SU1725289A1 - Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением - Google Patents
Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением Download PDFInfo
- Publication number
- SU1725289A1 SU1725289A1 SU894722073A SU4722073A SU1725289A1 SU 1725289 A1 SU1725289 A1 SU 1725289A1 SU 894722073 A SU894722073 A SU 894722073A SU 4722073 A SU4722073 A SU 4722073A SU 1725289 A1 SU1725289 A1 SU 1725289A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirrors
- ion
- electrodes
- time
- source
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/406—Time-of-flight spectrometers with multiple reflections
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к масс- спектрометрии. Целью изобретени вл етс увеличение светосилы и повышение разрешающей способности за счет обеспечени пространственной фокусировки. Цель достигаетс тем, что в устройство введены два бессеточных электростатических зеркала, каждое из которых состоит из электродов 3, , 5 и 6, 7, 8 соответственно . Электроды зеркал выполнены в виде пластин, симметрично располо- . женных относительно средней плоскости , а источник 1 и приемник 2 ионов расположены в бесполевом простран- стве между ионными зеркалами. Зеркала обеспечивают многократное отражение ионного пакета. -1 ил. с е (Л
Description
Изобретение относитс к масс- спектрометрии, физической электрони ке и электронной оптике.
Известны врем пролетные масс- спектрометры с многократным отражением ионного пучка, в которых в качестве отражающих элементов используютс электростатические зеркала, составленные из электродов, выполненных в виде диафрагм и трубок или в виде сетоко
Зеркала обеспечивают беспреп тственное прохождение ионного пучка, одновременную пространственную фокусировку и врем пролетную фокусировку по энергии второго пор дка. Каждое отражение ионного пучка осуществл етс отдельным ионным зеркалом что усложн ет конструкцию прибора и накладывает определенные трудности в юстировке при реализации многокраного отражени . Многократное ртраже ние может .осуществл тьс двум зеркалами . Отражение ионного пучка в них производитс электростатическим
-полыми, формируемыми сеточными э л е ктродами. Проход сквозь эти эле- ктроды, ионный пакет тер ет часть
интенсивности вследствие физическо- го перекрыти пучка сетками и его рассе ни на них. Электростатические зеркала обеспечивают только врем пролетную фокусировку. С целью ввода и вывода ионов обеспечиваетс импульсное питание элек- тродов ионных зеркал, что накладывает дополнительные ограничени на частоту подачи анализируемых пакетов
, Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому вл етс верм пролетный масс-спектрометр, содержащий источник и приемник ионо и два ионных зеркала, обеспечивающих многократное отражение ионного пакета Электроды каждого из зеркал выполнены в виде плоских, параллельных одна другрй сеток, наход щихс под посто нными потенциала- ми. Ионные зеркала расположены по обе стороны от дрейфового.пространства и параллельны между собой.
Недостатком известного прибора вл етс то, что на пути движени
ионного пакета расположены сеточные электроды, которые частично перекры
j
г |
. | .
10
15
20
25
7252894
вают ионный поток из-за ограниченной прозрачности и рассеивают его вслед- I ствие наличи линзовых эффектов на чейках сетки. Кроме того, под воздействием ионного потока сами сетки зар жаютс , что приводит к возникновению неконтролируемых потенциалов , ухудшающих характеристики прибора . Сетки в процессе работы подвержены таким влени м, как провисание , перекосы, вздутие и так Далее , которые также привод т к неконтролируемому изменению электрического пол Указанные недостатки сетчатых зеркал привод т к уменьшению разрешени и светосилы, причем при многократном отражении и с учетом того, что ионный поток проходит каждую из сеток дважды, ситуаци существенно усугубл етс и становитс непрогнозируемой. Кроме того, отсутствует пространственна фокусировка , что определ ет малую его светосилу.
В известном устройстве источник и детектор ионов расположены с двух противоположных сторон пространства, зан того ионными зеркалами и дрейфовым пространством. Такое расположение исключает возможность изменени числа отражений ионного пакета без нарушени выбранных начальных параметров ионно оптической схемы. Это накладывает ограничени на аналитические возможности прибора, так как не позвол ет в процессе работы варьировать величины разрешающей способности и светосилы в зависимости от условий аналитической задачи.
Целью изобретени вл етс увеличение светосилы и повышение разрешающей способности путем обеспечени пространственной фокусировки врем - пролетного масс-спектрометра с многократным отражением.
Во врем пролетном масс-спектрометре с многократным отражением, содержащем источник и детектор ионов и два ионных зеркала, состо щих из электродов, соединенных с источниками посто нного напр жени , каждый из электродов ионных зеркал выполнен в виде пары пластин, симметрично расположенных относительно общей дл обоих зеркал средней плоскости, при- . чем источник и приемник ионов распо30
5
40
45
50
55
ложены в свободном от пол пространстве между ионными зеркалами.
