TW201404519A - 定位量測裝置之偏差調校結構 - Google Patents

Abstract

本發明定位量測裝置之偏差調校結構，主要係包括一外殼組、一調校組件及一量測組件，於該外殼組的內部係裝設有該調校組件及該量測組件，該調校組件係包括有至少一彈簧、一抵靠於該至少一彈簧的移動座及一設置於該移動座內部的調校桿，該量測組件係包括有一轉動座及連接於該轉動座之一探針，該量測組件係以該轉動座抵靠於該調校組件的下方；本發明係能夠將該量測組件之探針抵靠於一標準件之一基準面並進行校正，利用調校組件的軸向移動距離計算量測組件的偏差值，並於加工機上直接進行參數補正。

Description

定位量測裝置之偏差調校結構

本發明係涉及一種一種量測裝置，尤其是一種定位量測裝置之偏差調校結構。

習用的定位量測裝置通常用於工具機的起始基準點量測及調整刀具或校正使用，以CNC銑床為例，通常係將定位量測裝置裝設於主軸上隨著機台進行旋轉，隨後將定位量測裝置移動並分別接觸抵靠於工件的基準面，依此來測量計算得出工件的加工原點，並與程式原點作對照後進行加工； 習用的定位量測裝置有可能因為溫度、應力作用或零件組裝而產生量具誤差，但卻無法如一般的量具本身進行歸零或校正來將誤差去除，只能夠針對量錶進行歸零或校正，因此隨著量具誤差逐漸增加，就有可能發生量測精度不佳的問題，實有改良加強的必要。

為了解決習用的定位量測裝置無法歸零或校正，可能會導致量測精度不佳的問題，本發明的主要目的在於提供一種定位量測裝置之偏差調校結構，目的在於使定位量測裝置的量具誤差有辦法被計算後，再於機台上進行參數補正來解決量具誤差的問題。

本發明所運用的技術手段係在於提供一種定位量測裝置之偏差調校結構，包括： 一外殼組，其係包括有一夾持座及一結合於該夾持座底部之環蓋，於該環蓋係開設有一開孔，且該外殼組之軸向位置定義為Z軸；一調校組件，其係對應設置於該夾持座並能夠沿著Z軸平移作動，該調校組件係包括有一設置於該夾持座內部且可沿軸向作動的移動座、至少一抵靠於支持座內部與移動座之間的壓縮彈簧及一設置於該移動座內部並可伸縮作動的調校桿，該調校桿係於底部具有一呈傾斜狀的抵靠面；一量測組件，其係設置於該外殼組的內部並係抵靠於該調校組件之調校桿的下方，該量測組件係包括有一可旋轉作動的轉動座及穿設固定於該轉動座之一探針，該探針係於頂部具有一抵針部，該探針係以該抵針部抵靠於該調校桿之抵靠面，利用該轉動座及該探針移動以帶動該調校組件的平移作動。

前述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該調校桿係具有一抵靠柱及軸向地設置於該抵靠柱之頂面的一套桿，該調校桿係於該套桿套設結合一緩衝彈簧，使該調校桿能夠伸縮作動。

前述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該調校桿係與該移動座以凹凸卡制的方式結合定位，使該調校桿不會產生轉動。

前述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該移動座係呈階級圓柱狀，並具有一底座及軸向連接於該底座之頂面的一延伸柄。

前述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該調校組 件係設有兩壓縮彈簧，該兩壓縮彈簧係分別對應地抵靠於該移動座之延伸柄之頂面與該底座之頂面。

前述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該轉動座係呈半圓球狀，且係以呈平面的一端可轉動地抵靠於該移動座的底部，並以呈球面的一端朝向該環蓋之開孔。

本發明利用所提供的定位量測裝置之偏差調校結構，可以獲得的功效增進在於能夠以量測組件之探針接觸標準件的基準面來進行量測校正，利用調校組件與探針接觸時所造成的位移，來得知量測組件的整體誤差，並能夠於機台上以參數調整進行補正，來排除量具誤差的問題，相當方便實用。

