TH94340A - Equipment and methods for the manufacture of semiconductor grade silicon - Google Patents

Equipment and methods for the manufacture of semiconductor grade silicon

Info

Publication number
TH94340A
TH94340A TH701003078A TH0701003078A TH94340A TH 94340 A TH94340 A TH 94340A TH 701003078 A TH701003078 A TH 701003078A TH 0701003078 A TH0701003078 A TH 0701003078A TH 94340 A TH94340 A TH 94340A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
silicon
hot
melting
silicon ingots
materials
Prior art date
Application number
TH701003078A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH94340B (en
Inventor
จูลส์รัด นายสไตน์
ลอเรนซ์ นาส นายทีค
Original Assignee
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
นายบุญมา เตชะวณิช
Filing date
Publication date
Application filed by นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์, นายบุญมา เตชะวณิช filed Critical นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Publication of TH94340A publication Critical patent/TH94340A/en
Publication of TH94340B publication Critical patent/TH94340B/en

Links

Abstract

DC60 (14/09/50) การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับอุปกรณ์และวิธีการสำหรับการผลิตอินกอตของซิลิกอนชั้น คุณภาพสารกึ่งตัวนำซึ่งรวมถึงซิลิกอนชั้นคุณภาพโซลาร์ ซึ่งสภาพการมีออกซิเจนในบริเวณร้อน ได้รับการลดลงอย่างเป็นสำคัญหรือได้รับการกำจัดโดยการใช้วัสดุที่พร่องออกไซด์ในบริเวณร้อน ของการหลอมเหลวและกระบวนการตกผลึก วิธีการนี้อาจได้รับการใช้สำหรับกระบวนการที่รู้จัก ใดๆ ซึ่งรวมถึงการตกผลึกอินกอตซิลิกอนชั้นคุณภาพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งรวมถึงอินกอตซิลิกอนชั้น คุณภาพโซลาร์ ดังเช่น กระบวนการ Bridgman, กระบวนการเทหล่อบล็อก และกระบวนการ CZ สำหรับการเติบโตของผลึกซิลิกอนผลึกเดี่ยว การประดิษฐ์นี้ยังเกี่ยวข้องกับอุปกรณ์สำหรับการ ดำเนินกระบวนการหลอมเหลวและตกผลึกซึ่งวัสดุของบริเวณร้อนนี้พร่องออกไซด์ การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับอุปกรณ์และวิธีการสำหรับการผลิตอินกอตของซิลิกอนชั้น คุณภาพสารกึ่งตัวนำซึ่งรวมถึงซิลิกอนชั้นคุณภาพโซลาร์ ซึ่งสภาพการมีออกซิเจนในบริเวณร้อน ได้รับการลดลงอย่างเป็นสำคัญหรือได้รับการกำจัดโดยการใช้วัสดุที่พร่องออกไซด์ในบริเวณร้อน ของการหลอมเหลวและกระบวนการตกผลึก วิธีการนี้อาจได้รับการใช้สำหรับกระบวนการที่รู้จัก ใดๆ ซึ่งรวมถึงการตกผลึกอินกอตซิลิกอนชั้นคุณภาพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งรวมถึงอินกอตซิลิกอนชั้น คุณภาพโซลาร์ ดังเช่น กระบวนการ Bridgman, กระบวนการเทหล่อบล็อก และกระบวนการ CZ สำหรับการเติบโตของผลึกซิลิกอนผลึกเดี่ยว การประดิษฐ์นี้ยังเกี่ยวข้องกับอุปกรณ์สำหรับการ ดำเนินกระบวนการหลอมเหลวและตกผลึซึ่งวัสดุของบริเวณร้อนนี้พร่องออกไซด์ DC60 (14/09/50) This invention involves a device and a method for the production of layered silicon ingots. Semiconductor qualities including silicon, solar quality Which condition of having oxygen in hot areas Has been significantly reduced or removed by using hot-area oxide depletion materials. Of melting and crystallization processes This method may be used for any known processes which include crystallizing semiconductor grade silicon ingots. This includes solar quality class silicon ingots such as the Bridgman process, the block pouring process and the CZ process for the growth of a single crystal silicon. This invention also involves devices for The melting and crystallization process is performed in which the materials of this hot region deplete oxide. This invention relates to a device and a method for the production of layered silicon ingots. Semiconductor qualities including silicon, solar quality Which condition of having oxygen in hot areas Has been significantly reduced or removed by using hot-area oxide depletion materials. Of melting and crystallization processes This method may be used for any known processes which include crystallizing semiconductor grade silicon ingots. This includes solar quality class silicon ingots such as the Bridgman process, the block pouring process and the CZ process for the growth of a single crystal silicon. This invention also involves devices for The melting and depleting process is performed in which the materials of this hot region deplete oxide.

