. - . Изобретение огносйгс к пол ризацион но-опгическим способам определени на пр жений в офазцах из кристаллов кубической , сингонии. Известен поп ризационно-оптический способ определени напр жений в образцах монокристаллов с кубической симметрией , заключающийс в том, что из образца изготавливают срезы, просвечивают их лучом пол ризованного света,, измер ют оптическую разность хода луча по которой определ ют напр жени Щ. Недостатком данного способа вл етс то, что образец дл проведени измерений разрезают на срезы, т.е. разрушают . Кроме того, точность определени напр жений невысока, так как переход от напр жений в срезах к напр жени м в целом образце происходит путем привле чени целого р да дополнительных предположений . Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности вл етс пол ризашюнно-оптический способ определени напр ж;ений в образце, заключающийс в том, что поворачивают образец вокруг своей оси, просвечивают его пол ризованным лучом света до и после поворота, измер ют оптическую разность хода лучей, по которой определ ют напр жени в образце .fs. Недостатком способа вл етс то, что он не позвол ет определить полное число компонент {{ апр жений. Кроме того , он не позвол ет определить напр жени в кристаллах кубической сингонии из-за их анизотропии. Цель изобретени - обеспечение определени напр жений в офазцах из монокристаллов кубической сингонии. Указанна цель достигаетс тем, что перед просвечивани0 4 образца измер ют углы ориентации его осей относительно основных осей решетки кристалла, измер ют оптическую разность хода лучей при различных углах поворота образца, а количество просвечиваний образца выби8 рают равным или большим числа известных компонент напр жений. Пол ризациокно-оптический способ определени напр жений в образце, осущест л етс следукнцим образом. Берут произвольно ориентированный офазец монокристалла и в нем подход щим образом ввод т оси декартовых коор динат .Определ ют углы ориентаци этих осей относительно основных осей разметки кристалла и просвечивают образец вдоль различных направлений, поворачива его вокруг одной из осей X или У, причем свет в исходном положении распростран етс вдоль оси 2 . Дл каждого угла поворота образца вокруг известной оси измер ют оптическую разность хода лучей, по которой рассчитывают из пьезооптического уравнени соо ветствующие фотоупругие посто нные дл всех компонент тензора напр жений. Возможное число определ емых компонент напр жений зависит от ориентации осей в решетке кристалла. Если оси коллинеарны высокосимметричным направ . лени м ( ЮО), (1Ю), (ill) кристалла и их комбинаци ус, то число определ емы компонент не претышает четырех. При произвольном выборе осей XV 2 можно определить все шесть компонент напр жений , действуклцих в засвечиваемом объ ме образца монокристалла. Число просвечиваний офазца больше или равно числу неизвестных компонент напр жений. Неизвестные компоненты напр жений наход т из решени систет 1ы линейных алгебраических уравнений. Предлагаемый способ позвол ет определить все шесть компонент напр жений, не содержит никаких дополнительных гипотез об общем характере напр женного состо ни и о чисто упругом поведении 0 материала под действием напр жений, чем определ етс его более высока информативность и точность по сравнению с известными способами, а определение напр жений можно вести путем измерени разности хода лучей без измерени параметра изоклины, что упрощает измерени и открывает возможность широкого использовани дл измерени кругхэвого пол рископа. ормула изобретен |,и Пол ризационно-оптический способ определени напр жений в образце, заключающийс в том, что поворачивают образец вокруг своей оси, просвечивают его Пол ризованным лучом света, измер ют оптическую разность хода лучей, по которой определ ют напр жени в образце, отличающийс тем, что, с целью обеспечени определени напр жений в образце из монокристаллов кубической сингонии, перед просвечиванием образца измер ют .углы ориентации его осей относительно основных осей решетки кристалла, измер ют оптическую разность хода лучей при различных углах поворюта образца, а количество просвечиваний образца выбирают равным или большим числа известных компонент напр жений . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Напр жени и дислокации в полупроводниках . Сборник. М., АН СССР, 1962, с. 8-33. 2.Александров А. Я., Ахметзанов М.Х. Пол ризационно-оптические методы механики деформируемого тела. М., Наука , 1973, с. 191-198 (прототип).. -. The invention of fires to polarization-optic methods for determining strains in cubic crystal crystals, syngonies. A popularization-optical method for determining stresses in samples of single crystals with cubic symmetry is known, which consists of making cuts from a sample, shining them with a beam of polarized light, measuring the optical path difference that determines the stresses Щ. The disadvantage of this The method is that the measurement sample is cut into sections, i.e. destroy In addition, the accuracy of the determination of stresses is low, since the transition from stresses in sections to stresses in the whole sample occurs by attracting a whole number of additional assumptions. The closest to the proposed technical entity is the polarization-optical method of determining the voltage in the sample, which consists in turning the sample around its axis, shining it with a polarized light beam before and after rotation, measuring the optical path difference which determine the stresses in the sample .fs. The disadvantage of the method is that it does not allow to determine the total number of components {{apr. In addition, it does not allow one to determine stresses in cubic crystals due to their anisotropy. The purpose of the invention is to provide a determination of stresses in ofaztsy from single crystals of cubic syngony. This goal is achieved by the fact that, prior to sample x4, the angles of orientation of its axes relative to the main axes of the crystal lattice are measured, the optical path difference of the sample is measured at different angles of sample rotation, and the number of sample specimens is equal to or greater than the number of known components of stresses. The polarization-optical method for determining the stresses in a sample is carried out in the following way. An arbitrary oriented single-crystal of a single crystal is taken, and the axes of Cartesian coordinates are appropriately entered in it. The angles of these axes are oriented relative to the main axes of the crystal markup and the sample is illuminated along different directions, turning it around one of the axes. The position extends along axis 2. For each angle of rotation of the sample around a known axis, the optical path difference is measured, from which the corresponding photoelastic constants for all the components of the stress tensor are calculated from the piezo-optical equation. The possible number of determined components of stresses depends on the orientation of the axes in the crystal lattice. If the axes are collinear in a highly symmetrical direction. laziness (SO), (1U), (ill) of a crystal and their combination, the number of components that are determined does not neglect four. With an arbitrary choice of the XV 2 axes, it is possible to determine all six components of stresses that act in the illuminated volume of a sample of a single crystal. The number of OF translucencies is greater than or equal to the number of unknown components of stresses. Unknown stress components are found by solving a system of linear algebraic equations. The proposed method makes it possible to determine all six components of stresses, does not contain any additional hypotheses about the general nature of the stress state and about the purely elastic behavior of the material under the action of stresses, which determines its higher information content and accuracy as compared with the known methods and stresses can be determined by measuring the path difference of the rays without measuring the parameter of the isocline, which simplifies the measurements and opens up the possibility of widespread use for measuring the circular polarity na the formula was invented |, and the polarization-optical method for determining stresses in a sample, which consists in turning a sample around its axis, illuminating it with a polarized light beam, measuring the optical path difference, which determines the voltage in the sample, characterized in that, in order to ensure the determination of stresses in a sample of single crystals of a cubic system, before the sample is examined, the angles of the orientation of its axes relative to the main axes of the crystal lattice are measured, the optical difference ode rays at different angles povoryuta sample, and the number of radiographic sample is selected equal to or greater number of known components of voltages. Sources of information taken into account during the examination 1.Pressures and dislocations in semiconductors. Collection. M., USSR Academy of Sciences, 1962, p. 8-33. 2. Alexander A. Ya., Akhmetzanov M. Kh. Polarization-optical methods of mechanics of a deformable body. M., Science, 1973, p. 191-198 (prototype).