SU482614A1 - Electromagnetic method for measuring the thickness of two-layer coatings on a ferromagnetic basis - Google Patents
Electromagnetic method for measuring the thickness of two-layer coatings on a ferromagnetic basisInfo
- Publication number
- SU482614A1 SU482614A1 SU1752236A SU1752236A SU482614A1 SU 482614 A1 SU482614 A1 SU 482614A1 SU 1752236 A SU1752236 A SU 1752236A SU 1752236 A SU1752236 A SU 1752236A SU 482614 A1 SU482614 A1 SU 482614A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- thickness
- layer
- measuring
- coating
- electromagnetic method
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
полненип этих условий модуль вносимого напр жени не зависит от электропроводности измер емых покрытий и определ етс лишь рассто нием между датчиком и основой, равным суммарной толщине покрытий.The completeness of these conditions is the modulus of the applied voltage does not depend on the electrical conductivity of the coating being measured and is determined only by the distance between the sensor and the substrate equal to the total thickness of the coatings.
При измерени х на первой частоте по величине фазы вносимого напр жени определ ют сумму произведений толщины каждого сло на его электропроводность, а на второй частоте по величине модул вносимого напр жени - сумму слоев покрыти .When measuring at the first frequency by the magnitude of the phase of the applied voltage, the sum of the products of the thickness of each layer by its electrical conductivity is determined, and at the second frequency by the magnitude of the module of the applied voltage, the sum of the coating layers.
По этим характеристикам суд т о толщине каждого сло покрыти .According to these characteristics, the thickness of each layer of coating is judged.
Измерени по предлагаемому способу могут быть произведены, например, с помощью фазового и амплитудного измерителей толщины покрытий, работающих на соответствующих частотах и проградуированных в единицах толщины дл образцов с однослойным эталонным покрытием. Так, дл раздельного контрол медноолов нного двуслойного покрыти с толщиной медного сло до 5 мкм и олов нного до 25 мкм при условии, что эффективный диаметр датчика равен 3 мм, первую частоту выбирают равной 80 КГЦ, а вторую 500 гц.Measurements of the proposed method can be made, for example, using phase and amplitude coating thickness gauges operating at appropriate frequencies and calibrated in units of thickness for samples with a single-layer reference coating. So, for separate control of a copper-coated two-layer coating with a copper layer thickness of up to 5 microns and tin thickness of up to 25 microns, provided that the effective diameter of the sensor is 3 mm, the first frequency is chosen equal to 80 KHz and the second 500 Hz.
При таком выборе частот на первой частоте фаза вносимого напр жени одинакова дл покрытий с равными суммами произведений толщины каждого сло на его электропроводность .With this choice of frequencies at the first frequency, the phase of the applied voltage is the same for coatings with equal sums of products of the thickness of each layer and its electrical conductivity.
Поэтому произведение толщины однослойного эталонного покрыти , эквивалентного по фазе вносимого напр жени измер емому двуслойному покрытию, измеренной фазовым толщиномером, на его электропроводность равно сумме произведений толщины на электропроводность каждого сло двуслойного покрыти .Therefore, the product of the thickness of a single-layer reference coating equivalent in phase to the applied voltage of the measured two-layer coating measured by the phase thickness gauge and its electrical conductivity is equal to the sum of the products of the thickness and electrical conductivity of each layer of the two-layer coating.
При измерени х на второй частоте величина модул вносимого напр жени будет одинаКОБОЙ дл покрытий с равной суммой толщин слоев. Поэтому толщина эталонного покрыти , измеренна амплитудным толщиномером, равна сумме толщин слоев контролируемого двуслойного покрыти .When measuring at the second frequency, the magnitude of the modulated voltage will be the same for coatings with an equal sum of layer thicknesses. Therefore, the thickness of the reference coating measured by the amplitude thickness gauge is equal to the sum of the thicknesses of the layers of the tested two-layer coating.
Использу найденные характеристики, толщину первого сло определ ют как отношение разности произведений электропроводности второго сло на суммарную толщину слоев двуслойного покрыти и электропроводности эталонного покрыти на его толщину к разности электропроводностей второго и первого слоев, а толщину второго сло - как разность суммарной толщины двуслойного покрыти и толп1,ины первого сло .Using the characteristics found, the thickness of the first layer is defined as the ratio of the difference of the products of electrical conductivity of the second layer to the total thickness of the two-layer coating and the electrical conductivity of the reference coating by its thickness to the difference of the electric conductivity of the second and first layers, and the thickness of the second layer as the difference between the total thickness of the two-layer coating and the crowd , the words of the first layer.