Указанные зеркала создают свободный дл прохождени ионов йонно-оп- тический тракт. При этом полностью устран ютс такие характерные дл сеточных зеркал потери разрешени и чувствительности, которые св заны с перекрытием пучка, а также с возникновением неконтролируемых зар дов. При этом при определенных соотношени х потенциалов на электродах таких зеркал нар ду с врем пролетной можно обеспечить и пространственную фокусировку ионов на детектор, что устран ет указанный недостаток известного устройства и.приводит к повышению по сравнению с известным разрешающей способности и светосилы во врем пролетном масс-спектр ометре с многократным, отражением с
Расположение источника и детектора ионов в бесполевом пространстве между зеркалами обеспечивает возможность изменени числа отражений без нарушени выбранных начальных .параметров ионно-оптическои схемы и качествапространственно-временной фокусировки из-за возможности обеспечени пространственно-временной фокусировки при каждом отражении (многократна фокусировка), что расшир ет аналитические возможности i прибора, так как позвол ет в процессе работы, простым перемещением источника или детектора ионов варьировать величины разрешающей способности и. светосилы в зависимости от условий аналитической задачи.
Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением отличаетс тем, что каждый из электродов ионных зеркал выполнены в виде пары пластин-, симметрично расположенных относительно общей дл обоих зеркал средней плоскости, причем источник и .детектор ионов расположены в свободном от пол пространстве между ионными зеркалами.
Известно использование дл однократного отражени во врем пролетном масс-спектрометре одного ионного зеркала, составленного из электродов , выполненных в виде пары пластин симметрично расположенных относительно средней плоскости, которое
25289 6.
обеспечивает в плоскости детектора ионов как пространственную, так и врем пролетную фокусировку. Однако в предлагаемом устройстве два подобных зеркала используютс дл многократного отражени ионных пакетов во врем пролетном масс-спектрометре, причем электроды того и другого зерJQ кала определенным образом ориентированы один относительно другого - они имеют общую плоскость симметрии. Вследствие указанного по вл етс новое свойство, привод щее к увели5 ченетю разрешающей способности врем - пролетного масс-спектрометра (специфическое расположение электродов обоих зеркал),
На чертеже представлена аналитиче0 ека часть врем пролетного масс- спектрометра с многократным отражением , общий вид.
Масс-спектрометр содержит источ5 ник 1 ионов, приемник 2 ионов, два идентичных ионных зеркала, каждое из которых состоит из электродов 3-5 и 6-8 соответственно. Каждый эле-, ктрод состоит из двух пластин а и
0 К , параллельных между собой, наход щихс под одинаковым потенциалом и расположенных симметрично относительно общей дл обоих зеркал средней плоскости хг, в которой наход тс
центры выходного и входного окон источника и приемника ионов. Пунктирной линией показана траектори движени ионного пакета при многократном отражении . Центры входного и выходного
окон источника и приемника ионов наход тс на линии СС пересечени взаимно перпендикул рных плоскостей симметрии ионных зеркал (плоскости xz и ху)о
Масс-спектрометр работает следующим образом.
Ионный пакет, вылетевший из источника ионов по направлению к одному
из зеркал, отражаетс в нем и попадает в другое зеркало, отразившись в котором, снова попадает в поле первого зеркала и т.д. В процессе дрейфа ионный пакет расслаиваетс по
массам и, отразившись многократно в поле ионных зеркал, попадает в приемное окно детектора. При этом дисперси прибора равна
D
, 9т
km эш
где Т - врем прохождени ионами
участка пути, ограниченного плоскостью ху;
m - масса иона
k - число отражений в ионных зеркалах.
Положение источника и приемника ионов выбрано так, что плоскость ху в которой лежат центры входного и .выходного окон источника и приемника , совпадает с главной плоскостью врем пролетной фокусировки, в котоЭт
лТГ О причем специальным выоо
рои
kfct
CJ)
мала по сравнению
бором геометрических и электрических параметров ионных зеркал здесь же обеспечиваетс одновременно врем - пролетна фокусировка по энергии
а т
второго пор дка ---- 0 и простЭЕ9 у
ранственна фокусировка О
ор
ионного пучка в направлении, перпендикул рном к средней плоскости xz, где Ј - начальный разброс энергий в пакете относительно средней энер- гии Р - начальный угол расходимости ионного пакета в плоскости yz.
