TW201211864A - Touch point detecting method - Google Patents

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TW201211864A TW99130079A TW99130079A TW201211864A TW 201211864 A TW201211864 A TW 201211864A TW 99130079 A TW99130079 A TW 99130079A TW 99130079 A TW99130079 A TW 99130079A TW 201211864 A TW201211864 A TW 201211864A
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Chun-Lung Hung
Sheng-Yun Zhang
Yu-Min Hsu
Yung-Tse Cheng
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201211864 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明有關於一種觸控偵測技術 用於電容柄控秘之觸控點偵财法。 有關於一種 【先前技術】 於各類消費性電子產品中,觸控面板已被廣泛使用作為輸入裝 置。使用者透過手指或觸控筆㈣置在觸控面板上的點觸、滑動、 書寫等動作,可對_面板上賴示之物件或選單直接下指令及操 作’以提供更方便的人機操作介面。以不誠測技術來區分,觸控 面板可^電容式、電阻式、光學式等。够考第丨圖,第上圖為 說明先則技術之電容式觸控面板則之示意圖。電容式觸控面板刚 包括有感測電容c『c順、電極Xi〜Xn^Yi~Yn,其中感測電容 Ch〜C_與電極UM以及電極Υι〜γΝ之間之耦接關係如第丨圖所 示,故不再贅述。以下將說明在先前技術中,用於電容式觸控面板 100之觸控點偵測方法之工作原理。 在電容式觸控面板1〇〇中,當透過電極Υι〜ΥΝ掃描各列感測電 容時,可透過電極Χρ^Χμ讀取感測電容Cll〜Cmn所產生的感測信號 Sseni_u〜sseni_mn。當透過電極X丨〜χΜ掃描每行感測電容時,可透 過電極Υι〜Υν讀取感測電容Cu〜Cmn所產生的感測信號 SSen2_ii〜ssen2_mn。此外,藉由平均感測電容Cu〜C_於電容式觸控 201211864 面板100尚未被觸碰時所產生的感測信號Ssen丨』〜心溯―_,可產 生-基準值BASE來表示一感測電容於未被觸碰時所產生的感測信 號。如此’於侧觸控點時,可將感測信號Ss腕」丨〜s議廳與基 準值BASE相減’以得柯反映域測錢之變 化之差異信f虎SDIFF1J广S_LMN。舉例而言,第A個感測電容之差 異信號 Sdiffi_a可由下式計算:
Sdiffla = abs(SSENi_A-BASE)...(l); 籲其中abs表不取絕對值,sSEN1_A表示第A個感測電容所產生之感測 信號,BASE表示基準值。同理,依據式(1)將感測信號 SSEN2_u〜Ssenlmn與基準值BASE相減,可得到可反映出感測信號 s麵」丨〜s麵之變化之差異信號s_—u〜s贿2_剛。此時,藉由 價測差異信號Sd·」!〜SDIFFLMN與差異信號s_j ,可 判斷感測電容所產生之感測信號之變化的程度,並據以判斷觸控點 之位置。更明雜說,先前技術之觸控點侧方法將對應於感測電 • 谷CA之差異彳s號SDIFF1A以及SDIFF2_A與一觸控臨界值thT0uch比 較°备差異信號SDIFF1A與SD!FF2_A皆大於觸控臨界值THt〇uch時, 先前技術之觸控點偵測方法判斷感測電容C A為一觸控點。 第2圖與第3圖為說明先前技術之觸控點偵測方法於使用者作 多點觸控時,無法正確地偵測到觸控點之示意圖。第2圖為當使 用者作多點觸控時,對應於感測電容C„〜Cmn之差異信號 • Sdiffi—η〜SDiffi_mn之示意圖。第3圖為當使用者作多點觸控時,對 • 應於感測電谷Cl 1〜CmN之差異信號Sdhjfh丨〜之示意圖,其 201211864 中。又Μ N白為8 ’且觸控臨界值thT0uch為1〇。由第2圖與第3 圖可看出’由於感測電容CD所纽之感測信號Sd·—成⑽ SDIFF2_32(20)皆大於觸控臨界值THt〇uch(1〇),因此先前技術之觸控 點憤測方法可_感測電容觸控點^同理,先前技術之觸 控點偵測方法也可判斷感測電容c36與c38為觸控點。 