TW201632128A - 可自動移動之清潔設備 - Google Patents

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Abstract

本發明係有關於一種可自動移動之清潔設備，特別是電動的吸塵及/或擦地機器人，其包含用於量測此清潔設備與物體之距離的距離量測裝置(2)，其中，距離量測裝置(2)具有包含光源、光學濾光器(5)及偵測器(6)之光學三角量測系統，該等組件係佈置成使得光源所發射之光沿傳播方向首先被物體散射，其中，隨後藉由光學濾光器(5)對經散射之光的至少一分量進行頻譜過濾，且其中，最後藉由偵測器(6)對所過濾之光進行偵測。為作進一步改進，本發明提出，光學濾光器(5)為帶阻(band stop)濾光器，其相對於散射光之至少一波長的反射率至少為90%，以及/或者，光學濾光器(5)為帶通(band pass)濾光器，沿透射方向在該帶通濾光器之下游佈置有反射器，以及/或者，光學濾光器(5)為邊緣(edge)濾光器，其相對於散射光之至少一波長的反射率至少為90%。

Description

可自動移動之清潔設備
本發明係有關於一種可自動移動之清潔設備，特別是電動的吸塵及/或擦地機器人，其包含用於量測此清潔設備與物體之距離的距離量測裝置，其中，該距離量測裝置具有包含光源、光學濾光器及偵測器之光學三角量測系統，該等組件係採用係置成使得光源所發射之光沿傳播方向首先被物體散射，其中，隨後藉由該光學濾光器對經散射之光的至少一分量進行頻譜過濾，且其中，最後藉由該偵測器對經過濾之光進行偵測。
先前技術中公開過包含此種距離量測裝置的可自動移動之清潔設備。此種清潔設備例如係在公寓中自動移動，並藉此記錄此環境之距離資料。為此，根據習知之方案，配設有用於全周距離量測(360°)之構件，其例如實施為設於圍繞豎直軸旋轉的平台或諸如此類之上的光學三角量測系統。
例如，公開案DE 10 2008 014 912 A1公開過一種可自動移動之清潔設備，其包含用於量測清潔設備與物體之距離的距離量測設備，此物體例如為諸如壁部之類的障礙物或傢俱。其距離量測裝置具有三角量測系統，其光源係將光輻射至待量測之物體。通常係自此清潔設備之兩個不同的位置來進行量測，其中，基於此物體所散射(反射)之光的角度，能夠推斷出此物體與吸塵機器人的 距離。此清潔設備藉此獲得有關障礙物之距離的資訊，從而根據此資訊對移動策略進行調整，並提前避免與障礙物發生接觸。
此等習知之三角量測系統具有光源、光學濾光器及偵測器。舉例而言，其光源為光學雷射二極體。其光學濾光器通常為帶通(band pass)濾光器，其適於透射光源所發射之光，即，允許其通過，且對環境光進行阻隔，即，對其進行反射或吸收。此帶通濾光器之平均頻率，即，濾波頻帶之上限頻率與下限頻率的幾何平均值(或近似之算術平均值)，較佳係與雷射波長對應。
所採用之光學濾光器的缺憾在於，其通常僅具較小之透射率。相對於具有與785nm之波長對應的平均頻率、且實施為干涉濾光器之帶通濾光器而言，其透射率通常最高為90%。而光中之較大比例，即，至少10%，則被反射及/或吸收，且與偵測結果無關。故偵測器所接收之訊號的訊號強度有所減弱，此點可能會對量測精度產生影響。
