SU801141A1 - Квадрупольный трехмерный масс- СпЕКТРОМЕТР и СпОСОб ЕгО изгО-ТОВлЕНи - Google Patents

Квадрупольный трехмерный масс- СпЕКТРОМЕТР и СпОСОб ЕгО изгО-ТОВлЕНи Download PDF

Info

Publication number
SU801141A1
SU801141A1 SU792738713A SU2738713A SU801141A1 SU 801141 A1 SU801141 A1 SU 801141A1 SU 792738713 A SU792738713 A SU 792738713A SU 2738713 A SU2738713 A SU 2738713A SU 801141 A1 SU801141 A1 SU 801141A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrodes
films
quadrupole
mass spectrometer
sensor
Prior art date
Application number
SU792738713A
Other languages
English (en)
Inventor
Эрнст Пантелеймонович Шеретов
Борис Иванович Колотилин
Вадим Федорович Самодуров
Original Assignee
Рязанский Радиотехническийинститут
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Рязанский Радиотехническийинститут filed Critical Рязанский Радиотехническийинститут
Priority to SU792738713A priority Critical patent/SU801141A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU801141A1 publication Critical patent/SU801141A1/ru

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных массспектрометров с высокой разрешающей способностью и большим сроком службы .
Известны трехмерные квадрупольные масс-спектрометры, в которых ионизаци  газа осуществл етс  электронным потоком, вводимым в рабочий объем датчика 1.
Однако в таких масс-спектрометрах срок службы датчиков ограничиваетс  искажени ми пол  в их рабочем объеме , возникающими из-за образовани  диэлектрических углеводородных пленок на электродах при бомбардировке их электронным потоком. Как правило , наибольшее вли ние оказывают пленки, образующиес  за-за засе ни  электродов датчика вторичными электронами. Дл  уменьшени  вторичного электронного потока в выходном торцовом электроде обычно выполн етс  отверстие дл  вывода больщей части первичного потока за пределы рабочего объема датчика.
Известен датчик трехмерного квадрупольного-масс-спектрометра с электродами в виде гиперболоидов, содержащий каналы дл  ввода и вывода ионизирующего электронного потока 2
Хот  вывод большей части ионизирующего потока за пределы рабочего объема и уменьшает скорость образовани  пленок на поверхности электродов , все же полностью избавитьс  от вли ни  пленок не удаетс  из-за неfl совершенства фокусировки электронного потока. В результате на электродах датчика образуютс  диэлектрические пленки, причем из-за неравномерного рассе ни  вторичного элект5 ронного потока пленки образуютс  на отдельных област х поверхностей электродов в тем местах, на которые приходитс  наибольша  интенсивность вторичного электронного потока. Та0 ким образом, в рабочем состо нии на рабочих поверхност х электродов известного датчика в некоторых местах имеютс  области, покрытые диэлектрическими пленками углеводородов,
5 образующимис  под действием электронного потока. Это обуславливает низкие чувствительность и разрешающую способность масс-спектрометра и, соответственно, малый срок службы датчика.
Цель изобретени  - увеличение увствительности, раз решающей ..способности и срока службы масс-спектрометра .
Указанна  цель достигаетс  тем, то вс  рабоча  поверхность электродов датчика покрываетс  диэлектрическими пленками углеводородов. Эти пленки образуют путем бомбардировки рабочих поверхностей электро-дов датчика электронным потоком в парах углеводородов с энергией электронов 100-150 эВ при плотности 1-3-Ю А/см в течение 2-3 ч при давлении в вакуумной камере 10 мм рт.ст.
Исследование физических свойств пленок и их вли ние на срок службы датчика показывают, что срок службы в основном определ етс  изменетнием работы выхода пленок. Поскольку пленки имеют работу выхода отличную от работы выхода металлов, обычно используемых дл  электродов датчика , при образовании пленок возникает контактна  разностьпотенциалов , и поверхность электрода стано-: витс  неэквипотенциальной. Это и приводит к по влению искажений пол  и, как следствие этого, к уменьшению и чувствительности, и разрешени  прибора. При бомбардировке поверхности нержавеющей стали электрон ным потоком плотностью работа выхода образуемой пленки стабилизируетс  через 1,5-3 ч. Плотность вторичного потока в датчике на пор док меньше, и это объ сн ет тот факт, что обычно датчики таких анализаторов имеют срок службы 20-30 ч, после чего требуют проведени  чистки электродов.
Если до монтажа датчика рабочие оверхности электродов покрыть такими пленками, то в процессе работы массспектрометра работа выхода мест, бомбардируемых электронным потоком, не измен етс  и, таким образом, искажени  пол  в рабочем объеме минимальны . Другими словами, датчик трехмерного квадрупольного-масс-спектро метра с электродами, вс  поверхность которых покрыта пленками углеводородов , образуемыми под действием электронной бомбардировки, обладают большим сроком службы.
Использование .в датчиках трехмерных квадрупольных масс-спектрометров электродов,. вс  рабоча  поверхность которых покрыта диэлектрическими пленками углеводородов, обраsyeivffiix при бомбардировке поверхностей электронами, позвол ет в 20-30 раз увеличить срок службы датчиков таких приборов.