然而,當感測電容Cu實際上為一觸控點時,若第“亍(或第了 列)感測電容巾有其減測電容同時也為觸控點,職職容^可 能透過電極X】(或Yj)受酬行(或列)感測電容中對應於觸控點之感 測電容的預,喊生不正確的感測健s_』(或s議』),如此 造成先前技術之觸控點偵測方法之誤判。舉例而言,在第2圖中, 感測電容c34實際上為-觸控點。然、而,由於感測電容c34透過電極 X3受到同行感測電容中對應於觸控點的感測電容(C32、與c38) 的干擾,因此感測電谷C:34產生不正確的感測信號s__34,導致差 異信號SDIFF1J4(8)小於觸控臨界值ΤΗτ_⑽。此時,雖然對應於 感測電容c34之差則鐵s_」4(18)大補抛界值 (1〇),然而,先前技術之觸控點偵測方法卻依據差異信號 SDIFFL34(8) ’判斷感測電容C34不是觸控點。換句話說,在電容式觸 控面板中’當個者作多點觸控時,先前技術之觸控點偵測方法可 能無法正確地偵測到觸控點。 【發明内容】 本發明提供-_控_測方法。該觸控關測方法用於一 201211864 電容式觸控面板。該電容式觸控面板具有(MxN)個感測電容、厘個 第一電極與N個第二電極。該(MxN)個感測電容耦接於該M個第一 電極與該N個第二電極。該(ΜχΝ)個感測電容沿著一第一方向排列 成Μ行感測電容’且沿著相異於該第一方向之一第二方向排列成N 列感測電容。該觸控點偵測方法包括透過該N個第二電極掃描該N 列感測電谷’以得到對應於該(ΜχΝ)個感測電容之(ΜχΝ)個第一差 異化號、針對各行感測電容,相加對應於同行感測電容中之複數個 φ 感測電谷之第一差異信號,以產生對應於該Μ行感測電容之μ個 行負載信號、透過該Μ個第一電極掃描該μ行感測電容,以得到 對應於該(ΜχΝ)個感測電容之(ΜχΝ)個第二差異信號、針對各列感 測電谷,相加對應於同列感測電容中之複數個感測電容之第二差異 信號,以產生對應於該Ν列感測電容之Ν個列負載信號,以及依據 該Μ個行負載信號、該Ν個列負載信號、該(ΜχΝ)個第一差異信號、 5亥(ΜχΝ)個第一差異彳§號與一觸控臨界值,產生一觸控點偵測結 果。Μ、Ν皆為正整數。 【實施方式】 請參考第4圖。第4圖為說明本發明之觸控點偵測方法4〇〇 之示意圖。觸控點偵測方法400用於電容式觸控面板5〇〇(如第5 圖所示)。電容式觸控面板500包括有感測電容(^〜(:細、電極Χι〜Χμ 與Υρ·Ύν、控制電路510、驅動電路520、感測電路530,以及切換 電路540。感測電容q〜Cmn沿著X方向(水平方向)排列成Μ行感 測電容,且沿著Υ方向(垂直方向)排列成Ν列感測電容。每個感測 201211864 電容C!!〜C_皆包括一第一端與一第二端。如第5圖所示,感測電 容^^之第一端耦接至電極X】,感測電容之第二端耦接至電極 Yj。依此類推可得其他感測電容、電極Xi〜Xm以及電極Υι〜ΥΝ之間 之耦接關係。驅動電路520用來提供驅動信號,以透過電極Υι〜γΝ (或Xr^XM)掃描感測電容Cu〜Cmn。感測電路530用來透過電極 X!〜XM (或Υ!〜ΥΝ)接收感測電容Cl!〜Cmn所產生之感測信號 SsENl—丨丨〜SSEN1_MN(或SSEN2_j丨〜SSEN2__)。控制電路51〇用來控制切換 電路540,以調整驅動電路520、感測電路530,以及電極 與Yi〜Yn之間的耦接關係。更明確地說,當控制電路51〇控制切換 電路540將驅動電路52〇耦接至電極Xi〜Xm時,控制電路51〇控制 切換電路540將感測電路530耦接至電極Yi〜Yn ;反之,當控制電 路510控制切換電路54〇將驅動電路52〇耦接至電極Υι〜Υν時,控 制電路510控制切換電路54〇將感測電路53〇耦接至電極Χι~χΜ。 以下將說明本發明之觸控點偵測方法400之步驟: 步驟410 :驅動電路52〇透過電極Υι〜Υν掃描Ν列感測電容,以得 到對應於感測電容Cn〜Cmn之差異信號 ^DIFF1_h~SdifF1_MN > 步驟420 :針對各行感測電容,相加對應於同行感測電容中之複數 個感測電容之差異信號SDIFF1_U〜SD丨,以產生對應於 M行感測電容之行負載信號CUVCLDm ; 步驟430 .驅動電路52〇透過電極Xi〜Xm掃描M行感測電容,以得 到對應於感測電容Cn〜Cmn之差異信號 ^DIFF2_11~SdiFF2_MN > 201211864 步驟440 .