TW201530090A - 產品檢測系統及產品檢測方法 - Google Patents

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Abstract

本發明提出了一種用於檢測產品是否合格之檢測系統,包括上料模組,用於將被測產品輸入該檢測系統;檢測模組,包括用於對被測產品的平面尺寸進行檢測的第一檢測模組與用於對被測產品的深度尺寸進行檢測的第二檢測模組;下料模組,用於將被測產品輸出該檢測系統;搬運模組,用於對被測產品進行搬運;資料處理模組,與檢測模組電性連接,用於處理檢測模組輸出的檢測資料;以及電控模組,與檢測模組及搬運模組電性連接並用於對檢測模組及搬運模組進行控制。本發明同時還提供了一種檢測產品尺寸之檢測方法。

Description

產品檢測系統及產品檢測方法
本發明涉及一種檢測系統,特別涉及一種產品尺寸之檢測系統及其檢測方法。
在現代工業的生產過程中,產品尺寸的檢測通常是帶有高度的重複性與智慧性的工作,然傳統的檢測方式只能藉由人的肉眼來完成產品尺寸的檢測。惟有些時候,如微小的尺寸需要精確快速的檢測,形狀匹配,顏色識別等,人們無法用肉眼連續、穩定及準確的進行檢測,是故就會導致檢測的不良率較大。而且,隨著工業生產不斷的革新,傳統的目視檢測已經遠遠達不到生產的需求。同時,隨著人力成本的不斷提高,現代工業需要不斷的減少人力資源來降低生產成本。
鑒於上述狀況,有必要提供一種自動化之產品尺寸檢測系統及其檢測方法。
一種用於檢測產品的尺寸是否合格的檢測系統,包括上料模組、檢測模組、下料模組、搬運模組、資料處理模組、以及電控模組。上料模組用於將被測產品輸入該檢測系統。檢測模組包括用於對被測產品的平面尺寸進行檢測的第一檢測模組與用於對被測產品的深度尺寸進行檢測的第二檢測模組。下料模組用於將被測產品輸出該檢測系統。搬運模組用於對被測產品進行搬運。資料處理模組與檢測模組電性連接,並用於處理檢測模組輸出的檢測資料。電控模組與檢測模組及搬運模組電性連接並用於對檢測模組及搬運模組進行控制。
一種產品檢測方法,用於檢測產品的尺寸是否合格,其包括如下步驟:被測產品被輸送至第一檢測工位;利用第一檢測模組對被測產品的平面尺寸進行檢測;利用資料處理模組對第一檢測模組測得的檢測資料進行處理;被測產品被輸送至第二檢測工位;利用第二檢測模組對被測產品的深度尺寸進行檢測;利用資料處理模組對第二檢測模組測得的檢測資料進行處理;完成對被測產品的檢測並將被測產品輸出。
上述產品檢測系統及產品檢測方法藉由採用機械自動化的模式,大大提高了檢測的效率,並節省了寶貴的人力資源。同時,本發明藉由採用第一檢測模組與第二檢測模組對產品的尺寸進行檢測,相比傳統依靠人工目視檢測的方式,產品檢測的準確性與穩定性具有較大的提高。另,藉由搬運模組的自動化搬運模式,替代了傳統的人工搬運模式,提高了檢測效率,降低了生產成本。
圖1係本發明的檢測系統之結構框架圖。
圖2係圖1所示檢測系統的上料模組之結構框架圖。
圖3係圖1所示檢測系統的檢測模組之結構框架圖。
圖4係圖1所示檢測系統的下料模組之結構框架圖。
圖5係圖1所示檢測系統的搬運模組之結構框架圖。
圖6係本發明的產品檢測方法之流程圖。
下面結合圖式及實施方式對本發明提供的一種產品檢測系統及產品檢測方法作進一步詳細說明。
請參照圖1,本發明提供的一種產品的檢測系統100設置於一基座(圖未示)上,用於檢測被測產品的尺寸。該檢測系統100包括上料模組10、檢測模組20、下料模組30、搬運模組40、資料處理模組50及電控模組60。
請一併參照圖1與圖2,上料模組10用於為該檢測系統100自動上料,即為該檢測系統100提供待檢測產品,其包括一方便工作人員放置被測產品的上料部11、與上料部11相對設置的第一檢測工位12、連接在上料部11與第一檢測工位12之間的上料滑軌13及與上料滑軌13配合的上料滑動件14。初始狀態,上料滑動件14位於上料部11,將被測產品放置於上料滑動件14上。接著,上料滑動件14在上料滑軌13上滑動,並輸送被測產品至第一檢測工位12,完成了一件被測產品的上料工作。之後,上料滑動件14沿上料滑軌13自動返回至上料部11,對下一件被測產品進行上料。