Claims (1)

1. วิธีการสำหรับการผลิตอินกอตซิลิกอนชั้นคุณภาพสารกึ่งตัวนำซึ่งสภาพการมีออกซิเจนใน บริเวณร้อนจะได้รับการกำจัดหรือลดลงอย่างเป็นสำคัญโดย - การตกผลึกอินกอตซิลิกอนชั้นคุณภาพสารกึ่งตัวนำ ซึ่งอย่างเป็นทางเลือกนั้นรวมถึง การหลอมเหลววัสดุป้อนชนิดซิลิกอน ในเบ้าหลอมที่ทำขึ้นจากซิลิกอนไนไทรด์, ซิลิกอนคาร์ไบด์ หรือวัสดุประกอบของชนิดดังกล่าว - การบรรจุเบ้าหลอมในบริเวณร้อนที่มีการปิดผนึกด้วยบรรยากาศเฉื่อยในระหว่าง การตกผลึกของอินกอต ซึ่งอย่างเป็นทางเลือกยังรวมถึงการหลอมเหลวของวัสดแท็ก :1.Method for producing semiconductor grade silicon ingot in which the presence of oxygen in Hot areas are eliminated or significantly reduced by - crystallization of semiconductor-grade silicon ingots. Which is an option that includes Melting silicon feed materials In a crucible made of silicon nitride, silicon carbide. Or composite material of such type. - Crucible filling in hot areas with inert atmosphere sealing during Crystallization of Ingot Optionally, it also includes material tag fusion:
TH701003078A 2007-06-21 Equipment and methods for the manufacture of semiconductor grade silicon TH94340B (en)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH94340A true TH94340A (en) 2009-03-13
TH94340B TH94340B (en) 2009-03-13

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101565185B (en) Method of manufacturing polycrystalline silicon rod
SG182899A1 (en) Method for producing a silicon ingot
JP2011042560A (en) Method and equipment for producing sapphire single crystal
WO2008095111A3 (en) Method and system for forming a higher purity semiconductor ingot using low purity semiconductor feedstock
TW201131031A (en) Apparatus and method for continuous casting of monocrystalline silicon ribbon
CN103789835A (en) Improved gradient freeze GaAs single crystal growing method
WO2009140406A3 (en) Crystal growth apparatus for solar cell manufacturing
TW201226640A (en) Method for producing silicon single crystal ingot
TW201130156A (en) Sapphire single crystal for producing sapphire single crystal substrate for LED, sapphire single crystal substrate for LED, light-eliciting element, and method for preparing the same
JP5794955B2 (en) Method for manufacturing substrate with β-Ga2O3 single crystal film
JP5741163B2 (en) Quartz glass crucible, method for producing the same, and method for producing silicon single crystal
CN108431306A (en) Silicon single crystal manufacturing method and silicon wafer production equipment
TH94340A (en) Equipment and methods for the manufacture of semiconductor grade silicon
JP6387797B2 (en) Manufacturing method of silicon crystal for silicon parts
JP4957619B2 (en) Method for producing oxide single crystal
TH94340B (en) Equipment and methods for the manufacture of semiconductor grade silicon
JP5685894B2 (en) Quartz glass crucible, method for producing the same, and method for producing silicon single crystal
JP6390568B2 (en) Crucible for growing gallium oxide single crystal and method for producing gallium oxide single crystal
JP6102687B2 (en) Method for producing complex oxide single crystal
JP4292300B2 (en) Method for producing semiconductor bulk crystal
JP7078933B2 (en) Seed crystal for growing single crystal of iron gallium alloy
US20070111489A1 (en) Methods of producing a semiconductor body and of producing a semiconductor device
JP4923253B2 (en) Method for producing Si bulk polycrystal
JP2004269335A (en) Production method for single crystal
TWI793167B (en) Gallium Arsenide Compound Semiconductor Crystal and Wafer Group