SU677683A3 - Способ определени формы контролируемого предмета - Google Patents

Способ определени формы контролируемого предмета

Info

Publication number
SU677683A3
SU677683A3 SU762428504A SU2428504A SU677683A3 SU 677683 A3 SU677683 A3 SU 677683A3 SU 762428504 A SU762428504 A SU 762428504A SU 2428504 A SU2428504 A SU 2428504A SU 677683 A3 SU677683 A3 SU 677683A3
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
raster
zones
determining
shape
monitored object
Prior art date
Application number
SU762428504A
Other languages
English (en)
Inventor
Параскевас Димитри
Лъэрмит Ален
Кудерк Пьер
Гине Жак
Original Assignee
Сантр Текник Дез Эндюстри Меканик (Фирма)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сантр Текник Дез Эндюстри Меканик (Фирма) filed Critical Сантр Текник Дез Эндюстри Меканик (Фирма)
Application granted granted Critical
Publication of SU677683A3 publication Critical patent/SU677683A3/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Control Of Position, Course, Altitude, Or Attitude Of Moving Bodies (AREA)

Description

Во второй фазе способа (фиг. 2) эталонный предмет / замен етс  одни-м из контролируемых предметов 9, растр 8 помещаетс  в положение фотоматериала 7, и второй источник овета 10 через вторую оптическую систему 6 проецирует изображение растра 8 на контролируемый .предмет 9.
Одновременно первый источник 5 образует -на контролируемом предмете 9 изображение первого растра 5 через первую оптическую систему 4. Если второй растр 8  вл етс  позигивным .изображением, то первый растр сохран ет положение, которое он имел во врем  первой фазы. Если, наоборот, второй растр  вл етс  негативным изображением , то первый растр должен быть перемещен или -повернзт так, чтобы сохранились кформа и- расгьредрление Непрозрачных и прозрачных зон растров. Цветные фильтры /7 и 12 располагаютс  соотаетственно на пути первого луча 13 и второго луча 14, цвета этих двух фильтров отличаютс  один от другого.
Л уаровую картину, возникающую на поверхности контролируемого предмета, тем легче наблюдать, чем цвет каждого из двух 13 и 14 отличаетс  от подлинного цвета этого предмета.
Структура муаровой картины показана на фиг. 4, в .случае когда первый растр 5 со .стоит из шашечного рисунка пр моугольников .
Когда пространственные координаты поверхности контролируемого предмета 9 точно совпадают с коорди пата-ми поверхности эталонного предмета /, зоны освещенности и ослаблени  луча М точно накладываютс  на соответствующие зоны луча 13, образу  зоны 15 наложени  овета, цвет которого  вл етс  результирующим цветом лучей 13 и 14, и теней i/б (фиг. 4).
Если поверХ1ность предмета имеет выемку относительно поверх.ности эталонного предмета, то имеетс  несоответствие между зонам,и освещенности и ослаблени  лучей 13 и 14, что выражаетс  на поверхности контролируемого предмета 9 наличием зон 17 и 18 перехода, ло вл ющихс  между зонами 15 наложени  овета и тен ми 1€ (фиг. 5j.
Если, наоборот, поверхность контролируемого предмета имеет вылуклость относительно поверхности эталонного предмета, то положение зон /7 и € перехода мен ет направлен 1е относительно зон /5 наложени  света и теней 16 дл  одного и того же относительного положени  лучей 13 и 14 (фиг. б).
Кроме того, поверхность зон 17 и 18 св зана соотнощением с рассто 1нием, раздел ющим профили предмета и эталона. Расположение и поверхность зон /7 и 18 относительно зон 15 наложени  позвол ет непосредспвенным наблюдением определить величину .и знак отклонени  между пространственными координатами точек поверхности .контролируемого предмета и координатами соответствующих точек поверхности эталонного предмета.
,Структура .первого растра выбираетс  в зависимости от формы контролируемого
предмета.
В случае, когда невозможно расположить эталонный предмет, второй растр 8 Может быть точно рассчитан оператором, исход  из данных, относ щихс  к структуре
первого растра 5, оптическим системам 4 и 6 и математической формулы поверхности эталонного предмета 1, на основе законов геометрической оптики.