請一併參照圖1與圖3,檢測模組20包括一與第一檢測工位12對應的第一檢測模組21 、一第二檢測模組22及與第二檢測模組22對應的第二檢測工位23。其中,第一檢測模組21為一種CCD(電荷耦合元件)圖像處理模組,其用於對位於第一檢測工位12上的被測產品的平面進行檢測,即對被測產品的平面尺寸與平面位置進行圖像攝取及辨認工作,從而判斷被測產品的平面尺寸是否合格。
第二檢測模組22為一種接觸式感測器測量模組,其用於對位於第二檢測工位23上的被測產品的深度的檢測,即用感測器感應的原理來檢測被測產品的平面斷差是否合格。優選地,第二檢測模組22可利用探針測量的技術來實現被測產品的深度的檢測,但不限於此。對於同一被測產品,則是先經過第一檢測模組21的檢測,然後藉由搬運模組40搬運至第二檢測工位23,並由第二檢測模組22進行探針檢測工作。
請一併參照圖1與圖4,下料模組30用於檢測系統100的自動下料,即將檢測完的被測產品移出檢測系統100。與上料模組10結構相似,下料模組30包括一用於接收檢測完成的被測產品的下料部31、與下料部31相對設置且便於工作人員取料的收料部32、連接在下料部31與收料部32之間的下料滑軌33及與下料滑軌33配合的下料滑動件34。當下料模組感應到被測產品放置於下料部31時,下料滑動件34運載被測產品至收料部32,完成了一件被測產品的下料工作。之後,下料滑動件34沿下料滑軌33自動返回至下料部31,對下一件被測產品進行下料。
請一併參照圖1與圖5,搬運模組40用於提供檢測系統100中被測產品搬運的工作。優選地,搬運模組40可完成上料模組10、檢測模組20與下料模組30之間被測產品的搬運工作。具體而言,搬運模組40用於將被測產品由上料模組10的第一檢測工位12搬運至檢測模組20的第二檢測工位23,再由第二檢測工位23搬運至下料模組30的下料部31。
搬運模組40包括搬運滑軌41及與搬運滑軌41滑動配合的夾塊組件42。其中,夾塊組件42用於夾取被測產品,並藉由在搬運滑軌41上的的滑動實現被測產品的搬運工作。該夾塊組件42包括第一夾塊421及與第一夾塊421固定連接的第二夾塊422,第一夾塊421與第二夾塊422具有聯動性。第一夾塊421的運動範圍在第一檢測工位12與第二檢測工位23之間,第二夾塊422的運動範圍在第二檢測工位23與下料部31之間,以將被測產品由第一檢測工位12搬運至第二檢測工位23,並由第二檢測工位23搬運至下料部31。
可理解,當第一夾塊421到達第一檢測工位12時,第二夾塊位於第二檢測工位23的位置。當第一夾塊421到達第二檢測工位23的位置時,第二夾塊則會順移至下料部31。
請再次參照圖1,資料處理模組50電氣連接於檢測模組20,並採集檢測模組20檢測得到的檢測資料,進行相關的資料處理及分析工作,從而判定被測產品尺寸是否合格。本實施例中,資料處理模組可為PC資料處理裝置,包括一顯示幕(圖未示),由資料處理模組50處理得到的資料最終以被測產品尺寸資料報表的形式體現在顯示幕上,並由工作人員藉由觀看螢幕來判斷被測產品的尺寸是否合格。優選地,該資料處理模組50可連接相應的警示喇叭裝置,當被測產品藉由檢測之後,工作人員藉由聽警示喇叭即可判斷產品是否為合格,但不限於此。
電控模組60電氣連接於搬運模組40與檢測模組20,並對搬運模組40的搬運工作及檢測模組20的檢測工作進行即時的控制。優選地,該電控模組60還可電氣連接於上料模組10、下料模組30及資料處理模組50,並提供檢測系統100的各個模組相應的控制信號。
基座具有一定較佳的結構強度與承載力度,即基座不會因為受壓而變形。優選地,該基座由結構強度較佳的鋼材製成,但不限於此。
