TW201506430A

TW201506430A - 靜電測試儀檢測系統及方法

Info

Publication number: TW201506430A
Application number: TW102129163A
Authority: TW
Inventors: gui-zhen Zhang; quan-long Yang; Hung-Jen Tseng
Original assignee: Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date: 2013-08-06
Filing date: 2013-08-14
Publication date: 2015-02-16
Also published as: US20150042356A1; CN104345291A; US9529069B2

Abstract

一種靜電測試儀檢測方法，用於檢測至少一個靜電測試儀是否正常，其中，該方法包括步驟：將若干光耦合電路分別與若干待檢測的靜電測試儀連接，並將一單片機與該若干光耦合電路連接；通過光耦合電路偵測對應的靜電測試儀的電壓測試點以及連接測試點的電壓而分別產生電壓偵測信號以及連接偵測信號；以及通過單片機接收每一光耦合電路產生的電壓偵測信號以及連接偵測信號，並根據該接收的電壓偵測信號以及連接偵測信號確定與輸出該電壓偵測信號以及連接偵測信號的耦合電路所連接的靜電測試儀是否工作正常而得到一檢測結果。

Description

靜電測試儀檢測系統及方法

本發明涉及一種檢測系統，特別涉及一種靜電測試儀檢測系統及方法。

目前，在電子設備的生產車間，為了防止電子設備被聚集的靜電損壞，一般都要求員工佩戴靜電環，同時還需要使用靜電測試儀對車間的接地線等進行測試，以及時消除靜電的隱患。為了防止靜電測試儀出現故障而導致靜電危害電子設備，目前的靜電測試儀一般均需要專門人員進行經常檢查，確定是否工作正常。這樣，耗費了大量人力，且由於為人為進行檢查，容易出現漏檢或檢查錯誤的情況。

本發明提供一種靜電測試儀檢測系統及方法，能夠自動檢查靜電測試儀是否良好。

一種靜電測試儀檢測系統，用於對至少一個靜電測試儀進行檢測，每一靜電測試儀具有一連接測試點以及一電壓測試點，其中，該靜電測試儀檢測系統包括至少一光耦合電路以及一單片機。每一光耦合電路用於分別與一靜電測試儀連接，用於將對應連接測試點的電壓以及電壓測試點的電壓分別轉換成連接測試信號以及電壓測試信號。該單片機與該至少一光耦合電路均連接，用於接收光耦合電路產生的連接測試信號以及電壓測試信號，並根據該連接測試信號以及電壓測試信號確定每一光耦合電路所連接的靜電測試儀的是否工作正常。

一種靜電測試儀檢測方法，用於檢測至少一個靜電測試儀是否正常，其中，該方法包括步驟：將若干光耦合電路分別與若干待檢測的靜電測試儀連接，並將一單片機與該若干光耦合電路連接；通過光耦合電路偵測對應的靜電測試儀的電壓測試點以及連試點的電壓而分別產生電壓偵測信號以及連接偵測信號；以及通過單片機接收每一光耦合電路產生的電壓偵測信號以及連接偵測信號，並根據該接收的電壓偵測信號以及連接偵測信號確定與輸出該電壓偵測信號以及連接偵測信號的耦合電路所連接的靜電測試儀是否工作正常而得到一檢測結果。

