TW201447274A - 使用微晶片的光分析方法及光分析裝置、以及光分析裝置用微晶片及光分析用處理裝置 - Google Patents

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Abstract

[課題]可使用可拋棄的微晶片，於需要分析的現場，高精度進行各種分析。[解決手段]於平板電腦終端(3)(處理裝置)的顯示器(3a)上，配置微晶片(1)，將檢體(4)往該微晶片(1)的流通路徑滴下，在微晶片內部(流通路徑)使檢體的反應產生。對該微晶片(1)，照射從平板電腦終端(3)的顯示器(3a)放出之光線，藉由該照射光，測定在微晶片(1)內產生的反應。例如，作為測定方法，採用使用照射光的激發螢光法時，觀測到對應前述反應的螢光，藉由目視來觀察或藉由平板電腦終端(3)的內藏相機來檢測該光線。該檢測訊號係藉由平板電腦終端(3)的運算裝置被運算處理，進行分析，分析結果會被輸入至外部。

Description

使用微晶片的光分析方法及光分析裝置、以及光分析裝置用微晶片及光分析用處理裝置
本發明係關於使用於基板上形成分析用通道等之微晶片的光分析方法及光分析裝置、以及光分析裝置用微晶片及光分析用處理裝置。
近年來，注目於使用於例如由矽、聚矽氧、玻璃等所成的小基板上，藉由半導體細微加工的技術來形成微尺度的分析用通道等之微晶片所成的微反應器，進行微量之試藥的分離、合成、抽出、分析等的手法。
此種使用微型反應器的反應分析系統，係稱為微整合分析系統(micro total-analysis system，以下稱為「μTAS」)，依據μTAS，可根據相對於試藥體積的表面積之比例變大等來進行高速且高精度的分析反應，又，可實現簡潔且自動化的系統。
微晶片係藉由於設置在該微晶片之也稱為微通道的流通路徑10配置試藥的反應區域、具有流體控制元件(微泵、微閥、微混合器、過濾器、感測器)等各種 功能的區域來進行積體化，可適用於各種用途。
前述的微晶片係典型上具有一對微晶片基板對向而接著的構造，於至少1個前述微晶片基板的表面上形成有細微的流通路徑10(例如，寬度10~數100μm，深度10~數100μm程度)。
作為微晶片的用途，代表性的有基因解析、臨床診斷、藥物篩選等之化學、生化學、藥學、醫學、獸醫學的分野之分析，或化合物的合成、環境計測等。
例如，於醫藥或醫療機器用途等中，微晶片使用於處理蛋白質等之生物由來的物質(生化學物質)的保存容器及分析裝置等。作為具體例，在臨床檢查等利用免疫反應等之分子間相互作用的測定(表面電漿子共振(SPR)測定技術、水晶振盪微天秤(QCM)測定技術、使用從金的膠狀粒子到超微粒子為止之功能化表面的測定技術等)中，使用微晶片。
另一方面，因為微晶片可比較廉價地製造，可因應所希望的化學分析，準備多量。因此，微晶片可以可拋棄式使用，可省略如通常的分析機器之分析後的洗淨、維護等的繁雜作業。
於此種微晶片中，可實施溶液的混合、反應、分離、精製、檢測等各種化學操作。然後，藉由將微晶片組入分析機器，利用分析機器檢測出於微晶片中進行的反應等。例如，微晶片使用來作為SPR感測器時，作為分析機器，例如具備由放出單色光的雷射等所成的光 源、對來自微晶片的光線進行受光的受光元件等。亦即，藉由將微晶片組入因應分析內容的分析專用機，實施各式各樣的分析。
另一方面，先前的分析專用機，大多有檢測所使用之雷射及顯微鏡太大型且價格高的問題。因此，也研究前述分析專用機之光源及檢測器等的檢測系統的小型化。
例如，於專利文獻1，提案有作為微晶片用的檢測系統，使用雷射二極體與積體型雷射激發螢光檢測元件的範例。
又，於非專利文獻1，提案有將微晶片積體化至有機EL(Organic lightemitting diode；OLED)。
於圖15揭示使用微晶片之分析例的概略工程。
如圖15(a)所示，首先藉由微吸管2僅採取分析所需分量的分析對象之檢體4。再者，檢體4係例如從人體、動物、河川、廢液等採取。然後，在藉由微吸管2採取必要量之前，因應需要，實施不純物等的去除等的前處理。接著，藉由微吸管2採取的檢體被滴下至微晶片1的流通路徑(圖15(b))。
在注入檢體的內部中產生檢體之反應(例如，抗原抗體反應等的生體分子反應)的微晶片1係被組入至分析計5。前述反應係使用從分析計5具有之發光光源放出的放出光，藉由分析計5檢測出，檢測結果係作為檢測訊號， 利用控制工具5a處理。控制工具5a係不僅處理檢測訊號，實施分析，也進行分析結果的顯示、分析計的各種設定及控制、資料的錄誌、資料通訊等(圖15(c))。藉由前述之分析計5及控制工具5a形成分析專用機。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特表2005-535871號公報
[專利文獻2]日本特開平7-84220號公報
[專利文獻3]日本特開2009-84128號公報
[專利文獻4]日本特開2007-298502號公報
[專利文獻5]日本特開2009-109232號公報
[專利文獻6]日本特開2012-76016號公報
[非專利文獻]
[非專利文獻1]日本大學生產工學部第41屆(平成20年度)學術演講會海報
5.應用分子化學部會5-64「以有機EL作為光源的微晶片用螢光檢測系統的開發」(中嶋秀他)「平成24年12月20日檢索，網際網路URL(http：//itc.cit.nihon-u.ac.jp/kenkyu/kouennkai/reference/No.41/5_ouka/5-064.pdf)」
近年來，在生命科學領域中，定點照護檢查(POCT)的要求逐漸提升，於需要分析的現場中，檢查時間短，且高精度評估分析之小型且可攜帶的測定器的需要增加。
微晶片本身雖然小型且可攜帶，相反地，測定機器卻不一定也是小型且可攜帶。如前述般，先前的分析專用機係使用來作為檢測用光源的雷射及顯微鏡為大型，一般被設置於研究所，並不是可攜帶者。
專利文獻1所揭示之使用雷射二極體與積體型雷射激發螢光檢測元件之有源元件的檢測系統係小型且可攜帶，但是是對某特定分析所設定者。因此，對於為了對應各種各樣的分析來說，需要準備多數的檢測系統。又，前述檢測元件係於非晶矽‧光二極體上積體‧圖案化厚膜的SiO2/Ta2O5光學干擾濾光片的複雜構造，比較昂貴。