При этом разрешающа способность равна
Т R kT((5))где fit - начальна длительность импульса ,
At1 - врем пролетна аберраци третьего пор дка малости по энергии при однократ- . ном отражении.
Величина R увеличиваетс с.ростом числа отражений до тех пор, пока величина
cut. -....
Перемещение источника или детек- тора ионов в направлении оси х позвол ет использовать масс-спектрометр с различным числом отражений при сохранении выбранных начальных параметров его ионно-оптической схемы, причем качество пространственно-временной фокусировки не нарушаетс . Этим обеспечиваетс работа при повышенных разрешении или светосиле в завйсимо
сти от условий поставленнойаналитиче- : ской задачи, т.е. расшир ютс аналитические возможности прибора.
Параметры ионно-оптической схемы, при которых реализуетс пространственно-временна фокусировка, наход тс решением уравнений движени с учетом распределени потенциала в средней плоскости ионных зеркал
- (г- у(к) -V. + I (V. - VarctMt- V
ft
t x (V5 - VJatctge1
j()
20
и наложени условий
0.
25
AET
где V4, V4, V (или соответственно
30
V , V, Vg)- потенциалы на электродах (или 6-8);
рассто ние пластинами электрода j
между каждого
5
0
5
54 ;76
И И
4S 5i7)
I ИЛИ.
ист
И Z
АЕТкоординаты середины межэлектродных щелей ,
врем пролета ионов с произвольной энергией участка пути, ограниченного плоскостью ху; координаты выходного и входного окон источника и приемника ионов.
Например, прибор содержит трехэлек- .тродное зеркало со следующими парамет- ,|рами: размер электродов 3 и 5 (6 и 8) в направлении оси г не менее 3d, размер электрода А(.7) .- 0,83d, рассто ние от плоскости ху до параллельной ей плоскости, проход щей через ,центр щели между электродами 3 wk (7и 8) равно . Зазор, между электродами составл ет 0,Id.
91725289
нциалов на электров относительных еди
п о и ст бо но во
10
по сравнению с известным вследствие отсутстви сеток на пути движени ионного пакета и наличи пространственной фокусировки светосила при бора увеличиваетс в 10-20 раз. Одновременно расшир ютс аналитические возможности прибора.
де eVd - средн энерги ионов в пакете} е - зар д иона.
Выбор размера электродов в на- i правлении оси х зависит от максималь-15 но задаваемого числа отражений и угла наклона траектории ионов к оси z в момент вылета их из источника в проекции на среднюю плоскость. В конкретном приборе при п тикратном отражении и угле падени «3° этот
размер равен 8,5d.
Предлагаемый масс-спектрометр несложен в исполнении, его детали и узлы технологичны. В нем осуществл -
етс двойна фокусировка ионного пучка: по времени пролета (с точностью до аберраций второго пор дка малости) .и пространственна фокуси- о ровка в одном направлений. При этом
20
25
10
10 ф
ормула изобретени
Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением, содержащий источник и детектор ионов и два ионных зеркала, состо щих из элек- тродов, соединенных с источником посто нного напр жени , отличающийс тем, что, с целью увеличени светосилы и повышени разрешающей способности путем обеспечени простра/нственной фокусировки, каждый из электродов ионных зеркале выполнен в виде пары пластин, симметрично расположенных относительно общей дл обоих зеркал средней плоскости , приЦемз источник и приемник ионов располонййны в свободном от пол пространстве между ионными зеркалами ..
