TW201303333A - Sas信號完整性分析系統及方法 - Google Patents

Abstract

一種SAS信號完整性分析系統及方法，該系統運行於主控電腦中，該主控電腦與待測之電子產品及示波器相互連接。該系統包括括參數設置模組、信號量測模組及信號分析模組。本發明所述之SAS信號完整性分析系統及方法能夠從電子產品之SAS介面獲取SAS信號，利用示波器量測SAS信號完整性參數，並根據量測出的SAS信號完整性參數分析出具有最優信號完整性的SAS信號所對應之參數，從而找出最適合SAS介面的驅動參量值。

Description

SAS信號完整性分析系統及方法

本發明涉及一種信號分析系統及方法，尤其係關於一種SAS信號完整性分析系統及方法。

目前，市面企業所廣泛使用的儲存器介面以串列連接介面（Serial Attached SCSI，SAS介面）為主。為了確保SATA硬碟之SATA-TX信號的信號完整性需要對SATA硬碟的驅動IC的參數進行設置。通常，由於SATA硬碟類別不同需要對SATA-TX信號做調整。現階段都是使用人工去做重覆性的設定及量測，再依據測試結果挑選適合的量測參數，其測試繁瑣並耗時，並且測試結果的準確度不高。

鑒於以上內容，有必要提供一種SAS信號完整性分析系統及方法，能夠自動分析出具有最優信號完整性的SAS信號參數，從而找出最適合SAS介面的驅動參量值。

所述之SAS信號完整性分析系統，該系統運行於主控電腦中，該主控電腦與待測之電子產品及示波器相互連接。該系統包括：參數設置模組，用於設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，及設定SAS信號的強度等級及待測項目次數；信號量測模組，用於藉由電子產品的SAS介面調節SAS信號的強度等級，控制SAS介面產生相應強度等級的SAS信號，及利用示波器量測該SAS信號完整性的待測參數，獲得該SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值，並記錄測試SAS信號的當前測試次數；信號分析模組，用於當測試次數等於待測項目次數時，比較SAS信號的實際測量值分析出具有最優信號完整性的SAS信號，根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作爲SAS介面的驅動參量值並產生SAS信號分析報表。

所述之SAS信號完整性分析方法包括步驟：用於設置一組評價SAS信號完整性的待測參數；設定SAS信號的強度等級及待測項目次數；藉由電子產品的SAS介面調節SAS信號的強度等級；控制SAS介面產生相應強度等級的SAS信號；利用示波器量測該SAS信號完整性的待測參數，獲得該SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值，並記錄測試SAS信號的當前測試次數；當測試次數等於待測項目次數時，比較所有SAS信號的實際測量值分析出具有最優信號完整性的SAS信號；及根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作爲SAS介面的驅動參量值並產生SAS信號分析報表。

相較於習知技術，本發明所述之SAS信號完整性分析系統及方法從電子產品之SAS介面獲取SAS信號，利用示波器量測SAS信號完整性參數，並分析出具有最優信號完整性的SAS信號所對應之參數，從而找出最適合SAS介面的驅動參量值。

如圖1所示，係本發明SAS信號完整性分析系統10較佳實施例之架構圖。於本實施例中，所述之SAS信號完整性分析系統10安裝並運行於主控電腦1中，該主控電腦1藉由COM埠與待測之電子產品2相連接，並藉由通用介面匯流排（General-Purpose Interface Bus，GPIB）與示波器3相連接。示波器3藉由GPIB介面與電子產品2相連接。所述之主控電腦1還包括微處理器（Microprocessor）11及儲存器12。所述之電子產品2是一種包括SAS介面20的主機板或計算裝置，例如個人電腦、伺服器等。

所述之SAS信號完整性分析系統10用於從SAS介面20獲取SAS信號，利用示波器3量測信號完整性參數並分析出具有最優信號完整性的SAS信號所對應之參數，從而找出最適合SAS介面的驅動參量值。所述之信號完整性參數包括，但不僅限於，信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間及下升沿時間等。

於本實施例中，所述之SAS信號完整性分析系統10包括參數設置模組101、信號量測模組102及信號分析模組103。本發明所稱之模組係指一種能夠被主控電腦1之微處理器11所執行並且能夠完成固定功能之一系列電腦程式段，其儲存於主控電腦1之儲存器12中。

