TW201541244A - 動態調整監控模式的系統、方法及伺服器 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種動態調整監控模式的系統,該系統運行於一伺服器中,該系統包括:監控模組,即時監控伺服器中每個元件當前的工作狀態;確定模組,讀取工作狀態表,根據每個元件當前的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間;及調整模組,調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。本發明還提供一種動態調整監控模式的方法及伺服器。
Description
本發明涉及一種動態調整監控模式的系統、方法及伺服器。
現有技術下,為了監控伺服器中每個元件的狀態,例如CPU功耗及溫度、散熱風扇的轉速等,通常會在伺服器的主機板上附上一BMC晶片,通過系統匯流排對元件的相關狀態參數進行定時取樣。然而不足的是無論被監控的元件處於何種工作狀態,這種監控方式下的取樣時間都是固定不變的。為了準確獲知伺服器中元件的即時狀態,當元件處於高功耗運行的工作狀態時,對其監控時實際需求的取樣時間較短,而當元件處於低功耗運行的工作狀態時,對其監控時實際需求的取樣時間相對較長,此時若仍然固定採用較短的取樣時間,會導致BMC監控效率的降低及功耗的浪費。
有鑒於此,有必要提供一種動態調整監控模式的系統、方法及伺服器,旨在解決上述技術問題。
本發明提供一種動態調整監控模式的系統,該系統運行於一伺服器中,該伺服器包括記憶體及多個元件,該記憶體用於存儲一工作狀態表,該工作狀態表中記錄了每個元件對應的多個工作狀態,以及每個元件在每個工作狀態下對應的監控取樣時間,該系統包括:
監控模組,用於即時監控伺服器中每個元件當前的工作狀態;
確定模組,用於讀取工作狀態表,根據每個元件當前的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間;及
調整模組,用於調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。
本發明還提供一種動態調整監控模式的伺服器,該伺服器包括記憶體、BMC及多個元件,該記憶體用於存儲一工作狀態表,該工作狀態表中記錄了每個元件對應的多個工作狀態,以及每個元件在每個工作狀態下對應的監控取樣時間,該BMC用於即時監控伺服器中每個元件當前的工作狀態,還用於讀取工作狀態表,根據每個元件當前的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間,及調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。
本發明還提供一種動態調整監控模式的方法,該方法應用於一伺服器中,該伺服器包括記憶體及多個元件,該記憶體用於存儲一工作狀態表,該工作狀態表中記錄了每個元件對應的多個工作狀態,以及每個元件在每個工作狀態下對應的監控取樣時間,該方法包括以下步驟:
即時監控伺服器中每個元件當前的工作狀態;
讀取工作狀態表,根據每個元件當前的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間;及
調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。
相較於習知技術,本發明提供的動態調整監控模式的系統、方法及伺服器通過即時監控伺服器中每個元件的工作狀態,根據每個元件的工作狀態動態調整對其監控時的取樣時間,從而達到提高BMC的監控效率及減少BMC的功耗浪費的效果。
圖1為本發明動態調整監控模式的系統較佳實施例的模組結構圖;
圖2為本發明動態調整監控模式的方法較佳實施例的流程圖。
請參考圖1,為本發明動態調整監控模式的系統100的應用結構圖。該系統運行於伺服器1中。該伺服器1包括BMC10、記憶體11及多個元件。該BMC10固定設置於伺服器1的主機板上,用於監控伺服器 1中每個元件的工作狀態(如功耗、溫度等)。該記憶體11用於存儲一工作狀態表。該工作狀態表中記錄了每個元件對應的多個工作狀態,以及每個元件在每個工作狀態下對應的監控取樣時間。在本實施例中,該記憶體11為NVRAM(Non-Volatile Random Access Memory,非易失性隨機訪問記憶體)。
