TW201603508A - 測試系統和方法 - Google Patents

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Abstract

一種測試系統，包括：一終端裝置(Optical Line Terminal,OLT)，用以提供一光訊號；一光衰減器，用以根據上述終端裝置輸出之光訊號，經衰減後產生一衰減光訊號；一待測裝置，用以產生對應上述衰減光訊號之一類比轉數位(AD)值；以及一測試管理器，用以接收上述類比轉數位(AD)值，並根據上述類比轉數位(AD)值以及上述衰減光訊號，產生一組校準值，且將上述組校準值回傳上述待測裝置，以檢測上述待測裝置。

Description

測試系統和方法
本說明書主要係有關於測試之技術，特別係有關於接收光功率(RX POWER)之數位檢測監視介面(Digital Diagnostic Monitoring Interface，DDMI)校準測試之測試技術。
隨著網路技術之發展，光纖網路之技術也越來越進步。被動式光纖網路(Passive Optical Network；PON)即為光纖網路之技術一主要之技術。所謂被動式光纖網路PON，有別於傳統光纖傳輸終端點對點拓樸網路架構(Point to Point；P2P)，所採用的是點對多點樹狀形式拓樸(Point to Multi-Point；P2MP)，由光纖線路終端(Optical Line Terminal；OLT)經由光分歧器(Optical Splitter)的分光傳送給多個光纖網路終端(Optical Network Unit；ONU)，此方式可大量降低光纖及光器件的使用量。被動式光纖網路(PON)可包括乙太被動式光纖網路(Ethernet Passive Optical Network，EPON)、超高速被動光纖網路(Gigabit Passive Optical Network，GPON)等不同技術。
超高速被動光纖網路(GPON)技術係一由ITU-T所訂定之標準。除了可在單一波長下提供2.5Gbps的頻寬；超高速被動光纖網路(GPON)之封裝方式(GPON Encapsulation Mode，GEM)，提供了一種高效的、通用的機制傳送不同的服 務，可以靈活地分配語音、資料和影像等各種信號。此外，超高速被動光纖網路(GPON)的傳輸聚合(Transmission Convergence，TC)層本質上是同步的，使用了標準的8kHz(125μs)Frame，使得超高速被動光纖網路(GPON)可以直接支援分時多功(Time-Division Multiplex，TDM)服務，適合作為行動網路基地台及傳統專線傳輸使用。
因此，提升超高速被動光纖網路(GPON)產品之測試之準確度將是一個值得研究之課題。
有鑑於上述先前技術之問題，本發明提供了在接收光功率(RX POWER)之數位檢測監視介面(DDMI)校準測試之測試技術。
根據本發明之一實施例提供了一種測試系統。此測試系統包括：一終端裝置，用以提供一光訊號；一光衰減器，用以根據上述輸出之光訊號，衰減後產生一衰減光訊號；一待測裝置，用以產生對應上述衰減光訊號之一類比轉數位(AD)值；以及一測試管理器，用以接收上述類比轉數位(AD)值，並根據上述類比轉數位(AD)值以及上述複數衰減光訊號，產生一組校準值，且將上述組校準值回傳上述待測裝置，以檢測上述待測裝置。
根據本發明之一實施例提供了一種測試方法。此測試方法之步驟包括包括：提供一光訊號；根據上述光訊號，產生一衰減光訊號；藉由一待測裝置產生對應上述衰減光訊號之一類比轉數位(AD)值；以及根據上述類比轉數位(AD)值以及 上述衰減光訊號，產生一組校準值；回傳上述組校準值至上述待測裝置；以及藉由一測試管理器檢測取得上述校準值之上述待測裝置。
關於本發明其他附加的特徵與優點，此領域之熟習技術人士，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可根據本案實施方法中所揭露之執行聯繫程序之使用者裝置、系統、以及方法，做些許的更動與潤飾而得到。
