SU654851A1 - Способ определени деформаций деталей - Google Patents
Способ определени деформаций деталейInfo
- Publication number
- SU654851A1 SU654851A1 SU772528762A SU2528762A SU654851A1 SU 654851 A1 SU654851 A1 SU 654851A1 SU 772528762 A SU772528762 A SU 772528762A SU 2528762 A SU2528762 A SU 2528762A SU 654851 A1 SU654851 A1 SU 654851A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- determining device
- deformation determining
- article deformation
- article
- determining
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
экране 4 интерференционной картине путем определени вектора перемещени /г/ в исследуемой точке
I А-|
Дг :
«Г
В зависимости от длины волны источника когерентного света К, рассто ни от негативов до экрана L, масштаба фотографировани т и периода интерференционных полос Т.
Деформаци по всей исследуемой детали определ етс при сканировании лучом источника когерентного света по всей поверхности негативов. Поскольку требовани к системе сканировани существенно ниже, а база усреднени значительно меньше, то тем самым процесс определени деформаций упрощаетс , а его точность повышаетс . Процесс определени деформаций можно автоматизировать при использовании фотоэлектронной системы анализа интерференционной картины, например фотодиодной матрицы.
Данный способ может быть использован дл исследовани напр женно-деформированного состо ни элементов конструкций и деталей машин и может дать при его реализации существенное упрощение и повышение точности определени деформаций, что особенно важно дл диагностики технического состо ни эксплуатируемых конструкций и при серийном производстве ответственных деталей.
Claims (2)
1.Дюрелли А. и Парке В. Анализ деформаций с использованием муара. М., «Мир, 1974, с. 149-152.
2.Авторское свидетельство СССР 373522, кл. G 01 В 11/16, 1973.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772528762A SU654851A1 (ru) | 1977-10-06 | 1977-10-06 | Способ определени деформаций деталей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772528762A SU654851A1 (ru) | 1977-10-06 | 1977-10-06 | Способ определени деформаций деталей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU654851A1 true SU654851A1 (ru) | 1979-03-30 |
Family
ID=20726736
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772528762A SU654851A1 (ru) | 1977-10-06 | 1977-10-06 | Способ определени деформаций деталей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU654851A1 (ru) |
-
1977
- 1977-10-06 SU SU772528762A patent/SU654851A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4147052A (en) | Hardness tester | |
FR2293713A1 (fr) | Procede interferometrique optique de mesure de la deviation de la surface d'une eprouvette sous l'influence des ultrasons | |
ES434970A1 (es) | Procedimiento y dispositivo para la medicion de reacciones de antigenos-anticuerpos. | |
JPS5337090A (en) | Surface inspecting method | |
IT1107257B (it) | Procedimento e dispositivo per la ispezione ottica di una superficie | |
FR2413632A1 (fr) | Procede interferometrique a resolution 1/4 servant notamment pour la fabrication des circuits integres | |
SU654851A1 (ru) | Способ определени деформаций деталей | |
Ennos et al. | Application of reflection holography to deformation measurement problems: The versatility of a reflection-holographic method is proven by practical problems solved, and its extension to the monitoring of deformation over long periods of times is indicated | |
JPS6488327A (en) | Shape measuring method for interference wave front | |
SU879295A1 (ru) | Устройство дл измерени деформаций издели | |
Saito et al. | Application of holographic interferometry to mechanical experiments | |
SU545856A1 (ru) | Способ бесконтактного измерени линейных перемещений | |
ES406936A1 (es) | Procedimiento y dispositivos para la medida de los defectosopticos de un cuerpo, en particular de vidrio plano. | |
FR2235354A1 (en) | Photoelectric optical test sensor - measures displacement of a diffraction screen with constant spacing in the test sensor plane | |
SU879290A1 (ru) | Способ голографической интерферометрии | |
SU849003A1 (ru) | Способ определени пластическойдЕфОРМАции | |
SU1421993A1 (ru) | Способ определени деформационных перемещений | |
Rose et al. | A laser speckle sensor to measure the distribution of static torsion angles of twisted targets | |
DE3762552D1 (de) | Oberflaechenmessung. | |
ATE18946T1 (de) | Verfahren zur optischen detektion und/oder zum messen einer deformation und/oder einer versetzung eines objektes oder eines objektteiles, vorrichtung fuer die ausfuehrung dieses verfahrens und anwendung des verfahrens. | |
SU823846A2 (ru) | Двухлучевой интерферометр дл измере-Ни лиНЕйНыХ пЕРЕМЕщЕНий | |
SU844998A1 (ru) | Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий | |
SU1270555A1 (ru) | Лазерный интерферометр дл измерени динамических деформаций | |
SU824271A2 (ru) | Стенд дл испытани рабочих органовчАЕСбОРОчНыХ МАшиН | |
SU715927A1 (ru) | Интерференционный резольвометр |