此外，就位於清潔設備內之距離量測裝置的常用結構而言，需要將光學濾光器(即，帶通濾光器)及偵測器佈置在兩個彼此垂直的獨立印刷電路板上。其中，此帶通濾光器係佈置在第一印刷電路板上，而在與之垂直的第二印刷電路板上則佈置有此偵測器。由於此帶通濾光器之透光特性，必須採用此佈置方案，其中，透射光以平行於第一印刷電路板之方式穿過帶通濾光器傳播，從而到達垂直於照射方向、且因而亦垂直於第一印刷電路板之偵測器。故，先前技術之缺憾在於，電氣組件係分佈在兩個獨立的印刷電路板上。為此，需要藉由手動焊接或插接來為此二個印刷電路板建立多芯的電連接，且因而易於出錯。
有鑒於此，本發明之目的在於提供一種包含距離量測裝置之清潔設備，將上述缺點克服。
為提供針對上述目的之解決方案，本發明首先提出一種包含距離量測裝置的可自動移動之清潔設備，其中，其光學濾光器為帶阻(band stop)濾光器，相對於散射光之至少一波長而言，該帶阻濾光器之反射率至少為90%。
根據本發明，將先前技術中用於構建三角量測系統的帶通濾光器替換為帶阻濾光器。此方案使得到達光學濾光器之光不再被光學濾光器透射，而是被光學濾光器反射。物體所散射之光的傳播方向因而發生變化。在光學三角量測系統相對於印刷電路板佈置成使得物體所散射之光在到達光學濾光器前平行於印刷電路板傳播的情況下，透過具反射作用之光學濾光器，即，帶阻濾光器，使得光發生偏轉並沿著垂直於印刷電路板的方向傳播，故，可將其偵測器直接佈置在同一印刷電路板上，且毋需用於佈置感測器的第二印刷電路板。上述實施方案適用於以下情形：光學濾光器係相對於入射光束佈置，使得，光在光學濾光器上之入射角為45°。其中，入射光與反射光之夾角為90°。由於同時亦毋需使用第二印刷電路板，不必如先前技術中所需的那般為第一印刷電路板與第二印刷電路板建立電連接，此操作需手動實施，因而易於出錯。安裝複雜度亦有所減小，因為，可將所有組件佈置在同一印刷電路板上。訊號傳輸之品質亦有所改善。最後，本發明之設計方案亦使得其距離量測裝置的結構更為緊密，以便將其佈置在此清潔設備之殼體中。
此外，本發明將較佳被實施為干涉濾光器的帶阻濾光 器用作為三角量測系統之光學濾光器，從而具備光學濾光器之反射率較高的優點。與相對於平均頻率之透射率通常最大為90%的帶通濾光器相比，帶阻濾光器相對於平均頻率的反射率通常大於90%。本發明提出，使用反射率至少為90%的帶阻濾光器，但，較佳為採用具更高反射率之帶阻濾光器，例如，光強度之99%或99.5%(相對於平均頻率)。由於反射率比帶通濾光器之透射率更高，(在光源所發射之光的強度恆定的情況下)，到達偵測器之光分量的強度有所增大，故，亦能對散射能力較弱或距離較遠之物體進行偵測，及對該距離進行量測。
帶阻濾光器(亦稱作頻帶切除濾光器)之反射譜通常不僅針對單獨一個波長呈現較高之反射率。其反射譜通常在較大之頻率範圍內具有較高之反射率。非位於帶阻濾光器之高反射度頻率範圍內頻譜光分量既不會透射，亦不會被吸收，故與所反射之光分量無關。整體而言，在帶阻濾光器之反射譜(x軸：波長或頻率；y軸：反射率)中相對處於最大反射率外之波長或頻率而言，反射率趨近於零。針對其反射譜定義有極限頻率，即，上限頻率及下限頻率，其中，經反射之光分量與入射之光分量的比例為70.7%，亦即，相對於最大值的減小程度為3dB。自此推導出作為濾光性特性參數的所謂「平均頻率」，其為頻率上限與頻率下限之幾何平均值。通常如此選擇帶阻濾光器，使其平均頻率大體與所採用之光的波長相對應。在光學結構例如具有波長為785nm之雷射二極體的情況下，所採用之帶阻濾光器的平均頻率大體與此波長相對應，即，平均頻率約為380THz。
