SU392438A1 - Способ элементного анализа образцов - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к нейтронному активационному анализу, в частиости, к его проведению на установках «Нейтрон-2, нейтронном размножителе (HP) и других, где используютс  представительные навески проб или отбитые массы.

При навесках до 100 г. и более, используемых при проведении нейтронного активационного анализа на установках «Нейтрон-2, HP и других, часто на результаты анализа вли ет состав проб. В особенности это относитс  к анализу пород, в которых могут иметь место значительные вариации содержаний сильно поглощающих .нейтроны элементов, таких, как бор, кадмий, хлор. Вариации элементного состава привод т « разной степени возмущени  нейтронного пол  пробами в зоне облучени , причем эффект может достигать 50 отн. % по сравнению с эталонными пробами. В св зи с этим невозможен подбор единых эталонов дл  анализа проб (кернов) даже в пределах одной скважины месторождени .

Известные способы проведени  анализа на установках «Нейтрон-2, HP и других не предусматривают учета степени возмущени  нейтронного пол . В результате этого обнаружены систематические ошибки в элементном определении.

Цель изобретени  - устранение систематических ошибок, св занных с вариаци ми элементного состава, при проведении нейтронного активационного анализа представительных проб.

Это достигаетс  тем, что исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущени  нейтронного пол  образцом , и по результатам независимых измерений активности образца и диска суд т о концентрации определ емого элемента в образце .

Дл  учета степени возмущени  нейтронного пол  вместе с анализируемой пробой облучают диски, располагаемые вне пробы или внутри нее, которые могут быть изготовлены из веществ, слабо поглощающих нейтроны независимо от хода сечени  поглощени  с энергией нейтронов, например, алюмини , ванади , марганца. Толщину и форму дисков подбирают та:ким образом, чтобы наведенна  активность диска обеспечивала требуемую статистическую точность измерений.

После облучени  регистрируют раздельно наведенную активность пробы и диска. По на (Веденной активности диска вычисл ют коэффициент возмущени  нейгронного пол , равный отношению наведенной активности диска,

облученного с пробой к активности диска, об3 лученного с эталоном. Исправленное значение наведенной активности пробы наход т путем делени  измеренной активности пробы на коэффициент возмущени  нейтронного пол . Исправленное значение наведенной актив-5 ности пробы сравнивают затем со значением наведенной активности эталона и отсюда вычисл ют содержание определ емого элемента . Эксперименты показали, что такой способ учета F позвол ет получить точные результа-Ю ты анализа в различных по химическому соетаву пробах. 4 Предмет изобретени  Способ элементного анализа образцов методом нейтронной активации, отличающийс  тем, что, с целью повышени  достоверности анализа, исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущени  нейтронного пол  образцом, и по результатам независимых измерений активности образца и диска суд т о концентрации определ емого элемента в образце.