows a flowchart of a method for reading memory data according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a schematic diagram of a memory device according to another embodiment of the invention. FIG. 4 is a schematic diagram of an electronic device according to another embodiment of the invention. Fig. 5 shows the input and output waveforms of the memory data of the present invention. FIG. 6 shows a multiple input and output waveform diagram of the memory data of the present invention. FIG. 7 shows a multiple input and output waveform diagram of the memory data of the present invention.
S210~S240:步驟 S210~S240: steps
Claims (10)
Priority Applications (1)
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TW108122724A TWI716918B (en) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | Electronic device, memory device and method of reading memory data thereof |
Applications Claiming Priority (1)
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TW108122724A TWI716918B (en) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | Electronic device, memory device and method of reading memory data thereof |
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Family Applications (1)
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TW108122724A TWI716918B (en) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | Electronic device, memory device and method of reading memory data thereof |
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-
2019
- 2019-06-27 TW TW108122724A patent/TWI716918B/en active
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