又，依據在非專利文獻1中所提案之將有機EL(Organic light-emitting diode；OLED)積體化於微晶片的方法，可期待微晶片與檢測系統的一體化，也會直接繼承微晶片的小型且可攜帶的特徵。然而，因為搭載有源元件，微晶片本身變得昂貴，又，作為進行有源元件之能量供給的機構，需要內藏電池等的手法，故對於可拋棄式處理微晶片來說在成本面上有所問題。
本發明係有鑑於前述情況所發明者，其課題係提供使用可對應各種分析，且可拋棄式的微晶片，於需 要分析的現場中，可進行短時間且高精度的評估分析的光分析方法及光分析裝置，以及適合使用於此種光分析的微晶片及光分析用處理裝置。
本發明係具備用以顯示畫像的顯示器，於具有運算功能與控制被顯示於該顯示器之畫像的功能之控制部的處理裝置的顯示器上，配置微晶片，從該顯示器將光線導入至微晶片來進行光分析處理者。
前述處理裝置係平板電腦終端、手機、電腦等的處理裝置(以下，主要以平板電腦終端為例進行說明)，又，作為顯示器，例如可使用液晶、有機EL等的顯示裝置。
於本發明中，如圖1所示，於如前述平板電腦終端3之處理裝置的顯示器3a上，配置微晶片1。再者，微晶片1係載置於顯示器3a上亦可，以對於顯示器3a表面，隔開所定間隙而接近之狀態保持亦可。
於圖2揭示本發明之分析例的概略工程。
如圖2(a)所示，首先藉由微吸管2僅採取分析所需分量的分析對象之檢體4。再者，檢體4係例如從人體、動物、河川、廢液等採取。然後，在藉由微吸管2採取必要量之前，因應需要，實施不純物等的去除等的前處理。
接著，藉由微吸管2採取之檢體4被滴下至配置於平板電腦終端3(處理裝置)的顯示器3a上的微 晶片1的流通路徑。
結果，在注入檢體4的微晶片內部(流通路徑)中產生檢體的反應(例如，抗原抗體反應等的生體分子反應)。
對前述微晶片1，照射從平板電腦終端3的顯示器3a放出的光線。再者，前述照射光係除了顯示器機構所致之三原色的開關以外，利用於微晶片1的光導入部內藏適當必要的波長濾光器，選擇波長後利用亦可。
藉由該照射光，測定在微晶片1內產生的反應。例如，作為測定方法，採用使用照射光的激發螢光法時，會觀測到對應前述反應的螢光。
前述微晶片1係具備光導入部與光導出部，利用前述光導入部對從平板電腦終端3的顯示器3a放出之光線進行受光，對包含被導入至微晶片之前述檢體4的流體照射該光線，讓光線從包含該檢體的流體放出，從前述光導出部，將從包含前述該檢體的流體放出的光線導出至外部。
再者，以於前述微晶片，設置對從前述光導入部導入之光線進行採光的採光部，與具備將利用該採光部採光之光線，導光至微晶片之光照射位置的導光手段的採光手段，藉由以該採光手段採光的光線，控制包含被導入至微晶片之檢體的流體的流向之方式構成亦可。
對應在微晶片1內的反應所放出之前述光線，係藉由利用目視來確認放出光的有無，判斷在微晶片1內之反應的有無。
另一方面，於平板電腦終端3內藏相機等的受光元件時，藉由將前述放出光導光至受光元件，前述反應可利用平板電腦終端3的受光元件檢測出。
藉由利用相機的分解能量，對位等可自動調整，進而，也可利用於微晶片1內內包分散元件，進行訊號光的光譜測定。從受光元件輸出的檢測訊號，係藉由平板電腦終端3的運算裝置運算處理。運算裝置不僅處理檢測訊號來實施分析，也進行分析結果之顯示器3a的顯示、資料的錄誌、資料通訊等(圖2(b))。
再者，用以處理‧運算檢測訊號的分析用軟體，係使用平板電腦終端3的通訊功能，因應測定對象的分析內容，由外部適當下載。然後，實施計測‧分析時，因應測定對象的分析內容，選擇適當的軟體。該被下載的分析用程式，係使用平板電腦終端3的通訊功能，適當被更新為新的版本。
亦即，於本發明中，如以下所述來解決前述課題。
(1)一種光分析方法，係使用具備用以顯示畫像的顯示器，且內藏具有運算功能與控制被顯示於該顯示器的畫像之功能的控制部的處理裝置，進行被導入至具有光導入部與光導出部之微晶片的檢體之分析的分析方法，其特徵為：於該處理裝置的顯示器上，配置前述微晶片的光導入部；使對應前述顯示器上之前述光導入部的部位發光，將光線導入前述微晶片內，對包含被導入至微晶片1之檢 體的流體，照射該光線，使光線從包含該檢體的流體放出，藉由該被放出之光線，進行前述檢體的分析。
(2)一種光分析裝置，係由具備用以顯示畫像的顯示器，且內藏具有運算功能與控制被顯示於該顯示器的畫像之功能的控制部的處理裝置，與具有光導入部與光導出部的微晶片所成的光分析裝置，其特徵為：前述微晶片的光導入部，係被配置於前述顯示器上的所定位置；前述處理裝置的控制部，係使對應前述顯示器上之前述光導入部的部位發光，將從前述顯示器放出之光線，導入至前述光導入部，對包含被導入至前述微晶片之檢體的流體，照射該光線，使光線從包含該檢體的流體放出，並將該光線從前述光導出部導出。
(3)於前述(2)中，前述微晶片，係具備採光手段；該採光手段，係具有對從前述光導入部導入之光線進行採光的採光部，與將以該採光部所採光之光線，導光至微晶片之光照射位置的導光手段。
(4)於前述(2)(3)中，前述處理裝置，係具有受像手段；前述微晶片的光導出部，係被配置於從該光導出部放出之光線可利用前述受像手段受光的位置；前述控制部，係依據從前述光導出部放出，被前述受像手段受像之光訊號，執行運算，並進行分析處理。
(5)於前述(2)(3)中，前述微晶片的光導出部，係被配置於從該光導出部放出之光線可藉由目視來觀測的位置。
(6)於前述(2)(3)(4)(5)中，前述微晶片，係由從前述光導入部導入之光線，取出前述檢體的激發所需之波長成分來獲得照射光，並將該照射光，對包含被導入至微晶片之檢體的流體進行照射，使光線從包含該檢體的流體放出者；於前述微晶片，設置有由從包含前述檢體的流體放出之光線，截取前述照射光成分的被動元件，將來自該被動元件的光線引導至前述光導出部。
(7)於前述(2)(3)(4)(5)(6)中，於前述微晶片，設置有對包含檢體的流體進行光照射之前，從前述流體分離非檢體物質的前處理過濾器。
(8)一種微晶片，係被配置於具備用以顯示畫像之顯示器的處理裝置的顯示器上，藉由該顯示器上的發光，進行被導入之檢體的光分析的微晶片，其特徵為：於前述微晶片，設置有光導入部與光導出部；前述光導入部，係對前述處理裝置之顯示器上的發光進行受光；前述微晶片，係對包含被導入至前述微晶片之檢體的流體，照射該光線，並使光線從包含該檢體的流體放出；前述光導出部，係將從包含前述該檢體的流體放出之光線，導出至外部。
