TW201417524A - 射頻特性測試設備 - Google Patents

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TW201417524A TW101139201A TW101139201A TW201417524A TW 201417524 A TW201417524 A TW 201417524A TW 101139201 A TW101139201 A TW 101139201A TW 101139201 A TW101139201 A TW 101139201A TW 201417524 A TW201417524 A TW 201417524A
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chang-yao Chen
zhi-xing Wang
Chuan Zhang
Yue Chang
Fu-Jen Kao
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Zhen Ding Technology Co Ltd
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Abstract

一種射頻特性測試設備,其用於測試複數個通信電路板之射頻特性,其包括:複數個夾持裝置用於固定複數個通信電路板;一網路分析儀、一交換箱及一結果顯示裝置。所述交換箱電性連接在所述夾持裝置與所述網路分析儀之間,用於將複數個通信電路板分別依序切換連接至所述網路分析儀。所述網路分析儀用於依序對所述切換後夾持裝置內之通信電路板進行檢測。所述結果顯示裝置與所述網路分析儀電性連接,所述結果顯示裝置用於同時顯示複數個通信電路板之檢測結果。

Description

射頻特性測試設備
本發明涉及一種射頻特性測試設備。
在現代網路中,好之射頻特性是手機有效工作之關鍵。目前手機之尺寸越來越小,經常出現折衷輻射特性之情況。因此,對手機中之具有射頻(RF)天線之軟性電路板之射頻特性檢測顯得尤為重要。現有之射頻特性測試設備一般包括一網路分析儀及一夾持裝置。待測試之軟性電路板固定在夾持裝置內。待測試之軟性電路板藉由一連接線與所述網路分析儀電性連接。然而,現有之射頻特性測試設備中之網路分析儀只能測試一個軟性電路板。如果需要同時檢測複數個軟性電路板之射頻特性時,需要複數台網路分析儀。
有鑒於此,有必要提供一種可同時測試複數個通信電路板之射頻特性之射頻特性測試設備。
一種射頻特性測試設備,其用於測試複數個通信電路板之射頻特性。所述射頻特性測試設備包括:複數個夾持裝置、一交換箱、一網路分析儀、及一結果顯示裝置。所述交換箱電性連接在所述夾持裝置與所述網路分析儀之間。所述交換箱包括複數個第一訊號接頭、一個第二訊號接頭及一個切換開關。所述複數個第一訊號接頭分別電性連接一夾持裝置。所述切換開關與所述第二訊號接頭及所述第一訊號接頭均電性連接。所述第二訊號接頭電性連接至所述網路分析儀。所述夾持裝置用於夾持待測試之複數個通信電路板,同時用於將待測試之複數個通信電路板之射頻特性傳輸至所述交換箱。所述切換開關用於切換複數個所述第一訊號接頭,使切換後之第一訊號接頭與第二訊號接頭電性連接,以使切換後之第一訊號接頭所對應之夾持裝置內之通信電路板藉由所述第二訊號接頭與網路分析儀電性連接。所述網路分析儀用於對所述切換後之夾持裝置內之通信電路板之射頻特性進行檢測。所述結果顯示裝置與所述網路分析儀電性連接,所述結果顯示裝置用於同時顯示複數個通信電路板之檢測結果。
相對於先前技術,所述射頻特性測試設備藉由交換箱之切換開關切換所述第一訊號接頭,以使切換後之第一訊號接頭藉由所述切換開關與第二訊號接頭電性連接,因此,所述網路分析儀能夠依序對所述切換後之第一訊號接頭所對應之夾持裝置內之通信電路板進行測試。如此,只需一台網路分析儀,便可對複數個通信電路板進行檢測。
下面將結合附圖與實施例對本技術方案作進一步詳細說明。
請參閱圖1,本發明實施方式提供之一種射頻特性測試設備100,其用於測試複數個通信電路板之射頻特性。本實施方式中,所述射頻特性測試設備100用於測試複數個具有射頻天線之軟性電路板200之射頻特性。所述射頻特性測試設備100包括複數個夾持裝置10、一交換箱(switching box)20、一網路分析儀30、及一結果顯示裝置40。