針對各列感測電容,相加對應於同列感測電容中之複數 個感測電容之差異信號SDIFF2j丨〜sD1FF2JvrN,以產生對應於 N列感測電容之列負載信號;以及 步驟450:依據行負載信號CLDi〜CLDm、列負載信號犯^〜虹以、 差異彳〇 5虎 SsENl_ll〜SsENl_MN 與 SseN2_11 〜SsEN2_MN 與一觸控 臨界值THtouch,產生一觸控點偵測結果RT。 在步驟410中’控制電路510控制切換電路540將驅動電路520 耦接至電極Y!〜YN,且控制切換電路54〇將感測電路53〇耦接至電 極X^Xm。此時,控制電路51〇控制驅動電路52〇透過電極 掃描Ν列感測電容。舉例而言,驅動電路52〇輸入驅動信號至電極 Υ! ’以驅動第一列感測電容Cn〜CM1,如此感測電路530可透過電 極Χ^Χμ接收第一列感測電容Ci 1〜Cmi所產生之感測信號 SsENUcSsENLMi。接著’驅動電路52〇輸入驅動信號至電極γ2,如 此感測電路530可透過電極Χ】〜ΧΜ接收第二列感測電容Ci2〜cM2之 感測彳§號Ssen1_j2〜SSEN1_M2。依此類推,驅動電路520可依序透過其 餘電極Y3〜YN ’掃描第三列感測電容至第N列感測電容。如此一來, 感測電路530可得到對應於感測電容Cii〜Cmn之感測信號 Sseni_ii〜SSENLMN ’並傳送給控制電路51〇。控制電路51〇可先藉由 平均感測電容Cn〜Cmn於電容式觸控面板500未被觸碰時所產生的 感測信號SSEN1_j丨〜SSEN1__,以產生一基準值BASEl來表示一感測 電容於未被觸碰時所產生的感測信號。因此,控制電路51〇可根據 式(1) ’將步驟410中所得到的感測信號Sseni_u〜Ssenlmn與基準值 201211864 BASEi相減,以得到可反映出感測信號8_』〜^_之變化之 差異彳S唬SDIFF1—丨丨〜sDIFF1__。控制電路51〇可更進一步地將差異信 號s_丨』〜SDIFFLMN與一雜訊臨界值丁取·作比較,以判斷差異 L5虎疋否為%境的背景雜訊。當差異信號§圓—A小於雜訊臨界值 THN0丨犯時,控制電路51〇判斷差異信號SD[FFij為環境的背景雜 訊。此時,控制電路510可選擇重置差異信號SDIFF1-』預定值 PRE,(舉例而言,PREi為零)。舉例而言,假設原本控制電路 所叶算出之差異信號如第2圖所示,且設定雜訊 臨界值THN0ISE等於5、預定值PREi等於〇,控制電路51〇將差異 信號sDIFF1_u〜s_LMN與雜訊臨界值ΤΗν_作比較後,可得到如 第6圖所示之經重置之差異信號s_』〜s_—_。 在步驟420中’控制電路51〇針對各行感測電容,相加對應於 同行感測電容中之複數個感測電容之差異信號s_u 一晴⑽, 以產生對麟Μ行制電容之行貞餘號CLDi〜CLDm。舉例而 。,饭设行負載仏號為該行感測電容之所有的感測電容所產生之差 異诚之總和。如此,相於第—行感測電容之行貞載信號CLr^ 等於(SD肝丨-U+SDIFFi一丨in);對應於第二行感測電容之行 負載信號cld2等於(s_j1+SDlFFij2+. +s_jN);依此類推, 對應於第Μ行感測電容之行負載信號CLDm等於 (3〇肿丨_>11+3〇1肥^2+...+81)肿丨識)。以第6圖所示之差異信號
SmFF1—丨丨〜SD丨FFi__為例,依據步驟42〇可得對應於M行感測電容之 行負載信號 CLD^CLDm 等於[〇,〇,67,〇,〇,〇,〇,〇]。 201211864 在步驟430中’控制電路51〇控制切換電路54〇將驅動電路52〇 辆接至電極X!〜XM ’且控制切換電路54〇將感測電路53〇耦接至電 極Y!〜YN。此時’控制電路51〇控制驅動電路520透過電極Xi〜Xm 掃4田Μ行感測電容。舉例而言,驅動電路52〇輸入驅動信號至電極 Χι,以驅動第一行感測電容Cn〜c〗N,如此感測電路530可透過電 極γ「γΝ接收第一行感測電容Cu〜Cin所產生之感測信號 ❿ Ssen2_u〜SSEN2_1N。接著,驅動電路52〇輸入驅動信號至電極&,如 此感測電路530可透過電極Υι〜Υν接收第二行感測電容c2i〜C2n之 感測#號SSEN2j丨〜SSEN2jN。依此類推,驅動電路52〇可依序透過電 極X3〜xM,掃描第三行感測電容至第M行感測電容。