該動態調整監控模式的系統100包括有若干個模組,該若干個模組為能夠被該BMC10所執行並能夠完成預定功能的一系列程式指令段。該若干個模組包括設置模組101、存儲模組102、監控模組103、確定模組104及調整模組105。在本實施例中,該若干個模組存儲於該BMC10中。關於各模組的功能將在圖2的流程圖中作具體描述。
請參考圖2,為本發明動態調整監控模式的方法的流程圖。
步驟S101,該設置模組101為伺服器1中每個元件設置不同的工作狀態,並對每個元件的不同工作狀態設置不同的監控取樣時間。在本實施例中,每個元件所設置的工作狀態包括有全速運行工作狀態、高功耗運行工作狀態及低功耗運行工作狀態。其中,該全速運行工作狀態定義為:元件以100%功耗運行於伺服器中;該高功耗運行工作狀態定義為:元件以高於一預定百分比功耗且低於100%功耗運行於伺服器中;該高功耗運行工作狀態定義為:元件以低於該預定百分比功耗運行於伺服器中。在本實施例中,該預定百分比功耗為70%功耗,其他實施例中,該百分比功耗也可根據需求定義為其他數值,如80%功耗或60%功耗等。
在本實施例中,對伺服器1中每個元件在每個工作狀態下設置的監控取樣時間如下:當元件的工作狀態為全速運行時,其監控取樣時間設置為1秒;當元件的工作狀態為高功耗運行時,其監控取樣時間設置為5秒;當元件的工作狀態為低功耗運行時,其監控取樣時間設置為10秒。其他實施例中,針對元件在不同工作狀態下的監控取樣時間也可根據需要進行不同的設置。
步驟S102,該存儲模組102存儲設置模組101所設置的每個元件的不同工作狀態及每個元件不同工作狀態對應的監控取樣時間於一工作狀態表中。
例如,如下所述的工作狀態表,在該狀態表中,伺服器中包括有元件CPU(Central Processing Unit,中央處理器)、Memory(記憶體)、PCH(Platform Controller Hub,南橋晶片)及PSU(Power Supply Unit,電源供應器)。該CPU的工作狀態分別為全速運行C0、高功耗運行C1及低功耗運行C2。該Memory的工作狀態分別為全速運行M0、高功耗運行M1及低功耗運行M2。該PCH的工作狀態分別為全速運行P0、高功耗運行P1及低功耗運行P2。該PSU的工作狀態分別為全速運行PS0、高功耗運行PS1及低功耗運行PS2。該CPU在全速運行C0時對應的監控取樣時間為1s,在高功耗運行C1時對應的監控取樣時間為5s,在低功耗運行C2時對應的監控取樣時間為10s。該Memory在全速運行M0時對應的監控取樣時間為1s,在高功耗運行M1時對應的監控取樣時間為5s,在低功耗運行M2時對應的監控取樣時間為10s。該PCH在全速運行P0時對應的監控取樣時間為1s,在高功耗運行P1時對應的監控取樣時間為5s,在低功耗運行P2時對應的監控取樣時間為10s。該PSU在全速運行PS0時對應的監控取樣時間為1s,在高功耗運行PS1時對應的監控取樣時間為5s,在低功耗運行PS2時對應的監控取樣時間為10s。由此,存儲的該四個元件的工作狀態及不同工作狀態對應監控取樣時間的工作狀態表如下表所示:
步驟S103,該監控模組103即時監控伺服器1中每個元件當前的工作狀態。本實施例中,該監控模組103通過監控每個元件的功耗百分比來確定每個元件當前的工作狀態。具體的,該監控模組103通過I2C(Inter-Integrated Circuit,串列匯流排)匯流排及IPMB(Intelligent Platform Management Bus,智慧平臺管理匯流排)匯流排獲取伺服器1中各元件的相關參數,並由BMC10內部的IPMI(Intelligent Platform Management Interface,智慧平臺管理介面)架構計算得到每個元件的功耗百分比。
步驟S104,該確定模組104讀取工作狀態表,根據每個元件的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間。例如,若監控得到上述四個元件均以高於70%功耗且低於100%功耗運行,則可知該四個元件的工作狀態均為高功耗運行,即CPU的工作狀態為C1,Memory的工作狀態為M1,PCH的工作狀態為P1,PSU的工作狀態為PS1。通過讀取工作狀態表,可以確定該四個元件的監控取樣時間均為5秒。