本發明提出，三角量測系統具有兩個偵測器，其中， 第一偵測器係相對於光學濾光器佈置在反射方向上，以便對該光學濾光器所反射之第一光分量進行偵測，且其中，第二偵測器係相對於光學濾光器佈置在透射方向上，以便對光學濾光器所透射之第二光分量進行偵測。在此實施方式中，將帶阻濾光器所透射之第二光分量導引至第二偵測器，其係佈置在光學濾光器之背離第一偵測器的一側上。到達第二偵測器之透射光的波長係處於帶阻濾光器之最大反射率以外。如此，便能對三角量測系統之具第二波長的第二訊號進行分析。舉例而言，可將具有至少兩個發射波長之源用作為光源，或者，使用兩個或兩個以上具不同發射波長之光源，其中，透過第一偵測器對第一波長之訊號進行分析，以及，透過第二偵測器對第二波長之訊號進行分析。如此便能在使用同一光學系統的情況下實現兩個或兩個以上三角量測系統，其中，該等三角量測系統中的每一個皆針對特定距離量測範圍經過優化。光學濾光器所透射之光係垂直於光學濾光器所反射之光(在入射角為45°的情況下)，故，亦需要使得第二偵測器垂直於第一偵測器。因此，可能需要將第二偵測器佈置在第二印刷電路板上，其係垂直於第一印刷電路板，並以傳統的方式與第一印刷電路板相連接。
較佳地，採用以下方式對此實施方式進行組合：沿光之傳播方向在光學濾光器與第二偵測器之間佈置有反射器，其係將光學濾光器所透射之第二光分量反射至第二偵測器。因此，光學濾光器所透射之光分量射至反射器，並因此反射器發生偏轉，在反射器相對於入射光之入射角為45°的情況下偏轉90°。如此，便亦使得反射器所反射之光偏轉至第一印刷電路板，故，可將第二偵測器佈置於第一印刷電路板上，且毋需使用第二印刷電路板來佈置第二 偵測器。故，第一及第二偵測器可並排佈置在第一印刷電路板上，其中，該光學濾光器及該反射器所反射之光分量彼此平行。
反射器亦可為帶阻濾光器。故，該反射器亦具有一頻率範圍，在此頻率範圍中，反射器將入射光中之極高比例反射，即，較佳將至少90%、尤佳至少99%、或最佳至少99.5%的比例予以反射。其中，反射器之平均頻率較佳地至少與光學濾光器所透射之光分量的至少一波長相對應，使得，反射器之反射譜與到達該反射器之光最優地匹配。
反射器之反射譜的平均頻率較佳為偏離光學濾光器之反射譜的平均頻率。舉例而言，光學濾光器之反射譜可具有與785nm之波長對應的平均頻率，而反射器之反射譜的平均頻率則與可見環境光之範圍內的波長(例如532nm)相對應。藉此，透過距離量測裝置，既能在可見範圍內，亦能在有所偏離的範圍(例如，在此為近紅外)內實施分析。
此外，反射器之反射譜可如邊緣(edge)濾光器那般，大體具有兩個彼此隔開之光譜範圍。舉例而言，該反射器可為邊緣濾光器，其將波長大於780nm之光透射(長通(long pass)濾光器)，而波長較小之光，特別是，可見光，則被該反射器所反射。
本發明提出，光學濾光器之平均頻率與光源所發射之光的波長對應，且反射器之平均頻率與可見環境光之波長對應，其中，光學濾光器之平均頻率較佳地不與可見環境光之波長相對應。藉由此技術方案，確保二個基於不同波長之訊號彼此隔開，以及，例如，防止某一波長之光既被光學濾光器、亦被反射器大比例地反射。此方案之目的在於，以儘可能精確且完全根據波長的方式，將 該等訊號隔開。特別是，本發明提出，光學濾光器與反射器之譜距儘可能大，較佳地至少為50nm，以及，其濾光譜之邊緣具有儘可能高之陡度。
