SU823853A1 - Optical meter of techological values - Google Patents

Description

1one

Изобретение относитс  к контроль .1о-измерительной технике, в частности к измерени м технологических припусков твердых тел с помощью оптических приборовiThe invention relates to the control of the measuring technique, in particular to the measurement of technological allowances of solids using optical instruments

Известен оптический микрометр, который может быть использован и дл  иэмерёш  технологических величин, ед ержг|1чйй объектив, окул р/ оптический ёа&меп-г дл  смещени  лучей, вы11С н4ййк1й в виде зеркал.а,ось поворота KOfaiJiOPO еосфавл ет оетрай угол с й©рмадааю ;кеР€) поверхности . . Чвдв ет9Т0к данного уетройсфва зак-. 1йёч эётй  -в тем, что оно не ойесгдечиВ ) иёйй едственвые замера-техаологйчвеки5с припусков поверхностей, накл нвнйих к базовой поверхности детали.An optical micrometer is known, which can also be used for measuring technological values, using a single lens, eye / optical lens for shifting beams, in a mirror view, the axis of rotation KOfaiJiOPO emits an angle of angle x © rmadaya; keP €) surface. . Chvdv et9T0k given uetroysfva zak-. This is due to the fact that it is not suitable for use in the field and is used to measure technical measurements that allow for surface allowances, which are applied to the base surface of the part.

Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  оптический измеритель техйологических величин, содержащий последоват .ельно расположенные окул р, оборачивающую систему и две параллельные оптические измерительные -.системы , кажда  из которых включает оборачивающий узел, объектив и перископический блок 2.The closest to the present invention is an optical meter of technical quantities that contains a series of oculars, a wrapping system and two parallel optical measuring systems, each of which includes a wrapping unit, an objective lens and a periscope unit 2.

Недостаток измерител  состоит в тбм, что он не позвол ет непосредстЧ венно измерить технологический припуск наклонных относительно базы поверхностей детали.The disadvantage of the meter is tbm, that it does not allow to directly measure the technological allowance of inclined surfaces relative to the base.

Цель изобретени  - измерение величины технологического припуска наклонных относительно базы поверхностей детали.The purpose of the invention is to measure the amount of technological allowance inclined relative to the base surfaces of the part.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что измеритель снабжен двум  расположенными между оборачивающим узлом и объективом в каждой кз оптических измерительных систем с возможностьюThe goal is achieved by the fact that the meter is equipped with two optical measuring systems located between the wrapping unit and the lens

поворота относительно оси этой системьа , шкалами- с делени ми в видеrotation relative to the axis of this system, scales, with divisions in the form

параллельных ртрихов по всей площади,parallel rthriches throughout the area

и установленной между оборачивающей eиcтeмc й и оптическими, измерительными системами составной призмой с внутренними полупрозрачными :зеркаль-Н .ЫМИ покрыти ми.and a composite prism installed between the inverting system and the optical measuring systems with internal translucent: mirror-N. COATINGS.

На фиг. 1 изображена оптическа  схема измерител  технологических величин; на фиг. 2 - шкалы с измер е мой деталью; на фиг. 3 - деталь с технологическими припусками.FIG. Figure 1 shows the optical layout of the technological value meter; in fig. 2 - scales with measured detail; in fig. 3 - detail with technological allowances.

Измеритель содержит (фит. 1) последовательно расположенные Окул р 1, -Оборачивающую систему 2, составную призму 3 е внутренними полупрозрач .ными зеркальными покрыти ми, двеThe meter contains (fit. 1) sequentially located Oculls p 1, -Oboring system 2, composite prism 3 e by internal translucent mirror coatings, two

Claims (2)