本發明的靜電測試儀檢測系統及方法，能夠自動檢查靜電測試儀是否良好，減少人力成本。

100‧‧‧靜電測試儀檢測系統

200‧‧‧靜電測試儀

10‧‧‧光耦合電路

20‧‧‧單片機

30‧‧‧第一電腦

40‧‧‧伺服器

50‧‧‧第二電腦

Vt‧‧‧電壓測試點

Ct‧‧‧連接測試點

11‧‧‧第一接入點

12‧‧‧第二接入點

13‧‧‧第一輸出點

14‧‧‧第二輸出點

CP‧‧‧連接偵測引腳

VP‧‧‧電壓偵測引腳

OC1‧‧‧第一光耦合器

OC2‧‧‧第二光耦合器

VCC‧‧‧電壓端

R1、R2‧‧‧電阻

In11、In21‧‧‧第一輸入端

In12、In22‧‧‧第二輸入端

OP11、OP21‧‧‧第一輸出端

OP12、OP22‧‧‧第二輸出端

TAB1‧‧‧邏輯表

41‧‧‧創建模組

42‧‧‧分析模組

43‧‧‧存儲控制模組

44‧‧‧狀態確定模組

S501~S508‧‧‧步驟

圖1為本發明一實施方式中靜電測試儀檢測系統的框架示意圖。

圖2為本發明一實施方式中靜電測試儀檢測系統中光耦合電路的電路圖。

圖3為本發明一實施方式中邏輯表的示意圖。

圖4為本發明一實施方式中靜電測試儀檢測系統中的伺服器的模組示意圖。

圖5為本發明一實施方式中靜電測試儀檢測方法的流程圖。

請參閱圖1，為本發明一實施方式中靜電測試儀檢測系統100的模組示意圖。該靜電測試儀檢測系統100用於對至少一個靜電測試儀200進行檢測。其中，每一靜電測試儀200位於一條產線上。

該靜電測試儀檢測系統100包括至少一光耦合電路10以及一單片機20。其中，每一靜電測試儀200具有兩個測試點，分別為電壓測試點Vt以及連接測試點Ct。每一光耦合電路10用於分別與一靜電測試儀200連接，用於將對應連接測試點Ct的電壓以及電壓測試點Vt的電壓分別轉換成連接測試信號以及電壓測試信號。該單片機20與該至少一光耦合電路10均連接，用於接收光耦合電路10產生的連接測試信號以及電壓測試信號，並根據該連接測試信號以及電壓測試信號確定每一光耦合電路10所連接的靜電測試儀200的是否工作正常。

如圖1所示，具體的，每一光耦合電路10包括第一接入點11、第二接入點12，第一輸出點13以及第二輸出點14。該第一接入點11與該連接測試點Ct連接用於獲得連接測試點Ct的電壓，第二接入點12與該電壓測試點Vt連接而用於獲得該電壓測試點Vt的電壓。該光耦合電路10將該第一接入點11獲得的連接測試點Ct的電壓以及第二接入點12接入的該電壓測試點Vt的電壓分別轉換成連接測試信號以及電壓測試信號，並分別通過該第一輸出點13以及第二輸出點14輸出。

該單片機20包括若干對連接偵測引腳CP以及電壓偵測引腳VP，每一對連接偵測引腳CP以及電壓偵測引腳VP與一光耦合電路10的第一輸出點13以及第二輸出點14分別連接。具體的，每一連接偵測引腳CP與該光耦合電路10的第一輸出點13連接，相應的電壓偵測引腳VP與該光耦合電路10的第二輸出點14連接。該單片機20通過該連接偵測引腳CP獲得光耦合電路10輸出的連接測試信號以及通過該電壓偵測引腳VP獲得光耦合電路10輸出的電壓測試信號。

其中，每一靜電測試儀200對應連接一光耦合電路10，而光耦合電路10又對應連接該單片機20中的一對連接偵測引腳CP以及電壓偵測引腳VP。從而，該單片機20根據接收該連接測試信號以及電壓測試信號的連接偵測引腳CP以及電壓偵測引腳VP確定對應的光耦合電路10，並確定對應的靜電測試儀200，並根據該連接測試信號以及電壓測試信號確定每一靜電測試儀200的測試結果。

從而，本發明中，可自動對靜電測試儀200進行檢測。

其中，該靜電測試儀檢測系統100還包括第一電腦30。該單片機20並與該第一電腦30連接，將每一靜電測試儀200的測試結果發送給第一電腦30。該第一電腦30可回應用戶操作而將該測試結果進行顯示。在其他實施方式中，該靜電測試儀檢測系統100還包括一指示電路（圖中未示），該指示電路與該單片機20連接，用於根據該單片機20確定的每一靜電測試儀200的測試結果而進行相應的指示。其中，該指示電路可為聲音指示電路或LED燈等。例如，該指示電路包括多個LED燈，該多個LED燈與該些靜電測試儀200一一對應，該指示電路根據單片機20輸出的對應的靜電測試儀200的測試結果而控制相應的LED燈的顯示，從而指示該測試結果。

其中，在本實施方式中，該光耦合電路10用於對連接測試點Ct的電壓以及電壓測試點Vt的的電壓進行反轉而得到該連接測試信號以及電壓測試信號。其中，當該靜電測試儀200的電壓測試點Vt與連接測試點Ct的電壓均為高電平時，則說明靜電測試儀200工作正常。從而，當單片機20在一靜電測試儀200的連接測試信號以及電壓測試信號均為低電平時，確定對應的靜電測試儀200工作正常。