如此一來,感 測電路530可得到對應於感測電容Cu〜Cmn之感測信號 SsEW—丨1〜SSEN2_MN,並傳送給控制電路51〇。同理,控制電路51〇可 先藉由平均感測電容Cu〜Cmn於電容式觸控面板5〇〇未被觸碰時所 φ 產生的感測k號SseN2_U〜SSEN2_MN,以產生一基準值BASE2來表示 一感測電谷於未被觸碰時所產生的感測信號。因此,控制電路51〇 可根據式⑴’將步驟430中所得到的感測信號SsEN2—u〜SsEN2—娜與 基準值base2相減,以得到可反映出感測信號s麵』〜s麵⑽之 隻化之差異托號SDlm_u〜sDIFF2—围。然而,為了減少運算量,控制 電路510也可選擇不計算基準值BASE2,而是選擇直接將感測信號 SsEnr^N2—MN與步驟410中所說明之基準值BASEi相減,以得 . 到差異彳5號u〜。此外,控制電路51〇可更進一步地 - 將差異信號Sdiff2-1丨〜Sdiff2_mn與雜訊臨界值THN0ISE作比較,以判 11 201211864 斷差異信蚊否树境的背景雜訊。#差異錢8_^小於雜訊 臨界值thnoise時’控制電路51〇判斷差異信號8麵—』環境的背 景雜訊。此時’控制電路51〇可選擇重置差異信號s圆^為預定 值PRE2(舉例而言’馳2為零)。舉例而言,假設原本控制電路51 〇 所叶算出之差異域〜S_—_如第3騎示,且設定雜訊 臨界值THN0ISE等於5、預定值酸2等於〇。此時控制電路51〇將 差異h唬SDIFF2_u〜sDIFF2—㈣與雜訊臨界值THn〇观作比較後,可得 到如第7圖所示之經重置之差異信號〇 在步驟440中,控制電路51〇針對各列感測電容,相加對應於 同列感測電容中之複數個感測電容之差異信號s_一"〜s___, 以產生對狀N職測電容之列貞健號。舉例而言, 假设列負雜號為該瓶測電容之所有感測電容所產生之差異信號 之總和。如此,對應於第一列感測電容之列負載信號虹^^等於 (Sdiff2_ii+SDiff2_2i+_"+SDIFF2_m丨);對應於第二列感測電容之列負載 信號rld2等於(sDIFF2_12+s_j2+.· +s_j2);依此類推,對應 於第N列感測電容之列負載信號j^Dn等於 。以第7圖所示之差異信號
SmFFuu〜SDIFF1_MN為例,依據步驟44〇可得對應於N列感測電容之 列負載信號 RUVRLDn 等於[〇,2〇,〇18,〇 22,〇,16]。 在步驟450中,控制電路51〇可依序將每個行負載信號 CLD^CLDm ’與每個列負載信號rld^rlDn作比較,以偵測感測 12 201211864 電容Cu〜C_中的觸控點。以偵測第I行感測電容Cll〜CiN中的觸控 點作為舉例說明,控制電路510將行負載信號CLD!與列負載信號 RLD^RLDn作比較。當列負載信號rld^RLDn中有一列負載信號 虹巧大於行負載信號CLDl時’表示於第了列感測電容上可能比第 Ϊ行感測電容上具有更多的觸控點。此時,相較於從電極&掃描感 測電谷Cij所得到之感測信號SSEN2j】’透過電極Yj掃描感測電容Qj 所得到之感測信號SSEN1U較不容易受到其他的觸控點的干擾。換句 • 話說,相較於差異信號SDIFF2_„,差異信號sDIFFLIiI較不受到其他的 觸控點的干擾。因此’控制電路510依據較不受干擾的差異信號 Sdiffijj[與觸控臨界值THt〇uch,判斷感測電容Cu是否為一觸控點。 當差異信號SDIFF1U大於觸控臨界值THtouch時,控制電路51 〇即判 斷感測電容(^為觸控點,並記錄至一觸控點偵測結果灯。反之, 當行負載信號CLDA於列負載信號RLDj時,表示於第工行感測電 容上可能比第J列感測電容上具有更多的觸控點。此時,相較於從 φ 電極Y〗掃描感測電容Cu所得到之感測信號SSEN1Jj,透過電極Xl 掃描感測電容Cu所得到之感測信號sSEN2J]較不受到其他的觸控點 的干擾。換句活說’與差異信號sDIFF丨相較’差異信號sDlFF2 u車交 不受到其他的觸控點的干擾。因此,控制電路510依據較不受干擾 的差異信號SDIFF2_u與觸控臨界值Thtouch,判斷感測電容是否 為觸控點。^差異彳§ 7虎Sdiff2_li大於觸控臨界值THtouch時,控制 電路510即判斷感測電容(:1;為觸控點,並記錄至觸控點偵測結果 - RT。此外’當行負载信號<:11)1等於列負載信號1〇^時,控制電路 …510叮任意地選擇差異彳&號sDIFF1」j4sDiFF2_ijr其中之一,與觸控臨 13 201211864 界值thT0uch作比較,以判斷感測電容&是否為一觸控點。 