SU883726A1 - Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam - Google Patents
Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam Download PDFInfo
- Publication number
- SU883726A1 SU883726A1 SU802890452A SU2890452A SU883726A1 SU 883726 A1 SU883726 A1 SU 883726A1 SU 802890452 A SU802890452 A SU 802890452A SU 2890452 A SU2890452 A SU 2890452A SU 883726 A1 SU883726 A1 SU 883726A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirror
- ray
- ray beam
- detector
- synchrotron
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Изобретение относитс к области рентгеноструктурного анализа и предназначено дл рентгендифракционных исследований с применением источников синхротронного рентгеновского из лучени . Известны установки дл рентгендифракционных исследований объектов с. помощью синхротронного рентгеновского излучени , содержащие монохроматор , зеркало полного внешнего отраже ни , систему диафрагмировани отраже ного монохроматором и зеркалом рентгеновского пучка, держатель образца и детектор рентгеновского излучени 11 . Наиболее близким техническим решением вл етс установка дл рентге новского дифракционного исследовани объектов с помощью синхронного рентг новского излучени , содержаща расположенные по ходу пучка монохроматор , зеркало полного внешнего отраже -ни , платформу дл размещени зеркала полного внешнего отражени , котора установлена на опорной плите с помощью трех независимо регулируемых по высоте опор, средства диафрагмировани рентгеновкого пучка, держатель образца и детектор излучени . Использованный в известной-установке способ установки зеркала полного внешнего отражени в пучке ретгеновского излучени заключаетс в предварительной настройке по дополнительному источнику оптического излучени видимого диапазона, в пучок которогб ввод т зеркало полного внешнего отражени , затем на зеркало направл ют пучок синхротронного рентгеновского излучени , измер ют интенсивность отраженного рентгеновского пучка, производ т дистанционную корректировку угла установки зеркала дл его выставлени на угол скольжени и по максимуму интенсивности отраженного излучени суд т о полном введении зеркала в пучок 2. 38 Однако 8 известных установках точность настройки и быстрота юстировки не удовлетвор ют оптимальным услови м эксперимента. При использовании известного способа установки зеркала полного внешнего отражени в рабочем пучке не обеспечиваетс его корректировка относительно апертуры пучка и, следовательно, не выполн етс условие оптимального захвата пучка синхротрон-ю The invention relates to the field of X-ray diffraction analysis and is intended for X-ray diffraction studies using synchrotron X-ray sources. Known installations for X-ray diffraction studies of objects with. using a synchrotron X-ray radiation, containing a monochromator, a full external reflection mirror, a diaphragm reflection system with a monochromator and an X-ray mirror, a sample holder and an X-ray detector 11. The closest technical solution is an installation for X-ray diffraction study of objects using synchronous X-ray radiation, containing a monochromator located along the beam, a full external reflection mirror, a platform for accommodating a full external reflection mirror, which is mounted on a base plate with three independently height adjustable supports; means for diaphragming the X-ray beam, sample holder and radiation detector. The method of installing a full external reflection in a x-ray radiation beam used in a known installation consists in pre-setting the additional optical radiation source of the visible range, in which a full external reflection mirror is inserted into the beam, then the synchrotron X-ray beam is directed to the mirror, the intensity is measured the reflected x-ray beam, make a remote adjustment of the angle of installation of the mirror for its exposure to the slip angle the maximum reflected light intensity is judged on the full introduction of mirrors in beam 2. 8 38 However, known plants adjustment accuracy and speed of adjustment does not satisfy the optimum conditions of the experiment. When using the known method of installing a mirror of total external reflection in the working beam, it is not ensured that it is corrected relative to the beam aperture and, therefore, the condition for optimal beam capture is not satisfied.
ного рентгеновского излучени отражающей поверхностью зеркала, что .приводит к низкой точности настройки установки в обычных услови х эксперимента , когда апертура пучка соизмерима с возможной максимальной апертурой зеркала в плоскости его фокусировки.X-ray radiation from the reflecting surface of the mirror, which leads to a low setup accuracy under the usual experimental conditions, when the beam aperture is commensurate with the possible maximum aperture of the mirror in the plane of its focusing.