100‧‧‧測試系統
110‧‧‧測試管理器
120‧‧‧終端裝置
130‧‧‧光衰減器
140‧‧‧待測裝置
S1‧‧‧光訊號
200‧‧‧流程圖
第1圖係顯示根據本發明一實施例所述之測試系統100之方塊圖。
第2圖係根據本發明一實施例所述之測試方法之流程圖200。
本章節所敘述的是實施本發明之最佳方式，目的在於說明本發明之精神而非用以限定本發明之保護範圍，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
第1圖係顯示根據本發明一實施例所述之測試系統100之方塊圖。測試系統100適用於一接收光功率(RX POWER)之數位檢測監視介面(Digital Diagnostic Monitoring Interface，DDMI)校準測試。測試系統100中包括了測試管理器110、終端裝置120、光衰減器130和待測裝置140。
根據本發明一實施例，測試管理器110可係指一電腦裝置或一具有數據或資料處理能理之處理裝置。測試管理 器110用以控制終端裝置120和光衰減器130，並和待測裝置140進行資料之傳輸。終端裝置120可係一光纖線路終端(Optical Line Terminal，OLT)。待測裝置140可係一光纖網路單元(Optical Network Unit，ONU)、一光纖網路終端(Optical Network Terminal，ONT)、或在光纖網路單元或光纖網路終端中的一雙向光纖次次組件(Bi-directional Optical Sub Assembly，BOSA)或其它相關組件。
根據本發明一實施例，當待測裝置140要進行光功率(RX POWER)之數位檢測監視介面(DDMI)校正時，測試管理器110會先指示終端裝置120送出一光訊號S1至光衰減器130。光衰減器130收到光訊號S1後會根據測試管理器110所指示之衰減參數來產生一衰減光訊號，並將衰減光訊號傳送給待測裝置140，其中已衰減之光訊號亦可視為實際輸入之光功率(Optical Power)。根據本發明一實施例，測試管理器110可預先設定多組衰減參數(例如：無衰減(衰減0dB)、衰減5dB、衰減15dB等)，以提供光衰減器130產生對應不同衰減參數之衰減光訊號。特別說明的是，上述衰減參數之設定僅係用以說明本發明之實施例，並非用以限制本發明，測試管理器110亦可根據不同情況或不同待測裝置調整或設定衰減參數。
當待測裝置140接收到一衰減光訊號後，就會根據衰減光訊號，將衰減光訊號轉換為一類比轉數位(Analog to Digital，AD)值，其中不同衰減光訊號會對應到不同數類比轉數位(Analog to Digital，AD)值，也就是一輸入之光功率只會對應到一類比轉數位(AD)值。待測裝置140產生類比轉數位 (AD)值後，就會將類比轉數位(AD)值回傳給測試管理器110。特別說明地是，待測裝置140產生完一類比轉數位(AD)值後，光衰減器130會再產生另一光衰減信號，待測裝置140會再根據另一衰減光訊號產生另一類比轉數位(AD)值，依照相同動作重複產生新的衰減光訊號和類比轉數位(AD)值，直到衰減光訊號和類比轉數位(AD)值之數量足夠產生校準值為止。測試管理器110接收到類比轉數位(AD)值後，就會根據所有類比轉數位(AD)值以及所有衰減光訊號，產生一組校準值。
根據本發明一實施例，測試管理器110會將類比轉數位(AD)值以及衰減光訊號代入下列方程式(1)進行運算，以求得校準值，方程式(1)如下所示：y=ax4+bx3+cx2+dx+e (1)
其中y表示衰減光訊號(輸入之光功率)，x表示類比轉數位(AD)值，以及a、b、c、d、e表示校準值。特別說明的是，在此方程式中係以需要產生5個校準值為例，因此光衰減器130需要產生5衰減光訊號(5 y值)來進行聯立方程式之運算，以產生校準值a、b、c、d、e，但本發明並不以此為限。