(9)一種光分析用處理裝置，係具備用以顯示畫像的顯示器，且內藏具有運算功能與控制被顯示於該顯示器的畫像之功能的控制部，將來自顯示器的光線導入至被配 置於該顯示器上之具有光導入部與光導出部之微晶片，並進行被導入至該微晶片的檢體之分析的光分析用處理裝置，其特徵為：前述光分析用處理裝置的控制部，係使對應前述顯示器上之前述光導入部的部位發光，將從前述顯示器放出之光線，導入至前述光導入部，對包含被導入至微晶片之檢體的流體，照射光線，執行前述微晶片所致之分析處理。
於本發明中，可獲得以下效果。
(1)於本發明中，使用具備用以顯示畫像的顯示器，且內藏具有運算功能與控制被顯示於該顯示器的畫像之功能的控制部的處理裝置，於該顯示器上配置由微晶片所成的微反應器，可實施微量之試藥的分離、合成、抽出、分析等地構成，可將來自前述顯示器的放出光，使用來作為分析對象的檢測光‧驅動用能源，又，使用內藏於前述處理裝置內的運算裝置，運算並分析來自分析對象的檢測資料，又，可將分析結果顯示於顯示器。
因此，於本發明中，可將檢測用光源、運算裝置，彙集於具有前述顯示器的一台處理裝置。又，作為前述處理裝置，使用可攜帶的裝置的話，於需要分析的現場中，可實施檢查時間短，且高精度的評估分析。亦即，依據本發明，可對應生命科學領域之定點照護檢查(POCT)的要求。
(2)因為可將來自顯示器的放出光，使用來作為分析對象的檢測光‧驅動用能源，微晶片可使用不包含有源元件之先前的廉價品，可可拋棄式使用。沒有必要使用與例如有機EL等被積體化之構造的檢測系統一體化的昂貴的微晶片。
進而，光源及能源係由處理裝置的顯示器所得，故即使顯示器上之微晶片的位置稍微變動，也可配合該位置，自動調整發光處。藉此，可不需要平板電腦上之微晶片的位置調整，可進行迅速的測定。
(3)如果於處理裝置搭載通訊功能，使用該通訊功能，可適當下載因應測定對象之分析內容的分析用軟體。因此，可使用來作為對於各種檢體實施各式各樣分析的分析裝置。
因此，與如先前般對於特定分析所設定之專用的檢測系統之狀況不同，為了對應各式各樣的分析，不需要準備多數對於各分析所客製化的分析裝置。
(4)依據本發明，可容易進行處理裝置之測定資料的錄誌，不需要專用的儲存手段。進而，容易進行使用通訊功能的分析系統構築。進而，可將顯示器之顯示，因應發光色的選擇、分析資料顯示等功能，進行客製化。
1‧‧‧微晶片
2‧‧‧微吸管
3‧‧‧平板電腦終端(處理裝置)
3a‧‧‧顯示器
3b‧‧‧控制部
3c‧‧‧內藏相機
4‧‧‧檢體
5‧‧‧分析計
5a‧‧‧控制工具
10‧‧‧微流通路徑
11‧‧‧照射光導入孔
12a‧‧‧第1透鏡
12b‧‧‧第2透鏡
13a‧‧‧濾光器
13b，13c‧‧‧第1、第2平行光濾光器
14‧‧‧聚光孔
15‧‧‧內藏相機導光孔
17a‧‧‧導入光導光路徑
17b‧‧‧觀測光導光路徑
18‧‧‧觀測孔
21，21a，21b，22‧‧‧採光手段
23‧‧‧光驅動空氣泵
30‧‧‧前處理過濾器
211‧‧‧光纖
212‧‧‧液晶光準直器微透鏡陣列
213‧‧‧液晶光聚光微透鏡陣列
214‧‧‧光纖用歧管
215‧‧‧聚光用孔部
216‧‧‧光導入孔
217‧‧‧光路徑變更孔
218‧‧‧聚光透鏡
219‧‧‧平面錐形導光路徑
A~E‧‧‧埠
[圖1]揭示本發明的分析裝置之概要的圖。
[圖2]揭示本發明之分析例的概略工程的圖。
[圖3]揭示本發明之第1實施例的圖。
[圖4]詳細揭示採光手段之採光部的圖。
[圖5]揭示本實施例之分析步驟的流程圖。
[圖6]揭示照射光導入孔之剖面的圖。
[圖7]揭示內藏相機導光孔之剖面的圖。
[圖8]揭示平板電腦終端(處理裝置)之分析處理步驟的流程圖。
[圖9]揭示採光手段之其他構成例的圖。
[圖10]揭示圖9之採光部的構造例的圖。
[圖11]揭示本發明之第2實施例的圖。
[圖12]揭示於第1實施例中，以目視觀測來自檢體的觀測光時的構造例的圖。
[圖13]揭示於第2實施例中，以目視觀測來自檢體的觀測光時的構造例的圖。
[圖14]揭示於第1實施例所示之微晶片，組入前處理過濾器的例子的圖。
[圖15]揭示先前之使用微晶片的分析例之概略工程的圖。
以下，針對本發明的實施形態詳細說明，但是，本發明並不被以下的實施形態限定，於本發明的目的的範圍內，可施加適當變更來實施。再者，關於說明重複 之處，有適當省略說明之狀況，但是並不限定發明的要旨。
[實施例1]
於圖3揭示本發明的第1實施例。在本實施例中，作為具備前述顯示器，內藏控制部的處理裝置，揭示使用可攜帶的平板電腦終端3之狀況，該平板電腦終端3係作為受光元件，具備內藏相機。又，微晶片1係於平板電腦終端3表面中，被載置於包含顯示器3a之一部分與內藏相機3c的區域上。再者，微晶片1係隔著所定間隙(例如1mm程度)，接近配置於前述區域上亦可。
再者，為了容易理解，誇張描繪微晶片1的大小，實際的平板電腦終端3與微晶片1的大小關係與圖3不同。
微晶片1係例如由聚二甲基矽氧烷(Polydimethylsiloxane：PDMS)等的矽氧烷樹脂所成。該微晶片1係如圖3所示，至少具備：光導入孔(例如，照射光導入孔11、採光手段21a、21b的光導入孔)、光導出部(例如內藏相機導光孔15)、保持包含檢體之液體及/或緩衝液的複數埠(埠A~E)、連結該埠之間的流通路徑(微流通路徑10)、設置於埠，用以送給被該埠保持之液體的藉由光線所驅動的液體送給手段(例如光驅動空氣泵23)、對從前述顯示器放出，從前述光導入部導入之光線進行聚光，並導光至前述液體送給手段的採光手段(採光手段21a、21b)、對來自前述光導入部的光線 進行導光，對包含檢體的液體照射光線的導光路徑(由濾光片13a、第1透鏡12a等所構成的光路徑)、及藉由對包含該檢體的液體照射光線，將從該檢體放出之光線導引至前述光導出部的導光路徑(由第2透鏡12b、第1、第2平行光濾光片13b、13c等所構成的光路徑)。
作為前述採光手段，例如可設為採用專利文獻2所記載之液晶光準直器微透鏡陣列與光纖的構造。
於圖4詳細揭示採光手段21a、21b的採光部。微晶片1係具備使從例如由液晶面板所成之顯示器3a放出之光線成為平行的液晶光準直器微透鏡陣列212(以下也稱為準直器透鏡陣列)，與將從準直器透鏡陣列212射出之光線，聚光於光纖211前端的液晶光聚光微透鏡陣列213(以下也稱為聚光透鏡陣列)。在此，準直器透鏡陣列212被配置於與顯示器3a對向之側，聚光透鏡陣列213被配置於與光纖211之側。於聚光透鏡陣列213的光射出側，設置有聚光用孔部215。