在本發明中，帶阻濾光器可為反射稜鏡、干涉鏡、半透鏡或反射柵。在使用具選擇性反射特性的濾光器(帶阻濾光器)時，與具選擇性透射特性的濾光器(帶通濾光器)相比，帶阻濾光器之反射率比帶通濾光器之反射率更高，特別是在將干涉鏡或反射柵用作為帶阻濾光器的情況下。
作為前文述及的包含用作為光學濾光器之帶阻濾光器的距離量測裝置的設計方案的替代方案，本發明提出，光學濾光器為帶通濾光器，沿透射方向在該帶通濾光器之下游佈置有反射器。藉由此實施方式，亦能使光源所發射之光朝印刷電路板偏轉，以便將偵測器佈置在此印刷電路板上，且毋需採用第二印刷電路板。透過將帶通濾光器與佈置於其後之反射器相組合，對帶阻濾波器之射束導引進行模仿，但其中，此組合之反射率小於帶阻濾波器之反射率。特別是，該組合之反射率取決於該帶阻濾光器之透射率以及該反射器之反射率。帶通濾光器之透射率較佳為儘可能地高，即，反射率儘可能地低，且反射器之反射率儘可能地高。如前文所述，常用之帶通濾光器相對於平均頻率之透射率約為90%，故，該組合之總反射率最高為90%。因此，本發明提出，使用具儘可能高之反射率的反射器，從而針對到達偵測器之光，將損耗儘可能地減小。
就此包含帶通濾光器與反射器之組合而言，本發明提出，該帶通濾光器為干涉濾光器。其重要之處在於，帶通濾光器之 相對於平均頻率的透射率儘可能地高，即，反射率儘可能地低。
作為前文述及的包含用作為光學濾光器之帶阻濾光器或帶通濾光器的距離量測裝置的設計方案的替代方案，本發明提出，光學濾光器為邊緣濾光器，其相對於散射光之至少一波長的反射率至少為90%。藉由此實施方式，亦能使光源所發射之光朝印刷電路板偏轉，以便將偵測器佈置在此印刷電路板上，且毋需採用第二印刷電路板。邊緣濾光器之反射率尤佳為至少為95%，或者最佳為98%，其中，大於98%、或者尤佳地大於99.5%的反射率與帶阻濾光器之反射率相當，且到達偵測器之光因而具有儘可能大之強度。
最後，本發明提出，在所有情形下，距離量測裝置僅具有一印刷電路板，其既用於佈置光源，亦用於佈置光學濾光器及該(等)偵測器。
1‧‧‧清潔設備
2‧‧‧距離量測裝置
3‧‧‧物體
4‧‧‧光源
5‧‧‧光學濾光器
6‧‧‧(第一)偵測器
7‧‧‧(第二)偵測器
8‧‧‧(第一)光分量
9‧‧‧(第二)光分量
10‧‧‧反射器
11‧‧‧(第一)印刷電路板
12‧‧‧(第二)印刷電路板
13‧‧‧光學系統
14‧‧‧光障
15‧‧‧量測裝置殼體
16‧‧‧電壓調整器
17‧‧‧處理器
18‧‧‧雷射驅動電子裝置
19‧‧‧設備殼體
20‧‧‧輪子
21‧‧‧清潔輥
22‧‧‧刷子
23‧‧‧出光口
圖1為本發明之清潔設備之透視立體圖；圖2為此清潔設備之仰視圖；圖3為第一實施方式之距離量測裝置之示意圖；圖4為第二實施方式之距離量測裝置之示意圖；圖5為第三實施方式之距離量測裝置之示意圖；圖6為第四實施方式之距離量測裝置之示意圖。
下面結合實施例對本發明作進一步說明。
圖1及2示出可自動移動之清潔設備1，在此，其係 被實施為電動的吸塵機器人。清潔設備1具有設備殼體19，其至少局部地將兩個輪子20、清潔輥21、刷子22及距離量測裝置2予以包圍。此外，在設備殼體19之朝上的一側上設有出光口23，以供距離量測裝置2之光源4所發射的光射出。距離量測裝置2係以可360°旋轉的方式佈置在設備殼體19內，其中，出光口23係在水平射出平面中360°打開，故，360°角度範圍內之光皆能射出。在清潔設備1前存在有物體3，清潔設備1移向此物體。
