Claims (2)
Свободный конец тензорезистора 3 в первой цепи заземлен, а свободный конец- тензореэистора 4 соединен с источником 13 питани . Устройство работает следующим . При подаче напр жени U g от источника 13 питани во входной цепи 1 реалиэукнцей потенциометрическую схему измерени , возникает напр жение близкое KUhoM/2. В то же врем во входной цепи 2 напр жение определ етс величиной регулировочного резистора 6. Оно так же может быть сделано величиной близ кой каждое напр жение усиливаетс соЬтветствующим усилителем или 8, и на выходе сумматора 11 по в л етс результирующий сигнал. В каждом тензорезисторе 3 и 4 нелинейност| и температурна погрешнос будут, приблизительно одинаковы. Но так как тензорезисторы включены в ра ные схемы, то знаки этих отклонений будут противоположными, и они скомпенсируют друг друга. Предложенный измеритель деформаций позвол ет получить линейность градуировочной характеристики пор дка 1% и существенно уменьшить темпера турную погрешность в широком диапазоне рабочих температур тензодатчиков. Формула изобретени Измеритель деформаций, содержащий две входных цепи с полупроводниковым тензорезистором, соединенным последовательно с ним регулировочным резистором и усилителем в каждой цепи, сумматор и источник питани , о тличающийс тем, что, с целью компенсации нелинейности и температурной погрешности двух тензорезисторов , измер ющих деформацию одного знака , он снабжен дополнительным резистором , один конец которого соединен с общей точкой регулировочного резистора и тензорезистора в первой цепи, а второй конец - с источником питани , свободный конец тензорезистора в первой цепи заземлен, а во второй цепи соединен с истрчником питани . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе: 1. В.Эрлер, Л.Вальтер Электрические измерени неэлектрических величин полупроводниковыми тензорезисторами. М.,Мир, 1974, с,223, рис. 8, 18. The free end of the strain gauge 3 in the first circuit is grounded, and the free end of the strain gauge 4 is connected to the power source 13. The device works as follows. When applying the voltage U g from the power source 13 in the input circuit 1 using a potentiometric measurement circuit, a voltage close to KUhoM / 2 arises. At the same time, in the input circuit 2, the voltage is determined by the magnitude of the adjusting resistor 6. It can also be made close to the value of each voltage amplified by the corresponding amplifier or 8, and the resulting signal is output at the output of the adder 11. In each strain gauge 3 and 4 nonlinearity | and the temperature error will be approximately the same. But since the strain gauges are included in the wired circuits, the signs of these deviations will be opposite, and they will compensate each other. The proposed strain gauge allows one to obtain a linearity of the calibration characteristic of about 1% and significantly reduce the temperature error in a wide range of working temperatures of strain gauges. Invention A strain gauge comprising two input circuits with a semiconductor strain gauge, a regulating resistor and an amplifier in each circuit connected in series with it, an adder and a power source, differing in that, in order to compensate for the nonlinearity and temperature error of two strain gauges measuring the strain of one mark, it is equipped with an additional resistor, one end of which is connected to the common point of the adjusting resistor and the strain gauge in the first circuit, and the other end to the source ohm power, the free end of the strain gauge in the first circuit is grounded, and in the second circuit is connected to the power supply. Sources of information taken into account in the examination: 1. V. Erler, L. Walter. Electrical measurements of non-electric quantities with semiconductor strain gauges. M., Mir, 1974, p. 223, fig. 8, 18.
2. Патент США № 3.791.204, кл. ЭЗ-88.5, 1974.2. US Patent No. 3.791.204, cl. EZ-88.5, 1974.
в у}in y}