Claims (3)

1.Квадрупольный трехмерный масс;:пектрометр с электродами в виде гиперболои.цов, отличающ йс   тем, что, с целью увеличени  чувствительности, разрешающей способности и срока службы, вс  рабоча  поверхность э.пектродов покрыта пленками углеводородов.
2.Способ изготовлени  устройства по п. 1, отличающийс   тем, что пленки нанос тс  путем бомбардировки рабочих поверхностей электродов электронным потоком в парах углеводородов.
3.Способ По п. 2, отличающийс  тем., то рабочие поверхности электродов облучают электронным потоком с энергией 100-150эВ при плотности 1-3-Ю -А/см в течение 2-3 ч при давлении в вакуумной камере рт.ст.
Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе
1.Шеретов Э.П. и др.- Приборы
и техника эксперимента, 1971, № 1.
2.Авторское свидетельство СССР по за вке № 25899712,кл.Н 01 J 39/50 1978 (прототип),
SU792738713A 1979-03-19 1979-03-19 Квадрупольный трехмерный масс- СпЕКТРОМЕТР и СпОСОб ЕгО изгО-ТОВлЕНи SU801141A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792738713A SU801141A1 (ru) 1979-03-19 1979-03-19 Квадрупольный трехмерный масс- СпЕКТРОМЕТР и СпОСОб ЕгО изгО-ТОВлЕНи

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792738713A SU801141A1 (ru) 1979-03-19 1979-03-19 Квадрупольный трехмерный масс- СпЕКТРОМЕТР и СпОСОб ЕгО изгО-ТОВлЕНи

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU801141A1 true SU801141A1 (ru) 1981-01-30

Family

ID=20816096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792738713A SU801141A1 (ru) 1979-03-19 1979-03-19 Квадрупольный трехмерный масс- СпЕКТРОМЕТР и СпОСОб ЕгО изгО-ТОВлЕНи

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU801141A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5111042A (en) Method and apparatus for generating particle beams
US5146088A (en) Method and apparatus for surface analysis
JP3676298B2 (ja) 化学物質の検出装置および化学物質の検出方法
US3579270A (en) Energy selective ion beam intensity measuring apparatus and method utilizing a scintillator to detect electrons generated by the beam
US7875857B2 (en) X-ray photoelectron spectroscopy analysis system for surface analysis and method therefor
SU801141A1 (ru) Квадрупольный трехмерный масс- СпЕКТРОМЕТР и СпОСОб ЕгО изгО-ТОВлЕНи
EP0003659A3 (en) Apparatus for and method of analysing materials by means of a beam of charged particles
US5034605A (en) Secondary ion mass spectrometer with independently variable extraction field
Gersch et al. Postionization of sputtered neutrals by a focused electron beam
JP2707097B2 (ja) スパッタ中性粒子のイオン化方法およびその装置
Almen et al. Fast rise time, high sensitivity MCP ion detector for low-energy ion spectroscopy
KR950703786A (ko) 전자 에너지 분광계
Matveev et al. A low pressure mercury vapor resonance ionization image detector
Wallin et al. Field ionization of cesium atoms diffusion out from an iridium foil, studied by time-of-flight mass spectrometry
JPH04303Y2 (ru)
Murakami et al. A simple X-ray emitter
Mizutani et al. Mass analysis of negative ions in etching plasma
JP3055159B2 (ja) 中性粒子質量分析装置
JP3664974B2 (ja) 化学物質検出装置
JP3055160B2 (ja) 中性粒子質量分析装置
JPS63190299A (ja) プラズマ装置
Reidelbach et al. Investigation of space charge compensation of Pulsed Ion beams
Oechsner Electron Gas SNMS
WO2005001465A1 (ja) 化学物質の検出装置および化学物質の検出方法
JPH04248241A (ja) 中性粒子質量分析装置