於設置有對應微透鏡之個數的數量的各聚光用孔部215中，以對從前述聚光透鏡陣列213射出之聚光光進行受光之方式設置光纖211的前端。再者，分別對應各聚光用孔部215的複數光纖211係藉由光纖用歧管214來定位。另一方面，前述複數光纖211的光射出側係被***微晶片1的例如埠A，藉由省略圖示的歧管所固定。
從顯示器3a放出之放出光係射入至準直器透鏡陣列212的各微透鏡。射入之光線係藉由準直器透鏡陣 列212的各微透鏡成為平行，被導光至配置於該各微透鏡的上部之聚光透鏡陣列213的各微透鏡。從各微透鏡射出的聚光光係通過聚光用孔部215，射入至設置於該聚光用孔部215的光纖211的前端。射入至各光纖211的光線係從微晶片1的例如被***至埠A的各光纖211的射出側射出。
前述的採光手段係設置有兩組，一方(採光手段21a)係如上所述，往微晶片1的埠A導光從顯示器3a放出的放出光，另一方(採光手段21b)係往微晶片1的埠B導光從顯示器3a放出的放出光。
回到圖3，於埠A、埠B，設置光驅動空氣泵23(光驅動微泵)。光驅動空氣泵23係例如專利文獻3所揭示般，設置有收容被光線照射時產生氣體之氣體產生劑的氣體產生室的構造，藉由光照射時產生的氣體，送出流通路徑10內的流體。
往埠B導光來自顯示器3a的光線時，前述光驅動空氣泵23會動作。
圖3所示之各埠的功能如下。
埠A係光驅動空氣泵23所具備之貯液庫，導入檢體。
於埠B，具備光驅動空氣泵23。
埠C係貯液庫，例如注入‧貯藏作為緩衝液的磷酸緩衝生理食鹽水(Phosphate buffered saline，以下稱為PBS)。
埠D係檢體貯庫。
埠E係檢體排出口。
於本實施例中，被導入至微晶片之檢體的分析係大概如以下進行。
於平板電腦3的顯示器3a上，配置前述微晶片的光導入部(照射光導入孔11、採光手段21a、21b的光導入口)，使對應前述顯示器上之前述光導入部的部位發光，將光線導入至前述微晶片1內。然後，藉由該光線驅動液體送給手段(例如光驅動空氣泵23)，控制被導入至微晶片1之檢體的流體的流向，並且對包含該檢體的流體照射光線，使光線從包含該檢體的流體放出，藉由該放出之光線來進行前述檢體的分析。
於圖5揭示本實施例的分析步驟。於本實施例中，被導入至微晶片1的檢體，係以同圖所示步驟，移動於微晶片1內的流通路徑10，進行分析處理。
首先，從埠A導入檢體。又，從埠C、埠D、埠E，作為緩衝液，例如導入PBS(步驟S1)。
接著，內藏於平板電腦終端3的控制部3b係使位於採光手段21a的液晶準直器微透鏡陣列212(光準直器陣列)之下部區域的顯示器部分發光(步驟S2)。
從前述顯示器3a部分放出的放出光係藉由採光手段21a導光至埠A，讓該埠A具備之光驅動空氣泵23進行驅動(步驟S3)。
光驅動空氣泵23被驅動時，於步驟S1中被導入至埠 A的檢體從流通路徑AD(埠A與埠D之間的流通路徑10)內朝向埠D送出，於流通路徑AD內，被注入至埠A的檢體與被注入至埠D的緩衝液(PBS)流體性連繫(亦即，流通路徑AD內充滿被緩衝液(PBS)稀釋的檢體溶液：步驟S4)。
再者，於前述步驟S1中，於埠A導入緩衝液，於埠D導入檢體，於步驟S4中，驅動光驅動空氣泵23，將埠A的緩衝液朝向埠D的檢體送出亦可。
在步驟S4中流通路徑AD內充滿被PBS稀釋之檢體溶液之後，內藏於平板電腦終端3的控制部3b係停止位於採光手段21a之光準直器陣列212的下部區域的顯示器3a部分的發光，並中止光驅動空氣泵23的動作(步驟S5)。
接著，內藏於平板電腦終端3的控制部3b係使位於採光手段21b的液晶準直器微透鏡陣列212(光準直器陣列)之下部區域的顯示器3a部分發光(步驟S6)。從前述顯示器3a部分放出的放出光係藉由採光手段21b導光至埠B，讓該埠B具備之光驅動空氣泵23進行驅動(步驟S7)。
光驅動空氣泵23被驅動時，在埠B產生之氣體與步驟S1中注入‧貯藏於埠C的緩衝液，於流通路徑CE(埠C與埠E之間的流通路徑10)內朝向埠E被送出。結果，流通路徑CE與流通路徑AD交叉之部分F的被PBS稀釋之檢體溶液藉由從埠C送出的緩衝液，從前 述交叉部分F朝向埠E送出。結果，充滿流通路徑AD內之被PBS稀釋的檢體溶液之一部分藉由從埠C送出之緩衝液擷取出而朝向埠E送出，於流通路徑FE(前述交叉部分F與埠E之間的流通路徑10)內，前述被擷取之被PBS稀釋的檢體溶液與被注入至埠E的緩衝液(PBS)流體性連繫(亦即，流通路徑FE內充滿被緩衝液(PBS)稀釋的檢體溶液：步驟S8)。
在步驟S8中流通路徑FE內充滿被PBS稀釋之檢體溶液之後，內藏於平板電腦終端3的控制部3b係停止位於採光手段21b之光準直器陣列的下部區域的顯示器3a部分的發光，並中止光驅動空氣泵23的動作(步驟S9)。
藉由之後說明的光分析手段，在流通路徑FE的流通路徑10之間進行光分析之後，內藏於平板電腦終端3的控制部3b係使位於採光手段21b之光準直器陣列的下部區域之顯示器3a部分發光(步驟S10)。從前述顯示器3a部分放出的放出光係藉由採光手段21b導光至埠B，讓該埠B具備之光驅動空氣泵23進行驅動(步驟S11)。光驅動空氣泵23被驅動時，如前述般從埠C送出緩衝液，藉由流通路徑FE內的被已光分析之PBS稀釋的檢體溶液利用前述緩衝液(正確來說，包含從交叉部分F擷取之檢體溶液，且未被光分析之被新鮮的PBS稀釋的檢體溶液)清洗，從埠E排出(步驟S12)。
在流通路徑FE之間實施光分析的光分析手 段，係例如圖3所示，由照射光導入孔11、濾光器13a、第1透鏡12a、第2透鏡12b、兩個平行光濾光器(第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c)、濾光器13d、聚光孔14、內藏相機導光孔15所成。
圖6係揭示照射光導入孔11之剖面的圖。照射光導入孔11的底面係設置成對於微晶片1表面傾斜的斜面。
從位於平板電腦終端3的顯示器3a之照射光導入孔11的底面下部之區域放出的光線係射入至照射光導入孔11的底面。在此，如前述般，微晶片1係由PDMS等的矽氧烷樹脂所成。一般來說，矽氧烷樹脂的折射率大於大氣的折射率。因此，以大氣相對於微晶片1(矽氧烷樹脂)的臨限角以上之射入角，前述放出光射入至形成斜面的照射光導入孔11的底面時，該放出光會藉由前述底面被全反射。藉由適當設定斜面的角度，從顯示器3a往上方放出的放出光係藉由斜面往橫方向折返。