所述之參數設置模組101用於設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，例如信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間以及下升沿時間等。該參數設置模組101還用於設定SAS信號的強度等級及待測項目次數（記為X）。於本實施例中，所述之信號強度等級包括信號振幅（Swing）等級、信號上升沿/下升沿（Rise/Fall）等級及信號增強（Emphasis）等級。若每一信號強度等級分別定義為1至5等級，則待測項目次數為X=5×5×5=125次。若每一信號強度等級分別定義為1至7等級，待測項目次數則為X=7×7×7=343次。

所述之信號量測模組102用於藉由電子產品2的SAS介面20調節SAS信號的強度等級，控制SAS介面20產生相應強度等級的SAS信號，並利用示波器3量測該SAS信號完整性的待測參數。若需增強SAS信號強度，信號量測模組102則增強SAS介面20輸出的SAS信號強度，例如從第1等級調節到第2等級；若需減弱SAS信號強度，信號量測模組102則降低SAS介面20輸出的SAS信號強度，例如從第5等級調節到第4等級。

所述之信號量測模組102還用於將SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值記錄在檔案（例如Execl格式的檔案）中，並將該檔案保存至儲存器12中。該信號量測模組102還用於將當前測試SAS信號的測試次數（記為Y）加一，即Y=Y+1，並判斷測試次數Y是否等於待測項目次數X。

所述之信號分析模組103用於當測試次數Y等於待測項目次數X時，比較每一SAS信號的實際測量值分析出具有最優信號完整性的SAS信號，例如，信號分析模組103將信號抖動量最少的SAS信號作爲最優信號完整性的SAS信號。該信號分析模組103還用於根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作爲SAS介面20的驅動參量值並產生SAS信號的分析報表並將該分析報表保存在儲存器12中。

如圖2所示，係本發明SAS信號完整性分析方法較佳實施例之流程圖。於本實施例中，本發明所述之方法能夠從電子產品2的SAS介面20獲取SAS信號，利用示波器3量測信號完整性參數來分析出具有最優信號完整性的SAS信號，從而找出最適合SAS介面的驅動參量值。

步驟S21，測試人員將主控電腦1與待測的電子產品2相連接，並將示波器3與主控電腦1及該電子產品2相連接。於本實施例中，主控電腦1藉由COM埠與電子產品2相連接，並藉由GPIB介面與示波器3相連接，示波器3藉由GPIB介面與電子產品2相連接。

步驟S22，參數設置模組101設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，例如信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間以及下升沿時間等。

步驟S23，參數設置模組101設定SAS信號的信號強度等級及待測項目次數（記為X）。所述之信號強度等級包括信號振幅（Swing）等級、信號上升沿/下升沿（Rise/Fall）等級及信號增強（Emphasis）等級。於本實施例中，若每一信號強度等級分別定義為1至5等級，則待測項目次數為X=5×5×5=125次。若每一信號強度等級分別定義為1至7等級，待測項目次數則為X=7×7×7=343次。

步驟S24，信號量測模組102藉由電子產品2的SAS介面20調節SAS信號的強度等級。於本實施例中，若需增強SAS信號強度，信號量測模組102則增強SAS介面20輸出的SAS信號強度，例如從第1等級調節到第2等級；若需減弱SAS信號強度，信號量測模組102則降低SAS介面20輸出的SAS信號強度，例如從第5等級調節到第4等級。

步驟S25，信號量測模組102控制SAS介面20產生相應強度等級的SAS信號，並利用示波器3量測該SAS信號完整性的待測參數。

步驟S26，信號量測模組102將SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值記錄至檔案中，並將該檔案保存在儲存器12中，同時信號量測模組102將當前測試SAS信號的測試次數（記為Y）加一，即Y=Y+1。

步驟S27，信號量測模組102判斷測試次數Y是否等於待測項目次數X。若測試次數Y小於待測項目次數X，則轉向步驟S24；若測試次數Y等於待測項目次數X，則執行步驟S28。

步驟S28，信號分析模組103比較每一SAS信號的實際測量值分析出具有最優信號完整性的SAS信號。例如，信號分析模組103將信號抖動量最少的SAS信號作爲最優信號完整性的SAS信號。