Claims (1)
- Формула изобретенияВремяпролетный масс-спектрометр с многократным отражением, содержащий источник и детектор Ионов и два ионных зеркала, состоящих из электродов, соединенных с источником постоянного напряжения, обличающийся тем, что, с целью увё2Q личения светосилы и повышения разрешающей способности путем обеспечения пространственной фокусировки, каждый из электродов ионных зеркалё выполнен в виде пары пластин, сим25 метрично расположенных относительно общей для обоих зеркал средней плоскости, примем’источник и приемник ионов расположёны в свободном от поля пространстве между ионными зер30 калами.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894722073A SU1725289A1 (ru) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894722073A SU1725289A1 (ru) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1725289A1 true SU1725289A1 (ru) | 1992-04-07 |
Family
ID=21462404
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894722073A SU1725289A1 (ru) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1725289A1 (ru) |
Cited By (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1137044A2 (en) * | 2000-03-03 | 2001-09-26 | Micromass Limited | Time of flight mass spectrometer with selectable drift lenght |
GB2403063A (en) * | 2003-06-21 | 2004-12-22 | Anatoli Nicolai Verentchikov | Time of flight mass spectrometer employing a plurality of lenses focussing an ion beam in shift direction |
WO2006102430A2 (en) | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface |
US7385187B2 (en) | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
DE112007000922T5 (de) | 2006-04-13 | 2009-02-19 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Massenspektrometeranordnung mit Fragmentierungszelle und Ionenselektionsvorrichtung |
DE112007000931T5 (de) | 2006-04-13 | 2009-06-04 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Ionenenergiestreuungsreduzierung für ein Massenspektrometer |
WO2009081143A2 (en) | 2007-12-21 | 2009-07-02 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multiref lection time-of -flight mass spectrometer |
US7772547B2 (en) * | 2005-10-11 | 2010-08-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration |
DE112008003939T5 (de) | 2008-07-16 | 2011-05-26 | Leco Corp., St. Joseph | Quasi-planares mehrfach reflektierendes Flugzeitmassenspektrometer |
US7982184B2 (en) | 2006-10-13 | 2011-07-19 | Shimadzu Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass analyser and a time-of-flight mass spectrometer including the mass analyser |
WO2011086430A1 (en) | 2010-01-15 | 2011-07-21 | Anatoly Verenchikov | Ion trap mass spectrometer |
GB2478300A (en) * | 2010-03-02 | 2011-09-07 | Anatoly Verenchikov | A planar multi-reflection time-of-flight mass spectrometer |
WO2011135477A1 (en) | 2010-04-30 | 2011-11-03 | Anatoly Verenchikov | Electrostatic mass spectrometer with encoded frequent pulses |
WO2012005561A2 (ru) | 2010-07-09 | 2012-01-12 | Saparqaliyev Aldan Asanovich | Способ масс- спектрометрии и устройство для его осуществления |
US8237111B2 (en) | 2007-06-22 | 2012-08-07 | Shimadzu Corporation | Multi-reflecting ion optical device |
WO2013045428A1 (en) | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Method and apparatus for mass spectrometry |
WO2013057505A2 (en) | 2011-10-21 | 2013-04-25 | Shimadzu Corporation | Mass analyser, mass spectrometer and associated methods |
WO2013063587A2 (en) | 2011-10-28 | 2013-05-02 | Leco Corporation | Electrostatic ion mirrors |
DE102010062529A1 (de) | 2010-01-13 | 2013-07-18 | Agilent Technologies Inc. | Laufzeitmassenspektrometer mit gekrümmten Ionenspiegeln |
WO2013110587A2 (en) * | 2012-01-27 | 2013-08-01 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
WO2014073943A1 (ru) * | 2012-11-07 | 2014-05-15 | Некоммерческое Акционерное Общество "Алматинский Университет Энергетики И Связи" | Многоотражательныи времяпролетный масс-анализатор |
WO2014126449A1 (ru) | 2013-02-15 | 2014-08-21 | Sapargaliyev Aldan Asanovich | Способ и устройства масс-спектрометрии |
WO2014142897A1 (en) | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Leco Corporation | Multi-reflecting mass spectrometer |
WO2016028132A1 (ru) * | 2014-08-20 | 2016-02-25 | Некоммерческое Акционерное Общество "Алматинский Университет Энергетики И Связи" | Многоотражательный времяпролетный масс спектрометр |
WO2016064398A1 (en) | 2014-10-23 | 2016-04-28 | Leco Corporation | A multi-reflecting time-of-flight analyzer |
WO2017087456A1 (en) * | 2015-11-16 | 2017-05-26 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US9673033B2 (en) | 2012-01-27 | 2017-06-06 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
DE102017219518A1 (de) | 2016-11-04 | 2018-05-09 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Mehrfachreflexions-Massenspektrometer mit Verzögerungsstufe |