再者，因為放出光是擴散光，所以，往橫方向進行之放出光的某些成分會一邊往垂直方向擴散，一邊射入至微晶片1的上面。射入至該微晶片1的上面之光線也在射入角是大氣相對於微晶片1(矽氧烷樹脂)的臨限角以上時，在微晶片1與大氣的界面上被反射，被導光至第1透鏡12a的方向。
亦即，從照射光導入孔11到第1透鏡12a為止的光線進行之微晶片1內部(矽氧烷樹脂)的光路徑具有作為 放出光的導光路徑的功能。
再者，於照射光導入孔11與第1透鏡12a之間的光路徑中，設置有濾光器13a。從顯示器3a放出的放出光係使用來作為用以激發位於流通路徑FE內部之檢體的照射光。
內藏於平板電腦終端3的控制部3b係以放出適合激發檢體之波長的光線之方式，使位於照射光導入孔11的下部區域之顯示器3a部分發光。在此，從顯示器3a放出之光線的光譜線寬也比較寬。因此，於放出光，也包含對於激發檢體來說不需要的波長成分。該不需要之波長成分的光線會引起測定的誤差。濾光器13a係截止放出光中對於激發前述之檢體來說不需要的波長成分。
第1透鏡12a係構成為設置於微晶片1內部的空洞，放出光的光射入面、射出面成為凹面。該光射入面及射出面的凹面形狀，係以通過第1透鏡12a的光線射入至微晶片1的流通路徑FE內，在流通路徑FE內部聚光之方式設定。
亦即，照射光導入孔11係對從顯示器3a放出之放出光進行採光，朝向濾光器13a、第1透鏡12a反射。被反射的光線係進行於例如由矽氧烷樹脂所成的微晶片1內部，射入至濾光器13a、第1透鏡12a。透過濾光器13a，射入至第1透鏡12a之來自顯示器3a的放出光，係藉由第1透鏡12a，在流通路徑FE內部聚光，激發流通路徑FE內部的被緩衝液(PBS)稀釋的檢體溶液。
從被激發的檢體，放出依存於檢體的物理性之光線(例如螢光)。該光線係作為觀測光，依序經由第2透鏡12b、兩個平行光濾光器(第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c)、濾光器13d、聚光孔14、內藏相機導光孔15，射入至平板電腦終端3的內藏相機3c，藉由該內藏相機3c檢測出。
第2透鏡12b係構成為設置於微晶片1內部的空洞，觀測光的光射入面及射出面的曲面形狀，係以射出第2透鏡12b的光線成為平行光之方式設定。
第1平行光濾光器13b係構成為設置於微晶片1內部的空洞。空洞係例如三角柱構造，該斜面係以從第2透鏡12b射出的平行光射入，對於該平行光的光軸成45度之方式構成。微晶片1的材質是折射率1.41的PDMS時，因為PDMS的臨限角為幾近45度，對前述斜面之前述平行光的射入角成為幾近臨限角，射入至斜面的平行光係往直角方向(在圖3中為上方向)全反射。
第2平行光濾光器13c係構成為設置於微晶片1內部的空洞。空洞係例如三角柱構造，該斜面係以從第1平行光濾光器13b射出的平行光射入，對於該平行光的光軸成45度之方式構成。與第1平行光濾光器13b時相同，往第2平行光濾光器13c的斜面之前述平行光的射入角成為幾近臨界角，射入至斜面之平行光往直角方向(在圖3中為左方向)全反射。
再者，如前述般，微晶片1的材質是PDMS 時，第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c的臨限角成為幾近45度。因此，第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c係全反射射入之光線中射入角為45度以上的成分。
在此，第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c的光射入面因為是以對於射入之平行光的光軸成45度之方式構成，所以，雖然往第1平行光濾光器13b以大於45度的射入角射入之光線會被第1濾光器13b全反射，但是射入至第2平行光濾光器13c時的射入角小於45度。因此，該光線不被第2平行光濾光器13c反射，會通過構成第2平行光濾光器13c的空洞。亦即，藉由如上所述地構成平行光濾光器(第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c)，平行光濾光器13b、13c係對射入之光線中不是平行成分的光線進行過濾，僅將平行光導光至濾光器13d。
射入至濾光器13d的從平行光濾光器13b、13c的光線，係不一定僅有從檢體放出之觀測光(例如螢光)。未有助於檢體的激發之照射光也包含於來自平行光濾光器13c的射出光。該照射光因會成為檢體之光分析的雜訊，有除去的必要。
濾光器13d係發光將從平行光濾光器13c導光之光線中截斷照射光的作用。作為濾光器13d，設為將介電體光學元件(notch filter)組入至微晶片1的構造亦可，設為於微晶片1埋入吸收照射光之色素的構造(吸收濾光器構 造)亦可。
聚光孔14係構成為設置於微晶片1內部的空洞。空洞係例如柱構造，從平行光濾光器13c導光之光線的射入面，係以入射光被反射且聚光，進而，反射聚光光的光軸方向與入射光的光軸略正交之方式形成。在圖3所示之例中，以圖3的內藏相機導光孔15中反射光聚光之方式設定。
再者，為了盡可能有效率地使入射光反射，該聚光孔14之反射面的形狀，係考慮依存於微晶片1的材質之界面(前述反射面)的臨限角來設計。
圖7係揭示內藏相機導光孔15之剖面的圖。內藏相機導光孔15的底面係設置成對於微晶片1表面傾斜的斜面。
從聚光孔14聚光之觀察光係射入至內藏相機導光孔15的底面。如上所述，藉由考慮微晶片1的臨限角等，來適當設定斜面的角度，從聚光孔14聚光之觀察光係藉由斜面往下方向(有內藏相機3c的方向)折返，聚光。
亦即，來自檢體的觀測光(例如螢光)及未有助於激發的照射光，係藉由第2透鏡12b成為平行，藉由兩個平行光濾光器13b、13c僅取出平行光，射入至濾光器13d，由該濾光器13d截斷照射光，藉由聚光孔14被聚光，導光至內藏相機導光孔15，藉由該內藏相機導光孔15，導光至平板電腦終端3的內藏相機3c。然後，觀察光係藉由前述內藏相機3c檢測出。
[光學測定與平板電腦的運算處理：光分析]
於圖5的步驟S9與S10之間，在流通路徑FE的流通路徑之間進行光分析(位於流通路徑FE之間的檢體溶液的光學測定，與測定結果的運算處理)。
該光分析係如圖8所示，例如以以下步驟進行。
