SU972349A1 - Способ радиоактивационного анализа состава вещества - Google Patents

Способ радиоактивационного анализа состава вещества Download PDF

Info

Publication number
SU972349A1
SU972349A1 SU813263337A SU3263337A SU972349A1 SU 972349 A1 SU972349 A1 SU 972349A1 SU 813263337 A SU813263337 A SU 813263337A SU 3263337 A SU3263337 A SU 3263337A SU 972349 A1 SU972349 A1 SU 972349A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
detector
standard
effective center
activity
Prior art date
Application number
SU813263337A
Other languages
English (en)
Inventor
Дак Банг Во
Original Assignee
Объединенный Институт Ядерных Исследований
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Объединенный Институт Ядерных Исследований filed Critical Объединенный Институт Ядерных Исследований
Priority to SU813263337A priority Critical patent/SU972349A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU972349A1 publication Critical patent/SU972349A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

Изобретение относится к анализу элементного состава вещества, конкретнее к радиоактивационным методам исследования, и может быть использовано для определения содержания элементов больших навесок проб, применяемых, например, : при массовом активационном анализе с помощью малоинтенсивных источников радиации.
Известен способ анализа состава ве- , щества, включающий облучение вещества потоком ионизирующего излучения и регистрацию вторичного излучения, возникающего при облучении вещества И·
Недостаток способа — низкая чувствительность и точность измерения.
Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ радиоактивационного анализа состава вещества, включающий облучение пробы исследуемого вещества и эталона в виде нанесенного на поглощающую подложку тонкого слоя определяемого элемента по током радиации, измерение активности пробы и эталона в области спектра, соответствующей излучению определяемого элемента, сравнение полученных значений активностей пробы и эталона £2] . Недостаток способа состоит в низкой точности анализа, что обусловлено разными условиями активации вещества и ослабления излучения в исследуемой пробе и эталоне.
Цель изобретения - повышение точности анализа.
Поставленная цель достигается тем, что согласно способу радиоактивационного 15 анализа состава вещества, включающему облучение пробы исследуемого вещества и эталона в виде нанесенного на непоглощающую подложку тонкого слоя определяемого элемента потоком радиации, иэмере20 ние активности пробы и эталона в области спектра, соответствующей излучению определяемого элемента, сравнение полученных значений активностей пробы и этало-.
на, предварительно измеряют активность эталона на разных расстояниях от детектора с последующим определением эффективного центра детектора, дополнительно измеряют суммарную активность пробы 5 исследуемого вещества и эталона при рас-, положении эталона между пробой и детектором и при расположении пробы между эталоном и детектором, а по результатам всех измерений с учетом найденного зна- .10 чения эффективного центра детектора судят о содержании определяемого элемента в пробе.
На фиг. 1 изображена схема определения эффективного центра детектора ; на 15 фиг. 2 - схемы размещения пробы й эталона относительно детектора в процессе измерения.
Способ реализуется устройством, содержащим эталон 1 в виде нанесенного 20 на непоглощающую подложку тонкого слоя определяемого элемента, детектор 2 с эффективным центром 3, относительно которого при измерениях активности детектор можно считать точечным, пробу 4 с 25 исследуемым веществом.
Способ осуществляется следующим образом.