請一併參閱圖2,每個所述夾持裝置10具有一收容槽11。所述收容槽11之形狀與所述軟性電路板200相對應。每個所述收容槽11用於分別收容一軟性電路板200。本實施方式中,所述夾持裝置10之數量為8個,其分別用於固定8個軟性電路板200。每個所述收容槽11兩相對之側邊上分別設置有一可在所述收容槽11中伸縮之伸縮桿12。所述夾持裝置10還包括一訊號端口13。
所述交換箱20包括有複數個第一訊號接頭21、一個第二訊號接頭22及一個切換開關23。所述複數個第一訊號接頭21之數量與所述夾持裝置10之數量相同,且每個第一訊號接頭21之上方分別標識有數位1-8。所述複數個第一訊號接頭21之一端分別藉由一連接線25與一所述夾持裝置10之訊號端口13電性連接。所述夾持裝置10藉由所述訊號端口13、複數個第一訊號接頭21及連接線25將待測試之複數個軟性電路板200之射頻特性傳輸至所述交換箱20。所述複數個第一訊號接頭21之另一端與所述切換開關23相電性連接。所述切換開關23同時電性連接至所述第二訊號接頭22。所述切換開關23用於按所述第一訊號接頭21上方標識之數位順序,從小到大依序切換所述第一訊號接頭21,以使切換後之第一訊號接頭21與第二訊號接頭22電性連接。本實施方式中,所述切換開關23切換之時間間隔為1秒。可以理解之是,所述切換開關23切換之時間間隔也可根據設計需要而設置。
所述網路分析儀30包括一個第三訊號接頭31及一個第四訊號接頭32。所述第三訊號接頭31藉由連接線25與所述交換箱20之第二訊號接頭22電性連接。所述網路分析儀30還包括一顯示幕33,用於顯示所述網路分析儀30檢測到之所述軟性電路板200之射頻特性曲線圖。所述網路分析儀30存儲有標準之射頻特性參數值範圍(如射頻特性曲線之起始頻率與終止頻率)。當所述網路分析儀30檢測到之所述軟性電路板200之射頻特性曲線圖所對應之參數落入標準之射頻特性參數範圍內時,被檢測之所述軟性電路板200之射頻特性合格,否則,不合格。
所述結果顯示裝置40包括一電腦主機41及一顯示器42。所述電腦主機41分別與所述網路分析儀30之第四訊號接頭32及所述顯示器42相電性連接。所述結果顯示裝置40用於將8個軟性電路板200之檢測結果同時顯示在所述顯示器42上。
檢測時,首先,所述交換箱20之切換開關23按第一訊號接頭21上方標識之數位順序,從小到大依序切換所述第一訊號接頭21,以使切換後之第一訊號接頭21藉由所述切換開關23與第二訊號接頭22電性連接,因此,可使所述網路分析儀30對所述切換後之第一訊號接頭21所對應之夾持裝置10內之軟性電路板200進行檢測。然後,所述網路分析儀30將檢測結果輸出至所述結果顯示裝置40。所述結果顯示裝置40將8個軟性電路板200之檢測結果同時顯示在所述顯示器42上。當所述結果顯示裝置40顯示其中一個或複數個軟性電路板200之檢測結果不合格時,所述電腦主機41發出一控制訊號,並藉由所述網路分析儀30與交換箱20傳輸至該不合格軟性電路板200所對應之夾持裝置10之訊號端口13,使所述伸縮桿12在所述收容槽11伸出,夾持住該不合格軟性電路板200,以提示測試者,此被夾持住之軟性電路板200為測試不合格產品。
所述射頻特性測試設備100藉由交換箱20之切換開關23切換所述第一訊號接頭21,以使切換後之第一訊號接頭21藉由所述切換開關23與第二訊號接頭22電性連接,因此,所述網路分析儀30能夠依序對所述切換後之第一訊號接頭21所對應之夾持裝置10內之軟性電路板200進行檢測。如此,只需一台網路分析儀30,便可對複數個軟性電路板200進行檢測。
綜上所述,本發明確已符合發明專利之要件,遂依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100...射頻特性測試設備
200...具有射頻天線之軟性電路板
10...夾持裝置
20...交換箱
30...網路分析儀
40...結果顯示裝置
11...收容槽
12...伸縮桿
13...訊號端口
21...第一訊號接頭
22...第二訊號接頭
23...切換開關
25...連接線
31...第三訊號接頭
32...第四訊號接頭
33...顯示幕
41...電腦主機
42...顯示器
圖1為本發明實施方式提供之射頻特性測試設備之示意圖。
圖2為圖1中之射頻特性測試設備之夾持裝置之示意圖。
100...射頻特性測試設備
200...具有射頻天線之軟性電路板
10...夾持裝置
20...交換箱
30...網路分析儀
40...結果顯示裝置
21...第一訊號接頭
22...第二訊號接頭
23...切換開關
25...連接線
31...第三訊號接頭
32...第四訊號接頭
33...顯示幕
41...電腦主機
42...顯示器

