Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Физики Полупроводников Со Ан СссрfiledCriticalИнститут Физики Полупроводников Со Ан Ссср
Priority to SU2723968/25ApriorityCriticalpatent/SU753250A1/ru
Application grantedgrantedCritical
Publication of SU753250A1publicationCriticalpatent/SU753250A1/ru
Способ измерения спектра излучения, включающий пропускание исследуемого излучения через измерительную систему, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа и уменьшения трудоемкости, проводят совмещение монохроматического излучения лазера накачки и исследуемого излучения на элементе, в котором осуществляют контролируемую перестройку двух энергетических уровней, затем отделяют исследуемый сигнал накачки и направляют его на фотоприемник с последующей регистрацией исследуемого сигнала на двухкоординатном приборе.
SU2723968/25A1979-02-091979-02-09Способ измерения спектра излучения
SU753250A1
(ru)