請一併參閱圖2，為光耦合電路10的具體電路圖。其中，該光耦合電路10包括第一光耦合器OC1、第二光耦合器OC2、電壓端VCC以及電阻R1、R2。該第一光耦合器OC1包括第一輸入端In11、第二輸入端In12、第一輸出端OP11以及第二輸出端OP12。其中，該第一輸入端In11與該第一接入點11電連接，該第二輸入端in12接地，該第一輸出端OP11與該第一輸出點13連接且通過電阻R1與電壓端VCC連接，第二輸出端OP12接地。

該第二光耦合器OC2包括第一輸入端In21、第二輸入端In22、第一輸出端OP21以及第二輸出端OP22。其中，該第二光耦合器OC2的第一輸入端In21與該第二接入點12電連接，第二輸入端In22接地，第一輸出端OP21與該第二輸出點14連接且通過電阻R2與該電壓端VCC連接，該第二輸出端OP22接地。

從而，當靜電測試儀200的連接測試點Ct的電壓為高電平時，該第一光耦合器OC1導通，從而該第一輸出點13通過該導通的光耦合器OC1接地而輸出低電平的連接測試信號。而當靜電測試儀200的連接測試點Ct的電壓為低電平時，該第一光耦合器OC1截止，從而該第一輸出點13通過該電阻R1與該電壓端VCC連接而獲得高電平，從而輸出高電平的連接測試信號。

同樣的，當靜電測試儀200的電壓測試點Vt的電壓為高電平時，該第二光耦合器OC2導通，從而該第二輸出點14通過該導通的第二光耦合器OC2接地而輸出低電平的電壓測試信號。而當靜電測試儀200的電壓測試點Vt的電壓為低電平時，該第二光耦合器OC2截止，從而該第二輸出點14通過該電阻R2與該電壓端VCC連接而獲得高電平，從而輸出高電平的電壓測試信號。

請一併參閱圖3，該單片機20還根據每一對連接至一相應的光耦合電路10的連接偵測引腳CP以及電壓偵測引腳VP接收的連接測試信號以及電壓測試信號建立該時間點對應的包括該至少一個靜電測試儀200的檢測資料的邏輯表TAB1。如圖2所示，該邏輯表TAB1包括名稱欄位元、電壓測試信號欄位元、連接測試信號欄位元、檢測結果欄位以及檢測時間欄位元等檢測資料。其中，該名稱欄位包括各個靜電測試儀200的名稱。例如，如圖3所示，分別為靜電測試儀1、靜電測試儀2、靜電測試儀3。其中，當電壓測試信號以及該連接測試信號均為低電平時，則表明對應的靜電測試儀200工作正常，即檢測結果為工作正常。當連接測試信號無信號時，則表明對應的靜電測試儀200關閉而不工作，即檢測結果為不工作。當連接測試信號為高電平，則表明對應的靜電測試儀200工作異常，即檢測結果為工作異常。

該單片機20還將各個時間點對應的邏輯表TAB1發送至該第一電腦30。其中，該單片機20通過USB介面、IEEE1394介面、串口等方式與第一電腦30連接。在本實施方式中，該單片機20每間隔預定時間（例如5秒）接收每一光耦合電路10產生的連接測試信號以及電壓測試信號，從而生成一系列對應了一時間點的邏輯表TAB1，並將該系列邏輯表TAB1依次發送給第一電腦30。

其中，該靜電測試儀檢測系統100還包括一伺服器40。該第一電腦30還通過有線或無線網路等方式與伺服器40連接。其中，該第一電腦30在接收到該單片機20發送的邏輯表TAB1後，還將該邏輯表TAB1發送給伺服器40。

請一併參閱圖4，為伺服器40的內部模組圖。該伺服器40包括創建模組41、分析模組42、存儲控制模組43以及狀態確定模組44。其中，該創建模組41用於創建若干資料庫表格，具體的，包括正常工作時間資料庫表格以及休息時間資料庫表格。其中，該正常工作時間資料庫表格用於記錄正常時間內的靜電測試儀200的檢測資料，該休息時間資料庫表格用於記錄休息時間內的靜電測試儀200的檢測資料。

