SU654851A1 - Способ определени деформаций деталей - Google Patents

Способ определени деформаций деталей

Info

Publication number
SU654851A1
SU654851A1 SU772528762A SU2528762A SU654851A1 SU 654851 A1 SU654851 A1 SU 654851A1 SU 772528762 A SU772528762 A SU 772528762A SU 2528762 A SU2528762 A SU 2528762A SU 654851 A1 SU654851 A1 SU 654851A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
determining device
deformation determining
article deformation
article
determining
Prior art date
Application number
SU772528762A
Other languages
English (en)
Inventor
Хаим Файвелевич Гитерман
Original Assignee
Горьковский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Института По Нормализации В Машиностроении
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Горьковский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Института По Нормализации В Машиностроении filed Critical Горьковский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского Института По Нормализации В Машиностроении
Priority to SU772528762A priority Critical patent/SU654851A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU654851A1 publication Critical patent/SU654851A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

экране 4 интерференционной картине путем определени  вектора перемещени  /г/ в исследуемой точке
I А-|
Дг :
«Г
В зависимости от длины волны источника когерентного света К, рассто ни  от негативов до экрана L, масштаба фотографировани  т и периода интерференционных полос Т.
Деформаци  по всей исследуемой детали определ етс  при сканировании лучом источника когерентного света по всей поверхности негативов. Поскольку требовани  к системе сканировани  существенно ниже, а база усреднени  значительно меньше, то тем самым процесс определени  деформаций упрощаетс , а его точность повышаетс . Процесс определени  деформаций можно автоматизировать при использовании фотоэлектронной системы анализа интерференционной картины, например фотодиодной матрицы.
Данный способ может быть использован дл  исследовани  напр женно-деформированного состо ни  элементов конструкций и деталей машин и может дать при его реализации существенное упрощение и повышение точности определени  деформаций, что особенно важно дл  диагностики технического состо ни  эксплуатируемых конструкций и при серийном производстве ответственных деталей.

Claims (2)

1.Дюрелли А. и Парке В. Анализ деформаций с использованием муара. М., «Мир, 1974, с. 149-152.
2.Авторское свидетельство СССР 373522, кл. G 01 В 11/16, 1973.
SU772528762A 1977-10-06 1977-10-06 Способ определени деформаций деталей SU654851A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772528762A SU654851A1 (ru) 1977-10-06 1977-10-06 Способ определени деформаций деталей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772528762A SU654851A1 (ru) 1977-10-06 1977-10-06 Способ определени деформаций деталей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU654851A1 true SU654851A1 (ru) 1979-03-30

Family

ID=20726736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772528762A SU654851A1 (ru) 1977-10-06 1977-10-06 Способ определени деформаций деталей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU654851A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4147052A (en) Hardness tester
FR2293713A1 (fr) Procede interferometrique optique de mesure de la deviation de la surface d'une eprouvette sous l'influence des ultrasons
ES434970A1 (es) Procedimiento y dispositivo para la medicion de reacciones de antigenos-anticuerpos.
JPS5337090A (en) Surface inspecting method
IT1107257B (it) Procedimento e dispositivo per la ispezione ottica di una superficie
FR2413632A1 (fr) Procede interferometrique a resolution 1/4 servant notamment pour la fabrication des circuits integres
SU654851A1 (ru) Способ определени деформаций деталей
Ennos et al. Application of reflection holography to deformation measurement problems: The versatility of a reflection-holographic method is proven by practical problems solved, and its extension to the monitoring of deformation over long periods of times is indicated
JPS6488327A (en) Shape measuring method for interference wave front
SU879295A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций издели
Saito et al. Application of holographic interferometry to mechanical experiments
SU545856A1 (ru) Способ бесконтактного измерени линейных перемещений
ES406936A1 (es) Procedimiento y dispositivos para la medida de los defectosopticos de un cuerpo, en particular de vidrio plano.
FR2235354A1 (en) Photoelectric optical test sensor - measures displacement of a diffraction screen with constant spacing in the test sensor plane
SU879290A1 (ru) Способ голографической интерферометрии
SU849003A1 (ru) Способ определени пластическойдЕфОРМАции
SU1421993A1 (ru) Способ определени деформационных перемещений
Rose et al. A laser speckle sensor to measure the distribution of static torsion angles of twisted targets
DE3762552D1 (de) Oberflaechenmessung.
ATE18946T1 (de) Verfahren zur optischen detektion und/oder zum messen einer deformation und/oder einer versetzung eines objektes oder eines objektteiles, vorrichtung fuer die ausfuehrung dieses verfahrens und anwendung des verfahrens.
SU823846A2 (ru) Двухлучевой интерферометр дл измере-Ни лиНЕйНыХ пЕРЕМЕщЕНий
SU844998A1 (ru) Способ определени величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпР жЕНий
SU1270555A1 (ru) Лазерный интерферометр дл измерени динамических деформаций
SU824271A2 (ru) Стенд дл испытани рабочих органовчАЕСбОРОчНыХ МАшиН
SU715927A1 (ru) Интерференционный резольвометр