為了能夠詳細瞭解本發明的技術特徵及實用功效，並可依照說明書的內容來實施，更進一步以如圖式所示的較佳實施例，詳細說明如后：本發明係一種定位量測裝置之偏差調校結構，請參閱圖1至圖3的較佳實施例，其係包括一外殼組10、一調校組件20及一量測組件30，其中：如圖1及圖2所示，該外殼組10係包括有一夾持座11及一環蓋12，且該外殼組10之軸向位置定義為Z軸，該夾持座11係呈階級圓柱狀之中空殼體，該夾持座11係於上端形成一夾持柄110，並於底部形成一開口111，以及於夾持座11內部形成一連通至該開口111的容置空間112，於該夾持座11的底部外周面係形成螺紋，使該環蓋12對應螺鎖結合於該夾持座11之底部，並蓋合於該夾持座11之開口111，該環 蓋12於中央部位係形成一連通至該容置空間112的開孔121；如圖2及圖3所示，該調校組件20係對應設置於該夾持座11之容置空間112，並可於該容置空間112內沿Z軸向移動，該調校組件20係包括有一移動座21、兩壓縮彈簧22、一調校桿23及一緩衝彈簧24，該移動座21係呈階級圓柱狀並設置於該容置空間112內，該移動座21係具有一底座211及軸向連接於該底座211之頂面的一延伸柄212，於該底座211的底部係開設有一呈階級圓柱狀的容置槽213，於該容置槽213的側壁係凹設有一卡槽214，該兩壓縮彈簧22係分別對應地抵靠於該延伸柄212之頂面與該底座211的頂面，並容置於該夾持座11之容置空間112內，藉由該兩壓縮彈簧22使該移動座21可於該容置空間112內沿軸向平移動作；該調校桿23係對應設置於該底座211之容置槽213內，且該調校桿23係具有一抵靠柱231及軸向地設置於該抵靠柱231之頂面的一套桿232，該抵靠柱231於底部係形成一呈傾斜狀的抵靠面2311，並於該抵靠柱231之外周面係開設有一對應於該底座211之卡槽214的卡制塊233，該調校桿23係於該套桿232套設結合該緩衝彈簧24，藉由該緩衝彈簧24之彈力於該容置槽213內作動，並以該調校桿23之卡制塊233卡嵌於該底座211之卡槽214，使該調校桿23不會產生轉動，而隨著該移動座21做同軸向的平移。

如圖2及圖3所示，該量測組件30係設置於該外殼組10的內部並係抵靠於該調校組件20之調校桿23的下方，該量測組件30係包括有一轉動座31及穿設固定於該轉動座31之 一探針32，該轉動座31係呈半圓球狀，且係以呈平面的一端可轉動地抵靠於該移動座21的底部，並以呈球面的一端朝向該環蓋12之開孔121，並於中央開設有一裝設孔311，使該探針32穿設固定於該裝設孔311，並以一端凸出至該環蓋12之開孔121，該探針32係呈直立圓柱狀且具有兩端部，其中位於頂部的一端係為一抵針部321，另一端則係為一探針部322，該探針32係以該抵針部321抵靠於該調校桿23之抵靠面2311，該探針部322係用於量測工件用，利用該探針32與工件接觸的壓力壓抵該調校組件20產生位移來進行量測及誤差的計算。

本發明較佳的實施方式如圖4所示，其係能夠將外殼組10之夾持座11夾持固定後，使該量測組件30之探針32向下抵靠接觸一工件40的一基準面41，藉由該探針32與該基準面41的接觸，而使該量測組件30向後推動該調校組件20，藉由該調校組件20之移動座21沿Z軸所產生的一位移距離，即能夠得知該工件40的偏差後，對此進行校正。

如圖5及圖6所示，其係為本發明用於測量量具誤差的使用方法，用於本身因加工製造、組裝或溫差、應力變化而造成量具誤差的一量測組件30A，其中假設該探針32A因製作過程不良而產生水平方向的量具誤差，因此需要進行量測量具誤差的動作後，對於量具誤差進行校正，如圖5所示，當該探針32A接觸至一工件40A之基準面41A時，因該探針32A本身的誤差造成轉動過程無法與該基準面41A貼齊，故如圖6所示移動本發明至將該探針32A靠抵至該基準面41A，並使該探針32A能夠靠著基準面41A旋轉，此時，該 量測組件30A之轉動座31A將會因該探針32A本身的誤差而於轉動時產生偏移，並且因該探針32A之抵針部321A因為與呈傾斜的該調校桿23之抵靠面2311接觸，使該調校組件20產生Z軸向的位移，如此一來，即可將該調校組件20於Z軸向的總位移換算得知該探針32A本身的偏移量，只需要於機台上調整補正後，即能夠彌補該探針32A本身所造成的量具誤差，而無需因此而更換該探針32A。

