SU369502A1 - DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL - Google Patents

DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL

Info

Publication number
SU369502A1
SU369502A1 SU1632166A SU1632166A SU369502A1 SU 369502 A1 SU369502 A1 SU 369502A1 SU 1632166 A SU1632166 A SU 1632166A SU 1632166 A SU1632166 A SU 1632166A SU 369502 A1 SU369502 A1 SU 369502A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measurement
semiconductor material
specific resistance
measuring
head
Prior art date
Application number
SU1632166A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
П. Ф. Мохир БСЕСоюл ПАТЕгГ А. С. Кукуй
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1632166A priority Critical patent/SU369502A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU369502A1 publication Critical patent/SU369502A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к области измерительной техники.The invention relates to the field of measurement technology.

В известных устройствах дл  измерени  удельного сопротивлени  полупроводникового материала, геометрические размеры которых не сказываютс  на результатах измерений, автоматизаци  процесса измерений осуществл етс  за счет автоматического перемещени  измерительной головки вдоль слитка, отвода и прижима головки к слитку и регистрации результатов измерени . При этом ввод поправок на геометрию образца не производитс  или осуществл етс  вручную.In the known devices for measuring the resistivity of a semiconductor material, the geometrical dimensions of which do not affect the measurement results, the measurement process is automated by automatically moving the measuring head along the ingot, removing and clamping the head to the ingot and recording the measurement results. At the same time, the introduction of corrections for the sample geometry is not performed or carried out manually.

Дл  повышени  точности измерени  за счет введени  автоматизированной коррекции на геометрию образца предлагаемое устройство дополнительно снабжено датчиком линейного перемещени  измерительной головки (например реостатом), электрически св занным с функциональным преобразователем, выход которого подключен к корректирующей цепи стабилизатора тока.To improve the measurement accuracy by introducing an automated correction for the sample geometry, the proposed device is additionally equipped with a linear displacement sensor of the measuring head (for example, a rheostat) electrically connected with a functional converter, the output of which is connected to a current stabilizer correction circuit.

На чертеже представлена функциональна  схема описываемого устройства, состо щего из четырехзондовой головки Л стабилизатора 2 посто нного тока, цифрового вольтметра 3, блока управлени  4, механизма 5 перемещени  зондовой головки, реостатного датчика 6, функционального преобразовател  7, корректирующего звена 8 стабилизатора тока.The drawing shows a functional diagram of the described device consisting of a four-probe head L of a DC stabilizer 2, a digital voltmeter 3, a control unit 4, a probe 5 movement mechanism 5, a rheostat sensor 6, a function converter 7, a current stabilizer link 8.

Через токовые зонды 9 и 10 измерительной головки Л прижатой к исследуемому образцу 11, пропускаетс  посто нный ток от стабилизируемого источника 2. Напр жение, снимаеThrough the current probes 9 and 10 of the measuring head L pressed to the sample under study 11, a direct current is passed from the stabilized source 2. The voltage is removed

мое с потенциальных зондов 12 и 13, подаетс  на вход измерительного прибора (например цифрового вольтметра) 3. Блок управлени  4 с помощью механизма 5 отводит и прижимает зондовую головку к образцу и перемещает ееMy potential probes 12 and 13 are fed to the input of a measuring device (for example, a digital voltmeter) 3. The control unit 4 by means of mechanism 5 draws and presses the probe head to the sample and moves it

вдоль торца. Перемещение фиксируетс  реостатным или другим датчиком 6 линейного перемещени . Электрический сигнал, пропорциональный смещению зондовой головки от центра образца, поступает на вход функционального преобразовател  7, реализующего нелинейную зависимость поправочного коэффициента F от величины смещени  х.along the butt. The movement is detected by a rheostatic or other linear movement sensor 6. An electrical signal proportional to the displacement of the probe head from the center of the sample is fed to the input of the functional converter 7, which realizes the nonlinear dependence of the correction factor F on the magnitude of the displacements.

Вход функционального преобразовател  св зан с корректирующим звеном 8 стабилизатора 2, которое устанавливает величину тока через токовые зонды дл  получени  непосредственного отсчета величины Здельного сопротивлени , т. е. .The input of the functional converter is connected to the correction link 8 of the stabilizer 2, which sets the amount of current through the current probes to obtain a direct reading of the building resistance value, i.e..

2525

Предмет изобретени Subject invention

Устройство дл  измерени  з дельного сопротивлени  полупроводникового материала, содержащее четырехзондовую измерительную го30 ловку, механизм перемещени  ее с блоком управлени , стабилизатор посто иного тока и цифровой вольтметр, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерени , оно снабжено датчиком линейного перемещени  измерительной головки (например реостатом), электрически св занным с функциональным преобразователем, выход которого подключен к корректирующей цепи стабилизатора тока.A device for measuring the resistivity of a semiconductor material, containing a four-probe measuring head, its movement mechanism with a control unit, a direct current stabilizer, and a digital voltmeter, characterized in that it is equipped with a sensor for linear movement of the measuring head (for example, a rheostat) electrically connected to a functional converter, the output of which is connected to a current stabilizer correction circuit.

SU1632166A 1971-03-02 1971-03-02 DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL SU369502A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1632166A SU369502A1 (en) 1971-03-02 1971-03-02 DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1632166A SU369502A1 (en) 1971-03-02 1971-03-02 DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU369502A1 true SU369502A1 (en) 1973-02-08

Family

ID=20468461

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1632166A SU369502A1 (en) 1971-03-02 1971-03-02 DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU369502A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3085566A (en) Apparatus for measuring the electrical response of living tissue
US4408128A (en) Electric resistance type wide range moisture meter
US3731189A (en) Pulse sampling resistance metering method and means
US2659861A (en) Apparatus for electrical thickness measurement
GB1500695A (en) Apparatus for producing an electrical output signal having a parameter which is linearly representative of the value of an unknown resistance
SU369502A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIAL
US3906190A (en) Apparatus for integration and averaging
US4066528A (en) Analytical apparatus
SU1314964A3 (en) Method for detecting and registering electric phenomena existing around objects and device for effecting same
SU788053A1 (en) Device for measuring temperature dependence of hall mobility of charge carriers in semiconductor materials
SU430338A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF ELECTRICAL PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR MATERIALS
SU485471A1 (en) Device for modeling magnetic and electric fields
SU128076A1 (en) Apparatus for measuring active and reactive resistances and complex load conductances
SU519619A1 (en) Optical-acoustic gas compensation gas analyzer
JPH0325122Y2 (en)
SU130693A1 (en) Device for measuring the temperature of the contact pad of an electrical contact when current flows through it
SU504919A1 (en) Device for measuring and controlling the amount of substance applied to textile materials
SU1370607A1 (en) Method of determining transient resistance
SU393573A1 (en) DEVICE FOR MEASURING LINEAR AND ANGULAR SIZES
Chaudhari et al. Development of ARM-7 Based Potentiostat for the Electrochemical Laboratory
SU1628011A1 (en) Device for measuring specific resistance of semiconductor material
SU1004745A1 (en) Displacement converter
SU381053A1 (en) DEVICE FOR ELECTRIC SURVEY
GB1433803A (en) Fouling measuing device
SU445002A1 (en) Method of compensating the residual voltage of the hall sensor