RU2660655C2 (ru) * | 2015-11-12 | 2018-07-09 | Общество с ограниченной ответственностью "Альфа" (ООО "Альфа") | Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах |
DE102018208174A1 (de) | 2017-06-20 | 2018-12-20 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Massenspektrometer und Verfahren für Fluqzeit-Massenspektrometrie |
WO2019030477A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | ACCELERATOR FOR MASS SPECTROMETERS WITH MULTIPASSES |
WO2019030471A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | ION GUIDE INSIDE PULSED CONVERTERS |
WO2019030475A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE |
WO2019030472A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | IONIC MIRROR FOR MULTI-REFLECTION MASS SPECTROMETERS |
WO2019030474A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | IONIC MIRROR WITH PRINTED CIRCUIT WITH COMPENSATION |
WO2019030476A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS |
WO2019030473A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | FIELDS FOR SMART REFLECTIVE TOF SM |
WO2019202338A1 (en) | 2018-04-20 | 2019-10-24 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
WO2020002940A1 (en) | 2018-06-28 | 2020-01-02 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
WO2020021255A1 (en) | 2018-07-27 | 2020-01-30 | Micromass Uk Limited | Ion transfer interace for tof ms |
US10593533B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-03-17 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10636646B2 (en) | 2015-11-23 | 2020-04-28 | Micromass Uk Limited | Ion mirror and ion-optical lens for imaging |
US10741376B2 (en) | 2015-04-30 | 2020-08-11 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US10964520B2 (en) | 2018-12-21 | 2021-03-30 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
DE102021104901A1 (de) | 2020-03-02 | 2021-09-02 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Flugzeitmassenspektrometer und Verfahren der Massenspektrometrie |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
DE112013005348B4 (de) | 2012-11-09 | 2022-07-28 | Leco Corporation | Zylindrisches mehrfach reflektierendes Flugzeitmassenspektrometer |
DE102021124972A1 (de) | 2021-09-27 | 2023-03-30 | Bruker Daltonics GmbH & Co. KG | Flugzeitmassenspektrometer mit Mehrfach-Reflektion |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11848185B2 (en) | 2019-02-01 | 2023-12-19 | Micromass Uk Limited | Electrode assembly for mass spectrometer |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
-
1989
- 1989-07-20 SU SU894722073A patent/SU1725289A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Int. J.Mcrss-Spectrom. T-on Proc.,; :;1989.. У.8Я, p.21-28. СысОев А.А.Применение ионных зеркал во врем пролетном масс-спектрометре МСХ-3. Приборы и техника эксперимента, 1973, И 5, с. Дауменбв Т.Д. и ДР. Ионно-опти- .ческие характеристики врем пролет- ного зеркального масс-спектрометра. Изв.АН КазССР. Сер.физ.-мат.. 1986, ff 2, с.77-78. / .- : (И) ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР С МНОГОКРАТНЫМ ОТРАЖЕНИЕМ * |
Cited By (128)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1137044A3 (en) * | 2000-03-03 | 2005-09-14 | Micromass UK Limited | Time of flight mass spectrometer with selectable drift lenght |
EP1137044A2 (en) * | 2000-03-03 | 2001-09-26 | Micromass Limited | Time of flight mass spectrometer with selectable drift lenght |
GB2403063A (en) * | 2003-06-21 | 2004-12-22 | Anatoli Nicolai Verentchikov | Time of flight mass spectrometer employing a plurality of lenses focussing an ion beam in shift direction |
WO2005001878A2 (en) * | 2003-06-21 | 2005-01-06 | Leco Corporation | Multi reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use |
WO2005001878A3 (en) * | 2003-06-21 | 2005-09-01 | Leco Corp | Multi reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use |
US7385187B2 (en) | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
WO2006102430A2 (en) | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface |
US7326925B2 (en) | 2005-03-22 | 2008-02-05 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface |
US7772547B2 (en) * | 2005-10-11 | 2010-08-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with orthogonal acceleration |
DE112007000921T5 (de) | 2006-04-13 | 2009-02-19 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Massenspektrometer mit Ionenspeichervorrichtung |
DE112007000922T5 (de) | 2006-04-13 | 2009-02-19 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Massenspektrometeranordnung mit Fragmentierungszelle und Ionenselektionsvorrichtung |
DE112007000931T5 (de) | 2006-04-13 | 2009-06-04 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Ionenenergiestreuungsreduzierung für ein Massenspektrometer |