請參照圖6,該檢測系統100的檢測流程如下:
S101:調節檢測系統100處於準備階段,將被測產品放入上料部11,檢測系統100啟動;
在本實施例中,當被測產品放置於上料部11時,上料模組10自動檢測產品是否放置到位。
S102:上料模組10的上料滑動件14將被測產品由上料部11輸送至第一檢測工位12;
S103:檢測模組20的第一檢測模組21對放置於第一檢測工位12的被測產品進行平面的檢測;
在本實施例中,第一檢測模組21的檢測資料回饋於資料處理模組50,進行資料的處理工作。待平面檢測完畢後,上料模組10自動還原初始位置,以便於下一被測產品的上料工作;
S104: 搬運模組40將被測產品由第一檢測工位12輸送至第二檢測工位23;
在本實施例中,搬運模組40的第一夾塊421將被測產品由第一檢測工位12輸送至第二檢測工位23。同時,搬運模組40搬運完成之後,自動還原至初始位置。
S105:檢測模組20的第二檢測模組22對放置於第二檢測工位23上的產品進行深度的檢測,並將檢測資料回饋於資料處理模組50處理;
S106: 搬運模組40將被測產品由第二檢測工位23輸送至下料部31;
在本實施例中,搬運模組40的第二夾塊422將被測產品由第二檢測工位23輸送至下料部31。同時,搬運模組40輸送完成之後,自動還原至初始位置。
S107:完成對產品的檢測。同時下料模組30將產品由下料部31滑至收料部32,完成被測產品的輸出過程。
在本實施例中,下料模組30藉由下料滑動件34與下料滑軌33的配合,將被測產品輸送至收料部32。同時,下料模組30發出該被測產品是否合格的信號,取下被測產品。下料滑動件34自動還原至下料部31,以便於後一被測產品的輸出過程。
可理解,本實施的檢測流程圖僅為一個產品檢測方式。而在實際操作過程中,當其中一個產品進行檢測系統100的某項流程時,則其前一個被測產品與後一個被測產品分別處於檢測系統100的其他項的檢測流程。具體實現方式如下:
上述步驟S103中,當產品在第一檢測工位12進行第一檢測模組21的檢測時,前一產品同時在第二檢測工位23進行第二檢測模組22的檢測,而後一產品則進入上料模組10的準備階段。
上述步驟S104中,當搬運模組40的第一夾塊421將被測產品輸送至第二檢測工位23時,搬運模組40的第二夾塊422將該被測產品的前一產品輸送至下料部31,後一產品則藉由上料模組10輸送至第一檢測工位12。
上述步驟S105中,當被測產品在第二檢測工位23進行深度的檢測時,其前一產品進行下料模組30的下料工作,後一產品同時在第一檢測工位12上進行平面的檢測。
上述步驟S106中,當搬運模組40的第二夾塊422將被測產品輸送至下料部31以進行產品輸出的同時,搬運模組40的第一夾塊421將後一產品輸送至第二檢測工位23上。
可理解,在實際生產中,可依據不同的被測產品更換相關的治具、定位方式及檢測模組的檢測位置。同時,基座可根據不同的工位元的需求來設定相應的尺寸標準。
本發明的檢測系統100替代了傳統工作人員的目視檢測的方式,大大提高了生產的效率,並且節省了寶貴的人力資源。藉由採用第一檢測模組21與第二檢測模組22,提高了對被測產品尺寸檢測的準確性與穩定性。本發明檢測系統100還藉由搬運模組40進行自動化的輸送工作,替代了傳統的人工輸送,降低了生產的成本,提高了生產效率。另,本發明的檢測系統允許複數產品同時進行不同的檢測流程,從而有效提高了檢測系統的檢測效率。
綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,遂依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100‧‧‧檢測系統
10‧‧‧上料模組
11‧‧‧上料部
12‧‧‧第一檢測工位
13‧‧‧上料滑軌
14‧‧‧上料滑動件
20‧‧‧檢測模組
21‧‧‧第一檢測模組
22‧‧‧第二檢測模組
23‧‧‧第二檢測工位