該分析模組42用於對第一電腦30發送的邏輯表TAB1進行分析，根據邏輯表TAB1中的測試時間與預設的工作時間表進行對比，確定邏輯表TAB1中檢測資料的測試時間所屬的時間段，該分析模組42並根據待測試的靜電測試儀200與產線的對應關係，確定該邏輯表TAB1中的檢測結果所對應的產線編號。其中，每一產線上均設置有一靜電測試儀200，從而每一產線編號與一靜電測試儀200唯一對應，該對應關係可預先編輯並上傳至該伺服器40中。相應的，該工作時間表也可根據車間的工作時間進行預先設置與編輯。

該存儲控制模組43用於根據邏輯表TAB1中檢測資料的測試時間而將產線編號、檢測結果以及測試時間關聯存儲至對應的資料庫表格中。例如，若當前邏輯表TAB1中的測試時間所屬為工作時間段，則該存儲控制模組43將產線編號、測試時間以及檢測結果關聯存儲至該正常工作時間資料庫表格中。相應的，若當前邏輯表TAB1中的測試時間所屬為休息時間段，則該存儲控制模組43將產線編號、測試時間以及檢測結果關聯存儲至該休息時間資料庫表格中。

該狀態確定模組44用於根據各個資料庫表格中存儲的關聯資料確定每一產線編號對應的產線/靜電測試儀200的狀態是否正常。具體的，該狀態確定模組44確定該正常工作時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為異常的次數超過預定次數（例如15次）時，確定該產線編號對應的產線的狀態異常，否則確定該產線編號對應的產線的狀態正常。更具體的，在本實施方式中，該狀態確定模組44確定該正常工作時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果在一預設時長（例如10分鐘）內為異常的次數超過預定次數（例如15次）時，才確定該產線編號對應的產線的狀態異常，否則為正常。

而該狀態確定模組44確定休息時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為正常的次數超過預定次數（例如180次）時，確定該產線編號對應的靜電測試儀200的狀態異常，否則確定該產線編號對應的靜電測試儀200的狀態正常。同樣的，該狀態確定模組44確定該休息時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果在預設時長（例如10分鐘）內為正常的次數超過預定次數（例如180次）時，確定該產線編號對應的靜電測試儀200的狀態異常，否則為正常。

顯然，在正常工作時間內，靜電測試儀200的檢測結果應當為正常。而在休息工作時間內，該靜電測試儀200的檢測結果應當為異常或不工作，如果仍然工作正常，說明沒有將該靜電測試儀200關閉或設置在不工作狀態，因此該產線的狀態為異常，需要進行維護，例如，需要關閉該產線上的靜電測試儀200。

在本實施方式中，如圖1所示，該靜電測試儀檢測系統100還包括至少一第二電腦50。其中，該第二電腦50還可回應用戶的操作而通過與伺服器40連接而查詢某一產線的狀態並顯示該產線的狀態。具體的，在本實施方式中，該第二電腦50通過登錄伺服器40提供的查詢介面而查詢相應產線的狀態並顯示該產線的狀態給用戶。

其中，在其他實施方式中，用戶可通過第一電腦30直接查看每一條產線對應的靜電測試儀200的檢測結果，並根據當前時間以及該檢測結果確定對應的產線狀態是否正常。即，若靜電測試儀200的檢測結果為正常，且當前時間為工作時間，則確定產線狀態正常；而若靜電測試儀200的檢測結果為正常，且當前時間為休息時間，則確定產線狀態異常。

在本實施方式中，該創建模組41還用於創建一設置休息時間資料庫表格，該設置休息時間為臨時設置的休息時間，該設置休息時間資料庫表格用於存儲所設置的休息時間內的靜電測試儀200的檢測資料。

其中，在其他實施方式中，該第一電腦30還在接收到邏輯表TAB1後，還在邏輯表TAB1中***第一電腦IP位址以及一校驗碼，該伺服器40的分析模組42還用於分析該邏輯表TAB1中的名稱欄位元、電壓測試信號欄位元、連接測試信號欄位元、檢測結果欄位以及檢測時間欄位元中的資料與該校驗碼是否一致，如果不一致，則通過該第一電腦IP位址發送一重發指令至該第一電腦30，而使得該第一電腦30重發該時間點的邏輯表TAB1。

請參閱圖5，為本發明一實施方式中靜電測試儀檢測方法的流程圖。首先，通過若干光耦合電路10分別與若干待檢測的靜電測試儀200連接，並將單片機20與該若干光耦合電路10連接（S501）。

