SU894547A1 - Устройство дл модул ционного электромагнитного контрол - Google Patents
Устройство дл модул ционного электромагнитного контрол Download PDFInfo
- Publication number
- SU894547A1 SU894547A1 SU802891530A SU2891530A SU894547A1 SU 894547 A1 SU894547 A1 SU 894547A1 SU 802891530 A SU802891530 A SU 802891530A SU 2891530 A SU2891530 A SU 2891530A SU 894547 A1 SU894547 A1 SU 894547A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- control
- eddy current
- current transducer
- circuit
- frequency
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
t
Изобретение относитс к неразрушающему контролю и может быть использовано дл модул ционного электромагнитного контрол электропровод щих объектов.
Известно устройство дл модул ционного электромагнитного контрол , содержащее генератор, источник магнитного пол , соединенный с генератором , последовательно разме«цен ше измерительные катушки индуктивности, подключенные через коммутатор к блоку обработки сигнала, соединенному своим выходом с коммутатором 1) .
Недостаток известного устройства заключаетс в недостаточной надеж ности контрол , что св зано с дискретным изменением чувствительности контрол при переключении измерительных катушек индуктивности.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности вл етс устройство дл модул ционного электромаг .нитного контрол , содержащее последевательно соединенные генератор качающейс частоты, вихретоковый преобразователь , блок обработки сигналов и индикатор {2}.
Однако и это устройство не обладает необходимой надежностью контрол , что св зано с возможностью сканировани только в высокочастотном диапазоне рабочих частот.
Цель изобретени - повышение наto де)ннос т и кон т рол .
Поставленна цель достигаетс благодар тому, что вихретоковый преобразователь выполнен из последовательно размещенных колебательных контуров
its с монотонно измен ющейс от контура к контуру резонансной частотой.
На чертеже представлена структурна схема предложенного устройства.
Устройство состоит из последовательно соединенных генератора 1 качающейс частоты, вихретокового преобразовател 2, состо щего из последовательно размещенных колебательных
контуров 3 с монотонно измен ющейс от контура к контуру резонансной час тотой, блока k обработки сигнала и индикатора 5.
Устройство работает следующим образом .
При питании вихретокового преобразовател 2 с распределенными в про странстве колебательными контурами 2 от генератора 1 качающейс частоты образуетс электромагнитное поле, причем напр женность его максимальна под тем из колебательных контуров 3, собственна частота которого соответ ствует частоте питающего тока. При изменении частоты напр женность пол будет больше уже под другим контуром , настроенным на измененную час тоТу. Таким образом, при непрерывном изменении частоты питающего тока и образуетс сканирующее электромагнит нре поле, так как колебательные контуры распределены в пространстве и настроены на разные частоты. Результаты взаимодействи сканирующего элeкtpoмaгнитнoгo пол с объектом контрол обрабатываютс блоком Л обработки сигнала, и регистрируютс индикатором 5. Настройку колебательных контуров на разные частоты можно осуществить , например, путем подключени к катушкам индуктивности разных по величине емкостей.
Возможность создани сканирующего электромагнитного пол в заданных
направлени х при неподвижных чувствительных элементах и низких частотах питани вихретокового преобразовател позвол ет получить наиболее достоверную информацию о структуре дефектов и свойствах контролируемого объекта и тем самым управл ть качеством выпускаемой продукции, что, в свою очередь, приводит к значительному экономическому эффекту.
Claims (2)
- Формула изобретениУстройство дл модул ционного электромагнитного контрол , содержащее последовательно соединенные генератор качающейс частоты, вихретоковый преобразователь, блок обработки сигналов и индикатор, отличающеес тем, что, с целью повышени надежности контрол , вихретоковый преобразователь выполнен из последовательно размещенных колебательных контуров с монотонно измен ййцейс от контура к контуру резонансной частотой.Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе1 . -Патент США ff 3875502, кл. G 01 R 33/12, 1975.