30‧‧‧下料模組
31‧‧‧下料部
32‧‧‧收料部
33‧‧‧下料滑軌
34‧‧‧下料滑動件
40‧‧‧搬運模組
41‧‧‧搬運滑軌
42‧‧‧夾塊組件
421‧‧‧第一夾塊
422‧‧‧第二夾塊
50‧‧‧資料處理模組
60‧‧‧電控模組
100‧‧‧檢測系統
10‧‧‧上料模組
20‧‧‧檢測模組
30‧‧‧下料模組
40‧‧‧搬運模組
50‧‧‧資料處理模組
60‧‧‧電控模組

Claims (10)

  1. 一種產品檢測系統,用於檢測產品的尺寸是否合格,其改良在於:包括上料模組,用於將被測產品輸入該檢測系統;檢測模組,包括用於對被測產品的平面尺寸進行檢測的第一檢測模組與用於對被測產品的深度尺寸進行檢測的第二檢測模組;下料模組,用於將被測產品輸出該檢測系統;搬運模組,用於對被測產品進行搬運;資料處理模組,與該檢測模組電性連接,用於處理該檢測模組輸出的檢測資料;以及電控模組,與該檢測模組及該搬運模組電性連接並用於對該檢測模組及該搬運模組進行控制。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之產品檢測系統,其中該上料模組包括一上料部、與上料部相對的第一檢測工位、連接在上料部與第一檢測工位之間的上料滑軌及與上料滑軌配合的上料滑動件;該第一檢測模組設置在該第一檢測工位上。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之產品檢測系統,其中該檢測模組還包括第二檢測工位,該第二檢測模組設置在該第二檢測工位上。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之產品檢測系統,其中該下料模組包括一用於接收檢測完成的產品的下料部、與下料部相對的收料部、連接在下料部與收料部之間的下料滑軌及與下料滑軌配合的下料滑動件。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之產品檢測系統,其中該搬運模組包括搬運滑軌及與搬運滑軌相互配合的夾塊組件,該夾塊組件用於夾取被測產品,並在搬運滑軌上滑動以輸送被測產品,該夾塊組件包括第一夾塊及與第一夾塊固定連接的第二夾塊。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之產品檢測系統,其中該搬運模組在該上料模組、該檢測模組與該下料模組之間運動。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之產品檢測系統,其中該第一檢測模組利用CCD攝錄圖像的原理對產品的平面尺寸進行檢測,該第二檢測模組利用接觸式感測器感應的原理對產品的深度尺寸進行檢測。
  8. 一種產品檢測方法,用於檢測產品的尺寸是否合格,其包括如下步驟:
    被測產品被輸送至第一檢測工位;
    利用第一檢測模組對被測產品的平面尺寸進行檢測;
    利用資料處理模組對第一檢測模組測得的檢測資料進行處理;
    被測產品被輸送至第二檢測工位;
    利用第二檢測模組對被測產品的深度尺寸進行檢測;
    利用資料處理模組對第二檢測模組測得的檢測資料進行處理;
    完成對被測產品的檢測並將被測產品輸出。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之產品檢測方法,其中該被測產品被輸送至第二檢測工位的同時,其後一被測產品被輸送至第一檢測工位元,該被測產品被輸出的同時,其後一被測產品被輸送至第二檢測工位。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之產品檢測方法,其中該第一檢測模組與該第二檢測模組分別對兩個被測產品同時進行檢測。
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