為了更清楚的說明觸控點偵測方法4〇〇之步驟45〇,以下以 第6圖之行負載信號CLDi〜CLDm與第7圖之列負載信號 RIA〜rldn作舉例說明,行負載信號CLD3(67)大於列負載信號 RLD/0)因此表不於第二行感測電容上比第一列感測電容上具有更 多^觸控點。如此’控制電路51〇依據感測信號3_」1(〇)與觸控 臨界值(10) ’判斷感測電容C31不為觸控點。行負載信號⑽购 大於列負載信號rld2(20),因此表示於第三行感測電容上比第二列_ 感測電今上具有更多的觸控點。如此,控制電路510依據感測信號 S__32(20)與觸控臨界值THt〇uch〇〇),判斷感測電容G為觸控 點:行負載信號〇Α(67)大於列負載信號㈣携,因此表示於第 二灯感測電容上比第三列感測電容上具有更多的觸控點。如此,控 制電路510依據感測信號Sd·—“ο)與觸控臨界值顶το職(1〇),判 斷感測電容c33不為觸控黑卜行負載信號叫(67)大於列負載 腳4⑽,因此絲於第三行容姐細列❹彳電容上具有· 衫的觸控點。如此,控制電路51〇铺感測信號s_」獨與觸 控臨界值ΤΗτο職(10),判斷感測電容&為觸控點。依此類推,控 制電路510依據感測信號s_」〆22)、s_於⑽與觸控臨界值 mrouCH(10) ’可判斷感測電容&與&也為觸控點。由上述說明 可知’相較魏前技術’即使對應於感測電容G的差異信號 SDim_34(8)因受其他觸控點的干擾而小於觸控臨界值 (10) ’本發明之馳點侧方法仍可依錄衫干制差異賴 · 14 201211864
Sdiff2_j4(18) ’正確地判斷感測電容c34為一觸控點。 此外,在前述之步驟450中,控制電路510將每個行負載信 號CLD〗〜CLDM ’與每個列負載信號rlD^RLD]^^比較,以偵測感 測電容Cu〜Cmn中的觸控點。然而,為了減少運算量,控制電路510 可選擇只比較大於觸控臨界值THtouch的行負載信號CLD^CLDm 與大於觸控臨界值THtouch的列負載信號RLD^RLDn。以第6圖 修之行負載信號CUVCLDm與第7圖之列負載信號RLD广RLDN為 例’在行負載信號CLIVCLDm與列負載信號RLD^RLDn中,僅 有行負載信號CLD3(67)與列負載信號RLD2(20)、RLD4(18)、RLD6(22) 及RLDS(16)大於觸控臨界值THt〇uch(1〇)。因此控制電路51〇只比 杈行負載4§號(:1^3(67)與列負載信號rld2(20)、RLD4(18)、RLD6(22) 及RLD8(16)。如此,可減少控制電路51〇所需的運算資源。
另外’一般而言’當指示物(如使用者之一手指)接觸電容式觸控 面板5〇〇時,指示物所接觸之面積大於電容式觸控面板5〇〇之一感 測電容所感測之面積。因此單—指示物可能會對應到多個觸控點。 舉例而言’請參考第8圖與第9圖。第8圖與第9圖為當指示物Tl、 Τ2^τ3接觸電容式觸控面板時,對應於感測電容Cl!〜c應之差 異L號s__u SDIFF1MN與s_—_肿2—_之示意圖。由第8圖與 第9圖可看出’當指示物Τι接觸電容_控面板時,本發明之 難點偵測方法斷感測電容Cn、&、^與&為觸控點; ,物T2接觸電容式難面板·時,本㈣之觸细貞測方法 15 201211864 400判斷感測電容C43、C44、c„與C54為觸控點;當指示物τ3接觸 電容式觸控面板500時,本發明之觸控點偵測方法4〇〇判斷感測電 容Cm、C68、Cm與Ο;8為觸控點。換句話說,當一指示物接觸電容 式觸控面板500時,本發明之觸控點偵測方法4〇〇偵測出多個對應 於該指示物的觸控點,並且記錄至觸控點偵測結果灯。因此,為了 更正確地定位指示物丁广丁3所接觸的位置,本發明另提供一觸控點 偵測方法1000(如第10圖所示),可根據對應於指示物的多個觸控 點,計算出指示物所接觸的位置。相較於觸控點偵測方法4〇〇,觸 控點偵測方法1000還包括下列步驟: 擊 步驟1060 :當觸控點偵測結果灯指示感測電容Ca係為—觸控點 時,判斷鄰近感測電容CA之至少一感測電容是否亦為 觸控點;以及 步驟1070 :當該至少一感測電容亦為觸控點時,依據感測電容 之位置、對應於感測電容CA之差異信號SDIFF1 A與 Sdiff2_a、該至少一感測電容之位置以及對應於該至少一 感測電容之差異信號,計算一加權觸控座標。 鲁 在步驟1060中,以指示物乃所對應的觸控點作舉例說明。由 於觸控點偵測結果RT指示感測電容Cu為一觸控點,因此控制電路 51〇根據觸控點偵測結果rt,判斷鄰近於感測電容Cu之感測電容 ci2' CZ1、c22是否也為觸控點。此時,由於感測電容c12、c21、c22 也為觸控點,因此在步驟1070中,控制電路510根據感測電容Cu、 ci2、c21、c22之位置,並以差異信號 sD[FF1J1、sDIFF1J2、s〇im 2ι、 16 201211864