Claims (10)

  1. 一種射頻特性測試設備,其用於測試複數個通信電路板之射頻特性,其改進在於:所述射頻特性測試設備包括:複數個夾持裝置、一交換箱、一網路分析儀、及一結果顯示裝置,所述交換箱電性連接在所述夾持裝置與所述網路分析儀之間,所述交換箱包括複數個第一訊號接頭、一個第二訊號接頭及一個切換開關,所述複數個第一訊號接頭分別電性連接一夾持裝置,所述切換開關與所述第二訊號接頭及所述第一訊號接頭均電性連接,所述第二訊號接頭電性連接至所述網路分析儀,所述夾持裝置用於夾持待測試之複數個通信電路板,同時用於將待測試之複數個通信電路板之射頻特性傳輸至所述交換箱,所述切換開關用於切換複數個所述第一訊號接頭,使切換後之第一訊號接頭與第二訊號接頭電性連接,以使切換後之第一訊號接頭所對應之夾持裝置內之通信電路板藉由所述第二訊號接頭與網路分析儀電性連接,所述網路分析儀用於對所述切換後之夾持裝置內之通信電路板之射頻特性進行檢測,所述結果顯示裝置與所述網路分析儀電性連接,所述結果顯示裝置用於同時顯示複數個通信電路板之檢測結果。
  2. 如請求項1所述之射頻特性測試設備,其中:所述通信電路板為具有射頻天線之軟性電路板。
  3. 如請求項1所述之射頻特性測試設備,其中:每個所述夾持裝置具有一收容槽,所述收容槽之形狀與所述軟性電路板相對應,每個所述收容槽用於分別收容一通信電路板。
  4. 如請求項3所述之射頻特性測試設備,其中:所述複數個第一訊號接頭之輸入端分別藉由一連接線分別與其中一所述夾持裝置電性連接之一訊號端口電性連接。
  5. 如請求項4所述之射頻特性測試設備,其中:每個所述收容槽兩相對之側邊上分別設置有一能夠在所述收容槽中伸縮之伸縮桿,當所述結果顯示裝置顯示其中一個或複數個通信電路板之檢測結果不合格時,所述電腦主機發出一控制訊號,並藉由所述網路分析儀與交換箱傳輸至該不合格通信電路板所對應之夾持裝置之訊號端口,使所述伸縮桿在所述收容槽伸出,夾持住該不合格通信電路板。
  6. 如如請求項1所述之射頻特性測試設備,其中:所述複數個第一訊號輸入接頭之數量與所述夾持裝置之數量相同。
  7. 如請求項1所述之射頻特性測試設備,其中:每個所述第一訊號輸入接頭之上方分別標識有數位,所述切換開關用於按所述第一訊號接頭上方標識之數位順序,從小到大依序切換所述第一訊號接頭,以使切換後之第一訊號接頭與第二訊號接頭電性連接。
  8. 如請求項1所述之射頻特性測試設備,其中:所述網路分析儀包括一個第三訊號接頭及一個第四訊號接頭,所述第三訊號接頭藉由連接線與所述交換箱之第二訊號輸出接頭電性連接,所述結果顯示裝置包括一電腦主機及一顯示器,所述電腦主機分別與所述網路分析儀之第四訊號接頭及所述顯示器相電性連接。
  9. 如請求項1所述之射頻特性測試設備,其中:所述網路分析儀還包括一顯示幕,用於顯示所述網路分析儀檢測到之所述通信電路板之射頻特性曲線圖。
  10. 如請求項1所述之射頻特性測試設備,其中:所述網路分析儀存儲有標準之射頻特性參數,當所述網路分析儀檢測到之所述通信電路板之射頻特性曲線圖所對應之參數落入標準之射頻特性參數範圍內時,被檢測之所述通信電路板之射頻特性合格,否則,不合格。
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