Предварительно определяют эффективный центр детектора. С этой целью рас- зо полагают· активированный эталон на разных расстояниях от детектора 2 и аппроксимируют методом наименьших квадратов измеренную зависимость счета от расстояния функцией 3S ей
Где г - радиус круглого эталона;
^0 - расстояние от поверхности детектора до его эффективного центра.
Соответствующее расстояние для пробы 4 радиусом R. находят аналогично. . Затем пробу 4 активируют вместе с эта- V лоном 1 в одном и том же поле радиации при одинаковом режиме облучения и выдержки. Последующие измерения проводят в три этапа : проба с подложенным под ним эталоном, проба с положенным 50 йа него эталоном и проба без эталона. Соответственно измеренные активности обозначают через К|4 , Мв. Такая процедура измерений позволяет иметь идентичность формы спектров пробы и 55 эталона, т. е. учесть влияние побочных излучений матрицы на анализируемый пик и корректировать результат на эффект поглощения к рассеяния излучения матрицей образца. Эту корректировку осуществляют следующим образом : находят ^11 - линейный коэффициент ослабления γ -квантов данной энергии в веществе пробы в виде цилиндра высотой Н по уравнению ец-^не)-Е4)еп£Л
X gU где E:(X)*J( ~)3ύ- интегрально-показателъ1 -co ная функция, а постоянную g находят из калибровочного измерения с веществом с известным значением /4.
Определяют значение интеграла хVih+p)*1 * ι где = цилиндрические координаты цилиндра, форму которого имеет проба 4;
Xq- расстояние от поверхности детектора до его эффективного центра, определенного в предварительном опыте ;
И - высота цилиндра;
- вес нанесенного на подложку элемента эталона, мкг.
Вычисляют содержание искомого эле· мента по формуле
Kfr/T) MNo V } ' Μ(Λ-ΝΟ) V'G^K.p, μ, R ) ' где Μ - вес пробы, г.
Значение функции Q^( К ,γ , ) рассчитывают с нужной точностью для всех параметров К и f , представляющих практический интерес.
Способ проверяется непосредственно в конкретном случае определения содержания золота в пробах руд с помощью активации резонансными нейтронами на микротроне. Мелкоизмельченную породу упаковывают в полиэтиленовые кассеты размерами 70Ί0 мм. В качестве эталонов применяют диски из фильтровальной бумаги, пропитанные раствором золота, которые помещают вместе с кассетами в кадмированный канал графитового замедлителя и облучают фотонейтронами от микротрона в течение 10 ч. По истечении 110 ч после окончания облучения производят измерения энергетического спектра 198 Аи . полученного· по реакции 197 Αϋ( 198 Аи с помощью бе (Li) S детектора и анализатора ЬР - 4900. Содержание золота рассчитывают исходя из площади фотопика 411,8 кэВ. Результаты сравнения метода внутреннего стандарта и методики по предлагаемому способу в случае малого Д показывают, что существует хорошая корреляция между методами внутреннего стандарта и предлагаемым способом, коэффициент парной корреляции равен 0,9967, коэффициент линейной регрессии отличается от 1 не более, чем на 2%, свободный член в уравнении регрессии близок к нулю и равен 0,0014. При больших /(получено также хорошее совпадение. Так, например, в че- 20 тырех анализируемых образцах содержания золота, определенные по методу внутреннего стандарта и по предлагаемой методике, составляют соответственно 1,8 г/т и 1,8 г/т, 1,8 и 1,6 г/т, 1,4 и 1,4 г/т, 25
4,4 и 4,3 г/т. При этом значение /I , зависящего от различного состава матрицы, изменилось в широких пределах (0,1 0,4) см'’'1.
Предлагаемый способ дает возможность^ иметь для каждого элемента удобный эталон, пригодный для всех проб независимо от их матриц. Причем он может быть использован многократно, и следовательно, отпадает необходимость в трудоемкой 35 процедуре приготовления внутренних стандартов, повышая экспрессность анализа.

Claims (3)