Claims (2)

1.Авторское свидетельство СССР № 225463, кл. G 02 В 27/38, 1967.
2.За .в1ка Великобритании № 1276737, кл. G 2 J, опубл. 1972.
п
григЛ
15
9 Ti
Фиг if
-:
70
Фиг. г
IS
.J
lput.3
IS «
iput.e
SU762428504A 1975-12-29 1976-12-16 Способ определени формы контролируемого предмета SU677683A3 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR7539971A FR2337329A1 (fr) 1975-12-29 1975-12-29 Procede et dispositif optiques pour la comparaison des coordonnees spatiales des points des enveloppes de plusieurs objets tridimensionnels

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU677683A3 true SU677683A3 (ru) 1979-07-30

Family

ID=9164259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762428504A SU677683A3 (ru) 1975-12-29 1976-12-16 Способ определени формы контролируемого предмета

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS5283247A (ru)
DD (1) DD127764A5 (ru)
DE (1) DE2648772A1 (ru)
FR (1) FR2337329A1 (ru)
SU (1) SU677683A3 (ru)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2491614A1 (fr) * 1980-10-08 1982-04-09 Couturier Alain Procede pour le positionnement de points de reference sur un gabarit ajustable
JPS5875531A (ja) * 1981-10-28 1983-05-07 株式会社トプコン 曲率測定装置
NL9200071A (nl) * 1992-01-15 1993-08-02 Stichting Science Park Maastri Inrichting voor het bepalen van de topografie van een gekromd oppervlak.

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5256558A (en) * 1975-11-04 1977-05-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Three-dimentional object measuring system

Also Published As

Publication number Publication date
FR2337329B1 (ru) 1978-07-28
DD127764A5 (de) 1977-10-12
FR2337329A1 (fr) 1977-07-29
DE2648772A1 (de) 1977-07-14
JPS5283247A (en) 1977-07-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5135309A (en) Method and apparatus for non-contact measuring of object surfaces
US6252623B1 (en) Three dimensional imaging system
US3865483A (en) Alignment illumination system
US5018854A (en) Three dimensional imaging device
US7006086B2 (en) Method and apparatus for accurate alignment of images in digital imaging systems by matching points in the images corresponding to scene elements
JP2016136132A (ja) 構造化光プロジェクタおよびそうしたプロジェクタを含む3次元スキャナ
JP2002071328A (ja) 表面形状の決定方法
JP2714152B2 (ja) 物体形状測定方法
US10175396B2 (en) Ultra-miniature wide-angle lensless CMOS visual edge localizer
JP2017126182A (ja) 画像認識装置、画像認識方法および画像認識ユニット
SU677683A3 (ru) Способ определени формы контролируемого предмета
JPS59224127A (ja) 走査マスク整合器のための整合装置
US4557602A (en) Edge detector in optical measuring instrument
JPH01274007A (ja) 3次元計測装置
JP2015184619A5 (ru)
JP3189367B2 (ja) アライメント装置および方法
Matsumoto et al. Laser moire topography for 3-D contour measurement
SU1165881A1 (ru) Способ контрол отклонени формы поверхности от эталонной
JPH061180B2 (ja) 物品表面の光学的検査方法
JPS63191010A (ja) 表面粗さ計測方法
JP2559443B2 (ja) 三次元物体の計測装置
JPH0158442B2 (ru)
JPH0525044B2 (ru)
JP2791735B2 (ja) 多波長,コヒーレント光によるフレネル回折を利用した斜方位置検出装置
WO2018173584A1 (ja) ビーム照射装置、および検出機能付きプロジェクタ