圖3至6示出距離量測設備2的四個不同實施方式。諸距離量測設備2各具有光源4、一光學濾光器5及偵測器6，其係佈置在光學照射機構中，使得(圖3及6未繪示的)光源4所發射而在物體3上散射的光首先到達光學系統13，例如，調焦透鏡，隨後，藉由光學濾光器5對光進行頻譜過濾，最後，至少就第一光分量8，透過偵測器6對光進行偵測。其中，光學系統13、光學濾光器5及第一偵測器6皆係佈置在距離量測裝置2之第一印刷電路板11上。
此外，印刷電路板11具有在此實施為叉形光障的光障14，其確定了旋轉式佈置在設備殼體19中之距離量測裝置2的角定向。此外，在第一印刷電路板11上設有電壓調整器16、處理器17(微控制器)及雷射驅動電子裝置18。此外，第一印刷電路板11承載有量測裝置殼體15，其係保持距離量測裝置2之各組件。
除先前示出之組件外，圖4所示距離量測裝置2還具有第二偵測器7，其係沿光之透射方向佈置在光學濾光器5後。第二偵測器7係佈置在第二印刷電路板12上，此第二印刷電路板又被第一印刷電路板11所承載。
圖5所示距離量測裝置2具有位於光學濾光器5之透射方向上的反射器10、及第二偵測器7。反射器10及第二偵測器7皆係佈置在第一印刷電路板11上。
圖6所示距離量測裝置2具有沿透射方向位於光學濾光器後之反射器10、及第一偵測器6。反射器10及第一偵測器6皆係佈置在第一印刷電路板11上。
下面對各距離量測裝置2之工作原理進行說明。
圖3所示距離量測裝置2為被實施為帶阻濾光器之光學濾光器5。相對於光學濾光器在此例如與光學二極體(光源4)之785nm的波長對應的平均頻率而言，該光學濾光器之反射率例如為99%。光學濾光器5在此例如實施為單色濾光器，從而在785nm下具有最大反射率。相對於其他波長的反射率則趨近於零。因此，物體3所反射之光到達光學濾光器5，其至多99%的分量、即第一光分量8被反射。其餘的1%的光分量則被光學濾光器5吸收或透射(圖3未繪示)，且不會到達偵測器6。第一光分量8到達偵測器6，並在光學三角量測中接受分析。為此，距離量測裝置2具有處理器17。
帶阻濾光器例如被實施為干涉鏡，例如，包含多層介電塗層之玻璃基板。視所需之反射率及帶阻濾光器所需之平均頻率之不同，可使用不同的塗層材料，且亦可視情況使用不同的基板材料。作為將光學濾光器實施為帶阻濾光器的替代方案，亦可採用其他實施方式，例如，邊緣濾光器(長通、短通)或梯度濾光器。其例如具有典型的反射率。例如，就邊緣濾光器而言，反射率至少可為90%。此外，所示光徑係保持不變。
透過光學濾光器5之波長選擇性反射，能夠將光源4所發射之光自距離量測裝置2之環境光分離，該環境光亦被待量測之物體3散射，從而到達光學系統13及光學濾光器5。因此，藉由與波長相關之反射率，將光源4之光自該環境光分離，使得，測量結果僅取決於、或者相對環境光而言主要取決於光源4之光。
圖4示出本發明之另一實施方式。其中，沿光學濾光器5之透射方向，在光學濾光器5後設有第二偵測器7，其適於對光學濾光器5所透射之光進行偵測。在此實施方式中，光源4所發射且亦被物體3所反射之光具有至少兩個不同的波長。其第一波長與光學濾光器5之平均頻率對應，故，相應的第一光分量8被光學濾光器5反射，並到達第一偵測器6。僅被光學濾光器5較小程度反射之第二光分量9則被光學濾光器5透射，並到達第二偵測器7。第二偵測器7亦與處理器17連接，且可相應地對偵測器6進行分析。此外，第二偵測器7亦可用於偵測環境光，以及/或者，偵測光學濾光器5所透射的、具有與平均頻率對應之波長的光分量。在反射率為98%的情況下，此透射之分量例如為2%。