步驟S29，信號分析模組103根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作爲SAS介面20的驅動參量值並產生SAS信號分析報表，以及將該分析報表保存在儲存器12中。

以上所述僅為本發明之較佳實施例而已，且已達廣泛之使用功效，凡其他未脫離本發明所揭示之精神下所完成之均等變化或修飾，均應包含於下述之申請專利範圍內。

1．．．主控電腦

10．．．SAS信號完整性分析系統

101．．．參數設置模組

102．．．信號量測模組

103．．．信號分析模組

11．．．微處理器

12．．．儲存器

2．．．電子產品

20．．．SAS介面

3．．．示波器

圖1係本發明SAS信號完整性分析系統較佳實施例之架構圖。

圖2係本發明SAS信號完整性分析方法較佳實施例之流程圖。

1．．．主控電腦

10．．．SAS信號完整性分析系統

101．．．參數設置模組

102．．．信號量測模組

103．．．信號分析模組

11．．．微處理器

12．．．儲存器

2．．．電子產品

20．．．SAS介面

3．．．示波器

Claims (10)

1. 一種SAS信號完整性分析系統，該系統運行於主控電腦中，該主控電腦與待測之電子產品及示波器相互連接，該系統包括：
   參數設置模組，用於設置一組評價SAS信號完整性的待測參數，及設定SAS信號的強度等級及待測項目次數；
   信號量測模組，用於藉由電子產品的SAS介面調節SAS信號的強度等級，控制SAS介面產生相應強度等級的SAS信號，及利用示波器量測該SAS信號完整性的待測參數，獲得該SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值，並記錄測試SAS信號的當前測試次數；及
   信號分析模組，用於當測試次數等於待測項目次數時，比較SAS信號的實際測量值，分析出具有最優信號完整性的SAS信號，根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作爲SAS介面的驅動參量值並產生SAS信號分析報表。
2. 如申請專利範圍第1項所述之SAS信號完整性分析系統，其中，所述之主控電腦藉由COM埠與電子產品相連接，及所述之示波器藉由GPIB介面與主控電腦及電子產品相連接。
3. 如申請專利範圍第1項所述之SAS信號完整性分析系統，其中，所述之信號量測模組還用於當測試次數小於待測項目次數時調節SAS信號的強度等級繼續量測SAS信號。
4. 如申請專利範圍第1項所述之SAS信號完整性分析系統，其中，所述之待測參數包括信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間及下升沿時間。
5. 如申請專利範圍第1項所述之SAS信號完整性分析系統，其中，所述之信號強度等級包括信號振幅等級、信號上升沿\下升沿等級及信號增強等級。
6. 一種SAS信號完整性分析方法，該方法應用於主控電腦中，該主控電腦與待測之電子產品及示波器相互連接，該方法包括步驟：
   設置一組評價SAS信號完整性的待測參數；
   設定SAS信號的強度等級及待測項目次數；
   藉由電子產品的SAS介面調節SAS信號的強度等級；
   控制SAS介面產生相應強度等級的SAS信號；
   利用示波器量測該SAS信號完整性的待測參數，獲得該SAS信號的每一待測參數對應之實際測量值，並記錄測試SAS信號的當前測試次數；
   當測試次數等於待測項目次數時，比較所有SAS信號的實際測量值，分析出具有最優信號完整性的SAS信號；及
   根據信號完整性分析結果找出最優SAS信號對應之強度等級，將該強度等級作爲SAS介面的驅動參量值並產生SAS信號分析報表。
7. 如申請專利範圍第6項所述之SAS信號完整性分析方法，其中，所述之主控電腦藉由COM埠與電子產品相連接，示波器藉由GPIB介面與主控電腦及電子產品相連接。
8. 如申請專利範圍第6項所述之SAS信號完整性分析方法，該方法還包括：
   當測試次數小於待測項目次數時，返回調節SAS信號的強度等級之步驟，以便繼續量測SAS信號。
9. 如申請專利範圍第6項所述之SAS信號完整性分析方法，其中，所述之待測參數包括信號平均振幅、抖動量、週期、頻率、上升沿時間及下升沿時間。
10. 如申請專利範圍第6項所述之SAS信號完整性分析方法，其中，所述之信號強度等級包括信號振幅等級、信號上升沿\下升沿等級及信號增強等級。