US8513594B2 (en) | 2006-04-13 | 2013-08-20 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Mass spectrometer with ion storage device |
DE112007000930T5 (de) | 2006-04-13 | 2009-02-19 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Verfahren zur Ionenhäufigkeitserhöhung in einem Massenspektrometer |
US7858929B2 (en) | 2006-04-13 | 2010-12-28 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Ion energy spread reduction for mass spectrometer |
US7982184B2 (en) | 2006-10-13 | 2011-07-19 | Shimadzu Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass analyser and a time-of-flight mass spectrometer including the mass analyser |
RU2458427C2 (ru) * | 2006-10-13 | 2012-08-10 | Симадзу Корпорейшн | Времяпролетный масс-анализатор с многократными отражениями и времяпролетный масс-спектрометр, включающий в себя данный масс- анализатор |
US8237111B2 (en) | 2007-06-22 | 2012-08-07 | Shimadzu Corporation | Multi-reflecting ion optical device |
WO2009081143A2 (en) | 2007-12-21 | 2009-07-02 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multiref lection time-of -flight mass spectrometer |
US9425034B2 (en) | 2008-07-16 | 2016-08-23 | Leco Corporation | Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
DE112008003939T5 (de) | 2008-07-16 | 2011-05-26 | Leco Corp., St. Joseph | Quasi-planares mehrfach reflektierendes Flugzeitmassenspektrometer |
US10141175B2 (en) | 2008-07-16 | 2018-11-27 | Leco Corporation | Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
DE102010062529A1 (de) | 2010-01-13 | 2013-07-18 | Agilent Technologies Inc. | Laufzeitmassenspektrometer mit gekrümmten Ionenspiegeln |
DE112010005660B4 (de) | 2010-01-15 | 2019-06-19 | Leco Corp. | lonenfallen-Massenspektrometer |
US10049867B2 (en) | 2010-01-15 | 2018-08-14 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
US9082604B2 (en) | 2010-01-15 | 2015-07-14 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
US10541123B2 (en) | 2010-01-15 | 2020-01-21 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
WO2011086430A1 (en) | 2010-01-15 | 2011-07-21 | Anatoly Verenchikov | Ion trap mass spectrometer |
US9768008B2 (en) | 2010-01-15 | 2017-09-19 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
US10153148B2 (en) | 2010-01-15 | 2018-12-11 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
US9786482B2 (en) | 2010-01-15 | 2017-10-10 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
US9595431B2 (en) | 2010-01-15 | 2017-03-14 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer having a curved field region |
US10354855B2 (en) | 2010-01-15 | 2019-07-16 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
DE112010005660T5 (de) | 2010-01-15 | 2013-07-18 | Leco Corp. | lonenfallen-Massenspektrometer |
US9768007B2 (en) | 2010-01-15 | 2017-09-19 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
US9343284B2 (en) | 2010-01-15 | 2016-05-17 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
US10153149B2 (en) | 2010-01-15 | 2018-12-11 | Leco Corporation | Ion trap mass spectrometer |
DE112010005323B4 (de) | 2010-03-02 | 2018-08-02 | Leco Corporation | Offenes Fallen-Massenspektrometer |
WO2011107836A1 (en) | 2010-03-02 | 2011-09-09 | Anatoly Verenchikov | Open trap mass spectrometer |
GB2478300A (en) * | 2010-03-02 | 2011-09-07 | Anatoly Verenchikov | A planar multi-reflection time-of-flight mass spectrometer |
JP2016006795A (ja) * | 2010-03-02 | 2016-01-14 | レコ コーポレイションLeco Corporation | オープントラップ質量分析計 |
DE112010005323T5 (de) | 2010-03-02 | 2013-01-03 | Anatoly Verenchikov | Offenes Fallen Massenspektrometer |
WO2011135477A1 (en) | 2010-04-30 | 2011-11-03 | Anatoly Verenchikov | Electrostatic mass spectrometer with encoded frequent pulses |
DE112011101514B4 (de) | 2010-04-30 | 2019-09-05 | Leco Corporation | Elektrostatisches massenspektrometer mit codierten häufigen impulsen |
DE112011101514T5 (de) | 2010-04-30 | 2013-05-29 | Leco Corporation | Elektrostatisches massenspektrometer mit codierten häufigen impulsen |
DE112011102315T5 (de) | 2010-07-09 | 2013-06-20 | Aldan Asanovich Sapargaliyev | Verfahren der Massenspektrometrie und Einrichtung für seine Ausführung |
WO2012005561A2 (ru) | 2010-07-09 | 2012-01-12 | Saparqaliyev Aldan Asanovich | Способ масс- спектрометрии и устройство для его осуществления |
WO2012005561A3 (ru) * | 2010-07-09 | 2012-03-01 | Saparqaliyev Aldan Asanovich | Способ масс- спектрометрии и устройство для его осуществления |
GB2495667A (en) * | 2010-07-09 | 2013-04-17 | Aldan Asanovich Saparqaliyev | Mass spectrometry method and devcie for implementing same |
WO2013045428A1 (en) | 2011-09-30 | 2013-04-04 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Method and apparatus for mass spectrometry |
US9082602B2 (en) | 2011-10-21 | 2015-07-14 | Shimadzu Corporation | Mass analyser providing 3D electrostatic field region, mass spectrometer and methodology |