параллельные оптические измерительные системы, кажда  из которых вклю чает оборачивающий узел 4, шкалу 5 делени ми в виде параллельных .штрих о&ъектив 6, перископический блок, служащий дл  излома оптической оси состо щий из склеенной кубпризмы 7 и пр моугольной призмы 8,с крышей, защитное стекло 9, объектив 10, кон денсор 11 и лампу. 12 подсветки. Кс1жда .. измерительна  шкала 5 сна жена делени ми (фиг; 2), выполненны в виде параллельных штрихов 13 по всей площади шкалы и совмещаемых с изображением детали 14, и выставлен ных на ней концевых мер.15 или шабл на, как показано на фиг. 2. Деталь 14 (фиг. 3) имеет размер А с горизонтальными составл ющими технологических припусков Д и AJ наклонных относительно базы поверхностей 16 и 17, расположенных соотвественно под углами с и (р относ тельно базовой поверхности 18. Опре дел емыми наклонными технологически припусками  вл ютс  соответственно личины X.J и Х2, а размер заготовки 1Оптический измеритель технологи ческих величин работает следующим о разом. Числовой размер А детали .по базо поверхности 18 выражаетс  равенство А А4 - { Д.Т + Дг ), где А., - размер заготовки , Ь,и Д2 горизонтальные составл ющие Технологических припусков Х наклонных относительно ба зы поверхностей. В свою очередь Х д,. sin(f,, Х, Д,. Sintj 2f где Cf и ( углы наклона поверхностей 16 и 17 относительно базовой поверхности 18. . Дл  обработки детали в размер А необходимо определить Х и Kg. Дл  этого на базовой порерхности измер емой детали с помощью концевых мёр 15 выставл етс  размер А. Затем каждый измерительный канал настраиваетс  на соответствующую Сторону детали так, чтобы какой-либо из штрихов 13 проходил строго через точку О - пересечение в изображении поверхности .концевых мер 15 и базовой поверхности 18, при этом штрихи 13 поворотом измерительной шк лы устанавливаютс  параллельно наклонной относительно базы обрабатываемой поверхности детали. Количество штрихов, наход щихс  между штрихом , проход щим через точку О, и штрихом, проход щим по наклонной относительно базы поверхности, составл ет величину Х или Х. Изображение в измерителе переда-, етс  по оптической схеме через .защитное стекло 9, объектив 10, перископический блок, который обесп ечивает регулирование рассто ни  между его элементами, объектив 6, измерительную шкалу 5, с помощью которой провод тс  измерени , оборачиванйдий узел 4 и объедин етс  с помощью составной призмы 3 в общую систему, содержащую оборачивающую систему 2 и окул р 1. Призма 3 обеспечивает расположение изображени  соответственно истинному расположению детали, что -: весьма Вс1жно при неравенстве наклонных технологических припусков X и 2-, Предлагаемое устройство обеспечивает высокопроизводительный и достаточно точный замер, наклонного технологического припуска на обработку деталей типа трапеций и различного . вида многоугольников. Формула изобретени  Оптический измеритель технологических величин, содержащий последовательно расположенный окуЛ р, оборачивающую систему и две паргшлельные оптические измерительные системы, кажда  из которых включает обрра:чивающий узел, Ъбъёктив и перископический блок, отличающийс  тем, что, с целью измерени  величины технологического припуска наклонных относительно базы поверхностей детали, он снабжен двум  расположенными между оборачивающим узлом и о.бъективом в каждой из оптических измерительных систем с возможностью поворота относительно оси система, шкалами с делени ми в виде параллельных штрихов по всей площади,-и установленной между оборачиваницей системой и оптическими .измерительными системами составной призмой с внутренними полупрозрачными зеркальными покрыти ми. . Источники информации, щ)ин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство ССС 407186, кл. G 01 В 11/02, 1972. parallel optical measuring systems, each of which includes a wrapping unit 4, scale in 5 divisions in the form of parallel lines of an ampli fi c 6, a periscope unit that serves to break the optical axis consisting of a glued cubicle 7 and a rectangular prism 8 with a roof , protective glass 9, lens 10, condenser 11 and lamp. 12 highlights. Ks1zhda .. measuring sleep scale 5 is a wife of divisions (fig; 2), made in the form of parallel strokes 13 over the whole area of the scale and the detail 14 combined with the image, and the end measures 15 placed on it or a template, as shown in FIG. . 2. Detail 14 (FIG. 3) has a size A with horizontal components of technological allowances D and AJ inclined relative to the base surfaces 16 and 17 located respectively at angles c and (p relative to the base surface 18. Specific inclined technological allowances are The sizes XJ and X2 are respectively, and the size of the workpiece 1Optical measuring instrument of technological quantities works as follows: The numerical size A of the part. On the base of the surface 18, the equality А А4 is {D.T + Dg), where A., is the size of the workpiece, B and d2 horizontal Components of the Technological allowances X are inclined relative to the base surfaces. In turn, X d ,. sin (f ,, X, D ,. Sintj 2f where Cf and (the angles of inclination of surfaces 16 and 17 relative to the base surface 18.. To machine a part into size A, it is necessary to determine X and Kg. To do this, on the base surface of the measured part, The end measures 15 are dimensioned A. Then each measurement channel is adjusted to the corresponding side of the part so that any of the strokes 13 passes strictly through the point O - the intersection of the end measures 15 and the base surface 18 in the surface image, while the strokes 13 are rotated measuring gauge set parallel to the workpiece surface being inclined relative to the base. The number of strokes between the stroke passing through the point O and the stroke passing along the surface inclined relative to the base amounts to X or X. The image in the meter is transmitted according to the optical scheme through the protective glass 9, the lens 10, the periscopic block, which provides for the regulation of the distance between its elements, the lens 6, the measuring scale 5, with which the measurements are made, the wrapping unit 4 and the unified using a composite prism 3 into a general system containing a wrapping system 2 and an eye 1. The prism 3 provides the location of the image according to the true location of the part, which is: very high with unequal inclined process allowances X and 2, the proposed device provides high-performance and sufficiently accurate measurement, oblique technological allowance for processing parts such as trapezium and various. type of polygons. Claims of the invention: An optical meter of technological quantities, comprising a sequentially located lumen, a wrapping system and two separate optical measuring systems, each of which includes: a swiveling unit, a junction and a periscopic unit, characterized in that, in order to measure the magnitude of the technological allowance inclined relative to the base surfaces of the part, it is equipped with two located between the wrapping unit and the lens in each of the optical measuring systems with the ability to an orthogonal system axis, scales with divisions in the form of parallel strokes over the entire area, and a composite prism installed between the wrapping system and optical measuring systems with internal translucent mirror coatings. . Sources of information that are taken into account during the examination 1. Author's certificate CCC 4,087,186, cl. G 01 B 11/02, 1972. 2.Авторское свиде5.ельство СССР по за вке 2627429/28, кл. G 01 В 11/16, 1978 (прототип).2. Author's testimony. USSR Ministry of Application No. 2627429/28, cl. G 01 B 11/16, 1978 (prototype).