SU410484A1 - - Google Patents
Info
- Publication number
- SU410484A1 SU410484A1 SU1724296A SU1724296A SU410484A1 SU 410484 A1 SU410484 A1 SU 410484A1 SU 1724296 A SU1724296 A SU 1724296A SU 1724296 A SU1724296 A SU 1724296A SU 410484 A1 SU410484 A1 SU 410484A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- light beam
- photocathode
- screen
- field
- signal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к электровакуумной технике, в частности к способам контрол качества электровакуумных приборов.The invention relates to electrovacuum technology, in particular, to methods for controlling the quality of electrovacuum devices.
Известен способ контрол электронно-оптического преобразовател путем равномерного освещени фотокатода и регистрации неравномерности выходного сигнала. Однако этот способ контрол ЭОПа не дает информации о дефектах в виде темных и светлых п тен, св занных с наличием технологических загр знений на фотокатоде, экране или в усилительном тракте, которые нормируютс в зависимости от их расположени и величины. Поэтому в насто щее врем чистоту пол зрени ЭОПов оценивают визуально. С помощью микроскопа измер ют размеры и подсчитывают площади и количество видимых на экране точек.There is a method of controlling an electron-optical converter by uniform illumination of the photocathode and recording the unevenness of the output signal. However, this method of control of the image intensifier does not provide information about defects in the form of dark and bright spots associated with the presence of technological contaminants on the photocathode, screen or in the amplifying tract, which are normalized depending on their location and size. Therefore, at present, the purity of the field of image intensifiers is assessed visually. Using a microscope, measure the size and calculate the area and the number of visible points on the screen.
С целью повыщени точности контрол по чистоте пол зрени предлагаетс световой пучок, освещающий фотокатод, раздел ть на две части и поверхность фотокатода сканировать одной частью светового пучка. Полученный на экране ЭОПа световой сигнал преобразуют в электрический и сравнивают по амплитуде и длительности с преобразованной в электрический сигнал другой частью светового пучка и по разности этих сигналов оценивают чистоту пол зрени преобразовател .In order to increase the accuracy of monitoring the purity of the field of view, a light beam illuminating the photocathode is proposed to be divided into two parts and the surface of the photocathode to be scanned with one part of the light beam. The light signal received on the screen of an image converter is converted into an electrical one and compared by amplitude and duration with another part of the light beam converted into an electrical signal and by the difference of these signals the purity of the field of view of the converter is evaluated.
Световой пучок, например с экрана электроннолучевой трубки, раздел ют светоделительным зеркалом и одной частью светового пучка сканируют рабочее поле фотокатодаThe light beam, for example, from the screen of the electron beam tube, is separated by a beam-splitting mirror and one of the light beam is scanned by the working field of the photocathode.
ЭОПа. Полученный на экране преобразовател световой поток, промодулированный деффектами на экране, фотокатоде и усилительном тракте ЭОПа, преобразуют, например, фотопреобразователем в электрический и направл ют на вход блока сравнени . Другую часть светового пучка с экрана ЭЛТ после делительного зеркала направл ют на блок установки уровн , затем также преобразуют в электрический сигнал и подают на вход опорного сигнала блока сравнени . Сравнением амплитуды и длительности контролируемого и опорного сигналов отбраковывают ЭОП по контрасту точек и п тен на рабочем поле фотокатода. В вычислительном устройстве определ ют размер площади в соответствии с длительностью сигнала отбраковки и полученный результирующий сигнал о расположении дефектов в поле зрени направл ют на индикаторную ЭЛТ и исполнительный механизм отбраковки ЭОПов.Eopa. The luminous flux obtained on the screen of the converter, modulated by defects on the screen, photocathode and amplifying path of the image tube, is converted, for example, by a photoconverter into an electric one and sent to the input of the comparison unit. Another part of the light beam from the CRT screen after the dividing mirror is directed to the level setting unit, then also converted to an electrical signal and fed to the input of the reference signal of the comparison unit. By comparing the amplitudes and durations of the monitored and reference signals, the image intensifier is rejected by the contrast of points and spots on the working field of the photocathode. In the computing device, the size of the area is determined in accordance with the duration of the rejection signal and the resulting resultant signal on the location of defects in the visual field is directed to the indicator CRT and the actuator of the image intensifier.
