SU408200A1 - УСТРОЙСТВО дл ДЕФЕКТОСКОПИИ ПРОЗРАЧНЫХ - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к оптическим методам исследовани  материалов и может быть использовано дл  контрол  драгоценных камней , например алмазов, на наличие поверхностных и внутренних дефектов.

Известно устройство дл  дефектоскопии прозрачных предметов, содержащее стереоскопический микроскоп и манипул тор, предназначенный дл  ориентации контролируемого предмета .

Однако известное устройство не определ ет количественные характеристики дефектов, напри .мер их размеров и глубины залегани , что необходимо дл  выбора оптимального направлени  технологического процесса производства бриллиантов из алмазов при задании параметров на переогранку бриллиантов и т. п.

Целью изобретени   вл етс  определение глубины расположени  дефекта при дефектоскопии кристаллов.

Дл  этого предлагаемое устройство снабжено автоколлимационным микроскопом, турелью , на которой установлены стереоскопический и автоколлимационный микроскопы, и подвижной коллиматорной линзой, располагаемой перед объективом автоколлимационного микроскопа.

На чертеже показано предлагаемое устройство , общий вид.

Оно содержит источник / света, конденсатор

2 темного пол , предметный стол 5, на котором расположено приспособление 4 дл  креплени  алмаза или бриллианта 5, кронштейн 6, на вращающейс  плате 7 (турели) которого закреплены стереоскопическа  система 8 (микроскоп) и автоколлимационный микроскоп 9, а также Л еханизм 10 микроподачи предметного стола с отсчетным устройством 11.

Приспособление дл  креплени  алмазов выполнено в виде механизма, обеспечивающего перемещение камн  в двух взаимно перпендикул рных направлени .х в горизонтальной плоскости, наклон камн  относительно горизонтальной оси, расположенной в фокальной плоскости объективов стереоскопической системы и автоколлимационного микроскопа, а также вращение камн  относительно продольной оси держател .

От источника / световой поток, направл емый конденсором 2, освещает кристалл 5. Вращающа с  плата 7 кронштейна устанавливаетс  в положение, при котором оптическа  ось стереоскопической системы проходит через исследуемый бриллиант.

Затем производитс  наведение на резкость изображени  с помощью механизма W и перемещение кристалла с помощью механизма 4 его креплени  в положение, при котором его изображение располагаетс  точно в центре пол  зрени  окул ра стереоскопической системы.

а грань кристалла, под которой находитс  подлежащий измерению дефект, будет ориентирована приблизительно перпендикул рно к линии визировани  стереоскопической системы.

Далее вращающа с  плата кронштейна поворачиваетс  в положение, при котором через кристалл проходит визирна  ось автоколлимационного микроскопа. В оптической системе автоколлимационного микроскопа предусмотрена коллиматорна  линза, обеспечивающа  на выходе его параллельный ход лучей от свет щейс  марки микроскопа и наблюдение в окул ре его автоколлимационного изображени , отраженного от грани кристалла.

Враща  камень с помощью приспособлени  дл  его креплени , добиваютс  расположени  автоколлимационной марки точно по центру пол  зрени , что соответствует строго перпендикул рному расположению грани кристалла к оптической оси микроскопа.

Затем вывод т коллиматорную линзу из хода лучей и с помощью руко тки механизма микроподачи добиваютс  резкого изображени  той же свет щейс  марки, проектируемой в данном случае в сход щемс  в фокусе объектива и отраженном от грани кристалла пучке, и снимают показание отсчетного устройства механизма микроподачи.

Далее навод т микроскоп на резкое изображение дефекта и снимают второе показание отсчетного устройства.

Разность отсчетов, помноженна  на показатель преломлени  исследуемого кристалла.

даст глубину залегани  дефекта. При этом отсчетное устройство может быть снабжено специальным приспособлением, например, рычажного типа, позвол ющим исключать корректировку результатов измерени  в зависимости от показател  преломлени  кристалла и получать сразу истинную величину глубины залегани  дефектов. Соотношение плеч рычага подобного устройства должно соответствовать значению

показател  преломлени  материала кристалла дл  заданного спектрального интервала, выдел емого , например, с помощью светофильтров. Размеры дефекта в горизонтальной плоскости определ ютс  обычным способом с помощью светофильтров.

Размеры дефекта в горизонтальной плоскости определ ютс  обычным способом с помощью окул рной измерительной сетки.

Предмет изобретен и  

Устройство дл  дефектоскопии прозрачных предметов, содержащее стереоскопический микроскоп и манипул тор, предназначенный

дл  ориентации контролируемого предмета, отличающеес  тем, что, с целью определени  глубины расположени  дефекта при дефектоскопии кристаллов, оно снабжено автоколлимационным микроскопом, турелью, на которой установлены стереоскопический и автоколлимационный микроскопы, и подвижной коллиматорной линзой, располагаемой перед объективом автоколлимационного микроскопа.