首先，內藏於平板電腦終端3的控制部3b係使位於照射光導入孔11之底面的下部之顯示器部分發光(圖8的步驟S21)。再者，從該顯示器部分放出之光線，係包含適合位於流通路徑FE之間的檢體溶液的光學測定之照射光(適合激發檢體之波長的光線)的波長成分。
從照射光導入孔11導入之由顯示器3a放出的放出光，係透過濾光器13a、第1透鏡12a，在流通路徑FE內部聚光。亦即，具有適合激發檢體之波長的照射光被聚光於流通路徑FE內部的檢體溶液，該檢體溶液被激發(步驟S22)。
從被激發之檢體放出的觀測光係依序經由第2透鏡12b、兩個平行光濾光器13b、13c、濾光器13d、聚光孔14、內藏相機導光孔15，射入至平板電腦終端3的內藏相機3c，藉由該內藏相機3c檢測出(步驟S23)。
相當於藉由內藏相機3c檢測出之觀測光的檢測訊號，從內藏相機3c被發送至內藏於平板電腦終端3的控制部3b(步驟S24)。
從內藏相機3c接收檢測訊號的控制部3b，藉由預先記憶，或使用平板電腦終端3的通訊功能從外部適當下載之分析用軟體，處理‧運算前述檢測訊號(步驟S25)。
控制部3b係將處理‧運算結果，顯示於平板電腦終端3之顯示器3a的分析結果等的顯示區域(步驟S26)。
如上所述，於平板電腦終端3的顯示器3a上配置微晶片1，藉由前述的步驟來進行光分析。來自檢體的觀察光被內藏相機3c檢測出，藉由內藏於平板電腦終端3的控制部3b，運算處理前述檢測資訊。被運算處理之分析結果係適當顯示於顯示器3a上。
[實施例1的變形例]
於圖9、圖10揭示採光手段的其他構造例。如圖9、圖10所示，採光手段係由使從例如由液晶面板所成之顯示器3a放出的光線成為平行的液晶光準直器微透鏡陣列(以下，也稱為準直器透鏡陣列212)、以使從準直器透鏡陣列212射出之光線折返而進行於微晶片1內部之方式變更前述光線之光路徑的光路徑變更孔217、聚光透鏡218所成。
如圖10(a)所示，被配置於準直器透鏡陣列212的光射出側之光路徑變更孔217，係僅設置對應準直器透鏡陣列212的微透鏡的個數。
圖10(b)係揭示圖10(a)的P-P剖面者，是揭示 光路徑變更孔217的剖面的圖。光路徑變更孔217的底面係設置成對於微晶片1表面傾斜的斜面。從位於平板電腦終端3的顯示器3a之光路徑變更孔217的底面下部之區域放出的光線係射入至照射光路徑變更孔217的底面。如上所述，在由矽氧烷樹脂構成微晶片1之狀況中，以大氣相對於微晶片1(矽氧烷樹脂)的臨限角以上之射入角，前述放出光射入至形成斜面的光路徑變更孔217的底面時，該放出光會藉由前述底面被全反射。藉由適當設定斜面的角度，從顯示器3a往上方放出的放出光係以藉由斜面往橫方向折返，進行於微晶片1內部之方式被導光。
聚光透鏡218係構成為設置於微晶片1內部的空洞，從光路徑變更孔217導光來之放出光的光射入面、射出面成為凹面。該光射入面及射出面的凹面形狀，係以通過聚光透鏡218之光線被聚光於設置在埠A、埠B之光驅動空氣泵23的氣體產生室之方式設定。
再者，在前述構造中，對配置於光驅動空氣泵23的側部之氣體產生室，照射前述放出光。在此，從氣體產生室的上部對放出光進行聚光時，例如先前所示之內藏相機導光孔般構成埠A、B，適當折返於通過聚光透鏡218之光線的進行方向亦可。
以上說明之實施例的分析裝置，係作為分析計，使用具有運算功能之可攜帶的平板電腦終端3，可使用由配置於該顯示器3a上之微晶片1所成的微反應器，實施微量之試藥的分離、合成、抽出、分析等之方式構 成。
在此，藉由使用平板電腦終端3，可作為分析對象的檢測光‧驅動用能源，使用來自平板電腦終端3之顯示器3a的放出光，又，使用內藏於平板電腦終端3的運算裝置，運算分析來自分析對象的檢測資料，又，可將分析結果顯示於顯示器。
亦即，本實施例的分析裝置係檢測用光源、運算裝置被彙集作為可攜帶的平板電腦終端3，使用不包含平板電腦終端3與有源元件的微晶片1，實施分析的分析裝置，並不如先前需要專用的控制工具(參照圖15)，所以，小型且可攜帶，於需要分析的現場中，可實施檢查時間短，且高精度的評估分析。亦即，依據本發明的分析裝置，例如可對應生命科學領域之定點照護檢查(POCT)的要求。
檢測系統本身因為是平板電腦終端3擔任，所以，微晶片1係可使用不包含有源元件之先前的廉價者，可可拋棄式地處理。亦即，沒有必要使用與例如有機EL等被積體化之構造的檢測系統一體化的昂貴的微晶片。
進而，因從顯示液晶取得光源‧能源，即使配置於平板電腦3上之微晶片1的位置稍微改變，也可配合該位置，自動調整發光處。藉此，可不需要平板電腦3上之微晶片1的位置調整，可進行迅速的測定。
又，如上所述，本實施例的分析裝置係使用 平板電腦終端3的通訊功能，可適當下載因應測定對象之分析內容的分析用軟體。因此，可使用來作為對於各種檢體實施各式各樣分析的分析裝置。
因此，與如先前般對於特定分析所設定之專用的檢測系統之狀況不同，為了對應各式各樣的分析，不需要準備多數對於各分析所客製化的分析裝置。
進而，本發明的分析裝置，係可容易進行平板電腦終端3之測定資料的錄誌，不需要專用的儲存手段。又，容易進行使用通訊功能的分析系統構築。進而，可將顯示器之顯示，因應發光色的選擇、分析資料顯示等功能，進行客製化。
再者，於本發明中所用的處理裝置並不限定於平板電腦終端者，只要是具有顯示器，具備運算功能的處理裝置，例如作為電腦、行動電話等亦可。
[實施例2]
於圖11揭示本發明的第2實施例。本實施例的分析裝置，除了往具備驅動空氣泵23的埠A、埠B，對來自平板電腦終端3之顯示器3a的放出光進行導光的採光手段，及在流通路徑FE的流通路徑10之間實施光分析的光分析手段的構造之外，與第1實施例所示之分析裝置相同。
因此，在此，僅說明採光手段、光分析手段。再者，為了容易理解，誇張描繪微晶片1的大小，實際的平板電 腦終端3與微晶片1的大小關係與圖11不同。
[採光手段]
圖11所示之第2實施例之採光手段，係與第1實施例相同，將從平板電腦終端3的顯示器3a放出的放出光，導光至設置驅動空氣泵23(光驅動微泵)的埠A、埠B者。
前述採光手段，係具有使從先前第1實施例的變形例(圖9、圖10)所示之採光手段之液晶面板所成的顯示器3a放出之光線成微平行的液晶光準直器微透鏡陣列212(準直器透鏡陣列)，與以讓從準直器透鏡陣列212射出之光線折返，進行於微晶片1內部之方式變更前述光線的光路徑的光路徑變更孔217。然後，設置平面錐形導光路徑219，代替第1實施例的變形例之聚光透鏡218。