第一偵測器6、第二偵測器7皆可被實施為光電二極體、光電二極體陣列、及/或CCD/CMOS晶片。其中，偵測器6、7還可就各波長或特定波長範圍來實施偵測，故還能實現波長選擇。
因此，根據所示實施方式，偵測器6能夠對具第一波長(例如，785nm)之光進行量測，而第二偵測器7則能對具不同波長(例如，532nm)之光進行量測。如此，便能就兩個不同的波長對物體3所反射之光進行分析，從而測定有關其物體之附加資訊，特別是，該物體之表面的顏色。特別是，就因表面特性而針對特定波 長或波長範圍僅具較小反射率之物體3而言，此方案較為有利，故，舉例而言，偵測器6、7中之一者僅能對較小之光強度進行偵測。
圖5所示實施例示出距離量測裝置2，其亦具有光學濾光器5及第一偵測器6。如上文結合先前附圖所述，光學濾光器5係實施為帶阻濾光器，故，此光學濾光器以例如為99.5%的極高反射率，相對於其平均頻率將物體3所反射之光反射至偵測器6。而光學濾光器5所透射的、具有偏離光學濾光器5之平均頻率的波長之第二光分量9，則到達反射器10，並至少局部地被該反射器所反射。反射器10亦可為帶阻濾光器，其平均頻率較佳係不同於光學濾光器之平均頻率。作為替代方案，反射器10亦可實施為寬頻反射器，其在較大頻率範圍內具有較高之反射率。反射器10所反射之光到達第二偵測器7，並可就地對光進行分析。根據此實施方式，第一偵測器6及第二偵測器7皆佈置在第一印刷電路板11上，故，毋需第二印刷電路板12。反射器10可為金屬鏡、由介電層構建而成之干涉鏡、抑或反射稜鏡。反射器10及光學濾光器5之表面較佳呈平面狀，但亦可如菲涅耳透鏡(Fresnel lens)或微透鏡那般經過微構造化。作為替代方案，光學濾光器5例如亦可為邊緣濾光器，其視情況具有較小之反射率(但，至少為90%)。
圖6示出本發明之另一實施方式，其中，沿物體3所反射之光的傳播方向，在光學系統13後，距離量測裝置2首先具有實施為帶通濾光器的光學濾光器5及反射器10。該實施為帶通濾光器之光學濾光器5係設計成使得與光源4之波長相對應的光被此光學濾光器所透射。相對此波長而言，該帶通濾光器具有較高之透射率，例如為90%。該帶通濾光器所透射之第一光分量8到達反射 器10，相對第一光分量8之波長而言，該反射器呈現較高之反射率。反射器10所反射之光到達第一偵測器6，並藉由處理器17對其光進行分析。該帶通濾光器可為透射透鏡、透射光柵、分束器抑或由多個透鏡構成之微透鏡陣列。根據此實施方式，距離量測裝置2之組件亦佈置在同一印刷電路板上，即，第一印刷電路板11上，故，毋需採用第二印刷電路板12。與前述實施方式相比，到達第一反射器6之第一光分量8的光強度有所減小，因為，光學濾光器5之透射率小於常用的帶阻濾光器之反射率。
儘管距離量測裝置2在此係可360°旋轉，但，亦可將此距離量測裝置抗扭地佈置在設備殼體19內。就此種實施方式而言，僅能沿特定方向(例如，清潔設備1之當前移動方向)實施距離量測。
2‧‧‧距離量測裝置
5‧‧‧光學濾光器
6‧‧‧(第一)偵測器
8‧‧‧(第一)光分量
11‧‧‧(第一)印刷電路板
13‧‧‧光學系統
14‧‧‧光障
15‧‧‧量測裝置殼體
16‧‧‧電壓調整器
17‧‧‧處理器
18‧‧‧雷射驅動電子裝置

Claims (11)