Цель изобретени заключаетс в том, чтобы повысить точность установки зеркала полного внешнего отражени в пучке рентгеновского излучени и ускорить настройку установки дл рентгеновского дифракционного исследовани объектов с помощью синхротронного рентгеновского излучени .The purpose of the invention is to improve the accuracy of the installation of the total external reflection mirror in the x-ray beam and to speed up the setup of the installation for x-ray diffraction study of objects using synchrotron x-ray radiation.
Поставленна цель достигаетс тем что в устройстве дл рентгеновского дифракционного исследовани объектов с помощью синхротронного рентгеновского излучени , содержащем расположенные по ходу пучка монохроматор, зеркало полного внешнего отражени , платформу дл размещени зеркала полного внешнего отражени , котора установлена на опорной плите с помощью трех независимо регулируемых по высоте опор, средства диафрагмировани рентгеновского пучка, держатель образца и детектор излучени , зеркало полного внешнего отражени установлено на дополнительной платформе, размещенной на первой с возможностью поворота вокруг оси, проход щей через передний по ходу рентгеновского пучка край отражающей поверхности зеркала, и регулирование угла ее поворота вместе с зеркалом относительно первой платформы, причем средства регулировани угла поворота выполнены в виде регулируемой по высоте опоры, установленной в дополнительной платформе со стороны от зеркала, противоположной переднему краю его отражающей поверхности, причем передн опора основной платформы установлена с возможностью наклона относительно опорной плиты и перемещени вдоль нее две задние опоры основной платформыThe goal is achieved in that the device for X-ray diffraction study of objects using synchrotron X-ray radiation, contains a monochromator located along the beam, a full external reflection mirror, a platform for accommodating a full external reflection mirror, which is mounted on a base plate using three independently adjustable in height supports, diaphragm x-ray beam, sample holder and radiation detector, full external reflection mirror On an additional platform placed on the first with the possibility of rotation around an axis passing through the front edge of the reflecting surface of the mirror along the X-ray beam, and adjusting the angle of its rotation together with the mirror relative to the first platform, the means of adjusting the angle of rotation made in the form of height adjustable a support installed in an additional platform on the side of the mirror opposite to the front edge of its reflecting surface, with the front support of the main platform installed can be tilted relative to the base plate and move along it two rear supports of the main platform
отраженного излучени , по максимуму которой суд т о полном введении зеркала в пучок, зеркало предварительно устанавливают над траекторией рентгеновского пучка, опускают его таким образом, чтобы передний по ходу рентгеновского пучка край его отражающей поверхности вошел в пучок, определ ют положение вхождени переднего кра the reflected radiation, at the maximum of which the full introduction of the mirror into the beam is judged, the mirror is preset over the x-ray beam trajectory, lowered so that the leading edge of its reflecting surface enters the beam along the x-ray beam, the position of the leading edge
зеркала в пучок по падению интенсивности пуЧка и фиксируют его в нем, после чего производ т повррот зеркала вокруг оси, проход щей через его фиксированный передний, край до тех пор, пока интенсивность отраженного зеркалом пучка не достигнет максимума.mirrors in a beam by the intensity drop of the gun and fixing it in it, after which the mirror is rotated around the axis passing through its fixed anterior edge, until the intensity of the beam reflected by the mirror reaches its maximum.
На чертеже показано устройство дл рентгеновского дифракционного исследовани объектов с помощью синхротронного рентгеновского излучений, общий вид.The drawing shows a device for X-ray diffraction study of objects using synchrotron X-ray radiation, a general view.
