TH18255B - วิธีการและตัวจับใช้ทดสอบแผงวงจรพิมพ์ - Google Patents

วิธีการและตัวจับใช้ทดสอบแผงวงจรพิมพ์

Info

Publication number
TH18255B
TH18255B TH9401002469A TH9401002469A TH18255B TH 18255 B TH18255 B TH 18255B TH 9401002469 A TH9401002469 A TH 9401002469A TH 9401002469 A TH9401002469 A TH 9401002469A TH 18255 B TH18255 B TH 18255B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
printed circuit
test
methods
circuit boards
circuit board
Prior art date
Application number
TH9401002469A
Other languages
English (en)
Other versions
TH6249C3 (th
TH18255A3 (th
Inventor
นาย เรย์มอนด์ จอห์น แคกกิโน นายเรย์มอนด์ จอห์น แคกกิโน
Original Assignee
อินเตอร์เนชั่นแนล บิสซิเนสส์ แมสชีนส์ คอร์ปอเรชั่น อินเตอร์เนชั่นแนล บิสซิเนสส์ แมสซินส์ คอร์ปอเรชั่น
Filing date
Publication date
Application filed by อินเตอร์เนชั่นแนล บิสซิเนสส์ แมสชีนส์ คอร์ปอเรชั่น อินเตอร์เนชั่นแนล บิสซิเนสส์ แมสซินส์ คอร์ปอเรชั่น filed Critical อินเตอร์เนชั่นแนล บิสซิเนสส์ แมสชีนส์ คอร์ปอเรชั่น อินเตอร์เนชั่นแนล บิสซิเนสส์ แมสซินส์ คอร์ปอเรชั่น
Publication of TH18255B publication Critical patent/TH18255B/th
Publication of TH18255A3 publication Critical patent/TH18255A3/th
Publication of TH6249C3 publication Critical patent/TH6249C3/th

Links

Abstract

ส่วนที่เปิดเผยในการประดิษฐ์นี้ ได้แก่ ระบบทดสอบแบบวงจรพิมพ์และเมื่อกล่าว โดยเฉพาะแล้ว ได้แก่ ระบบทดสอบที่มีเครื่องตรวจที่กำหนดตำแหน่งแผงวงจรพิมพ์ ไว้เหนือตัว ทดสอบและหมุดของหัวตรวจทดสอบแบบหมุนได้รอบตัว ยื่นทะลุตัวนำทางแบบหมุดของหัวตรวจทด สอบหลายชั้น และที่มีเปิดเผยเช่นกัน ได้แก่ วิธีการของการทดสอบแผงวงจรพิมพ์ที่ใช้ระบบ ทดสอบนี้

Claims (1)

1. ตัวทดสอบใช้ทำการทดสอบจุดเชื่อมต่อของแผงวงจรพิมพ์ โดยแผงวงจร พิมพ์ดังกล่าว มีจุดเทียบตำแหน่งจำนวนมาก ตัวทดสอบดังกล่าวประกอบด้วย a) ตัวจับ b) แผ่นหัวตรวจแบบหมุดที่มีหัวตรวจแบบหมุนหนึ่ง เพื่อการสัมผัสทาง ไฟฟ้าบนแผงวงจรพิมพ์ที่กำลังทดสอบ &nb
TH9401002469A 1994-11-14 ซอทุ้ม TH6249C3 (th)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH18255B true TH18255B (th) 1996-04-19
TH18255A3 TH18255A3 (th) 1996-04-19
TH6249C3 TH6249C3 (th) 1996-10-30

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MY115162A (en) Printed circuit board test fixture and method
DE59007516D1 (de) Prüfvorrichtung zum prüfen von elektrischen oder elektronischen prüflingen.
TW359751B (en) Dual-laser voltage probing of IC's
DE69004830D1 (de) Anordnung zum Ermitteln eines Ruhestroms einer integrierten monolithischen digitalen Schaltung, integrierte monolithische digitale Schaltung mit einer derartigen Anordnung und Prüfgerät mit einer derartigen Anordnung.
EP0840130A3 (en) Standard- and limited-access hybrid test fixture
ATE265050T1 (de) Vorrichtung zum testen von leiterplatten
DE3065137D1 (en) Electrical test probe for use in testing circuits on printed circuit boards and the like
ATE253731T1 (de) Prüfstift für eine vorrichtung zum testen von leiterplatten
ATE224061T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum prüfen von gedruckten leiterplatten
ATE45427T1 (de) Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet.
HK58894A (en) Probe for an adapter for a device for testing printed circuit boards
SE9602564D0 (sv) Kretskortstest
ATE108909T1 (de) Testgerät für integrierte schaltkreise.
RU2212775C2 (ru) Установка для электрической проверки печатных схем с регулируемым положением зондирующих игл
ATE34621T1 (de) Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet.
TH18255B (th) วิธีการและตัวจับใช้ทดสอบแผงวงจรพิมพ์
JPS5666768A (en) Tool for in-circuit tester
NZ306552A (en) Testing printed circuit boards by passing them between opposed boards bearing test probes
ES2136030A1 (es) Sistema para comprobar articulos en una cadena de montaje de aparatos electrodomesticos.
ATE285078T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur prüfung von unbestückten gedruckten schaltungen
TH18255A3 (th) วิธีการและตัวจับใช้ทดสอบแผงวงจรพิมพ์
JPH0697254B2 (ja) 回路基板検査方法
ATE40603T1 (de) Leiterplattenpruefgeraet mit einem kontaktpunktraster erhoehter kontaktpunktdichte.
IT1257407B (it) Dispositivo adattatore particolarmente per macchine di analisi e controllo di circuiti stampati in genere
FI914733A (fi) Test metod och test apparat