Предмет изобретени Subject invention
Электромагнитный способ измерени толщины двуслойных покрытий па ферромагнитной основе, заключающийс в том, что на контролируемую поверхность накладываютElectromagnetic method of measuring the thickness of two-layer coatings on a ferromagnetic base, which consists in imposing
датчик, катущку возбуждени которого питают токами двух фиксированных частот и о суммарной толщине покрыти суд т по величине вносимого напр жени на датчике, отличающийс тем, что, с целью обеспечени возможности также и раздельного измерени толщины каждого из слоев двуслойного покрыти , первую частоту подбирают так, чтобы фаза вносимого напр жени была функцией суммы произведений толщины каждого сло на его электропроводность, а вторую частоту- так, чтобы величина вносимого напр жени зависела только от суммарной толщины покрыти , а о толщине каждого сло суд т по соотнощениию этих характеристик .A sensor whose excitation coater is fed by currents of two fixed frequencies and the total thickness of the coating is judged by the magnitude of the applied voltage on the sensor, characterized in that, in order to enable also the separate measurement of the thickness of each of the two-layer coating layers, the first frequency is selected so so that the phase of the applied voltage is a function of the sum of the products of the thickness of each layer on its electrical conductivity, and the second frequency, so that the magnitude of the applied voltage depends only on the total thickness covered And the thickness of each layer is judged by sootnoscheniiyu these characteristics.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1752236A SU482614A1 (en) | 1972-02-25 | 1972-02-25 | Electromagnetic method for measuring the thickness of two-layer coatings on a ferromagnetic basis |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1752236A SU482614A1 (en) | 1972-02-25 | 1972-02-25 | Electromagnetic method for measuring the thickness of two-layer coatings on a ferromagnetic basis |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU482614A1 true SU482614A1 (en) | 1975-08-30 |
Family
ID=20504424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1752236A SU482614A1 (en) | 1972-02-25 | 1972-02-25 | Electromagnetic method for measuring the thickness of two-layer coatings on a ferromagnetic basis |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU482614A1 (en) |
-
1972
- 1972-02-25 SU SU1752236A patent/SU482614A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3515987A (en) | Coplanar dielectric probe having means for minimizing capacitance from stray sources | |
US5525903A (en) | Eddy current method of acquiring the surface layer properties of a metallic target | |
US6120833A (en) | Method and device for measuring the thickness of an insulating coating | |
ATE125620T1 (en) | METHOD FOR DYNAMIC CONTACTLESS MEASURING A SHIFT OR DILECTRICITY CONSTANT USING A CAPACITIVE SENSOR. | |
JPH08136209A (en) | Detection of geometrical position,displacement or angle of movable body and noncontact capacity-reference-position sensor | |
JP2001099802A (en) | Apparatus for monitoring adhesion of liquid or paste-like medium onto substrate | |
SU482614A1 (en) | Electromagnetic method for measuring the thickness of two-layer coatings on a ferromagnetic basis | |
US20030231024A1 (en) | Capacitive media resistivity, dialectic constant, and thickness sensor | |
US3407352A (en) | Method of and apparatus for monitoring the thickness of a non-conductive coating on a conductive base | |
SU578609A1 (en) | Method of measuring the parameters of moving electroconductive articles | |
US2809346A (en) | Apparatus for measuring the thickness of electroconductive films | |
RU2193184C2 (en) | Method of determination of dielectric permittivity and thickness of dielectric coats on metal | |
RU1805281C (en) | Method of checking thickness of electroconductive coating on dielectric film | |
SU619783A1 (en) | Method of measuring thickness of layers of laminated articles | |
SU1608422A1 (en) | Eddy method for two-parameter inspection of articles | |
SU423068A1 (en) | ||
SU763675A1 (en) | Method for monitoring thickness of polymeric film | |
SU1179096A2 (en) | Thickness gauge for dielectric coatings | |
SU1165967A1 (en) | Method of measuring moisture content | |
SU419992A1 (en) | CAPACITIVE SENSOR | |
SU515932A1 (en) | Method for measuring thickness of insulating coatings | |
SU578558A1 (en) | Method of checking thickness of dielectric coating | |
SU82237A1 (en) | Capacitive voltage sensor | |
SU1798730A1 (en) | Method of determination of electric volume resistivity of paint coat | |
US3335364A (en) | Dielectric measurement of thin materials including means for generating and measuring an electric field in the plane of said material |