Устройство содержит расположенные по ходу рентгеновского пучка от синхронного источника 1 монохроматор 2, блок зеркала 3 полного-внешнего отражени с опорной плитой 4, платформой 5 с двум задними опорами 6 и одной передней опорой 7, котора снабжена средствами 8 установки и приводом 9 их дистанционного управлени . Собственно зеркало 10 расположено на промежуточной плите 11, котора установлена на платформе 5 при помощи опорного валика 12 и средств 13 перемещени промежуточной плиты 11, которыеThe device contains monochromator 2 located along the x-ray beam from synchronous source 1, mirror-3 unit of full-external reflection with base plate 4, platform 5 with two rear supports 6 and one front support 7, which is equipped with means 8 of installation and drive 9 of their remote control . The actual mirror 10 is located on the intermediate plate 11, which is mounted on the platform 5 by means of a support roller 12 and means 13 for moving the intermediate plate 11, which
снабжены приводом It дистанционного управлени . Ось опорного валика 12 проходит через передний по ходу рентгеновского пучка край отражающей поверхности зеркала 10. Платформа 5 ймеет возможность поворота относительно опорной плиты с помощью средств 15 наклона двух задних опор 6 платформы 5 вокруг точек контакта опор 6. Установка содержит также систему 16It is driven by remote control. The axis of the support roller 12 passes through the edge of the reflecting surface of the mirror 10 running along the X-ray beam. Platform 5 has the ability to rotate relative to the base plate by means of 15 tilting two rear supports 6 of platform 5 around the contact points of the supports 6. The installation also contains a system 16
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802890452A SU883726A1 (en) | 1980-03-10 | 1980-03-10 | Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802890452A SU883726A1 (en) | 1980-03-10 | 1980-03-10 | Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU883726A1 true SU883726A1 (en) | 1981-11-23 |
Family
ID=20881181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802890452A SU883726A1 (en) | 1980-03-10 | 1980-03-10 | Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU883726A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2539333C2 (en) * | 2009-05-19 | 2015-01-20 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Diffraction grating for phase-contrast imaging |
-
1980
- 1980-03-10 SU SU802890452A patent/SU883726A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2539333C2 (en) * | 2009-05-19 | 2015-01-20 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Diffraction grating for phase-contrast imaging |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3781110A (en) | Optical range finding system | |
CZ20022115A3 (en) | Optical system for measuring two-dimensional small scattering angle of X-ray radiation of high flow and low interfering background | |
US4936655A (en) | Alignment fixture for an optical instrument | |
CN113049617B (en) | Wide-angle scattering test method and device based on single crystal diffractometer | |
CN109827976B (en) | Optical system for on-line observation and adjustment of X-ray beam and sample | |
JPS6222084B2 (en) | ||
Krushinsky et al. | Upgrade of the fiber-fed spectrograph of the Kourovka Astronomical Observatory | |
US4512642A (en) | Automatic focusing apparatus in optical drawing machine | |
JPH0827444B2 (en) | Method and apparatus for determining the optical axis of an off-set mirror | |
GB2079486A (en) | Optical spectroscope for scanning electron microscope | |
SU883726A1 (en) | Device for x-ray diffraction investigation of objects and method of setting full outer reflection mirror in x-ray radiation beam | |
US6179448B1 (en) | Automated light tuner | |
JP2720131B2 (en) | X-ray reflection profile measuring method and apparatus | |
US5523583A (en) | Telecentric variable magnification optical system for video based inspection system | |
EP0402876B1 (en) | Radiographic apparatus | |
US5400176A (en) | Illuminating apparatus comprising a fiber light guide for a microscope | |
US3856398A (en) | Apparatus and method for wide area, dark field, high resolution autoradiography | |
US2428627A (en) | Focal field periphery indicating device in photographic apparatus | |
RU2065582C1 (en) | Device for testing quality of light beams | |
Aul'chenko et al. | A small-angle X-ray diffractometry station using a synchrotron radiation source: design and adjustment modes | |
JPH05215898A (en) | X-ray collimator | |
EP0547695B1 (en) | X-ray analysis apparatus | |
US3398634A (en) | Microscope | |
JP2787133B2 (en) | Illumination optics | |
US20210191285A1 (en) | A system for making accurate grating patterns using multiple writing columns each making multiple scans |