WO2013057505A2 (en) | 2011-10-21 | 2013-04-25 | Shimadzu Corporation | Mass analyser, mass spectrometer and associated methods |
WO2013063587A3 (en) * | 2011-10-28 | 2013-10-03 | Leco Corporation | Electrostatic ion mirrors |
US9396922B2 (en) | 2011-10-28 | 2016-07-19 | Leco Corporation | Electrostatic ion mirrors |
WO2013063587A2 (en) | 2011-10-28 | 2013-05-02 | Leco Corporation | Electrostatic ion mirrors |
DE112012004503B4 (de) | 2011-10-28 | 2018-09-20 | Leco Corporation | Elektrostatische Ionenspiegel |
CN103907171A (zh) * | 2011-10-28 | 2014-07-02 | 莱克公司 | 静电离子镜 |
CN103907171B (zh) * | 2011-10-28 | 2017-05-17 | 莱克公司 | 静电离子镜 |
CN104067372A (zh) * | 2012-01-27 | 2014-09-24 | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 | 多反射质谱仪 |
WO2013110587A2 (en) * | 2012-01-27 | 2013-08-01 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
US9679758B2 (en) | 2012-01-27 | 2017-06-13 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
US9136101B2 (en) | 2012-01-27 | 2015-09-15 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
GB2515407A (en) * | 2012-01-27 | 2014-12-24 | Thermo Fisher Scient Bremen | Multi-reflection mass spectrometer |
DE112013000726B4 (de) | 2012-01-27 | 2022-10-06 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Mehrfachreflexions-Massenspektrometer |
DE112013000722B4 (de) | 2012-01-27 | 2022-10-13 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Mehrfachreflexions-Massenspektrometer |
GB2515407B (en) * | 2012-01-27 | 2020-02-12 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
CN104067372B (zh) * | 2012-01-27 | 2017-03-01 | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 | 多反射质谱仪 |
US10276361B2 (en) | 2012-01-27 | 2019-04-30 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
US9673033B2 (en) | 2012-01-27 | 2017-06-06 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
WO2013110587A3 (en) * | 2012-01-27 | 2013-11-21 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
WO2014073943A1 (ru) * | 2012-11-07 | 2014-05-15 | Некоммерческое Акционерное Общество "Алматинский Университет Энергетики И Связи" | Многоотражательныи времяпролетный масс-анализатор |
DE112013005348B4 (de) | 2012-11-09 | 2022-07-28 | Leco Corporation | Zylindrisches mehrfach reflektierendes Flugzeitmassenspektrometer |
WO2014126449A1 (ru) | 2013-02-15 | 2014-08-21 | Sapargaliyev Aldan Asanovich | Способ и устройства масс-спектрометрии |
CN105009251B (zh) * | 2013-03-14 | 2017-12-22 | 莱克公司 | 多反射质谱仪 |
US9865445B2 (en) | 2013-03-14 | 2018-01-09 | Leco Corporation | Multi-reflecting mass spectrometer |
GB2526450B (en) * | 2013-03-14 | 2021-08-04 | Leco Corp | Multi-reflecting mass spectrometer |
DE112013006811B4 (de) | 2013-03-14 | 2019-09-19 | Leco Corporation | Mehrfach reflektierendes Flugzeitmassenspektrometer |
GB2526450A (en) * | 2013-03-14 | 2015-11-25 | Leco Corp | Multi-reflecting mass spectrometer |
CN105009251A (zh) * | 2013-03-14 | 2015-10-28 | 莱克公司 | 多反射质谱仪 |
WO2014142897A1 (en) | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Leco Corporation | Multi-reflecting mass spectrometer |
WO2016028132A1 (ru) * | 2014-08-20 | 2016-02-25 | Некоммерческое Акционерное Общество "Алматинский Университет Энергетики И Связи" | Многоотражательный времяпролетный масс спектрометр |
WO2016064398A1 (en) | 2014-10-23 | 2016-04-28 | Leco Corporation | A multi-reflecting time-of-flight analyzer |
US10741376B2 (en) | 2015-04-30 | 2020-08-11 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
RU2660655C2 (ru) * | 2015-11-12 | 2018-07-09 | Общество с ограниченной ответственностью "Альфа" (ООО "Альфа") | Способ управления соотношением разрешающей способности по массе и чувствительности в многоотражательных времяпролетных масс-спектрометрах |
CN108292586A (zh) * | 2015-11-16 | 2018-07-17 | 英国质谱公司 | 成像质谱仪 |
WO2017087456A1 (en) * | 2015-11-16 | 2017-05-26 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
CN108292586B (zh) * | 2015-11-16 | 2020-01-10 | 英国质谱公司 | 成像质谱仪 |
GB2562174B (en) * | 2015-11-16 | 2022-10-26 | Micromass Ltd | Imaging mass spectrometer |
GB2562174A (en) * | 2015-11-16 | 2018-11-07 | Micromass Ltd | Imaging mass spectrometer |
US10593533B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-03-17 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10629425B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-04-21 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10636646B2 (en) | 2015-11-23 | 2020-04-28 | Micromass Uk Limited | Ion mirror and ion-optical lens for imaging |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
DE102017219518A1 (de) | 2016-11-04 | 2018-05-09 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Mehrfachreflexions-Massenspektrometer mit Verzögerungsstufe |