2525
Предмет изобретени Subject invention
Способ контрол электронно-оптическогоThe method of control of electron-optical
преобразовател (ЭОПа) путем освещени converter (EOC) by lighting
30 фотокатода световым пучком и регистрации 3 неравномерности выходного сигнала, о тличающийс тем, что, с целью повышени точности контрол по чистоте пол зрени , световой пучок раздел ют на две части и верхность фотокатода сканируют одной ча-5 стью светового пучка, полученный на экране 4 ЭОПа световой сигнал преобразуют в электрический и сравнивают по амплитуде и дли тельности с преобразованной в электрический сигнал другой частью светового пучка и по разности этих сигналов оценивают чистоту пол зрени преобразовател .30 photocathodes with a light beam and detecting 3 unevenness of the output signal, differing from the fact that, in order to increase the accuracy of monitoring the purity of the field of view, the light beam is divided into two parts and the surface of the photocathode is scanned with one part of the light beam The EOC light signal is converted into an electrical signal and compared in amplitude and duration with the other part of the light beam converted into an electrical signal and the difference in these signals is estimated by the field of view of the converter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1724296A SU410484A1 (en) | 1971-12-13 | 1971-12-13 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1724296A SU410484A1 (en) | 1971-12-13 | 1971-12-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU410484A1 true SU410484A1 (en) | 1974-01-05 |
Family
ID=20496018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1724296A SU410484A1 (en) | 1971-12-13 | 1971-12-13 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU410484A1 (en) |
-
1971
- 1971-12-13 SU SU1724296A patent/SU410484A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
GB505197A (en) | Improvements in or relating to television and like systems | |
SU410484A1 (en) | ||
GB830083A (en) | Improvements in and relating to television apparatus | |
US4543605A (en) | X-ray examination apparatus | |
US2520507A (en) | Kinescope for simultaneously picking up an object and presenting an image | |
US3739091A (en) | Method and apparatus for displaying image and measuring object therein | |
US2348031A (en) | Method of focusing electron microscopes | |
US4236178A (en) | Electron microscope with brightness/contrast indicator | |
FR2274138A1 (en) | Elimination of interference caused by brightness variations of scan - monitors in stantaneous intensity of spot to produce proportional control signal | |
SU390422A1 (en) | DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECTS OF A CRYSTAL OF A SEMICONDUCTOR DEVICE | |
JPS54100669A (en) | Electron-beam unit | |
JPS564004A (en) | System for detecting minute defects of body | |
JPS5732557A (en) | Scan electron microscope | |
SU105188A1 (en) | The method of control and selection of the size of the light spot on the recording material in photo-telegraphic devices with electronic scanning | |
SU146767A1 (en) | Method for determining linear size and body area | |
FR2312110A1 (en) | Electronic sweep microscope which does not degrade sample - has frequency modulated flux intensity signal controlling screen brightness | |
GB1186372A (en) | Improvements in or relating to Photo-Electronic Imaging Devices | |
SU130213A1 (en) | The way to determine the color temperature fields of an object | |
KR830002861Y1 (en) | Scanning apparatus for scanning electron microscopes and similar devices | |
JPS57107547A (en) | Scan type electron microscope | |
SU113215A1 (en) | Method of adjusting the brightness of electron-beam oscilloscopes | |
GB577120A (en) | Improvements relating to oscillographic apparatus | |
SU563702A1 (en) | Method of display of image area to be analyzed by dissector | |
GB1128852A (en) | Electric circuit arrangement for influencing the picture character of a television picture | |
GB689792A (en) | An improved method of and means for examining surfaces for the purpose of detecting any defects therein |