本發明除了能夠用於量測具有量具誤差的該探針32A之外，只要該量測組件30的各零件有產生量具誤差，都能夠以同樣的方法進行量測並補正，相當地具有實用價值。

以上所述，僅是本發明的較佳實施例，並非對本發明作任何形式上的限制，任何所屬技術領域中具有通常知識者，若在不脫離本發明所提技術特徵的範圍內，利用本發明所揭示技術內容所作出局部更動或修飾的等效實施例，均仍屬於本發明技術特徵的範圍內。

10‧‧‧外殼組

11‧‧‧夾持座

110‧‧‧夾持柄

111‧‧‧開口

112‧‧‧容置空間

12‧‧‧環蓋

121‧‧‧開孔

20‧‧‧調校組件

21‧‧‧移動座

211‧‧‧底座

212‧‧‧延伸柄

213‧‧‧容置槽

214‧‧‧卡槽

22‧‧‧壓縮彈簧

23‧‧‧調校桿

231‧‧‧抵靠柱

2311‧‧‧抵靠面

232‧‧‧套桿

233‧‧‧卡制塊

24‧‧‧緩衝彈簧

30‧‧‧量測組件

31‧‧‧轉動座

311‧‧‧裝設孔

32‧‧‧探針

321‧‧‧抵針部

322‧‧‧探針部

40‧‧‧工件

41‧‧‧基準面

圖1係本發明較佳實施例的外觀圖。

圖2係本發明較佳實施例的分解圖。

圖3係本發明較佳實施例的剖面圖。

圖4係本發明較佳實施例的量測動作示意圖。

圖5係本發明之具有量測誤差之量測組件未靠抵基準面時的動作示意圖。

圖6係本發明之具有量測誤差之量測組件靠抵基準面並帶動調校組件的動作示意圖。

10‧‧‧外殼組

11‧‧‧夾持座

110‧‧‧夾持柄

111‧‧‧開口

112‧‧‧容置空間

12‧‧‧環蓋

121‧‧‧開孔

20‧‧‧調校組件

21‧‧‧移動座

211‧‧‧底座

212‧‧‧延伸柄

213‧‧‧容置槽

214‧‧‧卡槽

22‧‧‧壓縮彈簧

23‧‧‧調校桿

231‧‧‧抵靠柱

232‧‧‧套桿

233‧‧‧固定鍵

24‧‧‧緩衝彈簧

30‧‧‧量測組件

31‧‧‧轉動座

311‧‧‧裝設孔

32‧‧‧探針

321‧‧‧抵針部

322‧‧‧探針部

Claims (7)

1. 一種定位量測裝置之偏差調校結構，包括：一外殼組，其係包括有一夾持座及一結合於該夾持座底部之環蓋，於該環蓋係開設有一開孔，且該外殼組之軸向位置定義為Z軸；一調校組件，其係對應設置於該夾持座並能夠沿著Z軸平移作動，該調校組件係包括有一設置於該夾持座內部且可沿軸向作動的移動座、至少一抵靠於支持座內部與移動座之間的壓縮彈簧及一設置於該移動座內部並可伸縮作動的調校桿，該調校桿係於底部具有一呈傾斜狀的抵靠面；一量測組件，其係設置於該外殼組的內部並係抵靠於該調校組件之調校桿的下方，該量測組件係包括有一可旋轉作動的轉動座及穿設固定於該轉動座之一探針，該探針係於頂部具有一抵針部，該探針係以該抵針部抵靠於該調校桿之抵靠面，利用該轉動座及該探針移動以帶動該調校組件的平移作動。
2. 如請求項1所述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該調校桿係具有一抵靠柱及軸向地設置於該抵靠柱之頂面的一套桿，該調校桿係於該套桿套設結合一緩衝彈簧，使該調校桿能夠伸縮作動。
3. 如請求項2所述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該調校桿係與該移動座以凹凸卡制的方式結合定位，使該調校桿不會產生轉動。
4. 如請求項1、2或3所述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該移動座係呈階級圓柱狀，並具有一底座及軸 向連接於該底座之頂面的一延伸柄。
5. 如請求項4所述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該調校組件係設有兩壓縮彈簧，該兩壓縮彈簧係分別對應地抵靠於該移動座之延伸柄之頂面與該底座之頂面。
6. 如請求項5所述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該轉動座係呈半圓球狀，且係以呈平面的一端可轉動地抵靠於該移動座的底部，並以呈球面的一端朝向該環蓋之開孔。
7. 如請求項1、2或3所述之定位量測裝置之偏差調校結構，其中該轉動座係呈半圓球狀，且係以呈平面的一端可轉動地抵靠於該移動座的底部，並以呈球面的一端朝向該環蓋之開孔。