光耦合電路10偵測對應的靜電測試儀200的電壓測試點Vt以及連接測試點Ct的電壓而分別產生電壓偵測信號以及連接偵測信號（S502）。

單片機20接收每一光耦合電路10產生的電壓偵測信號以及連接偵測信號，並根據該接收的電壓偵測信號以及連接偵測信號確定與輸出該電壓偵測信號以及連接偵測信號的光耦合電路10所連接的靜電測試儀200是否工作正常而得到相應的檢測結果（S503）。具體的，當光耦合電路10產生連接測試信號以及電壓測試信號均為低電平時，單片機20確定對應的靜電測試儀200工作正常，否則，確定該對應的靜電測試儀200工作異常或不工作。

單片機20還根據當前接收的連接測試信號以及電壓測試信號建立該時間點對應的包括該至少一個靜電測試儀200的檢測資料的邏輯表TAB1，其中，該邏輯表TAB1包括名稱欄位、檢測時間欄位以及檢測結果欄位（S504）。

第一電腦30將該單片機20生成的邏輯表TAB發送給伺服器40（S505）。

該伺服器40的分析模組42對邏輯表TAB1進行分析，根據邏輯表TAB1中的測試時間與預設的工作時間表進行對比，確定邏輯表TAB1中測試時間所屬的時間段，該分析模組42並根據待測試的靜電測試儀200與產線的對應關係，確定該邏輯表TAB1中的檢測結果所對應的產線編號（S506）。

伺服器40的存儲控制模組43根據邏輯表TAB1中的檢測時間而將對應靜電測試儀200的產線編號、檢測時間以及檢測結果存儲至對應的資料庫存儲表格中（S507）。具體的，若當前邏輯表TAB1中的測試時間所屬為工作時間段，則伺服器40將產線編號、測試時間以及檢測結果關聯存儲至該正常工作時間資料庫表格中。相應的，若當前邏輯表TAB1中的測試時間所屬為休息時間段，則該伺服器40將產線編號、測試時間以及檢測結果關聯存儲至該休息時間資料庫表格中。

該狀態確定模組44用於根據各個資料庫表格中存儲的關聯資料確定每一產線編號對應的產線/靜電測試儀200的狀態是否正常（S508）。具體的，該狀態確定模組44確定該正常工作時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為異常的次數超過預定次數（例如15次）時，確定該產線編號對應的產線的狀態異常，否則確定該產線編號對應的產線的狀態正常。而該狀態確定模組44確定休息時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為正常的次數超過預定次數（例如180次）時，確定該產線編號對應的靜電測試儀200的狀態異常，否則確定該產線編號對應的靜電測試儀200的狀態正常。

其中，該方法還可包括步驟：

第二電腦50回應用戶操作而通過與伺服器40連接而查詢某一產線的狀態並顯示該產線的狀態。

可以理解，以上所述實施方式僅供說明本發明之用，而並非對本發明的限制。有關技術領域的普通技術人員根據本發明在相應的技術領域做出的變化應屬於本發明的保護範疇。

無

S501‧‧‧將若干光耦合電路分別與若干待檢測的靜電測試儀連接，並將一單片機與該若干光耦合電路連接

S502‧‧‧通過光耦合電路偵測對應的靜電測試儀的電壓測試點以及連接測試點的電壓而分別產生電壓偵測信號以及連接偵測信號

S503‧‧‧通過單片機接收每一光耦合電路產生的電壓偵測信號以及連接偵測信號，並根據該接收的電壓偵測信號以及連接偵測信號確定與輸出該電壓偵測信號以及連接偵測信號的耦合電路所連接的靜電測試儀是否工作正常而得到相應的檢測結果

S504‧‧‧根據當前接收的連接測試信號以及電壓測試信號建立該時間點對應的包括該至少一個靜電測試儀的邏輯表，其中，該邏輯表包括名稱欄位元、檢測時間欄位以及檢測結果欄位

S505‧‧‧將該單片機生成的邏輯表發送給伺服器

S506‧‧‧對邏輯表進行分析，根據邏輯表中的檢測時間與預設的工作時間表進行對比，確定邏輯表中測試時間所屬的時間段，並根據待測試的靜電測試儀與產線的對應關係，確定該邏輯表中的檢測結果所對應的產線編號