當測試管理器110產生校準值後，就會將校準值(例如：a、b、c、d、e)回傳待測裝置140，並指示光衰減器130產生新的一組衰減光訊號來檢驗取得校準值之待測裝置140之測試精準度。也就是說待測裝置140在取得校準值後，就可根據校準值，以及來自光衰減器130之新的一組衰減光訊號所轉換之類比轉數位(AD)值，來求得一估測之光功率值。測試管理器110即可根據估測之光功率值和光衰減器130所產生之衰減 光訊號(實際輸入之光功率)之誤差結果，來檢測待測裝置140。
根據本發明一實施例，為了降低估測之光功率值和光衰減器130所產生之衰減光訊號(實際輸入之光功率)之誤差結果，測試管理器110會把指示光衰減器130產生之複數衰減光訊號之之一光功率強度預先進行一反對數運算。
第2圖係根據本發明一實施例所述之測試方法之流程圖200，此測試方法適用於待測裝置140之一接收光功率(RX POWER)之數位檢測監視介面(DDMI)校準測試。首先，在步驟S210，藉由終端裝置120提供一光訊號。在步驟S220，藉由測試管理器110控制光衰減器130之衰減值並根據上述光訊號，衰減後產生一衰減光訊號。在步驟S230，藉由待測裝置140接收該訊號後產生對應衰減光訊號之類比轉數位(AD)值，並傳送類比轉數位(AD)值至測試管理器110。特別說明地是，在不同實施例中，產生校準值會需要複數個衰減光訊號和複數個AD值，因此會重複步驟S220至步驟S230，每次藉由產生不同衰減光訊號，進而產生不同AD值。以上述實施例為例，若需要產生較準值a、b、c、d、e，就會需要重複步驟S220至步驟S230以產生5個衰減光訊號和對應不同衰減光訊號之5個AD值。在步驟S240，藉由測試管理器110根據類比轉數位(AD)值以及衰減光訊號，產生一組校準值。在步驟S250，藉由測試管理器110回傳校準值至待測裝置140。在步驟S260，藉由測試管理器110檢驗使用校準值之待測裝置140之精準度。
根據本發明一實施例，上述測試方法之步驟更包 括，在待測裝置140取得一組校準值後，藉由待測裝置140根據校準值和類比轉數位(AD)值，產生一估測值(估測之光功率值)，其中此實施例所述之類比轉數位(AD)值係藉由光衰減器130重新產生之一組衰減光訊號所轉換而來。根據本發明一實施例，上述測試方法之步驟更包括，產生估測值後，藉由測試管理器110根據待測裝置140所產生之光功率估測值以及重新產生之衰減光訊號之光功率值來檢測待測裝置140之精準度。
根據本發明一實施例，上述測試方法之步驟更包括，藉由測試管理器110將衰減後之光訊號之一光功率強度預先進行一反對數運算。
透過本發明之實施例所提供之接收光功率(RX POWER)之數位檢測監視介面(DDMI)校準測試方法，將可用來檢測待測裝置之良率。此外，本發明更透過將衰減光訊號預先進行一反對數運算，以降低實際輸入之光功率和估測之光功率之誤差結果。
本發明之說明書所揭露之方法和演算法之步驟，可直接透過執行一處理器直接應用在硬體以及軟體模組或兩者之結合上。一軟體模組(包括執行指令和相關數據)和其它數據可儲存在數據記憶體中，像是隨機存取記憶體(RAM)、快閃記憶體(flash memory)、唯讀記憶體(ROM)、可抹除可規化唯讀記憶體(EPROM)、電子可抹除可規劃唯讀記憶體(EEPROM)、暫存器、硬碟、可攜式應碟、光碟唯讀記憶體(CD-ROM)、DVD或在此領域習之技術中任何其它電腦可讀取之儲存媒體格式。一儲存媒體可耦接至一機器裝置，舉例來說，像是電腦/ 處理器(為了說明之方便，在本說明書以處理器來表示)，上述處理器可透過來讀取資訊(像是程式碼)，以及寫入資訊至儲存媒體。一儲存媒體可整合一處理器。一特殊應用積體電路(ASIC)包括處理器和儲存媒體。一用戶設備則包括一特殊應用積體電路。換句話說，處理器和儲存媒體以不直接連接用戶設備的方式，包含於用戶設備中。此外，在一些實施例中，任何適合電腦程序之產品包括可讀取之儲存媒體，其中可讀取之儲存媒體包括和一或多個所揭露實施例相關之程式碼。在一些實施例中，電腦程序之產品可包括封裝材料。
本說明書中所提到的「一實施例」或「實施例」，表示與實施例有關之所述特定的特徵、結構、或特性是包含根據本發明的至少一實施例中，但並不表示它們存在於每一個實施例中。因此，在本說明書中不同地方出現的「在一實施例中」或「在實施例中」詞組並不必然表示本發明的相同實施例。