  1. 一種可自動移動之清潔設備(1)，特別是電動的吸塵及/或擦地機器人，其包含用於量測此清潔設備(1)與物體(3)之距離的距離量測裝置(2)，其中，該距離量測裝置(2)具有包含光源(4)、光學濾光器(5)及偵測器(6)之光學三角量測系統，該等組件係佈置成使得該光源(4)所發射之光沿傳播方向首先被物體(3)散射，其中，隨後藉由該光學濾光器(5)對經散射之光的至少一分量進行頻譜過濾，且其中，最後藉由該偵測器(6)對所過濾之光進行偵測，其特徵在於：該光學濾光器(5)為帶阻濾光器，其相對於散射光之至少一波長的反射率至少為90%。
  2. 如請求項1之清潔設備(1)，其中，該三角量測系統具有兩個偵測器(6、7)，而其中，第一偵測器(6)係相對於該光學濾光器(5)佈置在反射方向上，以便對該光學濾光器(5)所反射之第一光分量(8)進行偵測，且其中，第二偵測器(7)係相對於該光學濾光器(5)佈置在透射方向上，以便對該光學濾光器(5)所透射之第二光分量(9)進行偵測。
  3. 如請求項2之清潔設備(1)，其中，沿光之傳播方向，在該光學濾光器(5)與該第二偵測器(7)之間佈置有反射器(10)，其係將該光學濾光器(5)所透射之第二光分量(9)反射至該第二偵測器(7)。
  4. 如請求項3之清潔設備(1)，其中，該反射器(10)為帶阻濾光器。
  5. 如請求項3之清潔設備(1)，其中，該反射器(10)之反射譜的平均頻率偏離於該光學濾光器(5)之反射譜的平均頻率。
  6. 如請求項4或5之清潔設備(1)，其中，該光學濾光器(5)之平均頻率與該光源(4)所發射之光的波長相對應，而且，該反射器(10) 之平均頻率與可見環境光的波長相對應，而其中，該光學濾光器(5)之平均頻率較佳係不與該可見環境光之波長相對應。
  7. 如前述請求項中任一項之清潔設備(1)，其中，該帶阻濾光器為干涉鏡。
  8. 一種可自動移動之清潔設備(1)，特別是電動的吸塵及/或擦地機器人，其包含用於量測此清潔設備(1)與物體(3)之距離的距離量測裝置(2)，其中，該距離量測裝置(2)具有包含光源(4)、光學濾光器(5)及偵測器(6)之光學三角量測系統，該等組件係佈置成使得該光源(4)所發射之光沿傳播方向首先被物體(3)散射，其中，隨後藉由該光學濾光器(5)對經散射之光的至少一分量進行頻譜過濾，且其中，最後藉由該偵測器(6)對所過濾之光進行偵測，其特徵在於：該光學濾光器(5)為帶通濾光器，沿透射方向在該帶通濾光器之下游佈置有反射器(10)。
  9. 如請求項8之清潔設備，其中，該帶通濾光器為干涉濾光器。
  10. 一種可自動移動之清潔設備(1)，特別是電動的吸塵及/或擦地機器人，其包含用於量測此清潔設備(1)與物體(3)之距離的距離量測裝置(2)，其中，該距離量測裝置(2)具有包含光源(4)、光學濾光器(5)及偵測器(6)之光學三角量測系統，該等組件係佈置成使得該光源(4)所發射之光沿傳播方向首先被物體(3)散射，其中，隨後藉由該光學濾光器(5)對經散射之光的至少一分量進行頻譜過濾，且其中，最後藉由該偵測器(6)對所過濾之光進行偵測，其特徵在於：該光學濾光器(5)為邊緣濾光器，其相對於散射光之至少一波長的反射率至少為90%。
  11. 如前述請求項中任一項之清潔設備(1)，其中，該距離量測裝 置(2)僅具有一印刷電路板(11)，其既用於佈置該光源(4)，亦用於佈置該光學濾光器(5)及該偵測器(6、7)。
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