S507‧‧‧據邏輯表中的檢測時間而將對應靜電測試儀的產線編號、檢測時間以及檢測結果存儲至對應的資料庫存儲表格中

S508‧‧‧根據各個資料庫表格中存儲的關聯資料確定每一產線編號對應的產線的狀態是否正常

Claims

一種靜電測試儀檢測系統，用於對至少一個靜電測試儀進行檢測，每一靜電測試儀具有一連接測試點以及一電壓測試點，其改良在於，該靜電測試儀檢測系統包括：
至少一光耦合電路，用於分別與一靜電測試儀連接，用於將對應連接測試點的電壓以及電壓測試點的電壓分別轉換成連接測試信號以及電壓測試信號；以及
一單片機，與該至少一光耦合電路均連接，用於接收光耦合電路產生的連接測試信號以及電壓測試信號，並根據該連接測試信號以及電壓測試信號確定每一光耦合電路所連接的靜電測試儀的是否工作正常。
如申請專利範圍第1項所述之系統，其中，每一光耦合電路包括第一接入點、第二接入點、第一輸出點以及第二輸出點；該第一接入點用於與對應的靜電測試儀的連接測試點連接而獲得連接測試點的電壓，第二接入點用於與該電壓測試點連接而獲得該電壓測試點的電壓；該單片機包括若干對連接偵測引腳以及電壓偵測引腳，每一對連接偵測引腳以及電壓偵測引腳與一光耦合電路的第一輸出點以及第二輸出點分別連接，該單片機通過該連接偵測引腳獲得光耦合電路輸出的連接測試信號以及通過該電壓偵測引腳獲得光耦合電路輸出的電壓測試信號。
如申請專利範圍第2項所述之系統，其中，該光耦合電路用於對連接測試點的電壓以及電壓測試點的電壓進行反轉而得到該連接測試信號以及電壓測試信號，其中，當該靜電測試儀的電壓測試點與連接測試點的電壓均為高電平時，表明靜電測試儀工作正常，從而，單片機在一靜電測試儀的連接測試信號以及電壓測試信號均為低電平時，確定對應的靜電測試儀工作正常。
如申請專利範圍第3項所述之系統，其中，每一光耦合電路包括第一光耦合器、第二光耦合器、電壓端以及第一、第二電阻，該第一光耦合器包括第一輸入端、第二輸入端、第一輸出端以及第二輸出端，該第一光耦合器的第一輸入端與該第一接入點電連接，第二接入端接地，第一輸出端與該第一輸出點連接且通過第一電阻與電壓端連接，第二輸出端接地；該第二光耦合器包括第一輸入端、第二輸入端、第一輸出端以及第二輸出端，該第二光耦合器的第一輸入端與該第二接入點電連接，第二輸入端接地，第一輸出端與該第二輸出點連接且通過電阻與該電壓端連接，第二輸出端接地。
如申請專利範圍第3項所述之系統，其中，該單片機還根據每一對連接至一相應的光耦合電路的連接偵測引腳以及電壓偵測引腳接收的連接測試信號以及電壓測試信號建立當前時間對應的包括該至少一個靜電測試儀的檢測資料的邏輯表，該邏輯表包括名稱欄位元、電壓測試信號欄位元、連接測試信號欄位元、檢測結果欄位以及檢測時間欄位，其中，該名稱欄位包括各個靜電測試儀名稱，該檢測結果欄位元記錄了每一靜電測試儀的檢測結果，該檢測時間欄位元記錄了當前的檢測時間。
如申請專利範圍第5項所述之系統，其中，該系統還包括創建模組、分析模組、存儲控制模組以及狀態確定模組，該創建模組用於創建包括正常工作時間資料庫表格以及休息時間資料庫表格在內的多個資料庫表格；該分析模組用於對單片機發送的邏輯表進行分析，根據邏輯表中的測試時間與預設的工作時間表進行對比，確定邏輯表中檢測資料的測試時間所屬的時間段，該分析模組並根據待測試的靜電測試儀與產線的對應關係，確定該邏輯表中的檢測結果所對應的產線編號；存儲控制模組用於根據邏輯表中檢測資料的測試時間而將產線編號、檢測結果以及測試時間關聯存儲至對應的資料庫表格中；該狀態確定模組用於根據各個資料庫表格中存儲的關聯資料確定每一產線編號對應的產線/靜電測試儀的狀態是否正常。
如申請專利範圍第6項所述之系統，其中，該存儲控制模組用於根據邏輯表中檢測資料的測試時間而將產線編號、檢測結果以及測試時間關聯存儲至對應的資料庫表格中為：該存儲控制模組判斷當前邏輯表中的測試時間所屬為工作時間段，則將產線編號、測試時間以及檢測結果關聯存儲至該正常工作時間資料庫表格中，以及若判斷當前邏輯表中的測試時間所屬為休息時間段，則控制將產線編號、測試時間以及檢測結果關聯存儲至該休息時間資料庫表格中。