  1. на, предварительно измер ют активность эталона на разных рассто ни х от детектора с последующим определением эффективного центра детектора, дополнительно измер ют суммарную активность пробы исследуемого вещества и эталона при рас положении эталона между пробой и детектором и при расположении пробы между эталоном и детектором, а по результатам всех измерений с учетом найденного значени  эффективного нентра детектора суд т о содержании определ емого элемента в пробе. На фиг. 1 изображена схема определени  эффективного центра детектора ; на фиг, 2 - схемы размещейи  пробы и эта лона относительно детектора в процессе измерени . Способ реализуетс  устройством, содержащим эталон 1 в виде нанесенного на непоглощающую подложку тонкого сло  определ емого элемента, детектор 2 с эффективным центром 3, относительно которого при измерени х активности детектор можно считать точечным, пробу 4с исследуемым веществом. Способ осуществл етс  следующим образом . Предварительно определ ют эффективный центр детектора. С этой целью располагают- активированный эталон на разных рассто ни х от детектора 2 и аппроксими1 уют методом наименьщих квадратов измеренную зависимость счета от рассто  ни  функцией . Где Y - радиус круглого эталона; У| - рассто ние от поверхности детектора до его эффективного центра. Соответствующее рассто ние пробы 4 радиусом R. наход т аналогично. Затем пробу 4 активируют вместе с эта- лоном 1 в одном и том же поле радиахши при одинаковом режиме облучени  и выдержки. Последующие измерени  провод т в три этапа : проба с подложенным под ним эталоном, проба с положенным йа него эталоном и проба без эталона. Соответственно измеренные активности обозначают через К1 , ., Ы. Така  процедура измерений позвол ет иметь идентичность формы спектров пробы и эталона, т. е. учесть вли ние побочных излучений матрицы на анализируемый пик и корректировать результат на эффект поглощени  и рассе ни  излучени  матрицей образца. Эту корректировку осуществ-. л ют следующим образом : наход т - линейный коэффициент ослаблени  -квантов данной энергии в веществе пробы в виде цилиндра высотой Н по уравнению ())4:(/.; . X gu где E-(X)-J( -у-)ди-интегрально-показател1 на  функци , а посто нную g наход т из калибровочного измерени  с веществом с известным значением /. Определ ют значение интеграла .flli лУ() ) где K-H|R,.tt-Z|R,p Xo/R,p,lцилинлрические координаты цилиндра, форму которого имеет проба 4; ) С0- рассто ние от поверхности детектора до его эффективного центра, определенного в предварительном опыте ; Н - высота цилиндра; YY - вес нанесенного на подложку элемента эталона, мкг. Вычисл ют содержание искомого элемента по формуле Y)No tweviflr vs;/Vo Х(Т1)- MCNi-No),CK.P, ЛЛ; где fA - вес пробы, г. Значение функции G( К . f . ДК ) рассчитьтают с нужной ах-чностью дл  всех параметров К и , представл ющих практический интерес. Способ провер етс  непосредственно в конкретном случае определени  содержани  золота в пробах руд с помощью активации резонансными нейтронами на микротроне . Мелкоизмельченную породу упаковьтают в полиэтиленовые кассеты размерами мм. В качестве эталонов примен ют диски из фильтровальной бумаги , пропитанные раствором золота, которые помещают вместе с кассетами в кадмированный канал графитового замедлител  и облучают фотонейтронами от микротрона в течение 10 ч. По истечении 110 ч после окончани  облучени  производ т измерени  энергетического спектра 198 Аи полученного- по реакшш 197 Ао( и,) 198 Аи с помошью(;|еС1«ч детектора и анализатора ЬР 49ОО. Содержание золота рассчитывают исход  из площади фотопика 411,8 кэВ. Резут таты сравнени  метода внутреннего стандарта и методики по предлагаемому способу в случае малого /4 показьшают, что существует хороша  коррел ци  между ме тодами внутреннего стандарта и предлагаемым способом, коэффициент парной кор рел ции равен 0,9967, коэффициент линейной регрессии отличаетс  от 1 не более , чем на 2%, свободный член в уравнении регрессии близок к нулю и равен 0,0014. При больших получено также хорошее совпадение. Так, например, в четырех анализируемых образцах содержани  золота, определенные по методу внутренне го стандарта и по предлагаемой методике составл ют соответственно 1,8 г/т и 1,8 г/т, 1,8 и 1,6 г/т, 1,4 и 1,4 г/т, 4,4 и 4,3 г/т. При этом значение /О , завис щего от различного состава матрицы, изменилось в широких пределах (0,1 0 ,4) см Предлагаемый способ дает возможност iBvteTb дл  каждого элемента удобный эталон , пригодный дл  всех проб независимо от их матриц. Причем он может быть использован многократно, и следовательно, отпадает необходимость в трудоемкой процедуре приготовлени  внутренних стандартов , повьпиа  экспрессность анализа. Формула изобретени  Способ радиоактивационного анализа состава вещества, включающий облучение пробы исследуемого вещества и эталона в виде нанесенного на непоглощающую подложку тонкого сло  определ емого элемента потоком радиации, измерение активности пробы и эталона в области спектра, соответствующей излучению определ емого элемента, сравнение полученных значений активностей пробы и эталона , отличающийс  тем, что, с целью повьпиени  точности анализа, предварительно измер ют активность эталона на разных рассто ни х от детектора с последующим определением эффективного центра детектора, дополнительно измер ют суммарную активность пробы исследуемого вещества и эталона при расположении эталона между пробой и детектором и при расположении пробы между эталоном и детектором, а по результатам всех измерений с учетом найденного значени  эффективного центра детектора суд т о содержании определ емого элемента в пробе . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Патент США № 3417243, кл. 25О-83.3, опублик. 1968.
  2. 2. VesiermarV Т.Рдпетаи
  3. 3. Ргос .Dud U-N.Couf OV1 peaceiue uses o atomic ev erg -Genewa,1958 ,v.28,i959,p. 606 СпротоTwn )v
    / sN
    ±,
    , 2
    щш-
    U2.
SU813263337A 1981-03-24 1981-03-24 Способ радиоактивационного анализа состава вещества SU972349A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813263337A SU972349A1 (ru) 1981-03-24 1981-03-24 Способ радиоактивационного анализа состава вещества