- 2. Авторское свидетельство СССР № ЗбОбОЗ, кл. G 01 N 27/86, 1972 (прототип).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802891530A SU894547A1 (ru) | 1980-03-06 | 1980-03-06 | Устройство дл модул ционного электромагнитного контрол |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802891530A SU894547A1 (ru) | 1980-03-06 | 1980-03-06 | Устройство дл модул ционного электромагнитного контрол |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU894547A1 true SU894547A1 (ru) | 1981-12-30 |
Family
ID=20881630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802891530A SU894547A1 (ru) | 1980-03-06 | 1980-03-06 | Устройство дл модул ционного электромагнитного контрол |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU894547A1 (ru) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5015951A (en) * | 1987-10-02 | 1991-05-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for measuring permeability and conductivity in materials using multiple wavenumber magnetic interrogations |
US5453689A (en) * | 1991-12-06 | 1995-09-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Magnetometer having periodic winding structure and material property estimator |
US5793206A (en) * | 1995-08-25 | 1998-08-11 | Jentek Sensors, Inc. | Meandering winding test circuit |
US6144206A (en) * | 1997-01-06 | 2000-11-07 | Jentek Sensors, Inc. | Magnetometer with waveform shaping |
USRE36986E (en) * | 1987-10-02 | 2000-12-12 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for measuring permeability and conductivity in materials using multiple wavenumber magnetic interrogations |
US6188218B1 (en) | 1997-10-29 | 2001-02-13 | Jentek Sensors, Inc. | Absolute property measurement with air calibration |
US6377039B1 (en) | 1997-11-14 | 2002-04-23 | Jentek Sensors, Incorporated | Method for characterizing coating and substrates |
US6420867B1 (en) | 1997-03-13 | 2002-07-16 | Jentek Sensors, Inc. | Method of detecting widespread fatigue and cracks in a metal structure |
US6486673B1 (en) | 1997-01-06 | 2002-11-26 | Jentek Sensors, Inc. | Segmented field dielectrometer |
US6781387B2 (en) | 1997-01-06 | 2004-08-24 | Jentek Sensors, Inc. | Inspection method using penetrant and dielectrometer |
-
1980
- 1980-03-06 SU SU802891530A patent/SU894547A1/ru active
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE36986E (en) * | 1987-10-02 | 2000-12-12 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for measuring permeability and conductivity in materials using multiple wavenumber magnetic interrogations |
US5015951A (en) * | 1987-10-02 | 1991-05-14 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for measuring permeability and conductivity in materials using multiple wavenumber magnetic interrogations |
US5453689A (en) * | 1991-12-06 | 1995-09-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Magnetometer having periodic winding structure and material property estimator |
US5629621A (en) * | 1991-12-06 | 1997-05-13 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometers |
US6433542B2 (en) | 1991-12-06 | 2002-08-13 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and method for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometers |
US6252398B1 (en) | 1991-12-06 | 2001-06-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometers |
US5990677A (en) * | 1991-12-06 | 1999-11-23 | Massachusetts Institute Of Technology | Apparatus and methods for obtaining increased sensitivity, selectivity and dynamic range in property measurement using magnetometer |
US6198279B1 (en) | 1995-08-25 | 2001-03-06 | Jentek Sensors, Inc. | Test material analysis using offset scanning meandering windings |
US5966011A (en) * | 1995-08-25 | 1999-10-12 | Jentek Sensors, Inc. | Apparatus for measuring bulk materials and surface conditions for flat and curved parts |
US6351120B2 (en) | 1995-08-25 | 2002-02-26 | Jentek Sensors, Inc. | Test circuit on flexible membrane with adhesive |
US5793206A (en) * | 1995-08-25 | 1998-08-11 | Jentek Sensors, Inc. | Meandering winding test circuit |
US6144206A (en) * | 1997-01-06 | 2000-11-07 | Jentek Sensors, Inc. | Magnetometer with waveform shaping |
US6486673B1 (en) | 1997-01-06 | 2002-11-26 | Jentek Sensors, Inc. | Segmented field dielectrometer |
US6781387B2 (en) | 1997-01-06 | 2004-08-24 | Jentek Sensors, Inc. | Inspection method using penetrant and dielectrometer |
US6420867B1 (en) | 1997-03-13 | 2002-07-16 | Jentek Sensors, Inc. | Method of detecting widespread fatigue and cracks in a metal structure |
US6188218B1 (en) | 1997-10-29 | 2001-02-13 | Jentek Sensors, Inc. | Absolute property measurement with air calibration |
USRE39206E1 (en) * | 1997-10-29 | 2006-07-25 | Jentek Sensors, Inc. | Absolute property measurement with air calibration |
US6377039B1 (en) | 1997-11-14 | 2002-04-23 | Jentek Sensors, Incorporated | Method for characterizing coating and substrates |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU894547A1 (ru) | Устройство дл модул ционного электромагнитного контрол | |
KR940007527A (ko) | 컴퓨터화된 자기공명분석기 | |
ATE79993T1 (de) | Integrierter mikrowellen-hohlraumresonator und magnetische abschirmung fuer einen atomfrequenzstandard. | |
US2596531A (en) | Vibration measuring device | |
JPS60135753A (ja) | 非接触水分検知装置 | |
KR840006076A (ko) | Rf 전력계 | |
SU1188630A1 (ru) | Способ бесконтактного многопараметрового контрол изделий из электропровод щих материалов | |
SU1527568A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол объектов | |
RU2122727C1 (ru) | Вихретоковый дефектоскоп | |
SU1666124A1 (ru) | Устройство дл облучени биологических объектов электрическим и магнитным пол ми | |
SU324476A1 (ru) | Устройство для многопараметрового контроля токопроводных изделий | |
SU894545A1 (ru) | Электромагнитный структуроскоп | |
SU561158A2 (ru) | Устройство дл измерени магнитных полей | |
SU357515A1 (ru) | Токовихревой дефектоскоп | |
SU1002949A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол прот женных электропровод щих изделий | |
SU1130791A1 (ru) | Устройство дл дефектоскопии сплошности электропровод щих материалов | |
SU932386A1 (ru) | Способ электромагнитной модул ционной дефектоскопии | |
SU1499215A2 (ru) | Способ контрол физико-механических параметров изделий из ферромагнитных материалов | |
SU934354A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол ферромагнитных материалов | |
SU1027590A1 (ru) | Устройство дл неразрушающего контрол прот женных электропроводных объектов | |
SU761948A1 (ru) | Устройство поиска мест утечек тока в последовательно-параллельных соединениях полупроводниковых фотопреобразователей 1 | |
SU938129A1 (ru) | Устройство дл контрол прот женных объектов | |
SU1493967A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности электрического пол | |
SU1062593A1 (ru) | Способ электромагнитного контрол ферромагнитных объектов | |
SU613268A1 (ru) | Устройство дл разбраковки варикапов по добротности |