準直器透鏡陣列212、光路徑變更孔217係與圖10所示者同等。亦即，從顯示器3a放出之放出光係藉由準直器透鏡陣列212成為平行，射入至光路徑變更孔217。
配置於準直器透鏡的光射出側的光路徑變更孔217，係僅設置對應準直器透鏡陣列212之微透鏡的個數之數量。
射入至成為對於微晶片1表面傾斜之斜面的光路徑變更孔217的底面之來自準直器透鏡的射出光，係藉由考慮構成微晶片1之材料的臨限角等所適當設定傾斜角的斜 面，往橫方向折返，射入至平面錐形導光路徑219。
平面錐形導光路徑219係光射入面與光射出面比較，成為橫方向(圖11之左右方向)較長的台形平板形狀，埋設於微晶片1。平面錐形導光路徑219係以矽氧烷樹脂等的材料構成。在此，作為構成平面錐形導光路徑219的材料，選擇該折射率大於構成微晶片1的材料(例如，矽氧烷樹脂)的折射率及大氣的折射率，可透射來自顯示器3a的放出光者。
射入至平面錐形導光路徑219的光射入面之來自顯示器3a的放出光，係一邊往垂直方向、水平方向擴散，一邊往光射出面進行。因此，前述放出光的一部分，係到達光射出面之前，射入至平面錐形導光路徑219的上下面、左右側面。在此，平面錐形導光路徑219的折射率，係大於微晶片1的折射率、空氣的折射率，所以，射入至平面錐形導光路徑219的上下面、左右側面之光線的射入角是平面錐形導光路徑219的臨限角以上時，射入至平面錐形導光路徑219的上下面、左右側面之光線會被全反射，往光射出面進行。亦即，平面錐形導光路徑219係具有作為對於放出光之導光路徑的功能，光射入面與光射出面相較，成橫方向較長的台形平板形狀，射入至光射入面的光線係某種程度被聚光，從光射出面射出。
平面錐形導光路徑219之光射出面的位置、大小，係以從光射出面射出之光線被聚光於設置在埠A、埠B之光驅動空氣泵23的氣體產生室之方式設定。
再者，在前述構造中，對配置於光驅動空氣泵的側部之氣體產生室，照射前述放出光。在此，從氣體產生室的上部對放出光進行聚光時，例如先前所示之內藏相機導光孔15般構成埠A、B，適當折返於通過聚光透鏡218之光線的進行方向亦可。
[光分析手段]
在流通路徑FE之間實施光分析的光分析手段，係如圖11所示，由照射光導入孔11、濾光器13a、導入光導光路徑17a、觀測光導光路徑17b、濾光器13d、內藏相機導光孔15所成。
照射光導入孔11係與第1實施例相同，省略詳細說明。如圖6所示，照射光導入孔11的底面係設置成對於微晶片1表面傾斜的斜面。從顯示器3a往上方放出的放出光，係藉由斜面往橫方向折返。
從照射光導入孔11到流通路徑FE的側面為止，係設置有用以對來自顯示器3a之放出光進行導光的導入光導光路徑17a。導入光導光路徑17a係以矽氧烷樹脂等的材料構成。作為構成該導入光導光路徑17a的材料，選擇該折射率大於構成微晶片1的材料(例如，矽氧烷樹脂)的折射率及大氣的折射率，可透射來自顯示器3a的放出光者。
導入光導光路徑17a的光射入面，係設置於從照射光導入孔11折返之來自顯示器3a的放出光射入的位置。另 一方面，導入光導光路徑17a的光射出面，係設置於與充滿被PBS等的緩衝液稀釋之檢體溶液的流通路徑FE之側面部對向的位置。
因為從照射光導入孔11射入至導入光導光路徑17a的放射光是擴散光，放出光的一部分係到達光射出面之前，會射入至導入光導光路徑17a的上下面、左右側面。在此，導入光導光路徑17a的折射率，係大於微晶片1的折射率、空氣的折射率，所以，射入至導入光導光路徑17a的上下面、左右側面之光線的射入角是導入光導光路徑17a的臨限角以上時，射入至導入光導光路徑17a的上下面、左右側面之光線會被全反射，往光射出面進行。
亦即，導入光導光路徑17a係具有到流通路徑FE內的檢體溶液為止，作為該檢體的照射光，對來自顯示器3a的放出光進行導光的導光路徑的功能。
於導入光導光路徑17a中，從照射光導入孔11到流通路徑FE的側面部的途中，配置有濾光器13a。該濾光器13a係從由照射光導入孔11導光的照射光，截斷激發檢體的波長成分以外。
亦即，照射光導入孔11係對從顯示器3a放出之放出光進行採光，朝向導入光導光路徑17a反射。射入至導入光導光路徑17a的前述放出光，係透過濾光器13a，被導光至流通路徑FE的側面，激發被流通路徑FE內部的緩衝液(PBS)稀釋的檢體溶液。
從被激發的檢體，放出依存於檢體的物理性 之光線(例如螢光)。該光線係作為觀測光，以藉由觀測光導光路徑17b，依序經由濾光器13d、內藏相機導光孔15之方式被導光，射入至平板電腦終端3的內藏相機3c，並藉由該內藏相機3c檢測出。
於觀測光導光路徑17b中，於流通路徑FE的側面部到內藏相機導光孔15的途中，配置有濾光器13d。
射入至觀測光導光路徑17b的光射入面之光線，並不一定僅有從檢體放出的觀測光(例如螢光)。未有助於檢體的激發之照射光也有橫跨流通路徑FE，射入至觀測光導光路徑17b之光射入面的可能性。該照射光因會成為檢體之光分析的雜訊，有除去的必要。
濾光器13d係發揮截斷激發光的作用者，例如介電體光學元件(notch filter)及有色玻璃濾光器(吸收濾光器)。
內藏相機導光孔15係與第1實施例相同，省略詳細說明。如圖7所示，內藏相機導光孔15的底面係設置成對於微晶片1表面傾斜的斜面。藉由考慮微晶片1的臨限角等，來適當設定斜面的角度，從觀測光導光路徑17b導光之觀察光係藉由斜面往下方向(有內藏相機的方向)折返，聚光。
[實施例3]
前述之實施例1、實施例2所示之分析裝置所使用的 平板電腦終端3，係搭載有內藏相機，藉由該內藏相機檢測出觀測光，藉由內藏於平板電腦終端3的控制部3b，運算處理前述檢測資訊。
另一方面，實施例3所示之分析裝置所使用的平板電腦終端3，並未搭載內藏相機，而是利用目視來觀測來自檢體的觀測光者。
圖12係於圖3所示第1實施例之分析裝置中，省略內藏相機3c、內藏相機導光孔15、聚光孔14，設置第3透鏡12c、觀測孔18者。
又，圖13係於圖11所示第2實施例之分析裝置中，省略內藏相機、內藏相機導光孔15，設置觀測孔18者。
於圖12中，在流通路徑FE的流通路徑之間實施光分析的光分析手段，係由照射光導入孔11、第1透鏡12a、第2透鏡12b、兩個平行光濾光器(第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c)、濾光器13d、第3透鏡12c、觀測孔18所成。