DE102017219518B4 (de) | 2016-11-04 | 2024-01-18 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Mehrfachreflexions-Massenspektrometer mit Verzögerungsstufe |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
DE102018208174A1 (de) | 2017-06-20 | 2018-12-20 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Massenspektrometer und Verfahren für Fluqzeit-Massenspektrometrie |
DE102018208174B4 (de) | 2017-06-20 | 2024-05-29 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Massenspektrometer und Verfahren für Fluqzeit-Massenspektrometrie |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
WO2019030476A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS |
WO2019030477A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | ACCELERATOR FOR MASS SPECTROMETERS WITH MULTIPASSES |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
WO2019030471A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | ION GUIDE INSIDE PULSED CONVERTERS |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11756782B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-09-12 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
WO2019030473A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | FIELDS FOR SMART REFLECTIVE TOF SM |
WO2019030475A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE |
WO2019030472A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | IONIC MIRROR FOR MULTI-REFLECTION MASS SPECTROMETERS |
WO2019030474A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | IONIC MIRROR WITH PRINTED CIRCUIT WITH COMPENSATION |
US11367608B2 (en) | 2018-04-20 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
WO2019202338A1 (en) | 2018-04-20 | 2019-10-24 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
US11587779B2 (en) | 2018-06-28 | 2023-02-21 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
WO2020002940A1 (en) | 2018-06-28 | 2020-01-02 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
WO2020021255A1 (en) | 2018-07-27 | 2020-01-30 | Micromass Uk Limited | Ion transfer interace for tof ms |
US10964520B2 (en) | 2018-12-21 | 2021-03-30 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Multi-reflection mass spectrometer |
US11848185B2 (en) | 2019-02-01 | 2023-12-19 | Micromass Uk Limited | Electrode assembly for mass spectrometer |
DE102021104901B4 (de) | 2020-03-02 | 2023-06-22 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Flugzeitmassenspektrometer und Verfahren der Massenspektrometrie |
US11387094B2 (en) | 2020-03-02 | 2022-07-12 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Time of flight mass spectrometer and method of mass spectrometry |
DE102021104901A1 (de) | 2020-03-02 | 2021-09-02 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Flugzeitmassenspektrometer und Verfahren der Massenspektrometrie |
DE102021124972A1 (de) | 2021-09-27 | 2023-03-30 | Bruker Daltonics GmbH & Co. KG | Flugzeitmassenspektrometer mit Mehrfach-Reflektion |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1725289A1 (ru) | Врем пролетный масс-спектрометр с многократным отражением | |
US5032722A (en) | MS-MS time-of-flight mass spectrometer | |
Zeman | Deflection of an ion beam in the two‐dimensional electrostatic quadrupole field | |
EP0587707B1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer with an aperture enabling tradeoff of transmission efficiency and resolution | |
US6717132B2 (en) | Gridless time-of-flight mass spectrometer for orthogonal ion injection | |
US8188425B2 (en) | Ion optics systems | |
US5464985A (en) | Non-linear field reflectron | |
US20160358764A1 (en) | Quasi-Planar Multi-Reflecting Time-of-Flight Mass Spectrometer | |
US5206508A (en) | Tandem mass spectrometry systems based on time-of-flight analyzer | |
US20110168880A1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer with curved ion mirrors | |
GB2575339A (en) | Multi-reflecting time of flight mass analyser | |
JP2006134893A (ja) | タンデム質量分析 | |
WO2012005561A2 (ru) | Способ масс- спектрометрии и устройство для его осуществления | |
US20060097147A1 (en) | Ion optics for mass spectrometers | |
US20080272290A1 (en) | Reflector TOF With High Resolution and Mass Accuracy for Peptides and Small Molecules | |
JP2013175481A (ja) | 多重反射式飛行時間型質量分析器 | |
GB2454767A (en) | Producing cleaned daughter ion spectra from a MALDI ionisation TOF mass spectrometer | |
Nielsen et al. | Energy-spin spectroscopy of state-selective electron capture for multiply charged Ar recoil ions | |
CN103460331A (zh) | 飞行时间型质量分析装置 | |
US4672204A (en) | Mass spectrometers | |
US5821534A (en) | Deflection based daughter ion selector | |
US4295046A (en) | Mass spectrometer | |
GB2387962A (en) | Orthogonal acceleration TOF mass spectrometer with an angled ion reflector | |
SU1600645A3 (ru) | Масс-спектрометр | |
EP0456516B1 (en) | Ion buncher |