以上段落使用多種層面描述。顯然的，本文的教示可以多種方式實現，而在範例中揭露之任何特定架構或功能僅為一代表性之狀況。根據本文之教示，任何熟知此技藝之人士應理解在本文揭露之各層面可獨立實作或兩種以上之層面可以合併實作。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧測試系統
110‧‧‧測試管理器
120‧‧‧終端裝置
130‧‧‧光衰減器
140‧‧‧待測裝置
S1‧‧‧光訊號

Claims (12)

  1. 一種測試系統，包括：一終端裝置(Optical Line Terminal,OLT)，用以提供一光訊號；一光衰減器，用以根據上述光訊號，產生一衰減光訊號；一待測裝置，用以產生對應上述衰減光訊號之一類比轉數位(AD)值；以及一測試管理器，用以接收上述類比轉數位(AD)值，並根據上述類比轉數位(AD)值以及上述衰減光訊號，產生一組校準值，且將上述校準值回傳上述待測裝置，以檢測上述待測裝置。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中上述測試管理器更用以控制上述光衰減器所提供之上述光訊號。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中上述測試管理器更用以傳送至少一衰減參數至上述光衰減器，以提供上述光衰減器產生上述衰減光訊號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中上述測試管理器更用以將上述光衰減器輸出之上述衰減光訊號之一光功率強度預先進行一反對數運算。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中上述待測裝置取得上述校準值後，根據上述校準值和重新產生之上述類比轉數位(AD)值，產生一估測值，其中重新產生之上述類比轉數位(AD)值係由上述光衰減器所重新產生之上述衰減光訊號所轉換而來。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之測試系統，其中上述測試管理器會根據上述估測值和重新產生之上述衰減光訊號來檢測上述待測裝置。
  7. 一種測試方法，包括：提供一光訊號；根據上述光訊號，產生一衰減光訊號；藉由一待測裝置產生對應上述衰減光訊號之類比轉數位(AD)值；以及根據上述一類比轉數位(AD)值以及上述衰減光訊號，產生一組校準值；回傳上述組校準值至上述待測裝置；以及藉由一測試管理器檢測取得上述校準值之上述待測裝置。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之測試方法，更包括：藉由上述測試管理器控制所提供之上述光訊號。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之測試方法，更包括：藉由上述測試管理器產生一衰減參數，以產生上述衰減光訊號。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之測試方法，更包括：藉由上述測試管理器將上述衰減後之光訊號之一光功率強度預先進行一反對數運算。
  11. 如申請專利範圍第7項所述之測試方法，更包括：藉由上述待測裝置取得上述校準值後，再藉由上述待測裝置根據上述校準值和重新產生之上述類比轉數位(AD)值，產生一估測值，其中重新產生之上述類比轉數位(AD)值係 藉由上述光衰減器所重新產生之上述衰減光訊號所轉換而來。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之測試方法，更包括：藉由上述測試管理器根據上述估測值以及上述重新產生之衰減光訊號來檢測上述待測裝置。
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