第1透鏡12a、第2透鏡12b、兩個平行光濾光器(第1平行光濾光器13b、第2平行光濾光器13c)、濾光器13d的構造、功能，係與第1實施例相同，所以在此省略說明。
第3透鏡12c係構成為設置於微晶片1內部的空洞，放出光的光射入面、射出面成為凹面。該光射入面及射出面的凹面形狀，係以通過第3透鏡12c的光線射入至觀測孔18，在該觀測孔18內部聚光之方式設定。
於觀測孔18，例如排入被照射所定波長的觀測光時會發光的色素等，可利用目視確認檢體的分析結果。
另一方面，於圖13中，在流通路徑FE的流通路徑之間實施光分析的光分析手段，係由照射光導入孔11、濾光器13a、導入光導光路徑17a、觀測光導光路徑17b、濾光器13d、觀測孔18所成。激發光導入孔11、濾光器13a、導入光導光路徑17a、觀測光導光路徑17b、濾光器13d的構造、功能，係與第2實施例相同，在此省略說明。
來自觀測光導光路徑17b的觀測光被導光至觀測孔18。觀測孔18係如上所述，例如排入被照射所定波長的觀測光時會發光的色素等，可利用目視確認檢體的分析結果。
依據第3實施例的分析裝置，可對應可利用目視確認分析結果的光分析，不需要內藏相機，可比第1、第2實施例的分析裝置更廉價地構成。
再者，前述實施例1、2、3中，已針對於一個微晶片組入各種功能之狀況進行說明，但是，例如準備具備光分析手段的微晶片、具備採光手段及光驅動空氣泵的微晶片，層積或並聯配置該等，來構成具有前述實施例1、2、3所示之功能的微晶片亦可。
[實施例1、2、3的變形例]
於前述之實施例1、2、3所示微晶片中，於微晶片 內，組入具有濾光器功能等的前處理模組亦可。作為前處理模組，可考慮例如專利文獻4、5、6等所記載，具有柱構造的分離處理用過濾器(血球、血漿的分離)、固體及粒子的捕捉分離過濾器等。前處理模組係從包含檢體的流體，分離不是光照射對象的非檢體物質(例如，前述的血球、血漿及不是光照射對象的固體及粒子)。
於圖14(a)(b)揭示於前述實施例1所示之微晶片，組入前處理過濾器的例子。同圖係揭示在埠B與微流通路徑10的交差部分F之間，設置藉由圖14(b)所示柱構造來進行血球、血漿等的分離處理的前處理過濾器30之狀況，藉由設置前處理過濾器30，可進行由從埠B送出至交差部分F的液體，分離血球、血漿等的前處理。
再者，同圖中，於前述實施例1已揭示設置前處理過濾器之狀況，但是，於前述第2、第3實施例所示者設置前處理過濾器亦可。
又，在圖14中，已針對將前處理過濾器，組入至微晶片1之狀況進行說明，但是，預先準備具有前處理過濾器功能的晶片，與前述實施例1等所示微晶片層積或並聯配置，連結流通路徑，附加前處理功能亦可。
1‧‧‧微晶片
2‧‧‧微吸管
3‧‧‧平板電腦終端
3a‧‧‧顯示器

Claims (9)

  1. 一種光分析方法，係使用具備用以顯示畫像的顯示器，且內藏具有運算功能與控制被顯示於該顯示器的畫像之功能的控制部的處理裝置，進行被導入至具有光導入部與光導出部之微晶片的檢體之分析的分析方法，其特徵為：於該處理裝置的顯示器上，配置前述微晶片的光導入部；使對應前述顯示器上之前述光導入部的部位發光，將光線導入前述微晶片內，對包含被導入至微晶片之檢體的流體，照射該光線，使光線從包含該檢體的流體放出，藉由該被放出之光線，進行前述檢體的分析。
  2. 一種光分析裝置，係由具備用以顯示畫像的顯示器，且內藏具有運算功能與控制被顯示於該顯示器的畫像之功能的控制部的處理裝置，與具有光導入部與光導出部的微晶片所成的光分析裝置，其特徵為：前述微晶片的光導入部，係被配置於前述顯示器上的所定位置；前述處理裝置的控制部，係使對應前述顯示器上之前述光導入部的部位發光，將從前述顯示器放出之光線，導入至前述光導入部，對包含被導入至前述微晶片之檢體的流體，照射該光線，使光線從包含該檢體的流體放出，並將該光線從前述光導出部導出。
  3. 如申請專利範圍第2項所記載之光分析裝置，其 中，前述微晶片，係具備採光手段；該採光手段，係具有對從前述光導入部導入之光線進行採光的採光部，與將以該採光部所採光之光線，導光至微晶片之光照射位置的導光手段。
  4. 如申請專利範圍第2項或第3項所記載之光分析裝置，其中，前述處理裝置，係具有受像手段；前述微晶片的光導出部，係被配置於從該光導出部放出之光線可利用前述受像手段受光的位置；前述控制部，係依據從前述光導出部放出，被前述受像手段受像之光訊號，執行運算，並進行分析處理。
  5. 如申請專利範圍第2項或第3項所記載之光分析裝置，其中，前述微晶片的光導出部，係被配置於從該光導出部放出之光線可藉由目視來觀測的位置。
  6. 如申請專利範圍第2、3、4項或第5項所記載之光分析裝置，其中，前述微晶片，係由從前述光導入部導入之光線，取出前述檢體的激發所需之波長成分來獲得照射光，並將該照射光，對包含被導入至微晶片之檢體的流體進行照射，使光線從包含該檢體的流體放出者；於前述微晶片，設置有由從包含前述檢體的流體放出之光線，截取前述照射光成分的被動元件，將來自該被動 元件的光線引導至前述光導出部。
  7. 如申請專利範圍第2、3、4、5項或第6項所記載之光分析裝置，其中，於前述微晶片，設置有對包含檢體的流體進行光照射之前，從前述流體分離非檢體物質的前處理過濾器。
  8. 一種微晶片，係被配置於具備用以顯示畫像之顯示器的處理裝置的顯示器上，藉由該顯示器上的發光，進行被導入之檢體的光分析的微晶片，其特徵為：於前述微晶片，設置有光導入部與光導出部；前述光導入部，係對前述處理裝置之顯示器上的發光進行受光；前述微晶片，係對包含被導入至前述微晶片之檢體的流體，照射該光線，並使光線從包含該檢體的流體放出；前述光導出部，係將從包含前述該檢體的流體放出之光線，導出至外部。
  9. 一種光分析用處理裝置，係具備用以顯示畫像的顯示器，且內藏具有運算功能與控制被顯示於該顯示器的畫像之功能的控制部，將來自顯示器的光線導入至被配置於該顯示器上之具有光導入部與光導出部之微晶片，並進行被導入至該微晶片的檢體之分析的光分析用處理裝置，其特徵為：前述光分析用處理裝置的控制部，係使對應前述顯示器上之前述光導入部的部位發光，將從前述顯示器放出之光線，導入至前述光導入部，對包含被導入至微晶片之檢 體的流體，照射光線，執行前述微晶片所致之分析處理。
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