步驟S105,該調整模組105調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。在本實施例中,該調整模組105通過IPMI架構調整BMC10在監控該四個元件時,每5秒對該四個元件的相關狀態參數進行一次取樣,以此達到調整該四個元件的監控模式的目的。
本發明動態調整監控模式的系統通過即時監控伺服器1中每個元件的工作狀態,根據每個元件的不同工作狀態動態調整對每個元件監控時的取樣時間,即迴圈上述步驟S103~S105,從而達到動態調整監控模式的目的。
1‧‧‧伺服器
10‧‧‧BMC
11‧‧‧記憶體
100‧‧‧動態調整監控模式的系統
101‧‧‧設置模組
102‧‧‧存儲模組
103‧‧‧監控模組
104‧‧‧確定模組
105‧‧‧調整模組
無
1‧‧‧伺服器
10‧‧‧BMC
11‧‧‧記憶體
100‧‧‧動態調整監控模式的系統
101‧‧‧設置模組
102‧‧‧存儲模組
103‧‧‧監控模組
104‧‧‧確定模組
105‧‧‧調整模組
Claims (9)
- 一種動態調整監控模式的系統,該系統運行於一伺服器中,該伺服器包括記憶體及多個元件,該記憶體用於存儲一工作狀態表,該工作狀態表中記錄了每個元件對應的多個工作狀態,以及每個元件在每個工作狀態下對應的監控取樣時間,其改良在於,該系統包括:
監控模組,用於即時監控伺服器中每個元件當前的工作狀態;
確定模組,用於讀取工作狀態表,根據每個元件當前的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間;及
調整模組,用於調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。 - 如申請專利範圍第1項所述之動態調整監控模式的系統,其中,該系統還包括設置模組及存儲模組,該設置模組用於為每個元件設置不同的工作狀態,並對每個元件的不同工作狀態設置不同的監控取樣時間,該存儲模組用於存儲每個元件的不同工作狀態及每個元件不同工作狀態對應的監控取樣時間於一工作狀態表中。
- 如申請專利範圍第2項所述之動態調整監控模式的系統,其中,該每個元件的工作狀態分別包括有全速運行工作狀態、高功耗運行工作狀態及低功耗運行工作狀態。
- 一種動態調整監控模式的伺服器,該伺服器包括記憶體、BMC及多個元件,其改良在於,該記憶體用於存儲一工作狀態表,該工作狀態表中記錄了每個元件對應的多個工作狀態,以及每個元件在每個工作狀態下對應的監控取樣時間,該BMC用於即時監控伺服器中每個元件當前的工作狀態,還用於讀取工作狀態表,根據每個元件當前的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間,及調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。
- 如申請專利範圍第4項所述之動態調整監控模式的伺服器,其中,該BMC還用於為每個元件設置不同的工作狀態,並對每個元件的不同工作狀態設置不同的監控取樣時間,以及存儲每個元件的不同工作狀態及每個元件不同工作狀態對應的監控取樣時間於一工作狀態表中。
- 如申請專利範圍第5項所述之動態調整監控模式的伺服器,其中,該每個元件的工作狀態分別包括有全速運行工作狀態、高功耗運行工作狀態及低功耗運行工作狀態。
- 一種動態調整監控模式的方法,該方法應用於一伺服器中,該伺服器包括記憶體及多個元件,該記憶體用於存儲一工作狀態表,該工作狀態表中記錄了每個元件對應的多個工作狀態,以及每個元件在每個工作狀態下對應的監控取樣時間,其改良在於,該方法包括以下步驟:
即時監控伺服器中每個元件當前的工作狀態;
讀取工作狀態表,根據每個元件當前的工作狀態確定每個元件的監控取樣時間;及
調整每個元件在當前工作狀態下的監控取樣時間為確定的監控取樣時間。 - 如申請專利範圍第7項所述之動態調整監控模式的方法,其中,該方法還包括以下步驟,為每個元件設置不同的工作狀態,並對每個元件的不同工作狀態設置不同的監控取樣時間,以及存儲每個元件的不同工作狀態及每個元件不同工作狀態對應的監控取樣時間於一工作狀態表中。
- 如申請專利範圍第8項所述之動態調整監控模式的方法,其中,該每個元件的工作狀態分別包括有全速運行工作狀態、高功耗運行工作狀態及低功耗運行工作狀態。
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