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813263337A SU972349A1 (ru) 1981-03-24 1981-03-24 Способ радиоактивационного анализа состава вещества

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU972349A1 true SU972349A1 (ru) 1982-11-07

Family

ID=20948757

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813263337A SU972349A1 (ru) 1981-03-24 1981-03-24 Способ радиоактивационного анализа состава вещества

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU972349A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Fairchild et al. Microanalytical techniques for boron analysis using the 10B (n, α) 7Li reaction
CA1127865A (en) Method and device for analysis with color identification test paper
NZ207628A (en) Gamma radiation scatter detection: plural detectors 'see' at different depths
CA2093015A1 (en) A method of calibrating a spectrometer using correlation between calibration sample spectra and measured spectra
US7539282B2 (en) XRF analyzer
Mosier A method for semiquantitative spectrographic analysis of plant ash for use in biogeochemical and environmental studies
Beerstecher Micromethod for Estimation of Potassium by Paper Chromatography
SU972349A1 (ru) Способ радиоактивационного анализа состава вещества
SU1417802A3 (ru) Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определ емого элемента
US2817764A (en) Beta ray hydrogen density indicator
Duncumb Correction procedures in electron probe microanalysis of bulk samples
Biran et al. Mössbauer spectroscopy of 119mSn employing a solid state detector
Wood et al. A rapid system of cane leaf analysis using X-ray spectrometry and infra-red reflectance
SU1065748A1 (ru) Способ рентгенофлуоресцентного определени содержани элемента
McLachlan et al. Determination of sulphur in plant material by X‐ray emission spectrometry
JPS55146040A (en) Measuring method of concentration
Xin-Pei et al. Trace element fingerprinting of emeralds by PIXE/PIGE
Miller Drug and tobacco detection using neutron transmission/attenuation
Paradellis Determination of trace elements in whole blood by photon-induced X-ray fluorescence
Macias et al. Carbon analysis of atmospheric aerosols using GRALE and reflectance analysis
SU534124A1 (ru) Способ активационного анализа
SU1441282A1 (ru) Способ рентгенорадиометрического определени концентрации элемента в веществе
Walter et al. Standard techniques for measuring window absorption and other efficiency losses in semiconductor X-ray energy spectrometers
Singer et al. Quality control of the latex-fixation test
Brech Comparison of Optical Emission and Atomic Absorption Methods for the Analyses of Plant Tissues