SdIFF1_22 與 SDIFF2_11、SdifF2 !2、SdifF2_21、SdifF2_22 作為加權比例,計 算一加權觸控座標LOCwl,以表示指示物Ti所接觸之位置。舉例而 5,在差異虎 SdiFF1_11、Sdiff1_12、SdifF1_21、Sdiffi 22之中,差異信 號SdifFIJ2之值最大’且差異信號SdifF1_11之值最小;在差異信號 SDIFF2_11、SD1FF2J2、SDIFF221、SDIFF2_22 之中,差異信號 Sdiff2 】2 之值 最大’且差異信號之值最小;因此表示指示物丁丨對感測電 容ciz所產生的感測信號影響較大,且指示物Τι對感測電容所 Φ 產生的感測#號影響較小。換句話說,指示物T!較靠近感測電容 Cl2之位置,且較遠離感測電容cu之位置。因此,控制電路於 δ十算加權觸控座標L0CW1時,設定給感測電容c12之位置較高的加 權比例,且設定給感測電容Cu之位置較低的加權比例。如此,控 制電路510所計算出之加權觸控座標L〇Cwi可更正確地表示指示物 Τι所接觸之位置。 綜上所述,本發明所提供之觸控點偵測方法,藉由掃描每列 感測電容與每行感測電容,得到對應於各感測電容之第一差異 信號與第二差異信號。接著,本發明之觸控點偵測方法累計同行 感測電容之第一差異信號’以產生對應於各行感測電容之行負 載h號’且累計同列感測電容之第二差異信號,以產生對應於 各列感測電容之列負載信號。如此,本發明之觸控點偵測方法可 比較對應於一感測電容的行負載信號與列負載信號,並依據比 較結果以選擇對應於該感測電容的第一差異信號或是第二差異 h號作為判斷觸控點之依據。更明確地說,本發明之觸控點偵 17 201211864 測方法依據行負載信號與列負載信號之比較結果,可選擇較不 又干擾的差異信號作為判斷依據。因此,相較於先前技術,本發明 之觸控點侧方法可制更正確簡控點侧結果。此外,當—指 示物對應於多個敏科,本發贿提供之觸控點制方法可依曰 據多個觸控點所對應的感測電容之位置,以及其所對應的差異伸號 作為加權_ ’計算出加_控座標,以更正確地表示指示物· 觸之位置。 以上所述僅為本發明之較佳實_,凡依本發明申請專利範圍 所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。 【圖式簡單說明】 第1圖為說明先前技術之電容式觸控面板之示意圖。 第2圖與第3圖為說明先前技術之驗點侧方法於彳㈣者作多點 觸控時,無法正確地偵測到觸控點之示意圖。 第4圖為朗本發明之觸控點侧方法之—實施例之示意圖。 第5圖為朗本發明之驗_測方法所應狀電容式觸控面板之 不意圖。 第6圖與第7圖為說明經重置之差異信號之示意圖。 第8圖與第9圖為當指示物接觸電容式觸控面板時,對應於感測電 容之差異信號之示意圖。 第1〇圖為說明本發明之觸控點偵測方法之另—實施例之示意圖。 18 201211864 【主要元件符號說明】 1 ' 2 端點 100 、 500 電容式觸控面板 400 方法 410〜450 、 1060〜1070 步驟 510 控制電路 520 驅動電路 530 感測電路 540 切換電路 Cii〜Cmn 感測電容 X广XM、Y广YN 電極 Sdiffi_ii〜Sdiffi_mn、 差異信號 Sd1FF2_1 1 〜SdIFF2_MN Τι 〜τ3 指示物
19

Claims (1)