如申請專利範圍第6項所述之系統，其中，該狀態確定模組用於根據各個資料庫表格中存儲的關聯資料確定每一產線編號對應的產線/靜電測試儀的狀態是否正常為：該狀態確定模組確定該正常工作時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為異常的次數超過預定次數，確定該產線編號對應的產線的狀態異常；以及確定休息時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為正常的次數超過預定次數時，確定該產線編號對應的靜電測試儀的狀態異常。
如申請專利範圍第7項所述之系統，其中，該系統還包括一第一電腦以及一伺服器，該創建模組、分析模組、存儲控制模組以及狀態確定模組為運行於該伺服器中，該第一電腦連接於該單片機，用於將單片機產生的至少一個靜電測試儀的檢測資料的邏輯表發送給伺服器。
如申請專利範圍第7項所述之系統，其中，該系統還包括一第二電腦，第二電腦用於通過與伺服器連接而登錄伺服器提供的查詢介面而查詢相應產線的狀態並顯示該產線的狀態給用戶。
如申請專利範圍第1項所述之系統，其中，該靜電測試儀檢測系統還包括一指示電路，該指示電路與該單片機連接，用於根據該單片機確定的每一靜電測試儀的測試結果而進行相應的指示。
一種靜電測試儀檢測方法，用於檢測至少一個靜電測試儀是否正常，其特徵在於，該方法包括步驟：
將若干光耦合電路分別與若干待檢測的靜電測試儀連接，並將一單片機與該若干光耦合電路連接；
通過光耦合電路偵測對應的靜電測試儀的電壓測試點以及連接測試點的電壓而分別產生電壓偵測信號以及連接偵測信號；以及
通過單片機接收每一光耦合電路產生的電壓偵測信號以及連接偵測信號，並根據該接收的電壓偵測信號以及連接偵測信號確定與輸出該電壓偵測信號以及連接偵測信號的耦合電路所連接的靜電測試儀是否工作正常而得到相應的檢測結果。
如申請專利範圍第12項所述之方法，其中，還包括步驟：
根據當前接收的連接測試信號以及電壓測試信號建立該時間點對應的包括該至少一個靜電測試儀的邏輯表，其中，該邏輯表包括名稱欄位元、檢測時間欄位以及檢測結果欄位。
如申請專利範圍第13項所述之方法，其中，還包括步驟：
將該單片機生成的邏輯表發送給伺服器；
對第一電腦發送的邏輯表進行分析，根據邏輯表中的檢測時間與預設的工作時間表進行對比，確定邏輯表中檢測資料的檢測時間所屬的時間段，並根據待測試的靜電測試儀與產線的對應關係，確定該邏輯表中的檢測結果所對應的產線編號；
根據邏輯表中的檢測時間而將對應靜電測試儀的產線編號、檢測時間以及檢測結果存儲至對應的資料庫存儲表格中；以及
根據各個資料庫表格中存儲的關聯資料確定每一產線編號對應的產線/靜電測試儀的狀態是否正常。
如申請專利範圍第14項所述之方法，其中，該步驟“根據邏輯表中的檢測時間而將對應靜電測試儀的產線編號、檢測時間以及檢測結果存儲至對應的資料庫存儲表格中”包括：
若當前邏輯表中的檢測時間所屬為工作時間段，則將產線編號、檢測時間以及檢測結果關聯存儲至一正常工作時間資料庫表格中；以及
若當前邏輯表中的檢測時間所屬為休息時間段，則將產線編號、檢測時間以及檢測結果關聯存儲至該休息時間資料庫表格中。
如申請專利範圍第14項所述之方法，其中，該步驟“根據各個資料庫表格中存儲的關聯資料確定每一產線編號對應的產線/靜電測試儀的狀態是否正常”包括：
判斷該正常工作時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為異常的次數超過預定次數時，確定該產線編號對應的產線的狀態異常；以及
判斷休息時間資料庫表格中某一產線編號對應的檢測結果為正常的次數超過預定次數時，確定該產線編號對應的靜電測試儀的狀態異常。