SU693111A1 - Device for checking misalighnement of apertures - Google Patents

Device for checking misalighnement of apertures

Info

Publication number
SU693111A1
SU693111A1 SU782597530A SU2597530A SU693111A1 SU 693111 A1 SU693111 A1 SU 693111A1 SU 782597530 A SU782597530 A SU 782597530A SU 2597530 A SU2597530 A SU 2597530A SU 693111 A1 SU693111 A1 SU 693111A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
apertures
misalighnement
checking
axis
emitter
Prior art date
Application number
SU782597530A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Виталий Яковлевич Мардарь
Эдуард Кириллович Яценко
Вадим Степанович Дорошук
Аделаида Даниловна Омельяненко
Original Assignee
Украинский Научно-Исследовательский Институт Станков И Инструментов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Украинский Научно-Исследовательский Институт Станков И Инструментов filed Critical Украинский Научно-Исследовательский Институт Станков И Инструментов
Priority to SU782597530A priority Critical patent/SU693111A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU693111A1 publication Critical patent/SU693111A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

. I - ,., Изобретение относитс  к контрольна-измерительной технике к может быть использовано, в частности, дл  контрол  несоосност  отверстий ; -. Наиболее бтзким к предлагаемому но технической сущности н достигаемому результату  вл етс  устройство дл  контрол  несоосности отверстий, содержащее расположенные- на одной оптической оси излучатель-лазер, цент{1ирующий узел Н марку, выполненную в виде конфокального интерферометра 1. Однако такое устройство имеет невысок5пю точность контрол , обусловленную необходимостью наличи  лазера с высоким козффнщ ентом стабилизации по частоте, наличием систематической ошибки вследствие больщого веса интерферометра , а также наличием ошибки в случае , если ось контролируемого отверсти  расположена под углом к базовой оси. Целью изобретени   вл етс  повышение точности контрол . Это достигаетс  teM, что устройство снабжено полупрозрачным зеркалом, расположенным под углом к световому лучу излучател , вторым излучателем, выполненным в виде светопровод щего жгута, один торец которого установлен на пути отраженного Of полупрозрачного зеркала светового луча, а другой обращен в сторону первого излучател  соосно с ним, а марка выполнена в виде двух четырехкоординатных фотоприемников , расположенных по торцам центрирующего узла так, что один из них обращен в сторону первого излучател , а второй - в сторону второго излучател , центры фотоприемников установлены на линии, параллельной образующей центрирующего узла и оси излучателей. На чертеже дана принципиальна  схема предлагаемого устройства дл  контрол  нёсоосности отверстий. Устройство содержит излучатель 1, выполненный в виде оптического квантового генератора , полупрозрачное зеркало 2 дл  разделени  светового луча, которое установлено под углом к световому лучу излучател , центрирующий узел 3, второй излучатель 4, выполненный в виде светопровод щего жгута, и марку. Торец 5 светопровод щего жгута расположен на пути прохождени  Отраженного от зеркала 2 светово  . I -,., The invention relates to a measuring and measuring technique, which can be used, in particular, to control the misalignment of apertures; -. The device for controlling the misalignment of apertures containing the emitter-laser located on the same optical axis, the center of the H mark, made in the form of a confocal interferometer 1, is the most short-lived to the proposed technical result. However, such a device has a low accuracy of control. due to the need for a laser with a high frequency stabilization factor, the presence of a systematic error due to the large weight of the interferometer, and the presence of an error if the axis of the controlled hole is at an angle to the base axis. The aim of the invention is to improve the accuracy of the control. It is achieved that the device is equipped with a translucent mirror at an angle to the light beam of the radiator, a second radiator, made in the form of a light guide harness, one end of which is installed in the path of the reflected Of the translucent mirror of the light beam, and the other facing the first radiator coaxially with the brand is made in the form of two four-coordinate photodetectors located along the ends of the centering unit so that one of them faces the first radiator, and the second - towards the second radar The chambers, photodetector centers are installed on a line parallel to the generator of the centering unit and the axis of the emitters. The drawing is a schematic diagram of the proposed device for controlling the non-axis of the holes. The device comprises an emitter 1 made in the form of an optical quantum generator, a translucent mirror 2 for dividing the light beam, which is set at an angle to the light beam of the emitter, the centering unit 3, the second emitter 4 made in the form of a light guide bundle, and a brand. The butt 5 of the light guide of the strap is located on the path of the Reflection 2 reflected from the mirror

SU782597530A 1978-04-03 1978-04-03 Device for checking misalighnement of apertures SU693111A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782597530A SU693111A1 (en) 1978-04-03 1978-04-03 Device for checking misalighnement of apertures

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782597530A SU693111A1 (en) 1978-04-03 1978-04-03 Device for checking misalighnement of apertures

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU693111A1 true SU693111A1 (en) 1979-10-25

Family

ID=20756572

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782597530A SU693111A1 (en) 1978-04-03 1978-04-03 Device for checking misalighnement of apertures

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU693111A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4880306A (en) * 1988-11-30 1989-11-14 Ingersoll-Rand Company Method of checking collinearity

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4880306A (en) * 1988-11-30 1989-11-14 Ingersoll-Rand Company Method of checking collinearity

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR880006659A (en) Optical pickup
GB1521443A (en) Reflectometer optical system
KR860700296A (en) Modular stabilization system
ATE35581T1 (en) FIBER OPTIC BRANCH WITH LOW POLARIZATION EFFECTS.
CA2073423A1 (en) Fiber-optic gyroscope
US5008889A (en) High-accuracy wavelength stabilization of angled-stripe super luminescent laser diode sources
KR850002901A (en) 2-axis optical inertial system using gyro rotor as a stable reference
SU693111A1 (en) Device for checking misalighnement of apertures
GB2138164A (en) Method and apparatus for aligning the cores of optical fibres
TR24873A (en) ANTENNA SYSTEM WITH ADJUSTABLE BREAKING WIDTH AND SPEED GUIDANCE SINE
US4660983A (en) Apparatus for measuring reflectivities of resonator facets of semiconductor laser
SE8700469L (en) FITTING DEVICE FOR A LIGHT CELL THAT DOES NOT EXPOSE VISIBLE LASER LIGHT
ATE74435T1 (en) LASER INTERFEROMETER REFRACTOMETER.
EP0130337A3 (en) Optical measurement apparatus
JPS60207389A (en) Semiconductor laser device
JPS53141049A (en) Optical system of laser machine
JPS5767815A (en) Measuring method for position of reflector using light
ES2079282A2 (en) Interferometer and method for measuring and stabilising the wavelength of light emitted by a laser diode
SU1670413A1 (en) Device for alignment control of transmission channels of optoelectronic systems
JPH05160467A (en) Device for detecting mode hopping of semiconductor laser
SU838343A1 (en) Device for automatic stabilizing of light beam spatial position
JPS55166984A (en) Multi-beam laser
JPS643536A (en) Instrument for measuring refractive index of waveguide
SU1539721A1 (en) Deflector of light beam
JPS5621113A (en) Light isolator coupler