  1. 201211864 七、申請專利範圍: 1. 一種觸控點偵測方法,用於一電容式觸控面板,該電容式觸 控面板具有(MxN)個感測電容、Μ個第一電極與N個第二電 極,該(MxN)個感測電容耦接於該Μ個第一電極與該Ν個第 二電極,該(MxN)個感測電容沿著一第一方向排列成Μ行感測 電容,且沿著相異於該第一方向之一第二方向排列成Ν列感測 電容,該觸控點偵測方法包括: 透過該Ν個第二電極掃描該Ν列感測電容,以得到對應於該 (ΜΧΝ)個感測電容之(MxN)個第一差異信號; 針對各行感測電容,相加對應於同行感測電容中之複數個感測 電容之第一差異信號,以產生對應於該M行感測電容之 Μ個行負載信號; 透過該Μ個第-電極掃描該%行感測電容,以得到對應於該 (ΜχΝ)個感測電容之(ΜχΝ)個第二差異信號; 針對各列感測電容’相加對應於同列感測電容中之複數個感測 電容之第二差異錢’以產生對應_Ν观測電容之 Ν個列負載信號;以及 依據㈣個行負載信號、該Ν個列負載信號、該(顺)個第 一差異信號、該(ΜχΝ)個第二差異信號與—觸控臨界值, 產生一觸控點偵測結果; 其中Μ、Ν皆為正整數。 20 201211864 4 2. 如請求項1所述之觸控點偵測方法’其中透過該n個第二電 極掃描該N列感測電容,以得到對應於該(ΜχΝ)個感測電容之 該(ΜχΝ)個第一差異信號包括: 透過該Ν個第二電極掃描該Ν列感測電容,以從該Μ個第一 電極接收(ΜχΝ)個第一感測信號;以及 根據該(ΜχΝ)個第一感測信號與一基準值,產生該(ΜχΝ)個第 一差異信號。 3. 如請求項2所述之觸控點偵測方法,其中根據該(ΜχΝ)個第 一感測信號與該基準值,產生該(ΜχΝ)個第一差異信號包括: 以下式計算該(ΜχΝ)個第一差異信號中之一第Α個第一差異 信號: SDiFFi_A = abs(SSEN1_A-BASE); 其中abs表示取絕對值,8_以表示該第a個第一差異 信號’ Ssenla表示該(MxN)個第一感測信號之一第a • 個第一感測信號,BASE表示該基準值。 4. 如請求項3所述之觸控點偵測方法,其中根據該(MxN)個第 一感測信號與該基準值,產生該(MxN)個第一差異信號還包 括: 當該第A個第一差異信號小於一雜訊臨界值時,重置該第a 個第一差異信號為一預定值。 21 201211864 5. 6· 7. 如β求項2所述之觸控點偵測方法,其中透過該M個第一電 極掃描該Μ行感測電容’以得到對應於該(MxN)個感測電容之 該(MxN)個第二差異信號包括: 透過該M個第一電極掃描該Μ行感測電容,以從該N個第二 電極接收(MxN)個第二感測信號;以及 根據該(MxN)個第二感測信號與該基準值,產生該(ΜχΝ)個第 二差異信號。 如請求項5所述之觸控點偵測方法,其中根據該(ΜχΝ)個第 二感測信號與該基準值,產生該(MxN)個第二差異信號包括: 以下式計算該(ΜχΝ)個第二差異信號中之一第a個第二差異 信號: ' Sdiff2_a —abs(SsEN2_A—BASE); 其中abs表示取絕對值’ sDIFF2_A表示該(MxN)個第二差異 信號中之該第A個第二差異信號,Ssen2_a表示該' (ΜχΝ)個第二感測信號之一第a個第二感測作號 BASE表示該基準值。 如請求項ό所述之觸控點偵測方法,其中根據該彳乂乂以)個第 二感測信號與該基準值,產生該(MxN)個第二差異信就還勺 括: 當該第Α個第二差異信號小於一雜訊臨界值時,重置該第 個第^一差異^號為一預定值。 22 201211864 8· 如請求項1所述之觸控點偵測方法,其中針對各行感測電 容’相加對應於同行感測電容中之複數個感測電容之第一差異 信號’以產生對應於該Μ行感測電容之該μ個行負載信號包 括: 相加對應於該Μ行感測電容之一第I行感測電容中之複數個感 測電谷之第一差異彳吕號,以產生對應於該第I行感測電容 之一第I個行負載信號; 其中ISM。 9. 如請求項8所述之觸控點偵測方法,其中針對各列感測電容, 相加對應於同列感測電容中之各個感測電容之第二差異信號, 以產生對應於該Ν列感測電容之ν個列負載信號包括: 相加對應於該Ν列感測電容之-第j列感測電容中之各個 電容之第二差異信號,以產生對應於該第;列感測電 一第J個列負載信號; 其中JSN。 10. 如請求項1所述之觸控點侧方法,其中依據該Μ個行 信號、該Ν侧貞餘號、雜ΧΝ)㈣—差異㈣、該⑽= 個第一差異彳§號與關控臨界值,產生該觸控點彳貞測結 括: 將該Μ個行負載信號之每個行㈣信號,與該Ν個列負栽信 23 201211864 ~ t^每個列負載信號作比較; Λ個,負載信號之一第I個行負載信號小於該N個列負 載L就之1】個列貞載信號時’依據該觸控臨界值以及 六/(ΜΧΝ)個第一差異信號中,對應於該(ΜΧΝ)個感測電 ,之第(lxJ)個感測電容之一第(IxJ)個第一差異信號,判 斷Klxj)個感測電容是否為一觸控點,並記錄至該觸控 點偵測結果;以及 田個行貞載錢之該第1個行貞載錢大於或科該N _負載信號之該第J個列負載信號時,依據該觸控臨界馨 值乂及在5亥(MxN)個第二差異信號中,對應於該第㈣ 個感測電容之一第㈣個第二差異信號,判斷該第㈣ 個感測電容是私―觸控點,並記錄至簡控點偵測处 果; 、° 其中ISM,且。 …月Μ 10所述之觸控點偵測方法,其中當該以個行負載· 乜叙。亥第ί個行負載信號小於該ν個列負載信號之該第了個 列負載信號時,依據該觸控臨界值以及在該(Μχ_第一差異 _中’對應於該(ΜχΝ)個感測電容之該第㈣個感測電容之 δ亥第(W)個第—差異錢,顯該第㈣_測電容是否為一 觸控點,並記錄至該觸控點偵測結果包括·· …亥第(IXJ)個第一差異信號大於該觸控臨界值時,判斷該第 ㈣個感測電容係為一觸控點,並記錄至該觸控點偵測結· 24 201211864 φ 果。 12·如請求項10所述之觸控點偵測方法,其中當該Μ個行負載 仏號之该第I個行負載信號大於或等於該Ν個列負載信號之該 第J個列負載佗號時,依據該觸控臨界值以及在該(ΜΧΝ)個第 一差異佗號中,對應於該(ΜχΝ)個感測電容之該第(Ixj)個感測 電容之-第(W)個第二差異信號’判斷該第㈣)個感測電容是 Φ 否為一觸控點,並記錄至該觸控點偵測結果包括: 當该第(IxJ)個第二差異信號大於該觸控臨界值時,判斷該第 J)個感測電容係為一觸控點,並記錄至該觸控點偵測結 果。 13.如δ月求項1所述之觸控點偵測方法,其中依據該m個行負載 信號、該N個列負載信號、該(厘><冲個第一差異信號、該(ΜχΝ) 個第二差異信賴該雛臨界值,產生該觸控點侧結果包 • 括: 當該Μ個行負載信號之一第!個行負載信號與該Ν個列負載 #旒之一第J個列負載信號皆大於該觸控臨界值時,比較 該第I個行負載信號與該第J個列負載信號; 當該第I個行負載信號小於該第;個列負載信號時,依據賴 控臨界值以及在該(ΜΧΝ)個第一差異信號中,對應於該 ; (ΜχΝ)個感測電容之一第(Ιχ J)個感測電容之一第(Ix j)個 • 第一差異信號,判斷該第(Ιχ*0個感測電容是否為一觸控 25 201211864 點,並記錄至該觸控點偵測結果;以及 當該第1刪亍負載信號大於或等於該第】個列負載信號時,依 據該觸控臨界值以及在該(MxN)個第二差異信 於該第_咖電容之—砂獅二差異信號. 梅,感測電容是否為一觸控點,並記錄至該觸控點 侦測結果; 其中ISM,且j$N。 14.如請求項所述之觸控點偵測方法,其中當該第j個行負載 信號小於該第;個列負載信號時,依據該觸控臨界值以及在該 (ΜχΝ)個第-差異域中,對應於該(ΜχΝ)個制電容之該第 (^)個感測電容之該第㈣個第—差異信號,判斷該第㈣個 感測電谷是否為一觸控點,並記錄至該觸控點侦測結果包括 (第1圖之步驟132): 田4第(I :)個第—差異信號大於該觸控臨界值時,判斷該第 (I J)個感測電谷係為—觸控點,並記錄至該觸控點偵測結 果。 15. =求項U所述之觸控點_方法,其中當該第I個行負載 =大於鱗於· ,依據賴控臨界值以 Ν)個第—差異信號中,對應於該’ν)個感測電容 1 Κ )個感測電谷之—第(lxj)個第二差異信號,判斷該第 ㈣個感測電容是否為i觸控點,並記錄至該觸控點侦測結 26 201211864 果包括: 當該第(ixJ)個第二差異信號大於該觸控臨界值時,判斷該第 (lxJ)個感測電容係為一該觸控點,並記錄至該觸控點偵測 結果。 16·如請求項1所述之觸控點偵測方法,還包括: 當5亥觸控點彳貞測結果指示該(ΜχΝ)個感測電容之一第A個感 φ 測電容係為一觸控點時,判斷鄰近該第A個感測電容之 至少一感測電容是否亦為觸控點;以及 當該至少一感測電容亦為觸控點時,依據該第A個感測電容之 位置、對應於該第A個感測電容之第一差異信號與第二 差異信號、該至少一感測電容之位置以及對應於該至少一 感測電容之第一差異信號與第二差異信號,計算一加權觸 控座標。 • 17 如請求項1所述之觸控點偵測方法,其中該(MxN)個感測電 容之每個感測電容皆包括一第一端與一第二端,該(MxN)個感 測電容之一第(lx J)個感測電容之第一端耦接至該M個第一電 極之一第I個第一電極,該(MxN)個感測電容之該第(Ιχ乃個感 測電谷之第二端輕接至該Ν個第二電極之一第j個第二電極。 八、圖式: 27
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